KR100369470B1

KR100369470B1 - Microwave oven

Info

Publication number: KR100369470B1
Application number: KR10-1999-0030778A
Authority: KR
Inventors: 하재기
Original assignee: 삼성전자 주식회사
Priority date: 1999-07-28
Filing date: 1999-07-28
Publication date: 2003-01-24
Anticipated expiration: 2019-07-28
Also published as: KR20010011408A

Abstract

본 발명에 따른 전자렌지는, 도파관에 흐르는 마이크로파를 검출하여 검출신호를 출력하는 마이크로파 검출부; 사용자로부터 상기 마이크로파 검출부의 이상유무 테스트 명령을 입력받기 위한 입력부; 상기 마이크로파 검출부의 이상유무를 표시하는 디스플레이부; 및 상기 입력부를 통해 마이크로파 검출부의 이상유무 테스트 명령이 입력되면, 상기 마이크로파 검출부에 테스트 신호를 출력하고, 상기 마이크로파 검출부로부터 출력되는 신호에 따라 상기 디스플레이부에 이상유무를 표시하는 마이컴;을 포함한다. 다이오드 센서가 단락된 경우에는 전압이 감지되지 않으므로 다이오드 센서의 불량을 감지할 수 있다. 따라서, 전자렌지의 이상 작동시 다이오드 센서의 불량에 의한 것인지 외부에서 간단하게 검사할 수 있다.The microwave oven according to the present invention includes a microwave detector for detecting a microwave flowing in the waveguide and outputting a detection signal; An input unit configured to receive a test command for abnormality of the microwave detector from a user; A display unit which displays the abnormality of the microwave detection unit; And a microcomputer that outputs a test signal to the microwave detection unit and displays the abnormality on the display unit according to the signal output from the microwave detection unit when an abnormality test command of the microwave detection unit is input through the input unit. If the diode sensor is short-circuited, no voltage is detected, so a failure of the diode sensor can be detected. Therefore, it is possible to easily check from the outside whether the diode sensor is defective due to abnormal operation of the microwave oven.

Description

Microwave oven {Microwave oven}

본 발명은 전자렌지에 관한 것으로, 보다 상세하게는 간단한 검사키의 조작으로 전자렌지의 다이오드 센서를 검사함으로서 다이오드 센서의 불량여부를 확인할 수 있는 전자렌지에 관한 것이다.The present invention relates to a microwave oven, and more particularly, to a microwave oven capable of checking whether a diode sensor is defective by inspecting a diode sensor of a microwave oven by a simple inspection key operation.

도 1은 일반적인 전자렌지의 일부 절개 사시도이다. 도 1에 도시된 바와 같이, 도어(4)는 조리실(2)을 개폐할 수 있도록 본체(1) 일측에 회동 가능하게 고정된다. 회전접시(5)는 조리실(2)의 바닥면에 설치되며, 그 회전접시(5)의 상면에 조리할 조리물이 놓여진다. 참조부호 7은 컨트롤 패널을 나타내며, 참조부호 8은 에어가이드를, 참조부호 9는 냉각팬을, 그리고 MGT는 마그네트론을 나타낸다. 상기 에어가이드(8), 냉각팬(9), 그리고 마그네트론(MGT)은 장치실(3)에 설치된다. 상기냉각팬(9)으로부터의 공기는 장치실(3)을 냉각시키고, 상기 에어가이드(8)에 의하여 장치실(3) 내로 안내된다. 상기 콘트롤 패널(7)은 장치실(3)의 전면에 설치된다. 사용자는 상기 콘트롤 패널(7)의 각종 키를 통하여 전자렌지의 작동을 제어한다. 일반적으로, 상기 콘트롤 패널(7)은 디스플레이부(7A)를 갖는다. 상기 디스플레이부(7A)는 각종 키의 입력 상태, 전자렌지의 작동상태, 메시지 등을 디스플레이한다.1 is a partially cutaway perspective view of a typical microwave oven. As shown in FIG. 1, the door 4 is rotatably fixed to one side of the main body 1 to open and close the cooking chamber 2. The rotary plate 5 is installed on the bottom surface of the cooking chamber 2, and the food to be cooked is placed on the upper surface of the rotary plate 5. Reference numeral 7 denotes a control panel, reference 8 denotes an air guide, reference 9 denotes a cooling fan, and MGT denotes a magnetron. The air guide 8, the cooling fan 9, and the magnetron MTG are installed in the apparatus room 3. The air from the cooling fan 9 cools the apparatus chamber 3 and is guided into the apparatus chamber 3 by the air guide 8. The control panel 7 is installed in front of the apparatus room 3. The user controls the operation of the microwave oven through various keys of the control panel 7. In general, the control panel 7 has a display portion 7A. The display unit 7A displays an input state of various keys, an operating state of a microwave oven, a message, and the like.

