JPH1163951A - 外観検査装置 - Google Patents
外観検査装置Info
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- JPH1163951A JPH1163951A JP22323097A JP22323097A JPH1163951A JP H1163951 A JPH1163951 A JP H1163951A JP 22323097 A JP22323097 A JP 22323097A JP 22323097 A JP22323097 A JP 22323097A JP H1163951 A JPH1163951 A JP H1163951A
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- Japan
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- ball
- measurement
- inspection
- tray
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- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 ボールピッチ、ボール径及びボール位置度等
のボール計測を高速に行うことができ、しかもマーク・
パッケージボイド検査を同一タクト内で行うことが可能
な外観検査装置を提供する。 【解決手段】 端子面を下に向けた姿勢でトレーT1 に
収納されたパッケージPを計測ポジションS3 に搬送す
るピックアップ装置1と、そのピックアップポジション
S1 の上方に配置されたマーク・パッケージボイド検査
手段3と、計測ポジションS3 に搬送されたパッケージ
Pの端子側を、画像処理計測(またはレーザ変位計測)
で検査する計測手段4,5を設け、パッケージボイド検
査手段が、先に検査を終えたパッケージPを計測ポジシ
ョンS3 に搬送している過程で、次のパッケージPの検
査を行うように構成することで、同一タクト内でマーク
・パッケージボイド検査を行えるようにする。
のボール計測を高速に行うことができ、しかもマーク・
パッケージボイド検査を同一タクト内で行うことが可能
な外観検査装置を提供する。 【解決手段】 端子面を下に向けた姿勢でトレーT1 に
収納されたパッケージPを計測ポジションS3 に搬送す
るピックアップ装置1と、そのピックアップポジション
S1 の上方に配置されたマーク・パッケージボイド検査
手段3と、計測ポジションS3 に搬送されたパッケージ
Pの端子側を、画像処理計測(またはレーザ変位計測)
で検査する計測手段4,5を設け、パッケージボイド検
査手段が、先に検査を終えたパッケージPを計測ポジシ
ョンS3 に搬送している過程で、次のパッケージPの検
査を行うように構成することで、同一タクト内でマーク
・パッケージボイド検査を行えるようにする。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明はBGA・CSPパッ
ケージ等の外観検査装置に関する。
ケージ等の外観検査装置に関する。
【0002】
【従来の技術】BGA・CSPパッケージの外観検査装
置としては、従来、レーザ変位計測装置がある。
置としては、従来、レーザ変位計測装置がある。
【0003】このレーザ変位計測装置は、パッケージを
トレーに収納したまま、反転した状態で、パッケージの
裏面(端子側)に対してレーザ光をスキャンすることに
より、パッケージの反りや端子の形状・ピッチ等を非接
触で計測する装置である。
トレーに収納したまま、反転した状態で、パッケージの
裏面(端子側)に対してレーザ光をスキャンすることに
より、パッケージの反りや端子の形状・ピッチ等を非接
触で計測する装置である。
【0004】ボールグリッドアレイタイプのパッケージ
の計測を対象としたレーザ変位計測装置においては、パ
ッケージの端子側から、ボール有無、ボールピッチ、ボ
ール径及びボール位置度の計測に加えて、ボールコプラ
ナリティ(ボール配列の平坦度)を計測する3次元レー
ザ変位計測装置が実用化されている。
の計測を対象としたレーザ変位計測装置においては、パ
ッケージの端子側から、ボール有無、ボールピッチ、ボ
