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CN108806565B - 显示屏点灯测试装置及方法 - Google Patents

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CN108806565B CN201810557646.8A CN201810557646A CN108806565B CN 108806565 B CN108806565 B CN 108806565B CN 201810557646 A CN201810557646 A CN 201810557646A CN 108806565 B CN108806565 B CN 108806565B
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Abstract

本发明公开了一种显示屏点灯测试装置及方法，该装置用于对多个待测显示屏模块同时执行一点灯测试过程,包括：数个D型连接器，采样处理器；现场可编程门阵列芯片分别与D型连接器、采样处理器连接以接收信号数据和微控指令而产生对应的微控参数，依微控参数对信号数据进行处理以输出点灯测试所需的信号数据至该待测显示屏模块，从而对待测显示屏模块进行点灯测试。通过上述方式，通过D型连接器能一次性检测多个不同型号的待测显示屏模块同时执行一点灯测试，简化显示屏点灯测试装置的硬件部分及工作流程，提高工作效率。

Description

显示屏点灯测试装置及方法
【技术领域】
本发明涉及显示领域，特别是涉及一种显示屏点灯测试装置及方法。
【背景技术】
自IPhone X发布以来，OLED的显示技术的全面屏已经被广大消费者接受，且市场反向剧烈，在可预见的未来，应用PI基板的柔性显示必是极具竞争优势的显示技术。不管是全面屏还是柔性显示，它们共有的技术基础就是将DIC、TIC、Force Touch、S-Pen等结合设置在柔性电路板上，然后绕设到面板的背面，此柔性电路板再通过具有复数个pin脚的连接器与手机、pad等电子装置的具应用处理器的主板连接。其中除了这些不同种类的IC，甚至同种类的IC在不同的厂家的各种不同的要求下，所需要配置的连接器的长短、宽窄、pin数目和pin间距等等的规格也都可能相差很大。如此一来，在对面板进行光学、电性、功耗、Timing、Issue分析等方面的操作时，因应这些不同型号的连接器都需要一个相应的连接器，甚至是一个相应的连接测试治具才得以适配，不仅造成物料成本的浪费，还对测试上需要随时更换，造成费工费时。
现有技术，例如为了测试手机DIC、TIC、显示屏等的功耗、Timing及处理器界面信号，往往需要把手机主板的应用处理器与面板分开设计，通过制作专用的转板治具(例如设置一个FPC柔性电路板)，并在中间预留探点来实现此测试功能。但是由于不同种类的手机其连接器型号的差别很大，如果因此每种型号的连接器都制作一套测试治具，对制作厂商而言其成本势必会大幅提高。
【发明内容】
本发明的一个目的在于提供一种显示屏点灯测试装置及方法，以解决现有技术中不同种类、不同型号各自需要一套点灯测试治具的问题。
本发明的另一个目的在于提供一种显示屏点灯测试装置及方法，在不大幅改变原有显示屏点灯测试工艺中特别因应不同种类的连接器型号的前提下，能够简化显示屏点灯测试装置的硬件部分设计，且对不同型号的手机的前提下，只需更换其中整合连接器,即能进行点灯、测试使用，以节省成本。
本发明的又一个目的在于提供一种显示屏点灯测试装置及方法，通过与现场可编程门阵列的连接，将实现更加复杂的功能，比如自动测试电压，电流，功耗，处理器界面解码等信息，然后将此信息送到显示屏上显示。