도 2는 전자렌지의 도파관에 설치된 다이오드 센서를 보여주기 위한 개략도이다. 도 2에서, 참조부호 D는 다이오드 센서를 나타내며, 참조부호 10은 도파관을, 참조부호 100은 마이크로파 검출장치를, 참조부호 120은 실드부재를, 그리고 참조부호 130은 마이크로컴퓨터(이후, "마이컴"이라함)을 나타낸다.2 is a schematic diagram showing a diode sensor installed in a waveguide of a microwave oven. In Fig. 2, reference numeral D denotes a diode sensor, reference numeral 10 denotes a waveguide, reference numeral 100 denotes a microwave detection device, reference numeral 120 denotes a shield member, and reference numeral 130 denotes a microcomputer (hereinafter referred to as "microcomputer"). ).

마그네트론(MGT)에서 발생된 마이크로파는 상기 다이오드 센서(D)를 통하여 검출된다.Microwaves generated in the magnetron (MGT) is detected through the diode sensor (D).

도 3은 도 2의 도파관에 설치된 마이크로파 검출부의 회로도이다. 도 3에 도시된 바와 같이, 마이크로파 검출부(100)에서는, 도파관(10) 내의 루프안테나(101)로부터 전계에 의한 전류가 다이오드 센서(D)를 통해 검파되고, 검파된 전류는 콘덴서(C)에서 충방전된다. 이때, 저항(R)의 양단에 소정의 전압이 출력된다. 제너 다이오드(ZD)는 출력전압이 일정한 전압 이상으로 초과되는 것을 방지한다.3 is a circuit diagram of a microwave detector installed in the waveguide of FIG. 2. As shown in FIG. 3, in the microwave detection unit 100, a current by an electric field is detected from the loop antenna 101 in the waveguide 10 through the diode sensor D, and the detected current is stored in the capacitor C. It is charged and discharged. At this time, a predetermined voltage is output to both ends of the resistor R. The zener diode ZD prevents the output voltage from exceeding a certain voltage or more.

상기와 같은 종래의 전자렌지는 상기 마이크로파 검출부의 다이오드 센서의 파손으로 인한 전자렌지의 이상 작동을 검출할 수 없다는 문제점이 있다.The conventional microwave oven has a problem in that it is impossible to detect abnormal operation of the microwave oven due to breakage of the diode sensor of the microwave detector.

따라서, 본 발명은 상기와 같은 문제를 해결하기 위하여 안출한 것으로서, 본 발명의 목적은 간단한 검사키의 조작으로 전자렌지의 다이오드 센서를 검사함으로서 다이오드 센서의 불량여부를 확인할 수 있는 전자렌지를 제공하는데 있다.Accordingly, the present invention has been made to solve the above problems, an object of the present invention is to provide a microwave oven that can determine whether the diode sensor is defective by inspecting the diode sensor of the microwave oven with a simple operation of the inspection key. have.

도 1은 일반적인 전자렌지의 일부 절개 사시도.1 is a partially cutaway perspective view of a typical microwave oven.

도 2은 전자렌지의 도파관에 설치된 다이오드 센서를 보여주기 위한 개략도.2 is a schematic diagram showing a diode sensor installed in a waveguide of a microwave oven.

