JPS60236001A - 非磁性デプスマイクロメ−タ - Google Patents
非磁性デプスマイクロメ−タInfo
- Publication number
- JPS60236001A JPS60236001A JP9186284A JP9186284A JPS60236001A JP S60236001 A JPS60236001 A JP S60236001A JP 9186284 A JP9186284 A JP 9186284A JP 9186284 A JP9186284 A JP 9186284A JP S60236001 A JPS60236001 A JP S60236001A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- spindle
- magnetic
- frame
- depth micrometer
- micrometer
- Prior art date
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- Pending
Links
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B1/00—Measuring instruments characterised by the selection of material therefor
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B3/00—Measuring instruments characterised by the use of mechanical techniques
- G01B3/18—Micrometers
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length-Measuring Instruments Using Mechanical Means (AREA)
- A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
従来の標準デプスマイクロメータで第１図について説明
する。４°は標準デプスマイクロメータのフレーム（ベ
ース面）、５″はそのスピンドルであるが、フレーム４
１はＳＫ材、スピンドル５はＳＫＳ材であり、又先端部
９°は超合金であるため、平面研磨盤等、磁気テーブル
上での計測はデプスマイクロメータも磁性でおび、これ
に研磨粉が着くので、ワークの脱磁後でなければ計測で
きない欠点があった。１°はラチェットストップ ２１
はシンプル ３＋はアウタスリーブ。
する。４°は標準デプスマイクロメータのフレーム（ベ
ース面）、５″はそのスピンドルであるが、フレーム４
１はＳＫ材、スピンドル５はＳＫＳ材であり、又先端部
９°は超合金であるため、平面研磨盤等、磁気テーブル
上での計測はデプスマイクロメータも磁性でおび、これ
に研磨粉が着くので、ワークの脱磁後でなければ計測で
きない欠点があった。１°はラチェットストップ ２１
はシンプル ３＋はアウタスリーブ。
（１）
８″はナツト？示す。
本発明は磁気テーブル上で計測できるようにすることｔ
目的として発明されたものである。
目的として発明されたものである。
本発明は、フレームとスピンドルを従来のＳＫ及びＳＫ
Ｓ材からＳ ＬＪ Ｓ ３０４に変え非磁性体とし、ス
ピンドル測定面摩耗に対応する几めスピンドル頭部に調
整ねじ全般は寸法七一定に保つようにしたことを特徴と
する非磁性デプスマイクロメータに係り、フレーム及び
スピンドルの材質？非磁性のものに変え、ワークの脱磁
’ｋｉ’−＋ｒず磁気テーブル上で計測できるようにし
た非磁性デプスマイクロメータを提供しようとするもの
で、バーナチューブ、ザボート、ライナ、スペーサ等の
磁気テーブル上で１測できるデプスマイクロメータに応
用できるものである。
Ｓ材からＳ ＬＪ Ｓ ３０４に変え非磁性体とし、ス
ピンドル測定面摩耗に対応する几めスピンドル頭部に調
整ねじ全般は寸法七一定に保つようにしたことを特徴と
する非磁性デプスマイクロメータに係り、フレーム及び
スピンドルの材質？非磁性のものに変え、ワークの脱磁
’ｋｉ’−＋ｒず磁気テーブル上で計測できるようにし
た非磁性デプスマイクロメータを提供しようとするもの
で、バーナチューブ、ザボート、ライナ、スペーサ等の
磁気テーブル上で１測できるデプスマイクロメータに応
用できるものである。
本発明の非磁性デプスマイクロメータの一実施例ｔ−第
２図及び第６図について説明する。纂２図は本発明の非