为解决上述技术问题，本发明采用的一个技术方案是：提供一种显示屏点灯测试装置，该装置用于对多个待测显示屏模块同时执行一点灯测试过程。该装置包括：数个D型连接器，用于连接具不同连接器型号的手机中与其匹配的待测显示屏模块，接收并传输处理器界面/正电压/负电压/TIC电力信号数据；采样处理器，将接收到DIC、TIC、正电压、负电压的电力数据采集量化成所需数字和/或图片信号输出送给现场可编程门阵列芯片,并根据采样处理器接收到指令可输出对应的微控指令；现场可编程门阵列芯片，分别与D型连接器、采样处理器连接以接收该等信号数据和依据微控指令而产生对应的微控参数，依据微控参数对该等信号数据进行处理以输出点灯测试所需的信号数据至该待测显示屏模块，从而对待测显示模块进行点灯测试。
其中，显示屏点灯测试装置还包括：整合连接器，其左、右侧各设有成排的测试引线插头(公)、测试引线插座(母)；每个测试引线插头、测试引线插座上均可连接与其匹配的电压开关、电流开关和标准电流开关；亦即电压开关、电流开关和标准电流开关均可安装在左侧的测试引线插头上；右侧的测试引线插座上则可安装有进线电压表、进线电流表、和电流调整器等。由此可分别将左侧的显示面板与右侧的手机的应用处理器连接起来，建构成一个待测显示屏模块。
其中，通过数个D型连接器，一一相应地连接于多个具不同connector型号中与其匹配的待测显示屏模块，即能一次性检测并同时执行一点灯测试。
其中，对不同型号的手机，显示屏点灯测试装置只需更换其中整合连接器为适配于相应手机,即能进行操作点灯、测试使用。
其中，现场可编程门阵列芯片内集成设置有微处理器、显示控制器和具有存储计算程序的存储配控器，微处理器用于输出初始化信息，且微处理器连接显示控制器，通过存储配控器与D型连接器、采样处理器连接以接收、存储该等所需数字和/或图片信号数据和微控指令，并可读取内部存储的数字和/或图片信号数据，再适当地提供给微处理器。现场可编程门阵列芯片通过显示控制器连接D型连接器而连接待测显示屏模块，以输出初始化信息至待测显示屏模块从而对待测显示屏模块进行初始化操作，并输出处理后的待测显示屏模块要进行点灯测试所需的数字数据和/或图片数据至待测显示屏模块，从而对待测显示屏模块进行点灯测试。
再者，基于上述结构的实施方式，本发明显示屏点灯测试装置通过数个D型连接器，一一相应地连接于多个不同型号手机的与其匹配的待测显示屏模块时，现场可编程门阵列芯片通过显示控制器连接多个D型连接器而连接多个待测显示屏模块，以输出初始化信息至多个待测显示屏模块从而对多个待测显示屏模块进行初始化操作，并输出处理后的待测显示屏模块要进行点灯测试所需的数字数据和/或图片数据至多个待测显示屏模块，从而可对多个待测显示屏模块进行一次性检测并同时执行一点灯测试。
其中，现场可编程门阵列芯片内进一步包括：参数配置器，可接收存储配控器所输出的微控指令，并根据微控指令而产生对应的微控参数，依微控参数对该等信号数据自动处理采样后所需数字和/或图片该等信号数据，即为初始化信息，再提供给微处理器，通过微处理器连接显示控制器，显示控制器连接待测显示屏模块，俾以输出初始化信息至待测显示屏模块，从而对待测显示屏模块进行初始化操作，并将最终结果反馈到所测显示屏上显示出来。
其中，现场可编程门阵列芯片内进一步包括：数字/图片处理器，数字/图片处理器与存储配控器连接以接收存储配控器所输出的数字和/或图片信号数据，且数字/图片处理器进一步与参数配置器连接，以根据微控参数而对数字和/或图片信号数据进行处理；选择控制器，连接数字/图片处理器，用以根据其选择的型号模式而对数字/图片处理器进行选择数字和/或图片之一所输出的处理后数字数据和/或图片数据作为处理后的待测显示屏模块要进行点灯测试所需的数字数据和/或图片数据进行输出，且选择控制器进一步连接显示控制器而连接于D型连接器，以通过显示控制器而输出经数字/图片处理器所选择并处理后的数字数据和/或图片数据给相应的待测显示屏模块。
其中，选择控制器进一步连接微处理器以接收微处理器所输出的模式选择指令并根据手机型号选择指令而工作在相应的选择匹配型号模式下。
其中，显示屏点灯测试装置内进一步包括：功率微控模块，其连接在现场可编程门阵列芯片与待D型连接器之间，以接收现场可编程门阵列芯片所输出的功率微控参数，并根据功率微控参数而输出对应的电源电压通过D型连接器传至多个待测显示屏模块，以控制多个待测显示屏模块在不同功率下同时进行点灯测试。
