CN109597728B - 测试设备的控制方法及装置、计算机可读存储介质 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种测试设备的控制方法，包括，获取针对至少一个被测电子设备的测试结果；其中，所述测试结果包括所述至少一个被测电子设备的测试失败的次数；若所述测试结果满足预设条件，停止所述测试设备的测试进程；其中，所述预设条件是指所述测试失败的次数大于预设阈值。本发明的实施例同时公开了一种测试设备的控制装置以及计算机可读存储介质。

Description

测试设备的控制方法及装置、计算机可读存储介质

技术领域

本发明涉及自动化测试领域，尤其涉及一种测试设备的控制方法及电子设备、计算机可读存储介质。

背景技术

随着电子技术的发展，自动化测试能够极大地方便人们的生产活动；具体地，自动化测试是将人工驱动测试转化为机器执行的一种过程；相比于手动测试，自动化测试可以节省大量人力资源和时间资源，提高测试效率。

在目前的手机或其他智能终端在产品研发或制造阶段，为了达到消费者的使用要求，工程师可以通过测试设备对出厂前的终端进行软件以及硬件的测试。然而，在目前的测试过程中并不能及时的发现测试设备的故障，当测试设备故障时测试设备仍然在继续测试，不能主动停止测试，因此，容易造成测试结果不准确的问题；另外，现有技术中，通常是人工判断设备是否故障，人为主观因素影响故障的判断，因此，无法做到精确和统一地判断测试设备是否故障。

发明内容

为解决上述技术问题，本发明实施例提供了一种测试设备的控制方法及装置、计算机可读存储介质。

本发明实施例提供一种测试设备的控制方法，所述方法包括：

获取针对至少一个被测电子设备的测试结果；其中，所述测试结果包括所述至少一个被测电子设备的测试失败的次数；

若所述测试结果满足预设条件，停止所述测试设备的测试进程；其中，所述预设条件是指所述测试失败的次数大于预设阈值。

在上述方法中，所述测试失败的次数包括连续测试失败的次数，或累计测试失败的次数；

相应地，所述若所述测试结果满足预设条件，停止所述测试设备进行测试，包括：

若所述连续测试失败的次数大于第一阈值，或所述累计测试失败的次数大于第二阈值，停止所述测试设备的测试进程。

在上述方法中，当所述测试次数包括累计测试失败的次数时，所述方法还包括：

按照预设时间间隔，对所述累计测试次数进行清零处理；

或者，当测试的总次数达到预设次数时，对所述累计测试次数进行清零处理。

在上述方法中，还包括：

获取输入的解密信息；

若所述输入的解密信息与预设密码匹配，开始对所述被测电子设备进行测试。

在上述方法中，所述若所述测试参数满足预设条件，停止对所述被测电子设备进行测试之前，所述方法还包括：

基于所述测试设备当前的测试项目，从服务器获取所述第一阈值和所述第二阈值。

本发明实施例还提供一种测试设备的控制装置，所述装置包括：

获取单元，用于获取针对至少一个被测电子设备的测试结果；其中，所述测试结果包括所述至少一个被测电子设备的测试失败的次数；

处理单元，用于当所述测试结果满足预设条件，停止所述测试设备的测试进程；其中，所述预设条件是指所述测试失败的次数大于预设阈值。

在上述装置中，所述测试失败的次数包括连续测试失败的次数，或累计测试失败的次数；

所述处理单元，具体用于当所述连续测试失败的次数大于第一阈值，或所述累计测试失败的次数大于第二阈值，停止所述测试设备的测试进程。

在上述装置中，所述获取单元，还用于获取输入的解密信息；

所述处理单元，还用于当所述输入的解密信息与预设密码匹配，开始对所述被测电子设备进行测试。

本发明还提供一种测试设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述程序时实现上述测试设备的控制方法中的步骤。

本发明实施例还提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行实现上述任一方法的步骤。

本发明实施例提供的测试设备的控制方法及装置、计算机可读存储介质，获取针对至少一个被测电子设备的测试结果；其中，所述测试结果包括所述至少一个被测电子设备的测试失败的次数；若所述测试结果满足预设条件，停止所述测试设备的测试进程；其中，所述预设条件是指所述至少一个被测电子设备测试失败的次数大于预设阈值；这样，通过判断测试设备的测试结果，确定测试设备是否异常，同时当测试设备异常时主动停止测试；这样，测试人员能够对停止工作的测试设备进行干预；另外，可以通过设定停止测试的条件，进行统一并且精确地控制测试设备。