磁性デプスマイクロメータの一実施例の概略正面図、第
５図はその作用についての概略図全示す、スピンドル５
は調整ねじ（２） ａでその長さＬが設足されており、計測寸法に応じて簡
単に交換挿入できるようになっている。
２図及び第６図について説明する。纂２図は本発明の非
磁性デプスマイクロメータの一実施例の概略正面図、第
５図はその作用についての概略図全示す、スピンドル５
は調整ねじ（２） ａでその長さＬが設足されており、計測寸法に応じて簡
単に交換挿入できるようになっている。
１はラチェットストップ、２はシンプル、５はアウタス
リーブ、４はフレーム（ベース面）。
リーブ、４はフレーム（ベース面）。
５はスピンドル會示す。ワークに接するフレーム４とス
ピンドル５は非磁性のオルステナイト系ステンレスＳ
Ｕ Ｓ ３０４材で作られている。
ピンドル５は非磁性のオルステナイト系ステンレスＳ
Ｕ Ｓ ３０４材で作られている。
ラチェットストップ１は測定力全−足にする装置で、シ
ンプル２會介してスピンドル５頭部に取付けられ、右回
転で５００ｉ〜１ｏｏｏｙの測定力をスピンドル測足部
に加えて空転する。外部は硬質つや消しクロムメッキ仕
上。シンプル２は一端がスピンドルねじｓ熾に取付けら
れてスピンドル５と共に回転する角度目盛を庸する円筒
で表面は硬質クロムメッキされている。アクタスリーブ
３は１ｍ＋１及び０．５ ｍｓ目盛に刻んだ主尺円筒で
あり１表面は硬質クロムメッキされている。フレーム４
はマイクロメータベッドの保持部であると同時にワーク
に密着させるベース面となる。材質は５Ｕ８３０４であ
る。スピンドル５は一端が今一つの測定子となり、中央
葡境に反対側が雄ねじとなる玉軸である。材質は５ＵＳ
ｓｏ４である。
ンプル２會介してスピンドル５頭部に取付けられ、右回
転で５００ｉ〜１ｏｏｏｙの測定力をスピンドル測足部
に加えて空転する。外部は硬質つや消しクロムメッキ仕
上。シンプル２は一端がスピンドルねじｓ熾に取付けら
れてスピンドル５と共に回転する角度目盛を庸する円筒
で表面は硬質クロムメッキされている。アクタスリーブ
３は１ｍ＋１及び０．５ ｍｓ目盛に刻んだ主尺円筒で
あり１表面は硬質クロムメッキされている。フレーム４
はマイクロメータベッドの保持部であると同時にワーク
に密着させるベース面となる。材質は５Ｕ８３０４であ
る。スピンドル５は一端が今一つの測定子となり、中央
葡境に反対側が雄ねじとなる玉軸である。材質は５ＵＳ
ｓｏ４である。
マイクロメータは超精密ねじ金利用する副長器であり、
固定した雌ねじの中に雄ねじ全表め合わせて廻し、スピ
ンドル５の軸方向の移動量と回転角とが比例すること全
利用して１回転角からスピンドル５の微小移動量音読み
とるもので、移動量、＝（ねじ？： ｙ ｆ ） ｘ八
−ｏ、ｕｉ（襲旨０．５ なる。スピンドル５の上端部はねじ１０全設け。
固定した雌ねじの中に雄ねじ全表め合わせて廻し、スピ
ンドル５の軸方向の移動量と回転角とが比例すること全
利用して１回転角からスピンドル５の微小移動量音読み
とるもので、移動量、＝（ねじ？： ｙ ｆ ） ｘ八
−ｏ、ｕｉ（襲旨０．５ なる。スピンドル５の上端部はねじ１０全設け。
これに当て金８全嵌め友上でナツト？でロックする構造
とし、スピンドル先端が摩耗した時には調整してＬ寸法
？一定に維持できるようにしている。
とし、スピンドル先端が摩耗した時には調整してＬ寸法
？一定に維持できるようにしている。
本発明の作用について説明する。第５図に示すように従
来は磁気テーブル口１の磁気を切り。
来は磁気テーブル口１の磁気を切り。
ワーク０２金取り外し脱磁后寸法計測を行ってイ几カ、
フレーム４とスピンドル５の材質ｋＳＵ８３０４に変更
し几ことにより＋磁気テーブル０１にワ〜り０２ｉ取付
けた筐まの状態で即計測ができる。スピンドル５の先端
が摩耗し九時のＬ寸法の調整が容易である。
フレーム４とスピンドル５の材質ｋＳＵ８３０４に変更
し几ことにより＋磁気テーブル０１にワ〜り０２ｉ取付
けた筐まの状態で即計測ができる。スピンドル５の先端
が摩耗し九時のＬ寸法の調整が容易である。
本発明は以上の構成よりな９１次のような効果衾奏する
ものである。
ものである。
（１） フレームとスピンドル？従来のＳＫ及びＳＫＳ
材から８０８５０４に変え測定面全非磁性としたことに
より磁気テーブル上で加工する全ての製品上その１まの
状態で計測できる。
材から８０８５０４に変え測定面全非磁性としたことに
より磁気テーブル上で加工する全ての製品上その１まの
状態で計測できる。
（２）ＳＵＳ５υ４変更によるスピンドル測定面摩耗に
対応するため、スピンドル頭部に調整ねじ會設け、Ｌ寸
法の調整が容易である。
対応するため、スピンドル頭部に調整ねじ會設け、Ｌ寸