其中，现场可编程门阵列芯片内进一步包括：功率微控器，其分别与参数配置器和功率微控模块连接，其中，参数配置器所产生的微控参数还包括功率微控参数，功率微控器接收功率微控参数，并根据功率微控参数而产生对应的功率微控指令，并将其输出至功率微控模块以控制功率微控模块输出对应的电源电压。
其中，采样处理器内进一步包括：数字模拟转换器，可将由采样处理器接收到电压、电流信号、功耗经数字模拟转换器采集量化成所需数字信号并输出送至现场可编程门阵列芯片，以利现场可编程门阵列芯片进行后续的点灯测试，可以实现自动测试工作。
其中，现场可编程门阵列芯片通过内部集成设置的存储配控器，当已知显示面板DIC的处理器界面初始化代码时，可以直接通过现场可编程门阵列芯片进行点亮显示面板，甚至不需要使用到应用处理器给显示面板提供电源，可改由现场可编程门阵列芯片提供给显示面板提供电源；或者，当不知道显示面板DIC的处理器界面初始化代码时，是可以通过先将图片压缩成DIC接受的标准化VESC图片,然后通过应用处理器将显示面板点亮起来，再将处理器界面开关断开，接续通过现场可编程门阵列芯片送出压缩的图片，最终结果可反馈到所测显示屏上显示出来。另外，通过现场可编程门阵列芯片还可以结合光学算法，来研究光学问题。
为解决上述技术问题，本发明采用的另一个技术方案是：提供一种显示屏点灯测试方法，该方法可应用于以上任一项显示屏点灯测试装置。该方法包括：通过整合连接器左、右侧各设有测试引线插头(公)、测试引线插座(母)，每个测试引线插头、测试引线插座上均可连接与其匹配的电压开关、电流开关和标准电流开关，以将显示面板与手机的应用处理器连接起来，建构成一个待测显示屏模块；通过数个D型连接器，可一一连接于多个具不同连接器型号的与其匹配的待测显示屏模块，接收并传输电力信号；通过采样处理器，将接收到的电力信号采集量化成所需数字和/或图片信号数据并输出至现场可编程门阵列芯片；通过现场可编程门阵列芯片内集成的微处理器而输出初始化信息，并通过现场可编程门阵列芯片内集成的显示控制器通过D型连接器而将初始化信息输出至待测显示屏模块，以对待测显示屏模块进行初始化操作；通过现场可编程门阵列芯片集成的存储配控器读取所存储要进行点灯测试所需的数字数据和/或图片数据；通过现场可编程门阵列芯片接收由采样处理器传出的微控指令，根据微控指令而产生对应的微控参数，并根据微控参数对所需的数字数据和/或图片数据进行处理，并通过现场可编程门阵列芯片内集成的显示控制器连接D型连接器而输出处理后的待测显示屏模块要进行点灯测试所需的数字数据和/或图片数据至多个待测显示屏模块，从而对多个待测显示屏模块进行一次性检测并同时执行一点灯测试工作。
本发明通过以上方案的技术具体的功效，①.通过整合连接器左、右侧的测试引线插头(公)、测试引线插座(母)均可连接与其匹配的电压开关、电流开关和标准电流开关，以将显示面板与手机的应用处理器连接构成一个待测显示屏模块，②.对不同型号的手机，只需更换整合连接器为适配于相应型号的手机，如此即可建构成多个具不同连接器型号的待测显示屏模块，③.把微处理器、显示控制器和存储配控器集成整合到现场可编程门阵列芯片中，④.把数个D型连接器，一一相应地连接与其匹配的多个待测显示屏模块，如此，即能对多个不同型号的手机进行一次性检测并同时执行一点灯测试操作使用，也简化了显示屏点灯测试装置的硬件部分设计，减少电子元器件的使用数量，提升显示屏点灯装置的使用广度及稳定性，节省成本，方便了研发人员对显示屏点灯测试装置的使用与后续的维护。
【附图说明】
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面对实施例中所需要使用的附图作简单的介绍。下面描述中的附图仅为本发明的部分实施例，对于本领域普通技术人员而言，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获取其他的附图。
图1是本发明显示屏点灯测试装置的待测显示屏模块一实施方式的结构示意图；
图2是本发明显示屏点灯测试装置的整体结构示意图；
图3是图2本发明显示屏点灯测试装置一实施方式的部份结构示意图；