도 3은 도 2의 도파관에 설치된 마이크로파 검출부의 회로도.3 is a circuit diagram of a microwave detector installed in the waveguide of FIG. 2.

도 4는 본 발명의 실시예에 따른 전자렌지에 구비된 다이오드 센서 불량 감지 장치를 보인 도면.4 is a view showing a diode sensor failure detection device provided in the microwave oven according to an embodiment of the present invention.

도 5는 도 4의 다이오드 센서 불량 감지 장치의 작동을 설명하기 위한 흐름도.5 is a flow chart for explaining the operation of the diode sensor failure detection device of FIG.

* 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 *Explanation of symbols on the main parts of the drawings

1 : 전자렌지 본체 2 : 조리실1: microwave oven body 2: cooking chamber

3 : 전장실 7 : 콘트롤 패널3: full length room 7: control panel

7A : 디스플레이부 10 : 도파관7A: display unit 10: waveguide

40 : 다이오드 센서 검사부 100 : 마이크로파 검출부40: diode sensor inspection unit 100: microwave detection unit

130, 135 : 마이컴 C : 캐퍼시터130, 135: microcomputer C: capacitor

D : 다이오드 센서 R, R1, R2 : 저항D: diode sensor R, R1, R2: resistance

MGT : 마그네트론 ZD : 제너다이오드MGT: Magnetron ZD: Zener Diode

상기와 같은 목적을 달성하기 위하여, 본 발명에 따른 전자렌지는, 도파관에 흐르는 마이크로파를 검출하여 검출신호를 출력하는 마이크로파 검출부; 사용자로부터 상기 마이크로파 검출부의 이상유무 테스트 명령을 입력받기 위한 입력부; 상기 마이크로파 검출부의 이상유무를 표시하는 디스플레이부; 및 상기 입력부를 통해 마이크로파 검출부의 이상유무 테스트 명령이 입력되면, 상기 마이크로파 검출부에 테스트 신호를 출력하고, 상기 마이크로파 검출부로부터 출력되는 신호에 따라 상기 디스플레이부에 이상유무를 표시하는 마이컴;을 포함하는 것을 특징으로 한다.여기서, 상기 입력부는 다수의 입력키를 구비한 콘트롤 패널에 형성된 것이 바람직하고, 상기 입력부는 다수의 입력키의 입력 조합에 의해 테스트 명령을 입력받는 것이 좋다.또한, 상기 테스트 신호는 상기 마이컴의 일출력포트에서 출력되는 일정한 전압의 한 펄스 신호인 것이 바람직하며, 상기 마이크로파 검출부는 도파관의 일측벽과 상기 마이컴의 일입력포트 사이에 연결된 다이오드 센서를 구비하며, 상기 마이컴은 상기 다이오드 센서와 상기 입력포트 사이의 한 노드에 상기 테스트 신호를 출력하는 것이 바람직하다.In order to achieve the above object, the microwave oven according to the present invention, the microwave detection unit for detecting a microwave flowing in the waveguide and outputs a detection signal; An input unit configured to receive a test command for abnormality of the microwave detector from a user; A display unit which displays the abnormality of the microwave detection unit; And a microcomputer that outputs a test signal to the microwave detection unit and displays the abnormality on the display unit in accordance with a signal output from the microwave detection unit when an abnormality test command of the microwave detection unit is input through the input unit. The input unit may be formed in a control panel having a plurality of input keys, and the input unit may receive a test command by an input combination of the plurality of input keys. Preferably, the pulse detection unit outputs one pulse signal output from the one output port of the microcomputer, and the microwave detector includes a diode sensor connected between one side wall of the waveguide and the one input port of the microcomputer. Phase on one node between the It is preferable to output a test signal.

이하, 첨부된 도면을 참고하여, 본 발명의 실시예에 따른 전자렌지를 설명한다.Hereinafter, a microwave oven according to an embodiment of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.