附图说明

图1为本发明一示例性实施例提供的一种测试设备的控制方法的流程示意图；

图2为本发明一示例性实施例提供的另一种测试设备的控制方法的流程示意图；

图3为本发明一示例性实施例提供的一种图测试设备的控制装置的组成结构示意图；

图4为本发明一示例性实施例的一种测试设备的硬件实体示意图。

具体实施方式

为了能够更加详尽地了解本申请实施例的特点与技术内容，下面结合附图对本申请实施例的实现进行详细阐述，所附附图仅供参考说明之用，并非用来限定本发明实施例。

图1为本发明实施例提供的测试设备的控制方法的流程示意图，如图1所示，所述测试设备的控制方法包括以下步骤：

步骤101、获取针对至少一个被测电子设备的测试结果。

其中，所述测试结果包括所述至少一个被测电子设备的测试失败的次数。

在本发明的其他实施例中，步骤101获取针对至少一个被测电子设备的测试结果可以由测试设备来实现；这里，测试设备可以是任意类型的具有测试功能的电子设备，例如工业计算机。测试设备能够对任意类型的电子设备进行测试；这里，被测电子设备可以是手机、平板电脑、笔记本电脑、可穿戴设备等任意类型的电子设备。

在实际应用中，一台测试设备在同一时刻只能对一个被测电子设备进行测试，同时，每台测试设备在测试的过程中可以针对被测电子设备的一个功能进行测试；一般情况下，测试设备通过与测试服务器连接，从测试服务器下载需要测试的目标功能对应的测试用例，基于该功能的测试用例，对被测电子设备的目标功能进行测试，并得到最终的测试结果。

在本发明的其他实施例中，被测电子设备的测试结果包括测试成功和测试失败两种结果。其中，测试失败又包括以下三种情况：测试设备指示测试失败；被测电子设备的测试时长超过预设时长；被测电子设备的测试值不符合测试阈值范围。综上所述，在对被测电子设备进行测试过程中，只要出现以上三种情况的至少一种，都可以认为此次测试失败。

在本发明的其他实施例中，测试设备可以在对每个被测电子设备测试结束之后，将测试结果展示在显示屏幕中；另外，测试设备还可以在每次测试结束之后，刷新显示屏幕中测试的良率，也就是测试成功的概率。

在本发明的其他实施例中，测试设备能够得到每个被测电子设备测试失败的结果，获取测试过程中测试失败的次数，这样，测试设备能够基于以上测试失败的次数，对测试设备的测试进程进行有效的控制。

步骤102、若所述测试结果满足预设条件，停止所述测试设备的测试进程。

其中，所述预设条件是指所述测试失败的次数大于预设阈值。

在本发明的其他实施例中，步骤102若所述测试结果满足预设条件，停止所述测试设备的测试进程可以由测试设备来实现。这里，测试设备能够记录每个被测电子设备的测试结果，能够实时地对所述测试结果进行判断；当测试失败的次数达到预先设置的阈值时，测试设备直接停止对被测电子设备的测试。具体地，测试设备在检测到测试失败的次数大于预设阈值时，测试设备对当前的测试程序进行锁定，使得测试设备无法继续对被测电子设备进行测试。

进一步，当测试设备锁定后，测试设备可以向测试人员发出警告提醒，让测试人员对该测试设备进行干预处理。当测试人员将测试设备维修成功之后，可以在测试设备上输入解密信息，当解密信息与预设密码匹配后，测试设备重新启动，开始对所述被测电子设备进行测试。

在本发明的其他实施例中，所述测试失败的次数可以包括连续测试失败的次数，或累计测试失败的次数。这里，连续测试失败的次数大于第一阈值，或所述累计测试失败的次数大于第二阈值时，就可以认为当前的测试设备出现了故障，因此，停止所述测试设备的测试进程。

本发明实施例提供的测试设备的控制方法，获取针对至少一个被测电子设备的测试结果；其中，所述测试结果包括所述至少一个被测电子设备的测试失败的次数；若所述测试结果满足预设条件，停止所述测试设备的测试进程；其中，所述预设条件是指所述至少一个被测电子设备测试失败的次数大于预设阈值；这样，通过判断测试设备的测试结果，确定测试设备是否异常，同时当测试设备异常时主动停止测试；这样，测试人员能够对停止工作的测试设备进行干预；另外，可以通过设定停止测试的条件，进行统一并且精确地控制测试设备。

