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CN108683465A - 信令测试方法、装置、计算机设备和存储介质 - Google Patents

信令测试方法、装置、计算机设备和存储介质 Download PDF

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CN108683465A
CN108683465A CN201810467163.9A CN201810467163A CN108683465A CN 108683465 A CN108683465 A CN 108683465A CN 201810467163 A CN201810467163 A CN 201810467163A CN 108683465 A CN108683465 A CN 108683465A
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张天瑜
许宁
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Shenzhen Guanghetong Wireless Communication Software Co ltd
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Shenzhen Guanghetong Wireless Communication Software Co ltd
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Abstract

本申请涉及一种信令测试方法、系统、计算机设备和存储介质。方法包括：获取信令测试的相关参数；在模拟的NB‑IoT网络中，根据信令测试的相关参数，测试待测NB‑IoT模块的第一性能；更新信令测试的相关参数中第二性能测试对应的相关参数，在模拟的NB‑IoT网络中，根据更新后的信令测试的相关参数，测试待测NB‑IoT模块的第二性能，第一性能为发射性能、且第二性能为接收性能，或第一性能为接收性能、且第二性能为发射性能。通过上述信令测试方法可以检验待出厂的NB‑IoT模块在真实网络下的表现，保证NB‑IoT模块出厂性能。

Description

信令测试方法、装置、计算机设备和存储介质
技术领域
本申请涉及电子产品生产技术领域，特别是涉及一种信令测试方法、装置、计算机设备和存储介质。
背景技术
随着物联网技术的发展，出现了NB-IoT(Narrow Band Internet of Things,窄带物联网)技术，NB-IoT构建于蜂窝网络，只消耗大约180KHz的带宽，可直接部署于GSM(Global System for Mobile communication，全球移动通信系统)网络、UMTS(UniversalMobile Telecommunications System，通用移动通信系统)网络或LTE(Long TermEvolution，通用移动通信技术的长期演进)网络，以降低部署成本、实现平滑升级。
目前通信终端的射频综测分为非信令测试和信令测试两种方法。非信令测试是直接控制通信终端的物理层来进行发射和接收测试；而信令测试就是用综测仪模拟基站，和通信终端建立起连接，综测仪发出各种信令，通信终端此时相当于联上了网络，从而进行发射和接收指标的测试。
然而NB-IoT终端目前只进行非信令综测，NB-IoT只进行非信令综测，无法检验出厂的NB-IoT终端在真实网络下的表现，无法保证NB-IoT终端的出厂性能。
发明内容
基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种能够对NB-IoT终端进行信令综测的信令测试方法方法、装置、计算机设备和存储介质。
一种信令测试方法，所述方法包括：
获取信令测试的相关参数；
在模拟的NB-IoT网络中，根据所述信令测试的相关参数，测试待测NB-IoT模块的第一性能；
更新所述信令测试的相关参数中第二性能测试对应的相关参数，在所述模拟的NB-IoT网络中，根据更新后的所述信令测试的相关参数，测试所述待测NB-IoT模块的第二性能，所述第一性能为发射性能、且所述第二性能为接收性能，或所述第一性能为接收性能、且所述第二性能为发射性能。