도 4는 본 발명의 실시예에 따른 전자렌지에 구비된 다이오드 센서 검사 장치를 보인 도면이다. 도 4에 도시된 바와 같이, 본 발명의 실시예에 따른 전자렌지에 구비된 다이오드 센서 검사 장치는 도파관(10)과 마이컴(135)의 제1 포트(P1) 사이에 순방향으로 연결되며, 도파관(10)에 접지되어 있는 다이오드 센서(D)를 포함한다. 상기 마이컴(135)의 제2 포트(P2)와 상기 상기 제1포트 사이에는 저항(R2)가 연결된다. 검사키(42)는 상기 마이컴(135)의 제3포트(P3)에 연결된다. 상기 검사키(42)는 다수의 입력키(도시되지 않음)를 갖는 통상의 콘트롤 패널(7A)(도 3 참조)에 구비될 수 있으며, 콘트롤 패널(7A)의 다수의 입력키의 순차적, 또는 조합적 입력에 의하여 구성될 수 있다.4 is a view showing a diode sensor inspection device provided in the microwave oven according to an embodiment of the present invention. As shown in FIG. 4, the diode sensor inspection apparatus provided in the microwave oven according to the embodiment of the present invention is connected in a forward direction between the waveguide 10 and the first port P1 of the microcomputer 135, and the waveguide ( And a diode sensor D grounded at 10). A resistor R2 is connected between the second port P2 of the microcomputer 135 and the first port. The test key 42 is connected to the third port P3 of the microcomputer 135. The test key 42 may be provided in a conventional control panel 7A (see FIG. 3) having a plurality of input keys (not shown), and the sequential order of the plurality of input keys of the control panel 7A, or It can be configured by a combinational input.

또한, 상기 마이컴(135)에는 디스플레이부(7A)가 연결된다. 상기 디스플레이부(7A)는 통상의 콘트롤 패널(7A)에 구비될 수 있다. 상기 디스플레이부(7A)는 상기 마이컴(135)으로부터 메시지를 입력받아 그 메시지를 디스플레이한다.In addition, the display unit 7A is connected to the microcomputer 135. The display unit 7A may be provided in the normal control panel 7A. The display 7A receives a message from the microcomputer 135 and displays the message.

도 4의 캐퍼시터(C), 저항(R1), 그리고 제너 다이오드(ZD)는, 공지된 바와 같이, 상기 다이오드 센서(D)와 함께 마이크로파의 검출부(100)(도 3 참조)를 이룬다. 상기 마이크로파의 검출부(100)의 작용은 상기에서 이미 기술되어 있으므로, 여기에서는 생략된다.The capacitor C, the resistor R1, and the zener diode ZD of FIG. 4 form a microwave detector 100 (see FIG. 3) together with the diode sensor D, as is known. Since the operation of the microwave detection unit 100 has already been described above, it is omitted here.

상기와 같은 구성을 같는 본 발명의 실시예에 따른 전자렌지의 다이오드 센서 검사 장치의 동작을 설명하면 다음과 같다.Referring to the operation of the diode sensor inspection device of the microwave oven according to the embodiment of the present invention having the above configuration as follows.

도 5는 본 발명의 실시예에 따른 전자렌지에 구비된 다이오드 센서 검사 장치의 설명을 위한 흐름도이다.5 is a flow chart for explaining the diode sensor inspection device provided in the microwave oven according to an embodiment of the present invention.

