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    MatriX X3 X射线自动检测系统 
    
    透射、多视角 & 3D SART 
    
    X3 是一种**的X射线自动检测系统。它结合了透射与3D检测技术,专为满足当今电子产品领域复杂而又高速的检测需求。此系统汲取了MatriX X2.5 AXI的运动控制系统精髓,图像处理则利用新型研发的3维重构软件对焊点进行3D检测。大量应用于双面板中线路及元件重叠区域的检测。 
    
    MIPS_Tune 是其离线编程软件。可实现自动CAD 导入或非CAD数据导入。它运用透射和多视角焊点检测技术的**运算库来产生自动检测的条目表,这是它的一大特色。
    
    *有的树状分类技术可进行自动规则生成,测量和产能的视图等方面的程序优化。 
    
    MIPS_Process中的MIPS_Verify模块通过闭环纠错的方式,使用形象的图形及检测图像来验证检测对象有无缺陷,离线或在线状态都可进行。
     
    MIPS_Verify 支持多视角与透射图像的同时显示,这样我们比较容易准确的进行缺陷鉴别。
    
    MIPS_SPC 实时和历史数据统计的制程控制工具软件。
    
    
    系统特色
    X射线透射与3D技术相结合
    微焦距X射线管(闭管)Max: 130kV 
    五轴可编辑运动系统 
    数字平板检测器360°运动平台全视角
    在线式传送轨道可自动调宽
    可进行轨道提升的直通模式
    图像自动灰阶及几何学调校
    产品型号及序列号的条形码扫描(1D/2D) 
    
    
    特点
    
    MATRIX 检测与工艺软件
    MIPS 硬件
    多核芯电脑工作站
    Windows 7 平台
    
    MIPS 检测平台 
    **的运算库应对焊点及元件检测
    联合代数重构技术 (SART) 
    自动树状分类(ATC)以生成相应规则
    可生成AXI程序及可模拟微调和提供缺陷参考的离线编程软件
    
    验证及制程控制
    MIPS_Verify闭环维修控制  
    MIPS_Process 实时SPC统计
    
    应用
     
    电子元器件和焊点检测
    
    利用*有的**运算库对电子领域及其PCBA的元件及焊点,混合装配或芯片级装配工艺进行十分有效的检测。 
    所有SMD及插件的标准元件 
    BGA and QFN封装的特别运算 
    冷却片/散热片的焊接空洞检测
    BGA 枕头效应及插件吃锡测量的多视角图像分析 
    
    代数三维重构 
    新型代数三维重构技术的3D在线检测是X3系统的较大亮点。它仅需少量的投影生成详细的高分辨率的切片图像。此算法不受限于几何图形,因而能够提供较佳的数据采集的方案。
    
    
    规格参数:
    
    物理参数
    外形尺寸: 1535 mm (H) x 1800 mm (W) x 1572 mm (D) 
    传送轨道高度可调: Max950 mm (SMEMA) 
    重量: 3500 kg 
    较优环境温度: 15° - 32 °C
    电源功率: max. 6 kW 
    电源电压: 400 VAC, 50/60 Hz 3 phase, 16 A 或 208 VAC, 50/60 Hz 3 phase, 25 A 
    外接气源: 5-7 Bar, < 2 l/min, 滤芯 (30μ), 干燥无油
    
    运动系统 
    高速线性驱动样品台(X,Y) 
    行程范围 X,Y: 510 x 405 mm
    定位精度: +/- 5 μm
     X射线管(Z): 0 - 150 mm 
    检测器轴 (U,V): 220 x 200 mm 
    
    X射线管(闭管) 
    管电压及管功率: 130 kV/40 W 
    光斑大小: 5 - 7 microns 
    X射线管定位: End window tube 
    
    数字影像探测器
    灰阶分辨率: 14 bit 
    视频输出: Camera link interface 
    探测器类型A: CMOS Detector (1,5k x 1,5k) 
    检测区域: 115 x 115 mm 
    探测器类型B: CMOS Detector (2k x 2k)
    检测区域: 48 x 48 mm 
    
    
    图像性能
    
    影像视角: 0 - 45 dgr 
    (A) 标准 FOV 高速设置 
    透射 FoV: 0.4" (10 mm) to 2.0" (50 mm) 
    目标分辨率 (@min. FOV): 8-10 μm 
    (B) 高分辨率设置 
    透射视场: 0.4" (10 mm) to 1.2" (30 mm) 
    目标分辨率 (@min. FOV): 3-5 μm 
    
    
    样品检测参数
    较大板尺寸 (X)x(Y): 18"(460 mm) x 14"(360 mm) 
    较小板尺寸 (X)x(Y): 100 mm x 80 mm 
    较大检测区域 (X)x(Y): 460 mm x 360 mm 
    较大板重: 2,5 kg 
    板厚: 0,8 - 5 mm 
    
    装配间隙 
    **部 (包括板厚): 30 mm 
    底部 (除去板厚): 30 mm 
    夹边预留: 3 mm 
    
    
    安全 / 管控
    完全安全,外部互锁。 遵从美国和**X射线成像系统CDRH指令
    兼容CE认证 
    

          北京是一家致力于为中国广大客户提供**的半导体设备、SMT设备、LCD设备、易耗品、元器件和完善售后服务的供应商。公司代理一些***的相关产品;拥有一批优秀且经验丰富的销售和技术服务团队,并在北京、上海、深圳、成都、成都、西安等地,均有办事处为客户提供一系列的产品及技术服务。
    
    
    公司一贯坚持:
    
        “*的产品;*的服务;*的合作关系”的经营理念;
        “顾客满意,共同发展”的经营目标;
        “至诚至信,至新至美”的公司精神;
        “团队合作,以人为本”的****。 
        
      通过长期的不懈努力,我们已与很多重要客户:如一些***半导体芯片制造商像因特尔,三星,富士康,Stataschippac,Bosch,ST,华为,比亚迪等等,以及国内一些重大研究院校等等都建立了长期合作的关系。公司将继续按照市场经济的规则要求,不断地发展和扩大。真诚地希望为广大客户提供更多、较好的服务;与更多的供应厂商建立较为广泛和紧密的合作关系,共同为业界的繁荣与发展作出贡献.


    产品价格:面议
    发货地址:北京北京包装说明:不限
    产品数量:10000.00 台产品规格:MatriX X3
    信息编号:62777972公司编号:8396549
    北京 冯先生先生 经理 认证邮箱认证认证 认证 13911457960
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