[go: up one dir, main page]
More Web Proxy on the site http://driver.im/

CN106290417B - 一种多光路、跨尺度、高分辨率显微ct检测仪 - Google Patents

一种多光路、跨尺度、高分辨率显微ct检测仪 Download PDF

Info

Publication number
CN106290417B
CN106290417B CN201610765562.4A CN201610765562A CN106290417B CN 106290417 B CN106290417 B CN 106290417B CN 201610765562 A CN201610765562 A CN 201610765562A CN 106290417 B CN106290417 B CN 106290417B
Authority
CN
China
Prior art keywords
detector
ray source
resolution
micro
flat panel
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN201610765562.4A
Other languages
English (en)
Other versions
CN106290417A (zh
Inventor
须颖
未永
盛勇
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tianjin Sanying Precision Instruments Co ltd
Original Assignee
Tianjin Sanying Precision Instruments Co ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tianjin Sanying Precision Instruments Co ltd filed Critical Tianjin Sanying Precision Instruments Co ltd
Priority to CN201610765562.4A priority Critical patent/CN106290417B/zh
Publication of CN106290417A publication Critical patent/CN106290417A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN106290417B publication Critical patent/CN106290417B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
    • G01N23/04—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/03—Investigating materials by wave or particle radiation by transmission

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

本发明涉及一种多光路、跨尺度、高分辨率显微CT检测仪，所述检测仪包括底座、样品放置架、调整滑轨、闭管射线源、透射靶开管射线源、射线源切换滑台、探测器调整滑台、探测器切换滑台、平板探测器和高分辨率探测器组。本CT检测仪器使用时操作者可以沿水平方向和纵向来调整射线源与探测器的相对位置，透射靶开管射线源、闭管射线源均分别能够与平板探测器、高分辨率探测器组分别构成CT测量系统，组合方式灵活方便，使得该检测仪可以适应更高分辨率的测量(仅限于显微CT领域)，组成多条光路，以适应不同大小样品，不同分辨率的要求的测量，大大地增加了显微CT的测样范围，大大增强了显微CT的测量能力。