图4是本发明显示屏点灯测试装置另一实施方式的部份结构示意图；
图5是本发明显示屏点灯测试方法一实施方式的流程示意图。
【具体实施方式】
请参照附图中的图式，其中相同的组件符号代表相同的组件。以下结构附图和实施方式的说明是基于所例示的本发明具体实施例。应当理解，此处所描述的具体实施方式仅仅用以解释本发明，其不应被视为限制本发明未在此详述的其它具体实施例。
请参阅图1，图1是本发明显示屏点灯测试装置的待测显示屏模块一实施方式的结构示意图；图2是本发明显示屏点灯测试装置的整体结构示意图；图3是图2本发明显示屏点灯测试装置一实施方式的部份结构示意图。
本实施方式中，本发明显示屏点灯测试装置用于对多个待测显示屏模块进行一次性检测并同时执行一点灯测试。该显示屏点灯测试装置1包括：整合连接器10，整合连接器10的左侧设有成排的测试引线插头(公)101、右侧设有成排的测试引线插座(母)102，每个测试引线插头101及测试引线插座102上均可连接可与其匹配的电压开关、电流开关和标准电流开关。具体地，例如电压开关、电流开关和标准电流开关均可安装在左侧的测试引线插头101上。右侧的测试引线插座102上则可安装有进线电压表、进线电流表、和电流调整器等。由此可分别连接于左侧的显示面板70与右侧的手机的应用处理器80，从而建构成一个待测显示屏模块60。
其中，当不同型号的手机内具有不同种类的连接器时，请配合参阅图2，显示屏点灯测试装置1只需更换其中整合连接器10＇(10＇＇)为适配于相应手机。由此可分别连接于左侧的显示面板71(72)与右侧的手机的应用处理器81(82)，从而建构成另一个待测显示屏模块60＇(60＇＇)，即能进行后续的点灯、测试操作使用。
请参阅图2与图3,本实施方式中，该显示模组点灯测试装置1还包括：数个D型连接器11、采样处理器12、现场可编程门阵列芯片13。其中，现场可编程门阵列芯片13分别与D型连接器11与采样处理器12连接。现场可编程门阵列芯片13包括：微处理器131、显示控制器132和具有存储计算程序的存储配控器133。
具体地，D型连接器11用于连接具不同连接器型号的手机中与其匹配的待测显示屏模块60(60＇,60＇＇)，因此D型连接器11的数量可视连接多个手机而决定。请配合参阅图2，本实施方式中，是以同时连接3个具不同连接器型号的手机为例示。3个D型连接器11均连接与其匹配的待测显示屏模块60、60＇、60＇＇；D型连接器11可接收并传输处理器界面、正电压、负电压、电流、TIC等电力信号；采样处理器12，用于接收手机(或用户)指令并根据手机(或用户)指令而输出对应的微控指令，以及将接收到DIC、TIC、正电压、负电压等的电力信号采集量化成所需信号数据(包括数字和/或图片)，都输出给现场可编程门阵列芯片13；现场可编程门阵列芯片13分别与D型连接器、采样处理器12连接，以接收该等信号数据和微控指令并依微控指令而产生对应的微控参数，且依据微控参数对该等信号数据进行处理以输出点灯测试所需的信号数据至该待测显示屏模块60、60＇、60＇＇，从而对待测显示屏模块60、60＇、60＇＇同时进行点灯测试。
具体地，现场可编程门阵列芯片13内集成有微处理器131、显示控制器132和具有存储计算程序的存储配控器133，且微处理器131与显示控制器132连接，显示控制器132还通过D型连接器11连接待测显示模组60、60＇、60＇＇，存储配控器133与D型连接器与釆样处理器连接，并可读取内部存储的数字和/或图片的信号数据，再适当地提供给微处理器131。
具体地，现场可编程门阵列芯片13内集成设置的微处理器131用于输出初始化信息，显示控制器132用于输出该初始化信息至待测显示屏模块60(60＇、60＇＇)，从而对待测显示屏模块60(60＇、60＇＇)进行初始化操作。此外，现场可编程门阵列芯片13进一步通过集成的存储配控器133内部设有存储计算程序，且与D型连接器11、采样处理器12连接以接收由D型连接器11、采样处理器12发送的用以进行点灯测试所需的该等数字数据和/或图片数据与微控指令并存储，且可读取内部存储的数字数据和/或图片数据并进行分析分类，现场可编程门阵列芯片13并根据微控指令而产生对应的微控参数，进而根据微控参数对数字数据和/或图片数据进行处理以输出经处理后的待测显示屏模块要进行点灯测试所需的数字数据和/或图片数据，再适当地提供给微处理器131，并通过显示控制器132连接D型连接器11而传输至待测显示屏模块60、60＇、60＇＇，从而对多个待测显示屏模块60、60＇、60＇＇进行一次性检测并同时执行一点灯测试。
