Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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Art des Inhalts | Hochschulschrift |
Titel | Next generation design for testability, debug and reliability using formal techniques / von Sebastian Michael Huhn |
Person(en) | Huhn, Sebastian Michael (Verfasser) |
Verlag | Bremen |
Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: März 2020 |
Umfang/Format | vii, 170 Seiten : Diagramme ; 30 cm |
Hochschulschrift | Dissertation, Universität Bremen, 2020 |
ISBN/Einband/Preis | Broschur |
Sprache(n) | Englisch (eng) |
Sachgruppe(n) | 004 Informatik |
Weiterführende Informationen | Inhaltsverzeichnis |
Frankfurt |
Signatur: 2020 B 18283
Bereitstellung in Frankfurt |
Leipzig |
Signatur: 2020 B 16020
Bereitstellung in Leipzig |