在其中一个实施例中，所述设置信令测试的相关参数之前包括：
初始化待测NB-IoT模块的供电电源；
向所述供电电源发送上电控制指令，控制所述供电电源为所述待测NB-IoT模块上电；
读取所述待测NB-IoT模块的基本信息。
在其中一个实施例中，所述在模拟的NB-IoT网络中，根据所述信令测试的相关参数，测试待测模块的第一性能之前还包括：
模拟NB-IoT网络；
在所述NB-IoT网络上注册所述待测NB-IoT模块；
通过所述NB-IoT网络与待测NB-IoT模块连接。
在其中一个实施例中，所述在所述NB-IoT网络上注册所述待测NB-IoT模块之前还包括：
启动所述待测NB-IoT模块。
在其中一个实施例中，所述在所述NB-IoT网络上注册所述待测NB-IoT模块之前还包括：
向所述待测NB-IoT模块发送联网控制指令，控制所述待测NB-IoT模块搜索NB-IoT网络。
在其中一个实施例中，所述更新所述信令测试的相关参数中第二性能测试的相关参数，根据更新后信令测试的相关参数测试所述待测NB-IoT模块的第二性能之后还包括：
记录所述待测NB-IoT模块已测试所述第一性能以及所述第二性能的频段；
当所述待测NB-IoT模块还有需要测试的频段时，修改所述信令测试的相关参数，返回在模拟的NB-IoT网络中，根据所述信令测试的相关参数，测试待测模块的第一性能的步骤。
在其中一个实施例中，所述信令测试的相关参数包括频段，所述修改所述信令测试的相关参数，根据修改后信令测试的相关参数测试所述待测NB-IoT模块的接收性能，获得所述待测NB-IoT模块的接收性能参数之后还包括：
记录所述待测NB-IoT模块已测试所述第一性能以及所述第二性能的频段；
当所述待测NB-IoT模块已测试的频段包括所有所述待测NB-IoT模块需要测试的频段时，保存所述待测NB-IoT模块的发射性能与接收性能。
一种信令测试装置，所述装置包括：
测试参数获取模块，用于获取信令测试的相关参数；
第一性能测试模块，用于在模拟的NB-IoT网络中，根据所述信令测试的相关参数，测试待测模块的第一性能；
第二性能测试模块，用于更新所述信令测试的相关参数中第二性能测试的相关参数，在所述模拟的NB-IoT网络中，根据更新后的所述信令测试的相关参数，测试所述待测模块的第二性能，所述第一性能为发射性能，所述第二性能为接收性能，或所述第一性能为接收性能，所述第二性能为发射性能。
一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现以下步骤：
获取信令测试的相关参数；
在模拟的NB-IoT网络中，根据所述信令测试的相关参数，测试待测NB-IoT模块的第一性能；
更新所述信令测试的相关参数中第二性能测试对应的相关参数，在所述模拟的NB-IoT网络中，根据更新后的所述信令测试的相关参数，测试所述待测NB-IoT模块的第二性能，所述第一性能为发射性能、且所述第二性能为接收性能，或所述第一性能为接收性能、且所述第二性能为发射性能。
一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：
获取信令测试的相关参数；
在模拟的NB-IoT网络中，根据所述信令测试的相关参数，测试待测NB-IoT模块的第一性能；
更新所述信令测试的相关参数中第二性能测试对应的相关参数，在所述模拟的NB-IoT网络中，根据更新后的所述信令测试的相关参数，测试所述待测NB-IoT模块的第二性能，所述第一性能为发射性能、且所述第二性能为接收性能，或所述第一性能为接收性能、且所述第二性能为发射性能。
上述信令测试方法、装置、计算机设备和存储介质，首先设置对待测NB-IoT模块进行测试的相关参数，而后模拟NB-IoT网络，并通过所模拟的NB-IoT网络对待测NB-IoT模块的第一性能进行测试，在第一性能测试完成后，修改相关参数中的第二性能测试参数，对待测NB-IoT模块的第二性能进行测试，获得待测NB-IoT模块的性能参数，其中第一性能为发射性能、且第二性能为接收性能，或第一性能为接收性能、且第二性能为发射性能。通过上述信令测试方法可以检验待出厂的NB-IoT模块在真实网络下的表现，保证NB-IoT模块出厂性能。
附图说明
图1为一个实施例中信令测试方法的流程示意图；
图2为另一个实施例中信令测试方法的流程示意图；