具体地，采样处理器12内进一步包括：数字模拟转换器121，可将由采样处理器12接收到电压、电流信号、功耗经数字模拟转换器采集量化成所需数字信号并输出送至现场可编程门阵列芯片13，以利现场可编程门阵列芯片13进行后续的点灯测试，可以实现自动测试工作。
本实施方式中，通过整合连接器将显示面板与手机的应用处理器连接构成一个待测显示屏模块，再通过对不同型号的手机，只需更换整合连接器为适配于相应型号的手机，如此即可建构成多个具不同连接器型号的待测显示屏模块，另外由于现场可编辑门阵列芯片中集成了微处理器、显示控制器和存储配控器，且通过数个D型连接器，一一相应地连接与其匹配的多个待测显示屏模块，如此，即能对多个不同型号的手机进行一次性检测并同时执行一点灯测试操作使用，因此其简化了显示屏点灯测试装置的硬件部分设计，减少电子元器件的使用数量，提升显示屏点灯测试装置的使用广度及稳定性，节省成本，方便了研发人员对显示屏点灯测试装置的点灯测试工作与后续维护。
其中，现场可编程门阵列芯片通过内部集成设置的存储配控器，当已知显示面板DIC的处理器界面初始化代码时，可以直接通过现场可编程门阵列芯片进行点亮显示屏，甚至不需要使用到应用处理器给显示面板提供电源，可改由现场可编程门阵列芯片提供给显示面板提供电源；或者，当不知道显示面板DIC的处理器界面初始化代码时，是可以通过先将图片压缩成DIC接受的标准化VESC图片,然后通过应用处理器将显示面板点亮起来，再将处理器界面开关断开，接续通过现场可编程门阵列芯片送出压缩的图片，最终结果可反馈到所测显示屏上显示出来。另外，通过现场可编程门阵列芯片还可以结合光学算法，来研究光学问题。
请参阅图4并配合图2，图4是本发明显示屏点灯测试装置另一实施方式的部份结构示意图；区别于上述实施方式，本实施方式中的显示模组点灯测试装置2包括：整合连接器10，D型连接器21、釆样处理器22、现场可编辑门阵列芯片23、手机/用户指令接收模块24、功率微控模块25。其中，现场可编程门阵列芯片23分别与D型连接器21与采样处理器22连接，现场可编辑门阵列芯片23包括微处理器231、显示控制器232、存储配控器233、数字/图片处理器234、选择控制器235、参数配置器236、功率微控器237。
具体地，采样处理器22内进一步包括：数字模拟转换器221，可将由采样处理器22接收到电压、电流信号、功耗经数字模拟转换器采集量化成所需数字信号并输出送至现场可编程门阵列芯片23，以利现场可编程门阵列芯片23进行后续的点灯测试，可以实现自动测试工作。
具体地，微处理器231与显示控制器232连接，显示控制器232通过D型连接器21连接于待测显示模组60、60＇、60＇＇；存储配控器233内部设有存储计算程序，且与D型连接器21、采样处理器22连接，并可读取内部存储的数字和/或图片的信号数据，再适当地提供给微处理器131。微处理器231还与选择控制器235连接。手机/用户指令接收模块24与釆样处理器22连接。
其中，存储配控器233还分别连接数字/图片处理器234和参数配置器236连接，数字/图片处理器234还进一步分别与选择控制器235和参数配置器236连接，选择控制器235进一步连接显示控制器232。
其中，参数配置器236还与功率微控器237连接；功率微控器237与功率微控模块25连接。
