CN106973291A - 一种摄像模组、电子设备、污点修复方法及系统 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种摄像模组、电子设备、污点修复方法及系统，其中，所述污点修复方法在所述摄像模组拍摄照片时，检测所述滤光片和感光芯片表面的污点，并根据检测到的污点位置对所述摄像模组拍摄的照片进行污点修复处理，避免了由于滤光片和感光芯片表面存在污点而导致的拍摄照片存在污点的情况，提升了摄像模组的制备良率，从而降低了所述摄像模组的制备成本。

Description

一种摄像模组、电子设备、污点修复方法及系统

技术领域

本申请涉及图像处理技术领域，更具体地说，涉及一种摄像模组、电子设备、污点修复方法及系统。

背景技术

随着电子设备的不断发展，在电子设备中集成摄像模组，以实现摄像功能成为厂家和消费者追逐的潮流之一。

摄像模组通常由底座、镜头模组和感光芯片组成，其中镜头模组通常包括镜头、滤光片和驱动镜头移动的马达。在摄像模组出厂之前需要进行污点检测，避免由于摄像模组中的污点造成的拍摄功能不良。一旦检测到摄像模组拍摄的照片中有污点存在，那么该摄像模组就需要进行返厂维修后重新装配，这一过程无疑会增加摄像模组的制备成本。

发明内容

为解决上述技术问题，本发明提供了一种摄像模组、电子设备、污点修复方法及系统，以解决由于污点造成的摄像模组返修而导致的摄像模组成本提高的问题。

为解决上述技术问题，本发明实施例提供了如下技术方案：

一种污点修复方法，应用于摄像模组，所述摄像模组包括镜头模组和感光芯片，所述镜头模组包括滤光片；所述污点修复方法包括：

在所述摄像模组拍摄照片时，检测所述滤光片和感光芯片表面的污点；

根据检测到的污点位置对所述摄像模组拍摄的照片进行污点修复处理。

可选的，所述根据检测到的污点位置对所述摄像模组拍摄的照片进行污点修复处理包括：

根据检测到的污点位置确定所述照片中与所述污点位置对应的待处理位置；

利用待处理位置预设范围内图像的像素点对所述待处理位置进行污点修复处理。

可选的，所述利用待处理位置预设范围内图像的像素点对所述待处理位置进行污点修复处理包括：

将所述待处理位置预设范围内图像的像素点作为样本点；

根据所述样本点的特征参数对所述待处理位置进行污点修复处理。

可选的，所述特征参数包括：纹理、光照、透明度和阴影参数。

一种污点修复系统，应用于摄像模组，所述摄像模组包括镜头模组和感光芯片，所述镜头模组包括滤光片；所述污点修复系统包括：

污点检测模块，用于在所述摄像模组拍摄照片时，检测所述滤光片和感光芯片表面的污点；；

修复模块，用于根据检测到的污点位置对所述摄像模组拍摄的照片进行污点修复处理。

可选的，所述修复模块包括：

位置确定单元，用于根据检测到的污点位置确定所述照片中与所述污点位置对应的待处理位置；

处理单元，用于利用待处理位置预设范围内图像的像素点对所述待处理位置进行污点修复处理。

可选的，所述处理单元包括：

样本点确定单元，用于将所述待处理位置预设范围内图像的像素点作为样本点；

污点修复单元，用于根据所述样本点的特征参数对所述待处理位置进行污点修复处理。

可选的，所述特征参数包括：纹理、光照、透明度和阴影参数。

一种摄像模组，包括镜头模组和感光芯片，所述镜头模组包括滤光片，还包括：如上述任一项所述的污点修复系统。

一种电子设备，包括如上述所述的摄像模组。

从上述技术方案可以看出，本发明实施例提供了一种摄像模组、电子设备、污点修复方法及系统，其中，所述污点修复方法在所述摄像模组拍摄照片时，检测所述滤光片和感光芯片表面的污点，并根据检测到的污点位置对所述摄像模组拍摄的照片进行污点修复处理，避免了由于滤光片和感光芯片表面存在污点而导致的拍摄照片存在污点的情况，提升了摄像模组的制备良率，从而降低了所述摄像模组的制备成本。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。