ール径及びボール位置度の計測に加えて、ボールコプラ
ナリティ(ボール配列の平坦度)を計測する3次元レー
ザ変位計測装置が実用化されている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】ところで、BGA・C
SPパッケージは、通常、端子を下にした状態(正方
向)でトレーに収納されている。
SPパッケージは、通常、端子を下にした状態(正方
向)でトレーに収納されている。
【0006】このためレーザ変位計測装置を使用して、
ボールタイプのBGA・CSPパッケージの端子検査を
行う場合、トレーを反転させ、パッケージ姿勢を反転さ
せた状態で、レーザ変位計測装置にてボール計測を行う
必要があり、パッケージ上面のボイド検査や、印字(ま
たはレーザマーカ等)により付けられた社名・製品番号
等のマークの検査は行えないという欠点がある。
ボールタイプのBGA・CSPパッケージの端子検査を
行う場合、トレーを反転させ、パッケージ姿勢を反転さ
せた状態で、レーザ変位計測装置にてボール計測を行う
必要があり、パッケージ上面のボイド検査や、印字(ま
たはレーザマーカ等)により付けられた社名・製品番号
等のマークの検査は行えないという欠点がある。
【0007】しかも、レーザ変位計測装置では、ボール
を上に向けた状態での検査となるので、不良品が出て良
品との詰め替え作業を行う際に、ピックアップ装置等が
ボール側に接触して、ボールを傷つける虞れがある。
を上に向けた状態での検査となるので、不良品が出て良
品との詰め替え作業を行う際に、ピックアップ装置等が
ボール側に接触して、ボールを傷つける虞れがある。
【0008】また、イントレー検査のため、検査完了後
に、製造工程用トレーと出荷トレーが異なる場合、移し
替え作業が一つの工程として余分に必要となる。
に、製造工程用トレーと出荷トレーが異なる場合、移し
替え作業が一つの工程として余分に必要となる。
【0009】さらに、レーザ光のスキャンはボール配列
の列方向または行方向に沿って行われるが、検査ステー
ジに対するパッケージ収納トレーの位置決めの誤差など
の原因により、レーザ光のスキャン位置が、必ずしもボ
ールの頂点に一致しているとは限らず、ボールコプラナ
リティ計測の信頼性に欠けるという問題もある。
の列方向または行方向に沿って行われるが、検査ステー
ジに対するパッケージ収納トレーの位置決めの誤差など
の原因により、レーザ光のスキャン位置が、必ずしもボ
ールの頂点に一致しているとは限らず、ボールコプラナ
リティ計測の信頼性に欠けるという問題もある。
【0010】本発明はそのような実情に鑑みてなされた
もので、ボールピッチ、ボール径及びボール位置度等の
ボール計測を、パッケージを反転することなく正方向姿
勢のままで高速に行うことができ、しかもマーク・パッ
ケージボイド検査を同一タクト内で行うことが可能な外
観検査装置の提供を目的とする。
もので、ボールピッチ、ボール径及びボール位置度等の
ボール計測を、パッケージを反転することなく正方向姿
勢のままで高速に行うことができ、しかもマーク・パッ
ケージボイド検査を同一タクト内で行うことが可能な外
観検査装置の提供を目的とする。
【0011】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め、本発明の外観検査装置は、BGA・CSP型IC等
のパッケージで、上面等にマークが付され裏面に電気接
続用の端子が形成されてなるパッケージの外観を検査す
る装置であって、図1及び図2に例示するように、端子
面を下に向けた姿勢でトレーT1 に収納されたパッケー
ジPをピックアップして計測ポジションS3 に搬送する
ピックアップ装置1と、そのトレーT1からのパッケー
ジPのピックアップポジションS1 の上方に配置された
マーク・パッケージボイド検査手段(CCDカメラ3)
と、ピックアップ装置1によって上部が保持された状態
で計測ポジションS3 に搬送されたパッケージP(図3
参照)の端子側を、画像処理計測(またはレーザ変位計
測)で検査する計測手段(CCDカメラ4,5)を備え
ているとともに、パッケージボイド検査手段が、先にマ
ーク・パッケージボイド検査を終えたパッケージPを、
ピックアップ装置1が計測ポジションS3 に搬送してい
る過程で、ピックアップポジションS1 に位置する、次
のパッケージPの検査を行うように構成されていること