具体地，存储配控器233与D型连接器21、采样处理器22连接，以接收由D型连接器21、采样处理器22发送的用以进行点灯测试所需的该等数字数据和/或图片数据与微控指令并存储，且可读取其内部存储的数字数据和/或图片数据并进行分析分类；参数配置器236可接收存储配控器233所输出的微控指令，并根据微控指令而产生对应的微控参数；数字/图片处理器234用于接收存储配控器233所输出的数字数据和/或图片数据，且数字/图片处理器234进一步根据参数配置器236输出的控制参数而对数字数据和/或图片数据进行处理；选择控制器235进一步接收微处理器231所输出型号模式选择指令(即D型连接器21所接收不同型号的待测显示屏模块)，并根据型号模式选择指令而工作在相应模式下，对经数字/图片处理器234所输出处理后数字数据和/或图片数据进行选择处理，作为处理后待测显示屏模块60要进行点灯测试所需的数字数据和/或图片数据而进行输出，并通过显示控制器132连接D型连接器11而将匹配的数字数据和/或图片数据传输至待测显示屏模块60、60＇、60＇＇，从而对多个待测显示屏模块60、60＇、60＇＇进行一次性检测并同时执行一点灯测试。
具体地，釆样处理器22用于接收手机/用户指令接收模块24所输出的模式指令，且解析该模式指令成为微控指令，并通过存储配控器233传给参数配置器236，解析得到的控制指令而产出对应的控制参数；数字/图片处理器234进一步根据参数配置器236输出的控制参数而对所接收到的数字数据和/或图片数据进行处理。其中，选择控制器235是根据微处理器231所输出的型号模式选择指令，而输出选择相应的处理后数字和/或图片信息控制参数至数字/图片处理器234，而功率控制参数则输出至功率微控器237。其中，功率微控器237是接收选择控制器235输出的功率控制参数，并根据该功率控制参数而产生对应的功率控制指令，并将其输出至功率微控模块25以进一步控制功率微控模块25输出对应的电源电压。
进一步，功率微控模块25用于接收现场可编程门阵列芯片23所输出的功率控制参数，并根据功率控制参数而输出对应的电源电压通过D型连接器传至待测显示屏模块60(60＇、60＇＇)，以控制待测显示屏模块60(60＇、60＇＇)在不同功率下可进行点灯测试。
本实施方式中，通过整合连接器将显示屏与手机的应用处理器连接构成一个待测显示屏模块，再通过对不同型号的手机，只需更换整合连接器为适配于相应型号的手机，如此即可建构成多个具不同连接器型号的待测显示屏模块，另由于现场可编辑门阵列芯片中集成了微处理器、显示控制器和存储配控器，且通过数个D型连接器，一一相应地连接与其匹配的多个待测显示屏模块，如此，即能对多个不同型号的手机进行一次性检测并同时执行一点灯测试操作使用，即能对多个不同型号的手机进行一次性检测并同时执行一点灯测试操作使用，因此其简化了显示屏点灯测试装置的硬件部分设计，减少电子元器件的使用数量，提升显示屏点灯测试装置的使用广度及稳定性，节省成本，方便了研发人员对显示屏点灯测试装置的点灯测试工作与后续维护。
其中，现场可编程门阵列芯片通过内部集成设置的存储配控器，当已知显示面板DIC的处理器界面初始化代码时，可以直接通过现场可编程门阵列芯片进行点亮显示屏，甚至不需要使用到应用处理器给显示面板提供电源，可改由现场可编程门阵列芯片提供给显示面板提供电源；或者，当不知道显示面板DIC的处理器界面初始化代码时，是可以通过先将图片压缩成DIC接受的标准化VESC图片,然后通过应用处理器将显示面板点亮起来，再将处理器界面开关断开，接续通过现场可编程门阵列芯片送出压缩的图片，最终结果可反馈到所测显示屏上显示出来。另外，通过现场可编程门阵列芯片还可以结合光学算法，来研究光学问题。
请参阅图5，图5是本发明显示屏点灯测试方法一实施方式的流程示意图。其中，本发明的显示屏点灯测试方法是应用在上述的显示屏点灯测试装置中，且如图5所示，所述方法包括如下步骤：
S501：通过整合连接器左、右侧各设有测试引线插头、测试引线插座，每个测试引线插头与测试引线插座上均可连接与其匹配的电压开关、电流开关和标准电流开关，以将显示面板与手机的应用处理器连接起来，建构成一个待测显示屏模块；
S502：通过数个D型连接器，可一一连接于多个具不同连接器型号的与其匹配的待测显示屏模块，接收并传输电力信号；
S503：通过采样处理器，将接收到的电力信号采集量化成所需数字和/或图片信号数据并输出至现场可编程门阵列芯片；