图3为另一个实施例中信令测试方法的流程示意图；
图4为另一个实施例中信令测试方法的流程示意图；
图5为另一个实施例中信令测试方法的流程示意图；
图6为另一个实施例中信令测试方法的流程示意图；
图7为另一个实施例中信令测试方法的流程示意图；
图8为一个实施例中信令测试装置的结构框图；
图9为一个实施例中计算机设备的内部结构图。
具体实施方式
为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。
本申请提供的信令测试方法，可以应用于终端设备中，用于对NB-IoT模块进行信令测试。终端与待测NB-IoT模块以及综测仪连接。综测仪用于模拟基站，待测NB-IoT模块可以与综测仪NB-IoT网络连接。其中，终端102可以但不限于是各种个人计算机、笔记本电脑、平板电脑和工业电脑。
在一个实施例中，如图1所示，提供了一种信令测试方法，以该方法应用于上述中的终端为例进行说明，包括以下步骤：
S200，获取信令测试的相关参数。
信令测试是相对与非信令测试而言的，具体为通过综测仪模拟基站，和待测NB-IoT模块的建立起连接，待测NB-IoT模块此时相当于连上了网络，从而可以进行发射和接收指标的测试。相关参数包括但不限于频段、信道以及线损。频段具体为LTE频段，如band1、band3、band5、band8等。信道和线损与所选择的频段对应。相关参数还包括了第一性能测试的相关参数，具体可以包括综测仪的参考功率以及综测仪的发包数量等。首先获取对待测NB-IoT模块进行信令测试的相关参数。
S400，在模拟的NB-IoT网络中，根据所述信令测试的相关参数，测试待测NB-IoT模块的第一性能。
NB-IoT是IoT领域的一个技术，支持低功耗设备在广域网的蜂窝数据连接，也被叫作低功耗广域网。NB-IoT支持待机时间长、对网络连接要求较高设备的高效连接。NB-IoT设备电池寿命可以提高至至少10年，同时还能提供非常全面的室内蜂窝数据连接覆盖。将获取的用于对待测NB-IoT模块进行测试的相关参数通过GPIB(General-Purpose InterfaceBus，通用串口总线)或者网线导入综测仪，根据相关参数对综测仪进行设置，并在综测仪模拟的NB-IoT网络中测试待测NB-IoT模块的第一性能。在其中一个实施例中，综测仪可以修改频段、信道以及线损等参数，从而测试待测NB-IoT模块在不同频段中的第一性能。
S600，更新所述信令测试的相关参数中第二性能测试对应的相关参数，在所述模拟的NB-IoT网络中，根据更新后的所述信令测试的相关参数，测试所述待测NB-IoT模块的第二性能，所述第一性能为发射性能、且所述第二性能为接收性能，或所述第一性能为接收性能、且所述第二性能为发射性能。
第二性能测试对应的相关参数是指相关参数中与第二性能测试相关的参数。当测试第一性能为发射性能，第二性能为接收性能时，第一性能测试时设置的参数至少包括综测仪的参考功率，修改的参数至少包括综测仪的参考功率，此外还需对综测仪的发包数量进行设置。当测试第一性能为接收性能，第二性能为发射性能时，第一性能测试时设置的参数至少包括综测仪的参考功率以及综测仪的发包数量，修改的参数至少包括综测仪的参考功率。待测NB-IoT模块的发射性能参数包括最大发射功率、最小发射功率、频率误差、OBW(Occupied Bandwidth，占用带宽)、EVM(Occupied Bandwidth，即占用带宽，矢量幅度误差)、ACLR(Adjacent Channel Leakage Ratio，相邻频道泄漏比)以及带内杂散等。待测NB-IoT模块的接收性能参数包括BLER(Block Error Ratio，误块率)以及最大输入电平下的误块率。在测试完待测NB-IoT模块的第一性能之后，可以对综测仪的测试参数中与第二性能测试相关的参数进行修改，而后进行，获得待测NB-IoT模块的第二性能。在其中一个实施例中，综测仪可以修改频段、信道以及线损等参数，从而测试待测NB-IoT模块在不同频段中的第二性能。