によって特徴づけられる。
め、本発明の外観検査装置は、BGA・CSP型IC等
のパッケージで、上面等にマークが付され裏面に電気接
続用の端子が形成されてなるパッケージの外観を検査す
る装置であって、図1及び図2に例示するように、端子
面を下に向けた姿勢でトレーT1 に収納されたパッケー
ジPをピックアップして計測ポジションS3 に搬送する
ピックアップ装置1と、そのトレーT1からのパッケー
ジPのピックアップポジションS1 の上方に配置された
マーク・パッケージボイド検査手段(CCDカメラ3)
と、ピックアップ装置1によって上部が保持された状態
で計測ポジションS3 に搬送されたパッケージP(図3
参照)の端子側を、画像処理計測(またはレーザ変位計
測)で検査する計測手段(CCDカメラ4,5)を備え
ているとともに、パッケージボイド検査手段が、先にマ
ーク・パッケージボイド検査を終えたパッケージPを、
ピックアップ装置1が計測ポジションS3 に搬送してい
る過程で、ピックアップポジションS1 に位置する、次
のパッケージPの検査を行うように構成されていること
によって特徴づけられる。
【0012】以上の構成の本発明の外観検査装置によれ
ば、パッケージPを反転させることなく正方向姿勢のま
まの状態で、パッケージPの端子計測(例えばボールピ
ッチ、ボール径及びボール位置度等のボール計測)と、
パッケージ上面のマーク・パッケージ検査を同一のタク
ト内で行うことができる。
ば、パッケージPを反転させることなく正方向姿勢のま
まの状態で、パッケージPの端子計測(例えばボールピ
ッチ、ボール径及びボール位置度等のボール計測)と、
パッケージ上面のマーク・パッケージ検査を同一のタク
ト内で行うことができる。
【0013】ここで、本発明の外観検査装置において、
ピックアップ装置として、図1に例示するように、パッ
ケージ吸着用のパッド1a・・1dが4箇所に配置された
インデックステーブル1を適用すれば、ローダトレーT
1 のピックアップポジションS1 から計測ポジションS
3 へのパッケージPの搬送、計測ポジションS3 から良
品収納ポジションS5 (または不良品排出ポジションS
7 )へのパッケージPの搬送を同時に行うことができ
る。しかも、ピックアップポジションS1 でのパッケー
ジPのピックアップ動作、計測ポジションS3 での端子
(ボール)計測、良品収納ポジションS5 (または不良
品排出ポジションS7 )でのパッケージPの収納動作
(または排出動作)をほぼ同時に行うことができるの
で、ピックアップ装置の動作に無駄がなくなり、パッケ
ージPのマーク・パッケージボイド検査及び端子計測を
効率良く行うことができる。
ピックアップ装置として、図1に例示するように、パッ
ケージ吸着用のパッド1a・・1dが4箇所に配置された
インデックステーブル1を適用すれば、ローダトレーT
1 のピックアップポジションS1 から計測ポジションS
3 へのパッケージPの搬送、計測ポジションS3 から良
品収納ポジションS5 (または不良品排出ポジションS
7 )へのパッケージPの搬送を同時に行うことができ
る。しかも、ピックアップポジションS1 でのパッケー
ジPのピックアップ動作、計測ポジションS3 での端子
(ボール)計測、良品収納ポジションS5 (または不良
品排出ポジションS7 )でのパッケージPの収納動作
(または排出動作)をほぼ同時に行うことができるの
で、ピックアップ装置の動作に無駄がなくなり、パッケ
ージPのマーク・パッケージボイド検査及び端子計測を
効率良く行うことができる。
【0014】なお、本発明の外観検査装置において、パ
ッケージ上面のマーク・パッケージボイド検査による外
観検査データ及びパッケージの端子側の画像処理計測
(またはレーザ変位計測)による検査データを、CRT
等のビデオモニタ装置あるいはプリンタ等の記録機器に
出力して、表示・記録するように構成してもよい。
ッケージ上面のマーク・パッケージボイド検査による外
観検査データ及びパッケージの端子側の画像処理計測
(またはレーザ変位計測)による検査データを、CRT
等のビデオモニタ装置あるいはプリンタ等の記録機器に
出力して、表示・記録するように構成してもよい。
【0015】また、本発明の外観検査装置において、電
気接続用の端子としてボールが裏面に形成されたパッケ