Description

一种多光路、跨尺度、高分辨率显微CT检测仪
技术领域
本发明属于检测设备技术领域，尤其是一种多光路、跨尺度、高分辨率显微CT检测仪。
背景技术
目前，现有技术中的显微CT检测仪器仅有一个射线源，当采用闭管射线源时，显微CT检测仪器容易维护，但是由于其焦点比较大、功率较高，因此适合测量高分辨率和较大的样品；当采用透射靶开管射线源时，显微CT检测仪器维护麻烦、源焦点小、功率不高，适合测量更高分辨率、尺寸较小的样品。由此可见，上述任何一种显微CT检测仪器都不能满足大样品和小样品的跨尺度测量要求，不能满足分辨率不同的需求。因此，亟需一种新的显微CT检测仪器。
通过检索，尚未发现与本专利申请相关的专利公开文献。
发明内容
本发明专利的目的在于克服现有技术的不足之处，提供一种多光路、跨尺度、高分辨率显微CT检测仪，该检测仪可以适应不同大小样品，不同分辨率的要求的测量，大大地增加了显微CT的测样范围，大大增强了显微CT的测量能力。
本发明解决技术问题所采取的技术方案是：
一种多光路、跨尺度、高分辨率显微CT检测仪，所述检测仪包括底座、样品放置架、调整滑轨、闭管射线源、透射靶开管射线源、射线源切换滑台、探测器调整滑台、探测器切换滑台、平板探测器和高分辨率探测器组，所述底座的上表面的中部位置设置样品放置架，该样品放置架的水平两侧的底座的上表面上沿水平方向对称设置沿水平方向设置的调整滑轨，一侧调整滑轨的上表面上滑动安装射线源切换滑台，该射线源切换滑台能够沿调整滑轨沿水平方向来回滑动，所述射线源切换滑台的上表面上滑动安装透射靶开管射线源、闭管射线源，该透射靶开管射线源和闭管射线源沿纵向并列设置，该透射靶开管射线源和闭管射线源均能沿射线源切换滑台的上表面上沿纵向来回滑动；
另一侧调整滑轨的上表面上滑动安装探测器调整滑台，该探测器调整滑台能够沿调整滑轨沿水平方向来回滑动，所述探测器调整滑台的上表面上安装探测器切换滑台，该探测器切换滑台的上表面上滑动安装平板探测器和高分辨率探测器组，该平板探测器和高分辨率探测器组沿纵向并列设置，该平板探测器和高分辨率探测器组均能沿探测器切换滑台的上表面上沿纵向来回滑动；
透射靶开管射线源、闭管射线源均分别能够与平板探测器、高分辨率探测器组分别构成CT测量系统。
而且，所述调整滑轨沿纵向对称设置2条。
本发明的优点和积极效果是：
1、本CT检测仪器设置了底座、样品放置架、调整滑轨、闭管射线源、透射靶开管射线源、射线源切换滑台、探测器调整滑台、探测器切换滑台、平板探测器和高分辨率探测器组，使用时操作者可以沿水平方向和纵向来调整射线源与探测器的相对位置，透射靶开管射线源、闭管射线源均分别能够与平板探测器、高分辨率探测器组分别构成CT测量系统，组合方式灵活方便，使得该检测仪可以适应更高分辨率的测量(仅限于显微CT领域)，组成多条光路，以适应不同大小样品，不同分辨率的要求的测量，大大地增加了显微CT的测样范围，大大增强了显微CT的测量能力。
2、本CT检测仪采用双微焦点源双探测器的多光路系统，兼顾了客户对高分辨率和大视野的要求(仅限于显微CT行列)，是一种新型的显微CT测量仪，在使用时，当客户要求更高的高分辨时，使用透射靶开管射线源进行测量；当客户要求一般时，采用闭管射线源进行测量，组合灵活，使用方便。
附图说明
图1为本发明的结构连接示意图。
具体实施方式
为了能进一步说明本发明内容、特点及功效，兹例举以下实施例，并配合附图细说明如下。需要说明的是，本实施例是描述性的，不是限定性的，不能由此限定本发明的保护范围。
一种多光路、跨尺度、高分辨率显微CT检测仪，如图1所示，所述检测仪包括底座4、样品放置架9、调整滑轨10、闭管射线源1、透射靶开管射线源2、射线源切换滑台3、探测器调整滑台5、探测器切换滑台6、平板探测器7和高分辨率探测器组8，所述底座的上表面的中部位置设置样品放置架，该样品放置架的水平两侧的底座的上表面上沿水平方向对称设置沿水平方向设置的调整滑轨，一侧调整滑轨的上表面上滑动安装射线源切换滑台，该射线源切换滑台能够沿调整滑轨沿水平方向来回滑动，所述射线源切换滑台的上表面上滑动安装透射靶开管射线源、闭管射线源，该透射靶开管射线源和闭管射线源沿纵向并列设置，该透射靶开管射线源和闭管射线源均能沿射线源切换滑台的上表面上沿纵向来回滑动；
另一侧调整滑轨的上表面上滑动安装探测器调整滑台，该探测器调整滑台能够沿调整滑轨沿水平方向来回滑动，所述探测器调整滑台的上表面上安装探测器切换滑台，该探测器切换滑台的上表面上滑动安装平板探测器和高分辨率探测器组，该平板探测器和高分辨率探测器组沿纵向并列设置，该平板探测器和高分辨率探测器组均能沿探测器切换滑台的上表面上沿纵向来回滑动；
透射靶开管射线源、闭管射线源均分别能够与平板探测器、高分辨率探测器组分别构成CT测量系统。
本CT检测仪器设置了底座、样品放置架、调整滑轨、闭管射线源、透射靶开管射线源、射线源切换滑台、探测器调整滑台、探测器切换滑台、平板探测器和高分辨率探测器组，使用时操作者可以沿水平方向和纵向来调整射线源与探测器的相对位置，透射靶开管射线源、闭管射线源均分别能够与平板探测器、高分辨率探测器组分别构成CT测量系统，组合方式灵活方便，使得该检测仪可以适应更高分辨率的测量(仅限于显微CT领域)，组成多条光路，以适应不同大小样品，不同分辨率的要求的测量，大大地增加了显微CT的测样范围，大大增强了显微CT的测量能力。
在本实施例中，所述调整滑轨沿纵向对称设置2条，使得射线源切换滑台、探测器调整滑台沿调整滑轨的调整更为方便、快捷，提高了工作效率。