在其中一个实施例中，当第一性能为发射性能，第二性能为接收性能时。首先获取信令测试的相关参数，根据参数对用于信令测试的综测仪的测试参数进行设置，参数具体包括但不限于频段、信道、线损以及综测仪的参考功率，而后在模拟的NB-IoT网络中，根据所述信令测试的相关参数，测试待测NB-IoT模块的发射性能，具体包括最大发射功率、最小发射功率、频率误差、OBW、EVM、ACLR以及带内杂散等，而后更新信令测试的相关参数中接收性能测试对应的相关参数，更新的参数具体包括综测仪的参考功率以及综测仪的发包数量，而后在模拟的NB-IoT网络中，根据更新后的信令测试的相关参数，测试所述待测NB-IoT模块的接收性能，接收性能参数具体包括BLER以及最大输入电平下的误块率。
在其中一个实施例中，当第一性能为接收性能，第二性能为发射性能时。首先获取信令测试的相关参数，根据参数对用于信令测试的综测仪的测试参数进行设置，参数具体包括但不限于频段、信道、线损、综测仪的参考功率以及综测仪的发包数量，而后在模拟的NB-IoT网络中，根据所述信令测试的相关参数，测试待测NB-IoT模块的接收性能，接收性能具体包括BLER以及最大输入电平下的误块率，而后更新信令测试的相关参数中发射性能测试对应的相关参数，更新的参数具体包括综测仪的参考功率，而后在模拟的NB-IoT网络中，根据更新后的信令测试的相关参数，测试所述待测NB-IoT模块的发射性能，具体包括最大发射功率、最小发射功率、频率误差、OBW、EVM、ACLR以及带内杂散等。
上述信令测试方法、装置、计算机设备和存储介质，首先设置对待测NB-IoT模块进行测试的相关参数，而后模拟NB-IoT网络，并通过所模拟的NB-IoT网络对待测NB-IoT模块的第一性能进行测试，在第一性能测试完成后，修改相关参数中的第二性能测试参数，对待测NB-IoT模块的第二性能进行测试，获得待测NB-IoT模块的性能参数，其中第一性能为发射性能、且第二性能为接收性能，或第一性能为接收性能、且第二性能为发射性能。通过上述信令测试方法可以检验待出厂的NB-IoT模块在真实网络下的表现，保证NB-IoT模块出厂性能。
如图2所示，在其中一个实施例中，设置信令测试的相关参数之前包括：
S120，初始化待测NB-IoT模块的供电电源。
S140，向供电电源发送上电控制指令，控制供电电源为待测NB-IoT模块上电；
S160，读取待测NB-IoT模块的基本信息。
在测试待测NB-IoT模块的性能之前，先初始化待测NB-IoT模块的供电电源，再向待测NB-IoT模块的供电电源发送控制指令，为待测NB-IoT模块上电，读取待测NB-IoT模块的基本信息。基本信息包括SN(Serial Number，产品序列号)，IMEI(International MobileEquipment Identit，国际移动设备识别码)以及待测NB-IoT模块的软硬件版本。读取待测NB-IoT模块的基本信息有利于记录待测NB-IoT模块的发射性能与接收性能。
如图3所示，在其中一个实施例中，步骤S400，在模拟的NB-IoT网络中，根据信令测试的相关参数，测试待测模块的第一性能之前还包括：
S320，模拟NB-IoT网络。
S340，在NB-IoT网络上注册待测NB-IoT模块。
S360，通过NB-IoT网络与待测NB-IoT模块连接。
可以通过控制打开综测仪的信号开关来模拟NB-IoT网络，而后在综测仪建立的NB-IoT网络上注册待测NB-IoT模块，而后通过NB-IoT网络建立综测仪与待测NB-IoT模块的连接。方便待测NB-IoT模块的测试。
如图4所示，在其中一个实施例中，步骤S340，在NB-IoT网络上注册待测NB-IoT模块之前还包括：
S332，启动待测NB-IoT模块。
在综测仪模拟NB-IoT网络后，当待测NB-IoT模块处于未启动状态时，则控制待测NB-IoT模块的供电电源启动待测NB-IoT模块，当待测NB-IoT模块处于启动状态时，则控制待测NB-IoT模块的供电电源重启待测NB-IoT模块，启动待测NB-IoT模块的作用是让模块搜索NB-IoT网络。从而在NB-IoT网络上注册待测NB-IoT模块。
如图5所示，在其中一个实施例中，步骤S340，在NB-IoT网络上注册待测NB-IoT模块之前还包括：
S334，向待测NB-IoT模块发送联网控制指令，控制待测NB-IoT模块搜索NB-IoT网络。
在综测仪模拟NB-IoT网络后，当待测NB-IoT模块处于启动状态时，则可以向待测NB-IoT模块发送联网控制指令，控制待测NB-IoT模块搜索NB-IoT网络，而后在NB-IoT网络上注册待测NB-IoT模块。
如图6所示，在其中一个实施例中，步骤S600，更新信令测试的相关参数中第二性能测试的相关参数，根据更新后信令测试的相关参数测试待测NB-IoT模块的第二性能之后还包括：