图1为本申请的一个实施例提供的一种污点修复方法的流程示意图；

图2为本申请的另一个实施例提供的一种污点修复方法的流程示意图；

图3为本申请的又一个实施例提供的一种污点修复方法的流程示意图；

图4为本申请的再一个实施例提供的一种污点修复方法的流程示意图；

图5为本申请的一个实施例提供的一种污点修复系统的结构示意图；

图6为本申请的另一个实施例提供的一种污点修复系统的结构示意图；

图7为本申请的又一个实施例提供的一种污点修复系统的结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

本申请实施例提供了一种污点修复方法，如图1所示，应用于摄像模组，所述摄像模组包括镜头模组和感光芯片，所述镜头模组包括滤光片；所述污点修复方法包括：

S101：在所述摄像模组拍摄照片时，检测所述滤光片和感光芯片表面的污点；

S102：根据检测到的污点位置对所述摄像模组拍摄的照片进行污点修复处理。

需要说明的是，一般情况下，所述摄像模组中影响拍摄效果且不易清理的污点大多位于感光芯片表面或滤光片表面；存在于感光芯片表面的污点多由于感光芯片装配过程中误入的尘点或由于感光芯片自身不良而携带的污点；而存在于滤光片表面的污点则大多由于所述摄像模组在装配或使用过程中的撞击而使得尘点从镜头模组中的马达缝隙中到达滤光片表面。

因此，在本申请中，所述污点修复方法主要针对所述滤光片和感光芯片表面存在的污点对所述摄像模组拍摄的照片进行污点修复处理，以避免由于滤光片和感光芯片表面存在的污点对拍摄照片的质量的影响。并且所述污点修复方法在所述摄像模组每次拍摄照片，均实时检测所述滤光片和感光芯片表面的污点，以实现对所述摄像模组拍摄的照片进行污点修复处理的精确性。利用所述污点修复方法的摄像模组不仅可以提高生产良率，降低制备成本，而且可以降低出厂后使用过程中的返修率，提升了摄像模组的可靠性。

在上述实施例的基础上，在本申请的一个实施例中，如图2所示，所述根据检测到的污点位置对所述摄像模组拍摄的照片进行污点修复处理包括：

S1021：根据检测到的污点位置确定所述照片中与所述污点位置对应的待处理位置；

S1022：利用待处理位置预设范围内图像的像素点对所述待处理位置进行污点修复处理。

根据检测到的污点位置确定所述照片中与所述污点位置对应的待处理位置的具体原理参考图3，图3中的标号A10表示所述滤光片，标号A20表示所述感光芯片；在图3中可以看出当所述滤光片表面存在污点时，根据光线照射在污点表面落在所述感光芯片表面的位置，然后根据该位置与感光芯片感光区域的相对位置关系即可确定污点在最终拍摄的照片中的位置，而位于所述感光芯片表面的污点即可直接利用污点在所述感光芯片表面的位置与感光芯片感光区域的相对位置关系确定污点在最终拍摄的照片中的位置。

在上述实施例的基础上，在本申请的又一个实施例中，如图4所示，所述利用待处理位置预设范围内图像的像素点对所述待处理位置进行污点修复处理包括：

S10221：将所述待处理位置预设范围内图像的像素点作为样本点；

S10222：根据所述样本点的特征参数对所述待处理位置进行污点修复处理。

具体地，在本申请的一个实施例中，所述特征参数包括：纹理、光照、透明度和阴影参数。

简单来说，根据所述样本点的特征参数对所述待处理位置进行污点修复处理即为根据所述样本点的特征参数匹配所述待处理位置的像素点的特征参数，以实现污点修复的效果。

综上所述，本申请实施例提供了一种污点修复方法，所述污点修复方法在所述摄像模组拍摄照片时，检测所述滤光片和感光芯片表面的污点，并根据检测到的污点位置对所述摄像模组拍摄的照片进行污点修复处理，避免了由于滤光片和感光芯片表面存在污点而导致的拍摄照片存在污点的情况，提升了摄像模组的制备良率，从而降低了所述摄像模组的制备成本。

相应的，本申请实施例还提供了一种污点修复系统，如图5所示，应用于摄像模组，所述摄像模组包括镜头模组和感光芯片，所述镜头模组包括滤光片；所述污点修复系统包括：

污点检测模块100，用于在所述摄像模组拍摄照片时，检测所述滤光片和感光芯片表面的污点；；

修复模块200，用于根据检测到的污点位置对所述摄像模组拍摄的照片进行污点修复处理。

需要说明的是，一般情况下，所述摄像模组中影响拍摄效果且不易清理的污点大多位于感光芯片表面或滤光片表面；存在于感光芯片表面的污点多由于感光芯片装配过程中误入的尘点或由于感光芯片自身不良而携带的污点；而存在于滤光片表面的污点则大多由于所述摄像模组在装配或使用过程中的撞击而使得尘点从镜头模组中的马达缝隙中到达滤光片表面。

因此，在本申请中，所述污点修复方法主要针对所述滤光片和感光芯片表面存在的污点对所述摄像模组拍摄的照片进行污点修复处理，以避免由于滤光片和感光芯片表面存在的污点对拍摄照片的质量的影响。并且所述污点修复方法在所述摄像模组每次拍摄照片，均实时检测所述滤光片和感光芯片表面的污点，以实现对所述摄像模组拍摄的照片进行污点修复处理的精确性。利用所述污点修复系统的摄像模组不仅可以提高生产良率，降低制备成本，而且可以降低出厂后使用过程中的返修率，提升了摄像模组的可靠性。