Claims (2)

1.一种多光路、跨尺度、高分辨率显微CT检测仪，其特征在于：所述检测仪包括底座、样品放置架、调整滑轨、闭管射线源、透射靶开管射线源、射线源切换滑台、探测器调整滑台、探测器切换滑台、平板探测器和高分辨率探测器组，所述底座的上表面的中部位置设置样品放置架，该样品放置架的水平两侧的底座的上表面上沿水平方向对称设置沿水平方向设置的调整滑轨，一侧调整滑轨的上表面上滑动安装射线源切换滑台，该射线源切换滑台能够沿调整滑轨沿水平方向来回滑动，所述射线源切换滑台的上表面上滑动安装透射靶开管射线源、闭管射线源，该透射靶开管射线源和闭管射线源沿纵向并列设置，该透射靶开管射线源和闭管射线源均能沿射线源切换滑台的上表面上沿纵向来回滑动；
另一侧调整滑轨的上表面上滑动安装探测器调整滑台，该探测器调整滑台能够沿调整滑轨沿水平方向来回滑动，所述探测器调整滑台的上表面上安装探测器切换滑台，该探测器切换滑台的上表面上滑动安装平板探测器和高分辨率探测器组，该平板探测器和高分辨率探测器组沿纵向并列设置，该平板探测器和高分辨率探测器组均能沿探测器切换滑台的上表面上沿纵向来回滑动；
透射靶开管射线源、闭管射线源均分别能够与平板探测器、高分辨率探测器组分别构成CT测量系统。
2.根据权利要求1所述的多光路、跨尺度、高分辨率显微CT检测仪，其特征在于：所述调整滑轨沿纵向对称设置2条。
CN201610765562.4A 2016-08-29 2016-08-29 一种多光路、跨尺度、高分辨率显微ct检测仪 Active CN106290417B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201610765562.4A CN106290417B (zh) 2016-08-29 2016-08-29 一种多光路、跨尺度、高分辨率显微ct检测仪

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201610765562.4A CN106290417B (zh) 2016-08-29 2016-08-29 一种多光路、跨尺度、高分辨率显微ct检测仪

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN106290417A CN106290417A (zh) 2017-01-04
CN106290417B true CN106290417B (zh) 2023-06-13

Family

ID=57675522

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201610765562.4A Active CN106290417B (zh) 2016-08-29 2016-08-29 一种多光路、跨尺度、高分辨率显微ct检测仪

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN106290417B (zh)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107764844B (zh) * 2017-09-21 2020-04-21 重庆真测科技股份有限公司 大型ct检测设备的位置调整系统及其调整方法
CN108333196A (zh) * 2018-01-29 2018-07-27 中国科学院武汉岩土力学研究所 一种岩土水敏感性分析系统及其控制方法
CN108287128A (zh) * 2018-01-29 2018-07-17 中国科学院武汉岩土力学研究所 一种岩土干湿循环渗透率测量系统及其方法
CN109827979A (zh) * 2019-01-21 2019-05-31 天津三英精密仪器股份有限公司 一种高效在线式ct扫描成像方法及系统
CN114113168B (zh) * 2021-09-30 2024-03-19 阿塔米智能装备(北京)有限公司 适用于2d/2.5d/3d的dr/ct检测装置