基于前述实施例，本发明实施例还提供了一种测试设备的控制方法的流程示意图，如图2所示，所述测试设备的控制方法包括以下步骤：

步骤201、测试设备获取针对至少一个被测电子设备的测试结果。

其中，所述测试结果包括所述至少一个被测电子设备的测试失败的次数。

在实际应用中，一台测试设备在同一时刻只能对一个被测电子设备进行测试，同时，每台测试设备在测试的过程中可以针对被测电子设备的一个功能进行测试；一般情况下，测试设备通过与测试服务器连接，从测试服务器下载需要测试的目标功能对应的测试用例，基于该功能的测试用例，对被测电子设备的目标功能进行测试，并得到最终的测试结果。

在本发明的其他实施例中，被测电子设备的测试结果包括测试成功和测试失败两种结果。其中，测试失败又包括以下三种情况：测试设备指示测试失败；被测电子设备的测试时长超过预设时长；被测电子设备的测试值不符合测试阈值范围。综上所述，在对被测电子设备进行测试过程中，只要出现以上三种情况的至少一种，都可以认为此次测试失败。

在本发明的其他实施例中，测试设备可以在对每个被测电子设备测试结束之后，将测试结果展示在显示屏幕中；另外，测试设备还可以在每次测试结束之后，刷新显示屏幕中测试的良率，也就是测试成功的概率。

在本发明的其他实施例中，测试设备能够得到每个被测电子设备测试失败的结果，获取测试过程中测试失败的次数，这样，测试设备能够基于以上测试失败的次数，对测试设备的测试进程进行有效的控制。

步骤202、若所述连续测试失败的次数大于第一阈值，或所述累计测试失败的次数大于第二阈值，停止所述测试设备的测试进程。

在本发明的其他实施例中，对被测电子设备连续测试失败的次数大于第一阈值，或对被测电子设备的累计测试失败的次数大于第二阈值时，认为当前的测试设备出现了故障，则立即停止测试进程，实现对测试设备的锁定；也就是说，第一阈值是连续测试失败的锁定次数，第二阈值是累计失败的锁定次数。

在本发明的其他实施例中，测试的项目不同，设定的第一阈值和第二阈值也就不同；也就是说，第一阈值与第二阈值是根据测试项目的需求进行设定的。一般来说，第一阈值取值可以是3～5次，第二阈值的取值可以是5～10次。例如，当测试项目为网络连接测试，第一阈值的取值可以为3次，第二阈值为5次。在实际应用中，测试设备在测试之前，在服务器下载对应项目的测试用例时，同时下载相应的第一阈值和第二阈值。具体地：

基于所述测试设备当前的测试项目，从服务器获取所述第一阈值和所述第二阈值。

需要说明的是，服务器上的测试用例与第一阈值、第二阈值，可以由测试人员进行定期维护。也就是说，测试人员可以根据实际的测试情况，修改测试用例与对应的第一阈值、第二阈值。

另外，被测电子设备数量很多的时候，累计测试失败次数也随着增加，为了避免在测试数量巨大的被测电子设备情况下，计算累计测试失败次数的不准确性，需要定时或者定量地来对累计测试失败的次数进行清零处理，以保证测试设备的正常运行。具体地，可以通过以下两种方式进行清零处理：

按照预设时间间隔，对所述累计测试次数进行清零处理；

或者，当测试的总次数达到预设次数时，对所述累计测试次数进行清零处理。

其中，所述预设时间间隔可以是固定的时间间隔，可以理解为是按照预设的时间周期对所述累计测试次数进行清零处理；在另一实施方案中，所述预设时间间隔可以是按照时间算法得到的时间间隔，例如，下一次的时间间隔比上一次时间间隔多两秒。如此，可以灵活地对累计次数进行清零处理。

步骤203、测试设备获取输入的解密信息。

在本发明的其他实施例中，当测试设备锁定无法进行测试之后，测试设备可以向测试人员发出警告提醒，让测试人员对该测试设备进行干预处理。

进一步，当测试人员将测试设备维修成功之后，可以在测试设备上输入解密信息，当解密信息与设密码匹配后，测试设备重新启动，开始对所述被测电子设备进行测试。具体地，测试设备在显示屏幕中显示输入密码的提示信息，让测试人员输入解密信息。其中，解密信息包括数字密码信息、指纹信息、虹膜信息等。

步骤204、若所述输入的解密信息与预设密码匹配，测试设备开始对所述被测电子设备进行测试。

在本发明的其他实施例中，只有当测试人员输入的解密信息与预设密码匹配之后，测试设备才能够继续进行工作，进行正常的测试进程。

这里，当测试设备开始对所述被测电子设备进行测试之前，需要对当前的连续失败次数和累计失败次数进行清零处理，从新开始对连续测试失败的被测电子设备和累计测试失败的被测电子设备进行计数。