法の調整が容易である。
第１図は従来の標準デプスマイクロメータの概略図、ｗ
Ｊ２図は本発明の非磁性デプスマイクロメータの一実施
例の概略図、第３図はその作用についての概略図會示す
。 ４・・・・・・フレーム（ベースｍ）、５・・・・・・
スピンドル、１０・・・・・・ねじ。 オ）図 第２図 ７ｔ’３図
Ｊ２図は本発明の非磁性デプスマイクロメータの一実施
例の概略図、第３図はその作用についての概略図會示す
。 ４・・・・・・フレーム（ベースｍ）、５・・・・・・
スピンドル、１０・・・・・・ねじ。 オ）図 第２図 ７ｔ’３図
Claims (1)
- フレームとスピンドル金従来の８Ｋ及びＳＫＳ材から５
Ｕ８ｓｏ＋に変え非磁性体とし、スピンドル測定面摩耗
に対応するためスピンドル頭部に調整ねじ全般は寸法を
一足に保つようにしｔことｔ′特徴とする非磁性デプス
マイクロメータ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9186284A JPS60236001A (ja) | 1984-05-10 | 1984-05-10 | 非磁性デプスマイクロメ−タ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9186284A JPS60236001A (ja) | 1984-05-10 | 1984-05-10 | 非磁性デプスマイクロメ−タ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60236001A true JPS60236001A (ja) | 1985-11-22 |
Family
ID=14038361
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9186284A Pending JPS60236001A (ja) | 1984-05-10 | 1984-05-10 | 非磁性デプスマイクロメ−タ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60236001A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100626972B1 (ko) | 2005-04-20 | 2006-09-20 | 김종수 | 측정제품의 지지 및 지지점의 상대높이측정 지그 |
| WO2019240025A1 (ja) | 2018-06-12 | 2019-12-19 | 株式会社ミツトヨ | デジタル式マイクロメータ |
| JP2019215231A (ja) * | 2018-06-12 | 2019-12-19 | 株式会社ミツトヨ | デジタル式マイクロメータ |
| JP2020193831A (ja) * | 2019-05-25 | 2020-12-03 | 株式会社ミツトヨ | デジタル式マイクロメータ |
-
1984
- 1984-05-10 JP JP9186284A patent/JPS60236001A/ja active Pending
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100626972B1 (ko) | 2005-04-20 | 2006-09-20 | 김종수 | 측정제품의 지지 및 지지점의 상대높이측정 지그 |
| WO2019240025A1 (ja) | 2018-06-12 | 2019-12-19 | 株式会社ミツトヨ | デジタル式マイクロメータ |
| JP2019215231A (ja) * | 2018-06-12 | 2019-12-19 | 株式会社ミツトヨ | デジタル式マイクロメータ |
| CN112352135A (zh) * | 2018-06-12 | 2021-02-09 | 株式会社三丰 | 数字千分尺 |
| EP3812694A4 (en) * | 2018-06-12 | 2022-03-09 | Mitutoyo Corporation | DIGITAL MICROMETER |
| US11821724B2 (en) | 2018-06-12 | 2023-11-21 | Mitutoyo Corporation | Digital micrometer |
| JP2020193831A (ja) * | 2019-05-25 | 2020-12-03 | 株式会社ミツトヨ | デジタル式マイクロメータ |
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