[go: up one dir, main page]
More Web Proxy on the site http://driver.im/

NL7801071A - Inrichting voor het inspecteren van afstanden in een beeld. - Google Patents

Inrichting voor het inspecteren van afstanden in een beeld.

Info

Publication number
NL7801071A
NL7801071A NL7801071A NL7801071A NL7801071A NL 7801071 A NL7801071 A NL 7801071A NL 7801071 A NL7801071 A NL 7801071A NL 7801071 A NL7801071 A NL 7801071A NL 7801071 A NL7801071 A NL 7801071A
Authority
NL
Netherlands
Prior art keywords
inspecting
distances
image
inspecting distances
Prior art date
Application number
NL7801071A
Other languages
English (en)
Original Assignee
Danielsson Erik
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority claimed from SE7701565A external-priority patent/SE405050B/xx
Priority claimed from SE7713716A external-priority patent/SE409767B/sv
Application filed by Danielsson Erik filed Critical Danielsson Erik
Publication of NL7801071A publication Critical patent/NL7801071A/nl

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
    • G01R31/2805—Bare printed circuit boards
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
    • G01B11/024—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness by means of diode-array scanning

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Image Processing (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Image Analysis (AREA)
NL7801071A 1977-02-11 1978-01-30 Inrichting voor het inspecteren van afstanden in een beeld. NL7801071A (nl)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SE7701565A SE405050B (sv) 1977-02-11 1977-02-11 Anordning for kontroll av avstand mellan objekt i en tvadimensionell diskretiserad bild
SE7713716A SE409767B (sv) 1977-12-02 1977-12-02 Anordning for kontroll av avstand mellan objekt i en tvadimensionell diskretiserad bild

Publications (1)

Publication Number Publication Date
NL7801071A true NL7801071A (nl) 1978-08-15

Family

ID=26656782

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
NL7801071A NL7801071A (nl) 1977-02-11 1978-01-30 Inrichting voor het inspecteren van afstanden in een beeld.

Country Status (8)

Country Link
US (1) US4170003A (nl)
JP (1) JPS53121651A (nl)
CH (1) CH631854A5 (nl)
DE (1) DE2805754C2 (nl)
FR (1) FR2380597B1 (nl)
GB (1) GB1564181A (nl)
IT (1) IT1093286B (nl)
NL (1) NL7801071A (nl)

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4661984A (en) * 1977-06-03 1987-04-28 Bentley William A Line inspection system
DE2929846A1 (de) * 1979-07-23 1981-03-12 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Opto-elektronisches pruefsystem zur automatischen beschaffenheitspruefung von leiterplatten, deren zwischenprodukte und druckwerkzeuge
US4571497A (en) * 1982-08-19 1986-02-18 Eastman Kodak Company Method for continuously measuring the perimeter of wrapped objects
US4567372A (en) * 1982-08-19 1986-01-28 Eastman Kodak Company Method for continuously measuring the perimeter of wrapped objects of generally uniform cross-section
US4578810A (en) * 1983-08-08 1986-03-25 Itek Corporation System for printed circuit board defect detection
US4776022A (en) * 1985-04-09 1988-10-04 Aoi Systems, Inc. System for printed circuit board defect detection
DE4200173A1 (de) * 1992-01-07 1993-07-08 Tema Teubner & Mandewirth Gmbh Verfahren und vorrichtung zur ermittlung des dehnungsverhaltens von prueflingen

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3255437A (en) * 1961-01-23 1966-06-07 John W Ralls Electronic recognition
GB1063140A (en) * 1964-10-08 1967-03-30 Atomic Energy Authority Uk Improvements in or relating to tool-setting gauges
US3671941A (en) * 1969-05-31 1972-06-20 Iwatsu Electric Co Ltd Apparatus for judging and processing branches and or crossings for use in automatic curve tracing system
US3890596A (en) * 1970-11-12 1975-06-17 Philips Corp Method of and device for determining significant points of characters
DE2256617C3 (de) * 1971-11-19 1978-08-31 Hitachi, Ltd., Tokio Einrichtung zur Analyse einer Vorlage
JPS4934385A (nl) * 1972-07-28 1974-03-29
GB1431438A (en) * 1972-09-11 1976-04-07 Nat Res Dev Pattern recognition systems and apparatus
JPS5218136A (en) * 1975-08-01 1977-02-10 Hitachi Ltd Signal processing unit

Also Published As

Publication number Publication date
IT1093286B (it) 1985-07-19
US4170003A (en) 1979-10-02
GB1564181A (en) 1980-04-02
FR2380597B1 (fr) 1985-09-27
DE2805754C2 (de) 1986-09-11
FR2380597A1 (fr) 1978-09-08
IT7820161A0 (it) 1978-02-10
DE2805754A1 (de) 1978-08-17
CH631854A5 (de) 1982-08-31
JPS53121651A (en) 1978-10-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
NL7704728A (nl) Inrichting voor het opsporen van een metalen voorwerp.
NL7801875A (nl) Inrichting voor het aanbrengen van een pakking.
NL7705136A (nl) Inrichting voor het op reinheid onderzoeken van een schaal.
NL171555C (nl) Inrichting voor het bedrukken van voorwerpen.
NL189052C (nl) Correlatievolginrichting voor het volgen van een object.
NL7811989A (nl) Inrichting en werkwijze voor het aftasten van een grootheid.
NL187798C (nl) Inrichting voor het binden van een voorwerp.
NL188913C (nl) Meetinrichting voor het uitvoeren van metingen in een boorgat.
NL7804826A (nl) Inrichting voor het onderzoeken van voorwerpen.
NL7803015A (nl) Inrichting voor het maken van een schroef- verbinding.
NL7806329A (nl) Inrichting voor het meten van stralingsabsorptie in een driedimensionaal object.
NL7810799A (nl) Inrichting voor het regelen van een lijnsamenvoeging.
NL7713987A (nl) Inrichting voor het detecteren van een op af- stand plaatsvindende beweging.
NL187899C (nl) Inrichting voor het invoeren van een bewegende baan in een strekmachine.
NL7608898A (nl) Inrichting voor het plaatsen van voorwerpen.
NL7703992A (nl) Werkwijze voor het verkrijgen van een homogeen chemisch-reaktief systeem en inrichting voor het uitvoeren van deze werkwijze.
NL173093C (nl) Inrichting voor het op de zeebodem ondersteunen van een pijpleiding.
NL7801071A (nl) Inrichting voor het inspecteren van afstanden in een beeld.
NL7803551A (nl) Inrichting voor het meten van een drukverschil.
NL177578C (nl) Inrichting voor het beschrijven van een voorwerp met een deeltjesbundel.
NL7901739A (nl) Inrichting voor het controleren van een cilinder-zui- geraggregaat.
NL7801847A (nl) Inrichting voor het inspecteren van eieren.
NL7811987A (nl) Inrichting voor het opbrengen van media in een substraat.
NL7808089A (nl) Inrichting voor het vormen van beelden met behulp van echografie type b.
NL7800610A (nl) Werkwijze voor het uitlezen van een cid-sen- sormatrix.

Legal Events

Date Code Title Description
A85 Still pending on 85-01-01
BA A request for search or an international-type search has been filed
BB A search report has been drawn up
BC A request for examination has been filed
BV The patent application has lapsed