S700，记录待测NB-IoT模块已测试第一性能以及第二性能的频段。
S820，当待测NB-IoT模块还有需要测试的频段时，修改信令测试的相关参数，返回在模拟的NB-IoT网络中，根据信令测试的相关参数，测试待测模块的第一性能的步骤。
可以首先测试待测NB-IoT模块在一个频段内的发射性能与接收性能。在测试完成后，重新设置信令测试的相关参数，具体包括频段、信道以及线损等，而后再次测试待测NB-IoT模块的在另外一个频段的性能。通过更换频段进行测试，更能测试待测NB-IoT模块在不同的真实网络下的表现。
如图7所示，在其中一个实施例中，步骤S600，信令测试的相关参数包括频段，修改信令测试的相关参数，根据修改后信令测试的相关参数测试待测NB-IoT模块的接收性能，获得待测NB-IoT模块的接收性能参数之后还包括：
S700，记录待测NB-IoT模块已测试第一性能以及第二性能的频段；
S840，当待测NB-IoT模块已测试的频段包括所有待测NB-IoT模块需要测试的频段时，保存待测NB-IoT模块的发射性能与接收性能。
在测试完待测NB-IoT模块在所有频段内的发射性能与接收性能之后，可以保存待测NB-IoT模块的发射性能与接收性能的参数，用于对比分析所有待测NB-IoT模块的性能，保证待测NB-IoT模块的出厂性能。
在其中一个实施例中，本申请的信令测试方法包括以下步骤：
S120，初始化待测NB-IoT模块的供电电源。
S140，向供电电源发送上电控制指令，控制供电电源为待测NB-IoT模块上电；
S160，读取待测NB-IoT模块的基本信息。
S200，获取信令测试的相关参数。
S320，模拟NB-IoT网络。
S332，重启待测NB-IoT模块。
S340，在NB-IoT网络上注册待测NB-IoT模块。
S360，通过NB-IoT网络与待测NB-IoT模块连接。
S400，在模拟的NB-IoT网络中，根据所述信令测试的相关参数，测试待测NB-IoT模块的发射性能。
S600，更新所述信令测试的相关参数中接收性能测试对应的相关参数，在所述模拟的NB-IoT网络中，根据更新后的所述信令测试的相关参数，测试所述待测NB-IoT模块的接收性能。
S700，记录待测NB-IoT模块已测试发射性能以及接收性能的频段,。
S820，当待测NB-IoT模块还有需要测试的频段时，修改信令测试的相关参数，返回在模拟的NB-IoT网络中，根据信令测试的相关参数，测试待测模块的发射性能的步骤。
S840，当待测NB-IoT模块已测试的频段包括所有待测NB-IoT模块需要测试的频段时，保存待测NB-IoT模块的发射性能与接收性能。
在测试完待测NB-IoT模块在所有频段内的发射性能与接收性能之后，可以保存待测NB-IoT模块的发射性能与接收性能的参数，用于对比分析所有待测NB-IoT模块的性能，保证待测NB-IoT模块的出厂性能。
应该理解的是，虽然图1-7的流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示，但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明，这些步骤的执行并没有严格的顺序限制，这些步骤可以以其它的顺序执行。而且，图1-7中的至少一部分步骤可以包括多个子步骤或者多个阶段，这些子步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成，而是可以在不同的时刻执行，这些子步骤或者阶段的执行顺序也不必然是依次进行，而是可以与其它步骤或者其它步骤的子步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。
在一个实施例中，如图8所示，提供了一种信令测试装置，装置包括：
测试参数获取模块200，用于获取信令测试的相关参数；
第一性能测试模块400，用于在模拟的NB-IoT网络中，根据信令测试的相关参数，测试待测模块的第一性能；
第二性能测试模块600，用于更新信令测试的相关参数中第二性能测试的相关参数，在模拟的NB-IoT网络中，根据更新后的信令测试的相关参数，测试待测模块的第二性能，第一性能为发射性能，第二性能为接收性能，或第一性能为接收性能，第二性能为发射性能。