在上述实施例的基础上，在本申请的一个实施例中，如图6所示，所述修复模块200包括：

位置确定单元210，用于根据检测到的污点位置确定所述照片中与所述污点位置对应的待处理位置；

处理单元220，用于利用待处理位置预设范围内图像的像素点对所述待处理位置进行污点修复处理。

根据检测到的污点位置确定所述照片中与所述污点位置对应的待处理位置的具体原理参考图3，图3中的标号A10表示所述滤光片，标号A20表示所述感光芯片；在图3中可以看出当所述滤光片表面存在污点时，根据光线照射在污点表面落在所述感光芯片表面的位置，然后根据该位置与感光芯片感光区域的相对位置关系即可确定污点在最终拍摄的照片中的位置，而位于所述感光芯片表面的污点即可直接利用污点在所述感光芯片表面的位置与感光芯片感光区域的相对位置关系确定污点在最终拍摄的照片中的位置。

在上述实施例的基础上，在本申请的又一个实施例中，如图7所示，所述处理单元220包括：

样本点确定单元221，用于将所述待处理位置预设范围内图像的像素点作为样本点；

污点修复单元222，用于根据所述样本点的特征参数对所述待处理位置进行污点修复处理。

具体地，在本申请的一个实施例中，所述特征参数包括：纹理、光照、透明度和阴影参数。

简单来说，根据所述样本点的特征参数对所述待处理位置进行污点修复处理即为根据所述样本点的特征参数匹配所述待处理位置的像素点的特征参数，以实现污点修复的效果。

相应的，本申请实施例还提供了一种摄像模组，包括镜头模组和感光芯片，所述镜头模组包括滤光片，还包括：如上述任一实施例所述的污点修复系统。

相应的，本申请实施例还提供了一种电子设备，包括如上述实施例所述的摄像模组。

综上所述，本申请实施例提供了一种摄像模组、电子设备、污点修复方法及系统，其中，所述污点修复方法在所述摄像模组拍摄照片时，检测所述滤光片和感光芯片表面的污点，并根据检测到的污点位置对所述摄像模组拍摄的照片进行污点修复处理，避免了由于滤光片和感光芯片表面存在污点而导致的拍摄照片存在污点的情况，提升了摄像模组的制备良率，从而降低了所述摄像模组的制备成本。

本说明书中各个实施例采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。

对所公开的实施例的上述说明，使本领域专业技术人员能够实现或使用本发明。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本发明将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。

Claims (10)

1.一种污点修复方法，其特征在于，应用于摄像模组，所述摄像模组包括镜头模组和感光芯片，所述镜头模组包括滤光片；所述污点修复方法包括：

在所述摄像模组拍摄照片时，检测所述滤光片和感光芯片表面的污点；

根据检测到的污点位置对所述摄像模组拍摄的照片进行污点修复处理。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据检测到的污点位置对所述摄像模组拍摄的照片进行污点修复处理包括：

根据检测到的污点位置确定所述照片中与所述污点位置对应的待处理位置；

利用待处理位置预设范围内图像的像素点对所述待处理位置进行污点修复处理。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述利用待处理位置预设范围内图像的像素点对所述待处理位置进行污点修复处理包括：

将所述待处理位置预设范围内图像的像素点作为样本点；

根据所述样本点的特征参数对所述待处理位置进行污点修复处理。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述特征参数包括：纹理、光照、透明度和阴影参数。

5.一种污点修复系统，其特征在于，应用于摄像模组，所述摄像模组包括镜头模组和感光芯片，所述镜头模组包括滤光片；所述污点修复系统包括：

污点检测模块，用于在所述摄像模组拍摄照片时，检测所述滤光片和感光芯片表面的污点；；

修复模块，用于根据检测到的污点位置对所述摄像模组拍摄的照片进行污点修复处理。

6.根据权利要求5所述的系统，其特征在于，所述修复模块包括：

位置确定单元，用于根据检测到的污点位置确定所述照片中与所述污点位置对应的待处理位置；

处理单元，用于利用待处理位置预设范围内图像的像素点对所述待处理位置进行污点修复处理。

7.根据权利要求6所述的系统，其特征在于，所述处理单元包括：

样本点确定单元，用于将所述待处理位置预设范围内图像的像素点作为样本点；

污点修复单元，用于根据所述样本点的特征参数对所述待处理位置进行污点修复处理。

8.根据权利要求7所述的系统，其特征在于，所述特征参数包括：纹理、光照、透明度和阴影参数。

9.一种摄像模组，包括镜头模组和感光芯片，所述镜头模组包括滤光片，其特征在于，还包括：如权利要求5-8任一项所述的污点修复系统。

10.一种电子设备，其特征在于，包括如权利要求9所述的摄像模组。