S504：通过现场可编程门阵列芯片内集成的微处理器而输出初始化信息，并通过现场可编程门阵列芯片内集成的显示控制器通过D型连接器而将初始化信息输出至待测显示屏模块，以对待测显示屏模块进行初始化操作；
S505：通过现场可编程门阵列芯片集成的存储配控器读取所存储要进行点灯测试所需的数字数据和/或图片数据；
S506：通过现场可编程门阵列芯片接收由采样处理器传出的微控指令，根据微控指令而产生对应的微控参数，并根据微控参数对所需的数字数据和/或图片数据进行处理，并通过现场可编程门阵列芯片内集成的显示控制器连接D型连接器而输出处理后的待测显示屏模块要进行点灯测试所需的数字数据和/或图片数据至多个待测显示屏模块，从而对多个待测显示屏模块进行一次性检测并同时执行一点灯测试工作。
详细的测试过程如上面的实施方式所述，在此不再赘述。
本实施方法中，通过整合连接器将显示屏与手机的应用处理器连接构成一个待测显示屏模块，再通过对不同型号的手机，只需更换整合连接器为适配于相应型号的手机，如此即可建构成多个具不同连接器型号的待测显示屏模块，另由于现场可编辑门阵列芯片中集成了微处理器、显示控制器和存储配控器，且通过数个D型连接器，一一相应地连接与其匹配的多个待测显示屏模块，如此，即能对多个不同型号的手机进行一次性检测并同时执行一点灯测试操作使用，即能对多个不同型号的手机进行一次性检测并同时执行一点灯测试操作使用，因此其简化了显示屏点灯测试装置的硬件部分设计，减少电子元器件的使用数量，提升显示屏点灯测试装置的使用广度及稳定性，节省成本，方便了研发人员对显示屏点灯测试装置的点灯测试工作与后续维护。
其中，现场可编程门阵列芯片通过内部集成设置的存储配控器，当已知显示面板DIC的处理器界面初始化代码时，可以直接通过现场可编程门阵列芯片进行点亮显示屏，甚至不需要使用到应用处理器给显示面板提供电源，可改由现场可编程门阵列芯片提供给显示面板提供电源；或者，当不知道显示面板DIC的处理器界面初始化代码时，是可以通过先将图片压缩成DIC接受的标准化VESC图片,然后通过应用处理器将显示面板点亮起来，再将处理器界面开关断开，接续通过现场可编程门阵列芯片送出压缩的图片，最终结果可反馈到所测显示屏上显示出来。另外，通过现场可编程门阵列芯片还可以结合光学算法，来研究光学问题。
综上所述，虽然本发明已以优选实施例揭露如上，但以上所述仅为本发明的实施方式，并非因此限制本发明的专利范围，本领域的普通技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内，均可作各种更动与润饰，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (8)

1.一种显示屏点灯测试装置，用于对多个待测显示屏模块同时进行点灯测试，其特征在于，包括：
整合连接器，其两侧设有测试引线插头、测试引线插座均可连接与其匹配的电压开关、电流开关和标准电流开关，以将显示面板与应用处理器连接，构成所述待测显示屏模块；
数个D型连接器，可连接多个所述待测显示屏模块，接收并传输电力信号；
采样处理器，接收所述电力信号采集量化成所需数字数据和/或图片数据并输出至现场可编程门阵列芯片，接收并根据指令而输出对应的微控指令；以及
现场可编程门阵列芯片内集成有微处理器、显示控制器、存储配控器、参数配置器、数字/图片处理器和选择控制器，所述微处理器用于输出初始化信息，且所述微处理器连接所述显示控制器，所述现场可编程门阵列芯片通过所述显示控制器输出所述初始化信息通过所述数个D型连接器而传至多个所述待测显示屏模块进行初始化操作，所述存储配控器与D型连接器与釆样处理器连接，以接收所述数字数据和/或图片数据与所述微控指令，所述参数配置器与存储配控器连接以根据所述微控指令而产生对应的微控参数，所述数字/图片处理器分别与所述存储配控器和参数配置器连接，以接收并根据所述微控参数对所述数字数据和/或图片数据进行处理，所述 选择控制器连接所述数字/图片处理器和显示控制器，以根据型号模式选择指令而工作在相应模式下，对所述数字/图片处理器所输出的处理后的数字数据和/或图片数据进行选择处理，并通过多个D型连接器传送至多个且相应的所述待测显示屏模块，从而对多个所述待测显示屏模块同时进行一点灯测试。