在其中一个实施例中，信令测试装置还包括模块信息读取模块，模块信息读取模块用于：
初始化待测NB-IoT模块的供电电源；
向供电电源发送上电控制指令，控制供电电源为待测NB-IoT模块上电；
读取待测NB-IoT模块的基本信息。
在其中一个实施例中，信令测试装置还包括网络连接模块，网络连接模块用于：
模拟NB-IoT网络；
在NB-IoT网络上注册待测NB-IoT模块；
通过NB-IoT网络与待测NB-IoT模块连接。
在其中一个实施例中，网络连接模块还用于：
启动待测NB-IoT模块。
在其中一个实施例中，网络连接模块还用于：
向待测NB-IoT模块发送联网控制指令，控制待测NB-IoT模块搜索NB-IoT网络。
在其中一个实施例中，信令测试装置还包括测试频段切换模块，测试频段切换模块用于：
记录待测NB-IoT模块已测试第一性能以及第二性能的频段；
当待测NB-IoT模块还有需要测试的频段时，修改信令测试的相关参数，返回在模拟的NB-IoT网络中，根据信令测试的相关参数，测试待测模块的第一性能的步骤。
在其中一个实施例中，信令测试装置还包括测试信息保存模块，测试信息保存模块用于：
记录待测NB-IoT模块已测试第一性能以及第二性能的频段；
当待测NB-IoT模块已测试的频段包括所有待测NB-IoT模块需要测试的频段时，保存待测NB-IoT模块的发射性能与接收性能。
关于信令测试装置的具体限定可以参见上文中对于信令测试方法的限定，在此不再赘述。上述信令测试装置中的各个模块可全部或部分通过软件、硬件及其组合来实现。上述各模块可以硬件形式内嵌于或独立于计算机设备中的处理器中，也可以以软件形式存储于计算机设备中的存储器中，以便于处理器调用执行以上各个模块对应的操作。
在一个实施例中，提供了一种计算机设备，该计算机设备可以是终端，其内部结构图可以如图9所示。该计算机设备包括通过系统总线连接的处理器、存储器、网络接口、显示屏和输入装置。其中，该计算机设备的处理器用于提供计算和控制能力。该计算机设备的存储器包括非易失性存储介质、内存储器。该非易失性存储介质存储有操作系统和计算机程序。该内存储器为非易失性存储介质中的操作系统和计算机程序的运行提供环境。该计算机设备的网络接口用于与外部的终端通过网络连接通信。该计算机程序被处理器执行时以实现一种信令测试方法。该计算机设备的显示屏可以是液晶显示屏或者电子墨水显示屏，该计算机设备的输入装置可以是显示屏上覆盖的触摸层，也可以是计算机设备外壳上设置的按键、轨迹球或触控板，还可以是外接的键盘、触控板或鼠标等。
本领域技术人员可以理解，图9中示出的结构，仅仅是与本申请方案相关的部分结构的框图，并不构成对本申请方案所应用于其上的计算机设备的限定，具体的计算机设备可以包括比图中所示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者具有不同的部件布置。
在一个实施例中，提供了一种计算机设备，包括存储器和处理器，存储器中存储有计算机程序，该处理器执行计算机程序时实现以下步骤：
获取信令测试的相关参数；
在模拟的NB-IoT网络中，根据信令测试的相关参数，测试待测NB-IoT模块的第一性能；
更新信令测试的相关参数中第二性能测试对应的相关参数，在模拟的NB-IoT网络中，根据更新后的信令测试的相关参数，测试待测NB-IoT模块的第二性能，第一性能为发射性能、且第二性能为接收性能，或第一性能为接收性能、且第二性能为发射性能。
在一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：
初始化待测NB-IoT模块的供电电源；
向供电电源发送上电控制指令，控制供电电源为待测NB-IoT模块上电；
读取待测NB-IoT模块的基本信息。
在一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：
模拟NB-IoT网络；
在NB-IoT网络上注册待测NB-IoT模块；
通过NB-IoT网络与待测NB-IoT模块连接。
在一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：
启动待测NB-IoT模块。
在一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：
向待测NB-IoT模块发送联网控制指令，控制待测NB-IoT模块搜索NB-IoT网络。
在一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：
记录待测NB-IoT模块已测试第一性能以及第二性能的频段；
当待测NB-IoT模块还有需要测试的频段时，修改信令测试的相关参数，返回在模拟的NB-IoT网络中，根据信令测试的相关参数，测试待测模块的第一性能的步骤。
在一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：
记录待测NB-IoT模块已测试第一性能以及第二性能的频段；
当待测NB-IoT模块已测试的频段包括所有待测NB-IoT模块需要测试的频段时，保存待测NB-IoT模块的发射性能与接收性能。
在一个实施例中，提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：
获取信令测试的相关参数；
在模拟的NB-IoT网络中，根据信令测试的相关参数，测试待测NB-IoT模块的第一性能；
更新信令测试的相关参数中第二性能测试对应的相关参数，在模拟的NB-IoT网络中，根据更新后的信令测试的相关参数，测试待测NB-IoT模块的第二性能，第一性能为发射性能、且第二性能为接收性能，或第一性能为接收性能、且第二性能为发射性能。
在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：
初始化待测NB-IoT模块的供电电源；
向供电电源发送上电控制指令，控制供电电源为待测NB-IoT模块上电；
读取待测NB-IoT模块的基本信息。
在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：
模拟NB-IoT网络；
在NB-IoT网络上注册待测NB-IoT模块；
通过NB-IoT网络与待测NB-IoT模块连接。
在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：
启动待测NB-IoT模块。
在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：
向待测NB-IoT模块发送联网控制指令，控制待测NB-IoT模块搜索NB-IoT网络。
在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：
记录待测NB-IoT模块已测试第一性能以及第二性能的频段；
当待测NB-IoT模块还有需要测试的频段时，修改信令测试的相关参数，返回在模拟的NB-IoT网络中，根据信令测试的相关参数，测试待测模块的第一性能的步骤。
在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：
记录待测NB-IoT模块已测试第一性能以及第二性能的频段；
当待测NB-IoT模块已测试的频段包括所有待测NB-IoT模块需要测试的频段时，保存待测NB-IoT模块的发射性能与接收性能。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，的计算机程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中，该计算机程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，本申请所提供的各实施例中所使用的对存储器、存储、数据库或其它介质的任何引用，均可包括非易失性和/或易失性存储器。非易失性存储器可包括只读存储器(ROM)、可编程ROM(PROM)、电可编程ROM(EPROM)、电可擦除可编程ROM(EEPROM)或闪存。易失性存储器可包括随机存取存储器(RAM)或者外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限，RAM以多种形式可得，诸如静态RAM(SRAM)、动态RAM(DRAM)、同步DRAM(SDRAM)、双数据率SDRAM(DDRSDRAM)、增强型SDRAM(ESDRAM)、同步链路(Synchlink)DRAM(SLDRAM)、存储器总线(Rambus)直接RAM(RDRAM)、直接存储器总线动态RAM(DRDRAM)、以及存储器总线动态RAM(RDRAM)等。