도 5에 도시된 바와 같이, 상기 마이컴(135)은 검사키(42)가 눌러졌는가를 판단한다(S1). 상기 검사키가 눌러졌으면 상기 마이컴(135)은 제1포트(P1)으로부터 하나의 테스트 신호로서 하나의 펄스 전압, 예를 들어 5V,을 발생시킨다(S2). 이때, 상기 다이오드 센서가 정상이면, 상기 펄스 전압은 상기 저항(R2)을 통하여 상기 마이컴(135)의 제2포트(P2)에 인가되고, 상기 다이오드 센서(D)가 파괴되어 단락되어 있으면 0 전압이 상기 마이컴(135)의 제2포트(P2)가 인가된다. 이때, 상기 마이컴(135)은 제2포트(P2)에서 일정 전압, 예를 들어 5V,이 검출되는지를 판단한다(S3). 제2포트(P2)에서 검출되는 전압은 상기 저항(R2)의 값에 따라 달라질 수 있다. 만약 상기 제2포트(P2)에서 일정 전압이 검출되면 상기 마이컴(135)은, 예를 들어, "다이오드 센서 정상" 이라는 메시지를 상기 디스플레이부(7A)에 표시하고(S4), 만약 상기 제2포트(P2)에서 일정 전압이 검출되지 않으면, 상기한 바와 같이 상기 다이오드 센서(D)는 단락된 상태이므로, 상기 마이컴(135)은, 예를 들어, "다이오드 센서 불량" 이라는 메시지를 상기 디스플레이부(7A)에 표시한다. 상기 검사키(42)가 눌러지지 않았다면, 상기 마이컴(135)은 다이오드 센서 검사를 종료한다.As shown in FIG. 5, the microcomputer 135 determines whether the test key 42 has been pressed (S1). If the test key is pressed, the microcomputer 135 generates one pulse voltage, for example, 5V, as one test signal from the first port P1 (S2). At this time, if the diode sensor is normal, the pulse voltage is applied to the second port P2 of the microcomputer 135 through the resistor R2, and if the diode sensor D is broken and short-circuited, the voltage is zero. The second port P2 of the microcomputer 135 is applied. At this time, the microcomputer 135 determines whether a predetermined voltage, for example, 5V, is detected at the second port P2 (S3). The voltage detected at the second port P2 may vary depending on the value of the resistor R2. If a predetermined voltage is detected at the second port P2, the microcomputer 135 displays, for example, a message of “diode sensor normal” on the display unit 7A (S4). If a predetermined voltage is not detected at the port P2, the diode sensor D is short-circuited as described above. Thus, the microcomputer 135 may display, for example, a message “Diode sensor bad”. (7A). If the test key 42 is not pressed, the microcomputer 135 ends the diode sensor test.

이상에서 설명한 바와같이, 본 발명에 따른 전자렌지에 의하여 전자렌지의 이상 작동시 다이오드 센서의 불량에 의한 것인지 외부에서 간단하게 검사할 수 있다.As described above, the microwave oven according to the present invention can be easily inspected from the outside whether the diode sensor is defective during abnormal operation of the microwave oven.

본 발명은 상술한 특정의 바람직한 실시예에 한정되지 아니하며, 청구범위에서 청구하는 본 발명의 요지를 벗어남이 없이 당해 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 누구든지 다양한 변형실시가 가능한 것은 물론이고, 그와 같은 변형은 기재된 청구범위 내에 있게 된다.The present invention is not limited to the above-described specific preferred embodiments, and various modifications can be made by any person having ordinary skill in the art without departing from the gist of the present invention claimed in the claims. Of course, such variations are within the scope of the claims as described.

Claims

A microwave detector for detecting microwaves flowing in the waveguide and outputting a detection signal;

An input unit configured to receive a test command for abnormality of the microwave detector from a user;

A display unit which displays the abnormality of the microwave detection unit; And

And a microcomputer that outputs a test signal to the microwave detector and displays the abnormality on the display unit according to a signal output from the microwave detector when the microwave detector detects an abnormality test command through the input unit. Microwave oven.

The method of claim 1,

The input unit is a microwave oven, characterized in that formed on the control panel having a plurality of input keys.

The method of claim 1,

And the input unit receives a test command by an input combination of a plurality of input keys.

The method of claim 1,

The test signal is a microwave oven, characterized in that the pulse signal of a constant voltage output from the one output port of the microcomputer.

delete

The method of claim 1,

The microwave detector includes a diode sensor connected between one side wall of the waveguide and one input port of the microcomputer, and the microcomputer outputs the test signal to a node between the diode sensor and the input port. Range.