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1392402A (zh) * 2001-06-20 2003-01-22 株式会社日立工程服务 X射线ct装置
JP2003202303A (ja) * 2002-01-08 2003-07-18 Sony Corp Ｘ線ｃｔ装置、ｘ線ｃｔ装置の調整方法及びｘ線ｃｔ装置の調整用冶具
CN102735700A (zh) * 2012-06-18 2012-10-17 东营市三英精密工程研究中心 X射线显微成像系统
CN102768219A (zh) * 2012-07-26 2012-11-07 清华大学 组合式射线无损检测方法及系统
WO2014015490A1 (zh) * 2012-07-26 2014-01-30 清华大学 组合式射线无损检测方法及系统
CN104597062A (zh) * 2015-02-02 2015-05-06 天津三英精密仪器有限公司 一种柱形束大视场x射线ct成像系统
CN205982138U (zh) * 2016-08-29 2017-02-22 天津三英精密仪器股份有限公司 多光路、跨尺度、高分辨率显微ct检测仪

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1392402A (zh) * 2001-06-20 2003-01-22 株式会社日立工程服务 X射线ct装置
JP2003202303A (ja) * 2002-01-08 2003-07-18 Sony Corp Ｘ線ｃｔ装置、ｘ線ｃｔ装置の調整方法及びｘ線ｃｔ装置の調整用冶具
CN102735700A (zh) * 2012-06-18 2012-10-17 东营市三英精密工程研究中心 X射线显微成像系统
CN102768219A (zh) * 2012-07-26 2012-11-07 清华大学 组合式射线无损检测方法及系统
WO2014015490A1 (zh) * 2012-07-26 2014-01-30 清华大学 组合式射线无损检测方法及系统
CN104597062A (zh) * 2015-02-02 2015-05-06 天津三英精密仪器有限公司 一种柱形束大视场x射线ct成像系统
CN205982138U (zh) * 2016-08-29 2017-02-22 天津三英精密仪器股份有限公司 多光路、跨尺度、高分辨率显微ct检测仪

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
孙翌 ; 沈涛 ; 吴华珍 ; 李光 ; 罗守华 ; 顾宁.细胞团成像与分析用高分辨显微CT系统的研究.中国科学基金.30(4),全文. *

Also Published As

Publication number Publication date
CN106290417A (zh) 2017-01-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN106290417B (zh) 一种多光路、跨尺度、高分辨率显微ct检测仪
Yeom et al. Optimizing timing performance of silicon photomultiplier-based scintillation detectors
CN101566500A (zh) 一种led光源光强空间分布特性测试装置及测试方法
MY182655A (en) Backscatter system with variable size of detector array
CN201229204Y (zh) 一种led光源光强空间分布特性测试装置
CN105403583A (zh) 荧光x射线分析装置以及其测定位置调整方法
CN103454070A (zh) 一种基于ccd探测的x射线组合折射透镜聚焦性能测试方法
CN103454071A (zh) 一种x射线组合折射透镜的聚焦性能测试方法
CN204479272U (zh) 一种焦距测量仪
CN105092618A (zh) 一种微束能量色散的x射线衍射仪及其使用方法
CN102564337A (zh) 影像测量机
CN103454069A (zh) X射线组合折射透镜聚焦性能测试装置
CN103499830A (zh) 一种测量微焦点x射线源有效焦点尺寸的方法
CN202563097U (zh) 一种十字丝扫描探测器
CN205982138U (zh) 多光路、跨尺度、高分辨率显微ct检测仪
CN204389412U (zh) 一种x荧光光谱分析自动标定装置
CN203965400U (zh) 薄层色谱-拉曼光谱联用装置
CN103940334A (zh) 动态二维光电显微镜
CN203848810U (zh) 一种锂离子电池外轮廓尺寸检测仪
CN104197849A (zh) 一种导线绝缘层厚度测量仪
CN205210314U (zh) 中子准直器中子性能测试装置
CN104796087A (zh) 光伏电池聚光测试装置
CN206301533U (zh) 一种单丝单缝衍射实验仪
CN104880167A (zh) 一种数显年轮宽度测量装置
CN202599876U (zh) 一种双连杆样品传送器

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant