Ανάπτυξη τεχνικής για τον έλεγχο ορθής λειτουργίας του τμήματος RF πομποδεκτών, προσανατολισμένη στην ανίχνευση ελαττωμάτων
Στα πλαίσια της παρούσας διδακτορικής διατριβής παρουσιάζεται μία νέα τεχνική για τον έλεγχο ορθής λειτουργίας του τμήματος RF ολοκληρωμένων κυκλωμάτων πομποδεκτών. Ο έλεγχος ορθής λειτουργίας είναι προσανατολισμένος στην ανίχνευση ελαττωμάτων των επιμέρους κυκλωμάτων απαρτίζουν τον πομποδέκτη, ενώ η όλη διαδικασία δεν απαιτεί τη χρήση εξωτερικών γεννητριών σημάτων ελέγχου. Επίσης προτάθηκαν και σχεδιάστηκαν ενσωματωμένα κυκλώματα ελέγχου ορθής λειτουργίας κυκλωμάτων διαφορικών ενισχυτών χαμηλού θορύβου, διαφορικών μικτών συχνότητας και διαφορικών ταλαντωτών συντονισμένου κυκλώματος τα οποία συνθέτουν τη βαθμίδα ραδιοσυχνοτήτων των πομποδεκτών. Επιπρόσθετα και για λόγους γενίκευσης, η προτεινόμενη τεχνική ελέγχου ορθής λειτουργίας επεκτάθηκε σε ενισχυτές χαμηλού θορύβου μονού τερματισμού και ταλαντωτές τύπου δακτυλίου. Η αξιολόγηση των προτεινόμενων μεθοδολογιών ελέγχου ορθής λειτουργίας και των αντίστοιχων κυκλωμάτων που τις υλοποιούν έγινε στη βάση της αποδοτικότητας (δείκτη κάλυψης ...
περισσότερα
This Ph.D. thesis presents means and methodologies for improving the testability of RF Front-End integrated systems in industrial environments. Testing, involves a defect-oriented approach for individual building blocks that constitute the system-under-test. The testing procedure is simple and does not require expensive automated test equipment or external stimuli. Design for testability techniques and related Built-In Self-Test circuits were proposed for the effective fault diagnosis of integrated differential Low Noise Amplifiers, Mixers and Voltage Controlled Oscillators for both receiver and transmitter parts. Moreover, and for generalization purposes the proposed test approaches were applied to single-ended LNA’s and ring oscillators. The evaluation and effectiveness of the proposed DfT techniques were based on the fault coverage achieved, test economics (overall testing times, engagement of external automated test equipment, silicon test area overhead), reliability (robustness of ...
περισσότερα
Κατεβάστε τη διατριβή σε μορφή PDF (19.37 MB)
(Η υπηρεσία είναι διαθέσιμη μετά από δωρεάν εγγραφή)
|
Όλα τα τεκμήρια στο ΕΑΔΔ προστατεύονται από πνευματικά δικαιώματα.
|
Στατιστικά χρήσης
ΠΡΟΒΟΛΕΣ
Αφορά στις μοναδικές επισκέψεις της διδακτορικής διατριβής για την χρονική περίοδο 07/2018 - 07/2023.
Πηγή: Google Analytics.
Πηγή: Google Analytics.
ΞΕΦΥΛΛΙΣΜΑΤΑ
Αφορά στο άνοιγμα του online αναγνώστη για την χρονική περίοδο 07/2018 - 07/2023.
Πηγή: Google Analytics.
Πηγή: Google Analytics.
ΜΕΤΑΦΟΡΤΩΣΕΙΣ
Αφορά στο σύνολο των μεταφορτώσων του αρχείου της διδακτορικής διατριβής.
Πηγή: Εθνικό Αρχείο Διδακτορικών Διατριβών.
Πηγή: Εθνικό Αρχείο Διδακτορικών Διατριβών.
ΧΡΗΣΤΕΣ
Αφορά στους συνδεδεμένους στο σύστημα χρήστες οι οποίοι έχουν αλληλεπιδράσει με τη διδακτορική διατριβή. Ως επί το πλείστον, αφορά τις μεταφορτώσεις.
Πηγή: Εθνικό Αρχείο Διδακτορικών Διατριβών.
Πηγή: Εθνικό Αρχείο Διδακτορικών Διατριβών.
Σχετικές εγγραφές (με βάση τις επισκέψεις των χρηστών)