以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
以上实施例仅表达了本申请的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围。因此，本申请专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种信令测试方法，所述方法包括：
获取信令测试的相关参数；
在模拟的NB-IoT网络中，根据所述信令测试的相关参数，测试待测NB-IoT模块的第一性能；
更新所述信令测试的相关参数中第二性能测试对应的相关参数，在所述模拟的NB-IoT网络中，根据更新后的所述信令测试的相关参数，测试所述待测NB-IoT模块的第二性能，所述第一性能为发射性能、且所述第二性能为接收性能，或所述第一性能为接收性能、且所述第二性能为发射性能。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述设置信令测试的相关参数之前包括：
初始化待测NB-IoT模块的供电电源；
向所述供电电源发送上电控制指令，控制所述供电电源为所述待测NB-IoT模块上电；
读取所述待测NB-IoT模块的基本信息。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述在模拟的NB-IoT网络中，根据所述信令测试的相关参数，测试待测模块的第一性能之前还包括：
模拟NB-IoT网络；
在所述NB-IoT网络上注册所述待测NB-IoT模块；
通过所述NB-IoT网络与待测NB-IoT模块连接。
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述在所述NB-IoT网络上注册所述待测NB-IoT模块之前还包括：
启动所述待测NB-IoT模块。
5.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述在所述NB-IoT网络上注册所述待测NB-IoT模块之前还包括：
向所述待测NB-IoT模块发送联网控制指令，控制所述待测NB-IoT模块搜索NB-IoT网络。
6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述更新所述信令测试的相关参数中第二性能测试的相关参数，根据更新后信令测试的相关参数测试所述待测NB-IoT模块的第二性能之后还包括：
记录所述待测NB-IoT模块已测试所述第一性能以及所述第二性能的频段；
当所述待测NB-IoT模块还有需要测试的频段时，修改所述信令测试的相关参数，返回在模拟的NB-IoT网络中，根据所述信令测试的相关参数，测试待测模块的第一性能的步骤。
7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述信令测试的相关参数包括频段，所述修改所述信令测试的相关参数，根据修改后信令测试的相关参数测试所述待测NB-IoT模块的接收性能，获得所述待测NB-IoT模块的接收性能参数之后还包括：
记录所述待测NB-IoT模块已测试所述第一性能以及所述第二性能的频段；
当所述待测NB-IoT模块已测试的频段包括所有所述待测NB-IoT模块需要测试的频段时，保存所述待测NB-IoT模块的发射性能与接收性能。
8.一种信令测试装置，其特征在于，所述装置包括：
测试参数获取模块，用于获取信令测试的相关参数；
第一性能测试模块，用于在模拟的NB-IoT网络中，根据所述信令测试的相关参数，测试所述待测模块的第一性能；
第二性能测试模块，用于更新所述信令测试的相关参数中第二性能测试的相关参数，在所述模拟的NB-IoT网络中，根据更新后的所述信令测试的相关参数，测试所述待测模块第二性能，所述第一性能为发射性能，所述第二性能为接收性能，或所述第一性能为接收性能，所述第二性能为发射性能。
9.一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至7中任一项所述方法的步骤。
10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至7中任一项所述的方法的步骤。
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