ージを検査する場合、パッケージのボール像を、図3に
例示するように、パッケージPのボール形成面に対して
直交方向から撮らえる2次元撮像系と、ボール形成面に
対して斜め方向から撮らえる3次元撮像系の2つの撮像
系で撮像し、その2次元撮像系の出力信号からボールピ
ッチ、ボール径及びボール位置度を求めるとともに、3
次元撮像系の出力信号に基づく3次元データと上記2次
元撮像系で得られる2次元データを演算して、ボールコ
プラナリティデータを求めるように構成してもよい。
気接続用の端子としてボールが裏面に形成されたパッケ
ージを検査する場合、パッケージのボール像を、図3に
例示するように、パッケージPのボール形成面に対して
直交方向から撮らえる2次元撮像系と、ボール形成面に
対して斜め方向から撮らえる3次元撮像系の2つの撮像
系で撮像し、その2次元撮像系の出力信号からボールピ
ッチ、ボール径及びボール位置度を求めるとともに、3
次元撮像系の出力信号に基づく3次元データと上記2次
元撮像系で得られる2次元データを演算して、ボールコ
プラナリティデータを求めるように構成してもよい。
【0016】さらに、本発明の外観検査装置において、
マーク・パッケージボイド検査手段及び計測ポジション
に配置された端子計測手段の各出力信号に基づいてパッ
ケージが良品であるか否かを判定し、その判定結果に基
づいて良品/不良品を分類して、トレーに収納するよう
に構成しておいてもよい。
マーク・パッケージボイド検査手段及び計測ポジション
に配置された端子計測手段の各出力信号に基づいてパッ
ケージが良品であるか否かを判定し、その判定結果に基
づいて良品/不良品を分類して、トレーに収納するよう
に構成しておいてもよい。
【0017】ここで、本発明の外観検査装置に用いるマ
ーク・パッケージボイド検査手段及び端子計測手段とし
ては、マーク・パッケージボイド検査及びボール計測等
が可能なものであれば特に限定されないが、分解能など
の点を考慮すると、CCDカメラを用いることが好まし
い。
ーク・パッケージボイド検査手段及び端子計測手段とし
ては、マーク・パッケージボイド検査及びボール計測等
が可能なものであれば特に限定されないが、分解能など
の点を考慮すると、CCDカメラを用いることが好まし
い。
【0018】
【発明の実施の形態】本発明の実施の形態を、以下、図
面に基づいて説明する。
面に基づいて説明する。
【0019】まず、この例の外観検査装置は、図1及び
図2に示すように、インデックステーブル1と、このテ
ーブル1を挟んで互いに対向する位置に配置されたX−
Y駆動機構2a及び2bを備えている。
図2に示すように、インデックステーブル1と、このテ
ーブル1を挟んで互いに対向する位置に配置されたX−
Y駆動機構2a及び2bを備えている。
【0020】インデックステーブル1は、平面形状が略
十字形となっておりその各辺の先端にそれぞれパッケー
ジPの吸着用のパッド1a・・1dが設けられている。
十字形となっておりその各辺の先端にそれぞれパッケー
ジPの吸着用のパッド1a・・1dが設けられている。
【0021】インデックステーブル1は、回転機構(図
示せず)により角度90°のピッチ(1ピッチ当たり約
1秒)で間欠的に回転駆動され、各パッド1a,1b,
1c,1dが、後述するピックアップポジションS1 ,
計測ポジションS3 ,良品収納ポジションS5 ,不良品
排出ポジションS7 に順次に位置するように構成されて
いる。さらにインデックステーブル1には昇降機構(図
示せず)が設けられており、各パッド1a・・1dが各ポ
ジションS1,S3,S5,S7 に位置したときに、後述する
動作の昇降運動が与えられる。
示せず)により角度90°のピッチ(1ピッチ当たり約
1秒)で間欠的に回転駆動され、各パッド1a,1b,
1c,1dが、後述するピックアップポジションS1 ,
計測ポジションS3 ,良品収納ポジションS5 ,不良品
排出ポジションS7 に順次に位置するように構成されて
いる。さらにインデックステーブル1には昇降機構(図
示せず)が設けられており、各パッド1a・・1dが各ポ
ジションS1,S3,S5,S7 に位置したときに、後述する
動作の昇降運動が与えられる。
【0022】なお、以上の構造のインデックステーブル
1の各パッド1a・・1dは、パッケージPの上部保持
(吸着)とその解除をそれぞれ個別に行うことが可能と