本发明实施例提供的测试设备的控制方法，获取针对至少一个被测电子设备的测试结果；其中，所述测试结果包括所述至少一个被测电子设备的测试失败的次数；若所述测试结果满足预设条件，停止所述测试设备的测试进程；其中，所述预设条件是指所述至少一个被测电子设备测试失败的次数大于预设阈值；这样，通过判断测试设备的测试结果，确定测试设备是否异常，同时当测试设备异常时主动停止测试；这样，测试人员能够对停止工作的测试设备进行干预；另外，可以通过设定停止测试的条件，进行统一并且精确地控制测试设备。

为实现本发明实施例的方法，本发明实施例提供了一种测试设备的控制装置，所述测试设备的控制装置可以应用于上述方法实施例中的所述测试设备中；如图3所示，所述装置包括：

获取单元31，用于获取针对至少一个被测电子设备的测试结果；其中，所述测试结果包括所述至少一个被测电子设备的测试失败的次数；

处理单元32，用于当所述测试结果满足预设条件，停止所述测试设备的测试进程；其中，所述预设条件是指所述测试失败的次数大于预设阈值。

在本发明的其他实施例中，所述测试设备控制装置还包括显示单元33；

所述显示单元33可以显示每个被测电子设备的测试结果，以及测试的良率。

在本发明的其他实施例中，所述测试失败的次数包括连续测试失败的次数，或累计测试失败的次数；

所述处理单元32，具体用于当所述连续测试失败的次数大于第一阈值，或所述累计测试失败的次数大于第二阈值，停止所述测试设备的测试进程。

在本发明的其他实施例中，所述获取单元31，还用于获取输入的解密信息；

所述处理单元32，还用于当所述输入的解密信息与预设密码匹配，开始对所述被测电子设备进行测试。

在本发明的其他实施例中，所述处理单元32，还用于按照预设时间间隔，对所述累计测试次数进行清零处理；

或者，当测试的总次数达到预设次数时，对所述累计测试次数进行清零处理。

在本发明的其他实施例中，所述获取单元33，还用于基于所述测试设备当前的测试项目，从服务器获取所述第一阈值和所述第二阈值。

以上装置实施例的描述，与上述方法实施例的描述是类似的，具有同方法实施例相似的有益效果。对于本申请装置实施例中未披露的技术细节，请参照本申请方法实施例的描述而理解。

本发明实施例提供的测试设备的控制装置，获取针对至少一个被测电子设备的测试结果；其中，所述测试结果包括所述至少一个被测电子设备的测试失败的次数；若所述测试结果满足预设条件，停止所述测试设备的测试进程；其中，所述预设条件是指所述至少一个被测电子设备测试失败的次数大于预设阈值；这样，通过判断测试设备的测试结果，确定测试设备是否异常，同时当测试设备异常时主动停止测试；这样，测试人员能够对停止工作的测试设备进行干预；另外，可以通过设定停止测试的条件，进行统一并且精确地控制测试设备。

图4为本发明一示例性实施例的一种终端硬件实体示意图，如图4所示，本发明一示例性实施例提供了一种测试设备40，包括：

处理器41以及存储有所述处理器41可执行指令的存储介质42，所述存储介质42通过通信总线43依赖所述处理器41执行操作，当所述指令被所述处理器41执行时，执行上述实施例一所述的测试设备的控制方法。

需要说明的是，实际应用时，测试设备中的各个组件通过通信总线43耦合在一起。可理解，通信总线43用于实现这些组件之间的连接通信。通信总线43除包括数据总线之外，还包括电源总线、控制总线和状态信号总线。但是为了清楚说明起见，在图4中将各种总线都标为通信总线43。

对应地，本发明一示例性实施例提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现上述实施例中提供的图像加密方法中的步骤。

这里需要指出的是：以上存储介质和设备实施例的描述，与上述方法实施例的描述是类似的，具有同方法实施例相似的有益效果。对于本申请存储介质和设备实施例中未披露的技术细节，请参照本申请方法实施例的描述而理解。