2.如权利要求1所述的显示屏点灯测试装置，其特征在于，所述采样处理器内包括：
数字模拟转换器，可将所述采样处理器接收到电压、电流信号、功耗采集量化成所需数字信号并输出送至现场可编程门阵列芯片，以利现场可编程门阵列芯片进行后续的点灯测试。
3.如权利要求1所述的显示屏点灯测试装置，其特征在于，所述采样处理器进一步连接至一用于接收手机/用户输入所述手机/用户指令的手机/用户指令接收模块，以输出所述手机/用户指令至所述采样处理器。
4.如权利要求1所述的显示屏点灯测试装置，其特征在于，所述选择控制器进一步连接所述微处理器以接收所述微处理器所输出的所述型号模式选择指令并根据所述型号模式选择指令而工作在相应的模式下。
5.如权利要求4所述的显示屏点灯测试装置，其特征在于，进一步包括：
功率微控模块，其连接于所述现场可编程门阵列芯片与所述D型连 接器之间，以接收所述现场可编程门阵列芯片所输出的功率控制参数，并根据所述功率控制参数而输出对应的电源电压通过D型连接器传至所述待测显示屏模块，以控制所述待测显示屏模块在不同功率下进行点灯测试。
6.如权利要求5所述的显示屏点灯测试装置，其特征在于，所述现场可编程门阵列芯片内进一步包括：
功率微控器，其分别连接于所述参数配置器和所述功率微控模块，其中，所述参数配置器所产生的所述控制参数包括所述功率控制参数，所述功率微控器用于接收并根据所述功率控制参数而产生对应的功率控制指令，并将其输出至所述功率微控模块以控制输出对应的电源电压。
7.一种显示屏点灯测试方法，其应用于如权利要求1-6中任意一项所述的显示屏点灯测试装置，所述方法包括：
通过整合连接器两侧设有测试引线插头、测试引线插座，所述测试引线插头与所述测试引线插座上均可连接与其匹配的电压开关、电流开关和标准电流开关，以将显示面板与应用处理器连接起来，构成一待测显示屏模块；
通过数个D型连接器，可连接多个所述待测显示屏模块，接收并传输电力信号；
通过采样处理器，将接收到所述电力信号采集量化成所需数字和/或图片数据并输出至现场可编程门阵列芯片；
通过所述现场可编程门阵列芯片内集成的微处理器而输出初始化信息，并通过所述现场可编程门阵列芯片内集成的显示控制器通过所述D型连接器而将所述初始化信息输出至多个所述待测显示屏模块，以对多个所述待测显示屏模块进行初始化操作；
通过所述现场可编程门阵列芯片集成的存储配控器读取所存储要进行点灯测试所需的数字数据和/或图片数据；
通过所述现场可编程门阵列芯片内集成的参数配置器接收由所述采样处理器传出的微控指令，根据所述微控指令而产生对应的微控参数，通过所述现场可编程门阵列芯片内集成的数字/图片处理器根据所述微控参数对所需的数字数据和/或图片数据进行处理，并通过所述参数配置器内集成的选择控制器连接所述数字/图片处理器和显示控制器，以根据型号模式选择指令而工作在相应模式下，并对所述数字/图片处理器处理后的数字数据和/或图片数据进行选择处理，再通过多个所述D型连接器输出至多个且相应的所述待测显示屏模块，从而对多个所述待测显示屏模块进行一次性检测并同时执行一点灯测试工作；
其中，所述显示屏点灯测试装置只需要更换所述整合连接器为适配对应手机，即能进行点灯测试。
8.根据权利要求7所述的显示屏点灯测试方法，其特征在于，所述现场可编程门阵列芯片通过内部集成设置的所述存储配控器，当已知显示面板的处理器界面初始化代码时，可以直接通过所述现场可编程门阵列芯片进行点亮所述显示面板，甚至不需要使用到所述应用处理器提供电源给所述显示面板，可改由所述现场可编程门阵列芯片提供电源给所述显示面板；或者，当不知道所述显示面板的处理器界面初始化代码时，是可以通过先将图片压缩成所述显示面板DIC接受的标准化VESC图片,然后通过所述应用处理器将所述显示面板点亮，再将所述处理器界面开关断开，接续通过所述现场可编程门阵列芯片送出所述压缩的图片，最终结果可反馈到所测显示屏上显示出来。
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