なっている。また、インデックステーブル1の回転・昇
降動作並びに各パッド1a・・1dでのパッケージPの保
持・解除動作は、後述する演算処理装置7(図4参照)
からのコントロール信号によって制御される。
1の各パッド1a・・1dは、パッケージPの上部保持
(吸着)とその解除をそれぞれ個別に行うことが可能と
なっている。また、インデックステーブル1の回転・昇
降動作並びに各パッド1a・・1dでのパッケージPの保
持・解除動作は、後述する演算処理装置7(図4参照)
からのコントロール信号によって制御される。
【0023】XY移動機構2aは、ローダトレーT1 を
X軸とY軸にそれぞれ個別に移動するテーブルで、演算
処理装置7からのコントロール信号に応じて、ローダト
レーT1 を行方向(X軸方向)と列方向(Y軸方向)
に、パッケージP・・Pの収納ピッチで移動して、検査を
行うパッケージPを順次にピックアップポジションS1
に配置するように構成されている。
X軸とY軸にそれぞれ個別に移動するテーブルで、演算
処理装置7からのコントロール信号に応じて、ローダト
レーT1 を行方向(X軸方向)と列方向(Y軸方向)
に、パッケージP・・Pの収納ピッチで移動して、検査を
行うパッケージPを順次にピックアップポジションS1
に配置するように構成されている。
【0024】XY移動機構2bは、ローダトレーT1 と
対向する位置(角度180°の位置)に配置される良品
トレーT2 をX軸とY軸にそれぞれ個別に移動する装置
で、このXY移動機構2bも、先と同様に演算処理装置
7からのコントロール信号に応じて、良品トレーT2 を
行方向(X軸方向)と列方向(Y軸方向)に、パッケー
ジP・・Pの収納ピッチで移動して、良品トレーT2 の検
査済みパッケージPの収納部位を、良品収納ポジション
S5 に順次に配置するように構成されている。
対向する位置(角度180°の位置)に配置される良品
トレーT2 をX軸とY軸にそれぞれ個別に移動する装置
で、このXY移動機構2bも、先と同様に演算処理装置
7からのコントロール信号に応じて、良品トレーT2 を
行方向(X軸方向)と列方向(Y軸方向)に、パッケー
ジP・・Pの収納ピッチで移動して、良品トレーT2 の検
査済みパッケージPの収納部位を、良品収納ポジション
S5 に順次に配置するように構成されている。
【0025】なお、XY移動機構2a及びXY移動機構
2bの下方には、それぞれ、ローダトレーT1 ・・T1 を
収納するストッカー21a及び良品トレーT2 ・・T2 を
収納するストッカー21bが配置されている。
2bの下方には、それぞれ、ローダトレーT1 ・・T1 を
収納するストッカー21a及び良品トレーT2 ・・T2 を
収納するストッカー21bが配置されている。
【0026】さて、この実施の形態においては、図2に
示すように、ピックアップポジションS1 の真上に、こ
のポジションS1 に配置されたパッケージPの平面像
(2次元像)を撮らえるマーク・パッケージボイド検査
用CCDカメラ3(以下、外観検査用CCDカメラ3と
称する)及びその照明用光源3aが配置されている。
示すように、ピックアップポジションS1 の真上に、こ
のポジションS1 に配置されたパッケージPの平面像
(2次元像)を撮らえるマーク・パッケージボイド検査
用CCDカメラ3(以下、外観検査用CCDカメラ3と
称する)及びその照明用光源3aが配置されている。
【0027】また、計測ポジションS3 には、図3に示
すように、この計測ポジションS3に搬送され、インデ
ックステーブル1のパッド1a,1b,1cまたは1d
で上部が保持されたパッケージPのボールB・・Bの2次
元像を下方から撮像する2次元計測用CCDカメラ4及
びその照明用光源4aが配置されている。
すように、この計測ポジションS3に搬送され、インデ
ックステーブル1のパッド1a,1b,1cまたは1d
で上部が保持されたパッケージPのボールB・・Bの2次
元像を下方から撮像する2次元計測用CCDカメラ4及
びその照明用光源4aが配置されている。
【0028】さらに、計測ポジションS3 には、同じく
図3に示すように、パッケージPのボール形成面に対し
て斜め30°方向からボールB・・Bの3次元像を撮らえ
る3次元計測用CCDカメラ5とその照明用光源5aが
配置されている。
図3に示すように、パッケージPのボール形成面に対し