应理解，说明书通篇中提到的“一个实施例”或“一实施例”意味着与实施例有关的特定特征、结构或特性包括在本申请的至少一个实施例中。因此，在整个说明书各处出现的“在一个实施例中”或“在一实施例中”未必一定指相同的实施例。此外，这些特定的特征、结构或特性可以任意适合的方式结合在一个或多个实施例中。应理解，在本申请的各种实施例中，上述各过程的序号的大小并不意味着执行顺序的先后，各过程的执行顺序应以其功能和内在逻辑确定，而不应对本申请一示例性实施例的实施过程构成任何限定。上述本申请一示例性实施例序号仅仅为了描述，不代表实施例的优劣。

需要说明的是，在本文中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者装置不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者装置所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者装置中还存在另外的相同要素。

在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的设备和方法，可以通过其它的方式实现。以上所描述的设备实施例仅仅是示意性的，例如，所述单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，如：多个单元或组件可以结合，或可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另外，所显示或讨论的各组成部分相互之间的耦合、或直接耦合、或通信连接可以是通过一些接口，设备或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性的、机械的或其它形式的。

上述作为分离部件说明的单元可以是、或也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是、或也可以不是物理单元；既可以位于一个地方，也可以分布到多个网络单元上；可以根据实际的需要选择其中的部分或全部单元来实现本申请一示例性实施例方案的目的。

另外，在本申请各实施例中的各功能单元可以全部集成在一个处理单元中，也可以是各单元分别单独作为一个单元，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中；上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用硬件加软件功能单元的形式实现。

本领域普通技术人员可以理解：实现上述方法实施例的全部或部分步骤可以通过程序指令相关的硬件来完成，前述的程序可以存储于计算机可读取存储介质中，该程序在执行时，执行包括上述方法实施例的步骤；而前述的存储介质包括：移动存储设备、只读存储器(Read Only Memory，ROM)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

或者，本申请上述集成的单元如果以软件功能模块的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，也可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本申请一示例性实施例的技术方案本质上或者说对相关技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得终端执行本申请各个实施例所述方法的全部或部分。而前述的存储介质包括：移动存储设备、ROM、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

以上所述，仅为本申请的实施方式，但本申请的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本申请揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本申请的保护范围之内。因此，本申请的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。

Claims (8)

1.一种测试设备的控制方法，所述方法包括：

获取针对至少一个被测电子设备的测试结果；其中，所述测试结果包括所述至少一个被测电子设备的测试失败的次数；所述测试失败的次数包括累计测试失败的次数；

若所述测试结果满足预设条件，停止所述测试设备的测试进程；其中，所述预设条件是指所述测试失败的次数大于预设阈值；

其中，所述若所述测试结果满足预设条件，停止所述测试设备的测试进程，包括：

若所述累计测试失败的次数大于第二阈值，停止所述测试设备的测试进程；

获取输入的解密信息；

若所述输入的解密信息与预设密码匹配，开始对所述被测电子设备进行测试。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测试失败的次数还包括连续测试失败的次数；

相应地，所述若所述测试结果满足预设条件，停止所述测试设备的测试进程，包括：

若所述连续测试失败的次数大于第一阈值，停止所述测试设备的测试进程。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，当所述测试失败的次数包括所述累计测试失败的次数时，所述方法还包括：

按照预设时间间隔，对所述累计测试失败的次数进行清零处理；

或者，当测试的总次数达到预设次数时，对所述累计测试失败的次数进行清零处理。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述若所述测试参数满足预设条件，停止对所述被测电子设备的测试进程之前，所述方法还包括：

基于所述测试设备当前的测试项目，从服务器获取所述第一阈值和所述第二阈值。

5.一种测试设备的控制装置，所述装置包括：

获取单元，用于获取针对至少一个被测电子设备的测试结果；其中，所述测试结果包括所述至少一个被测电子设备的测试失败的次数；所述测试失败的次数包括累计测试失败的次数；

处理单元，用于若所述测试结果满足预设条件，停止所述测试设备的测试进程；其中，所述预设条件是指所述测试失败的次数大于预设阈值；所述若所述测试结果满足预设条件，停止所述测试设备的测试进程，包括：若所述累计测试失败的次数大于第二阈值，停止所述测试设备的测试进程；

所述获取单元，还用于获取输入的解密信息；

所述处理单元，还用于若所述输入的解密信息与预设密码匹配，开始对所述被测电子设备进行测试。

6.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述测试失败的次数包括连续测试失败的次数；

所述处理单元，还用于当所述连续测试失败的次数大于第一阈值，停止所述测试设备的测试进程。

7.一种测试设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述程序时实现权利要求1至4任一项所述测试设备的控制方法中的步骤。

8.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行实现权利要求1至4任一项所述方法的步骤。

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