て斜め30°方向からボールB・・Bの3次元像を撮らえ
る3次元計測用CCDカメラ5とその照明用光源5aが
配置されている。
【0029】なお、この例では、ピックアップポジショ
ンS1 の真上に配置する外観検査用CCDカメラ3とし
て40万画素のものを用いる。また、計測ポジションS
3 に配置する2台のCCDカメラ(ボール計測用)は高
分解能が要求されるので、2次元計測用CCDカメラ4
として400万画素、3次元計測用CCDカメラ5とし
て100万画素のものを使用する。
ンS1 の真上に配置する外観検査用CCDカメラ3とし
て40万画素のものを用いる。また、計測ポジションS
3 に配置する2台のCCDカメラ(ボール計測用)は高
分解能が要求されるので、2次元計測用CCDカメラ4
として400万画素、3次元計測用CCDカメラ5とし
て100万画素のものを使用する。
【0030】それら3台のCCDカメラ3,4,5はそ
れぞれ演算処理装置7によって駆動(ON)のタイミン
グが制御され、外観検査用CCDカメラ3は、インデッ
クステーブル1の回転過程において各パッド1a,1
b,1c,1dが、図1に示すポイントS2,S4,S6 ま
たはS8 に達した時点、すなわちパッド1a,1b,1
cまたは1dが、ピックアップポジションS1 から角度
45°だけ移動した時点でONとなる。また、計測用C
CDカメラ4及び5は、各パッド1a,1b,1c,1
dが計測ポジションS3 で一端停止(0.1〜0.2秒
程度)した時に、これに同期してONとなる。なお、各
CCDカメラ3,4,5の照明用光源3a,4a,5a
も上記と同じタイミングで駆動(ON)される。
れぞれ演算処理装置7によって駆動(ON)のタイミン
グが制御され、外観検査用CCDカメラ3は、インデッ
クステーブル1の回転過程において各パッド1a,1
b,1c,1dが、図1に示すポイントS2,S4,S6 ま
たはS8 に達した時点、すなわちパッド1a,1b,1
cまたは1dが、ピックアップポジションS1 から角度
45°だけ移動した時点でONとなる。また、計測用C
CDカメラ4及び5は、各パッド1a,1b,1c,1
dが計測ポジションS3 で一端停止(0.1〜0.2秒
程度)した時に、これに同期してONとなる。なお、各
CCDカメラ3,4,5の照明用光源3a,4a,5a
も上記と同じタイミングで駆動(ON)される。
【0031】以上のタイミングで駆動された外観検査用
CCDカメラ3と計測用CCDカメラ4及び5の各出力
信号は、図4に示すように、画像処理装置63,64,
65に順次に導かれ、所定の信号処理(2値化処理等)
が施された後、演算処理装置7に採り込まれる。
CCDカメラ3と計測用CCDカメラ4及び5の各出力
信号は、図4に示すように、画像処理装置63,64,
65に順次に導かれ、所定の信号処理(2値化処理等)
が施された後、演算処理装置7に採り込まれる。
【0032】演算処理装置7は、画像処理装置6によっ
て画像処理が施された画像データのうち、外観検査用C
CDカメラ3からの画像データに基づいて、マーク有無
・文字抜け及びパッケージボイドの有無等を判定する。
て画像処理が施された画像データのうち、外観検査用C
CDカメラ3からの画像データに基づいて、マーク有無
・文字抜け及びパッケージボイドの有無等を判定する。
【0033】また、2次元計測用CCDカメラ4からの
画像データに基づいて、ボールピッチ、ボール径及びボ
ール位置度を求めるとともに、3次元計測用CCDカメ
ラ5からの画像データと、2次元計測用CCDカメラ4
の出力の基づくボール平面像データに基づいてボールコ
プラナリティデータを求め、それらボールに関する検査
データが予め設定された基準データの許容範囲内に入っ
ているか否かを判定する。
画像データに基づいて、ボールピッチ、ボール径及びボ
ール位置度を求めるとともに、3次元計測用CCDカメ
ラ5からの画像データと、2次元計測用CCDカメラ4
の出力の基づくボール平面像データに基づいてボールコ
プラナリティデータを求め、それらボールに関する検査
データが予め設定された基準データの許容範囲内に入っ
ているか否かを判定する。
【0034】そして、演算処理装置7は、以上のマーク
・パッケージボイドの判定結果、及び、ボールピッチ・
ボール径・ボール位置度・ボールコプラナリティの判定
結果のいずれか一つでも不可の場合、その不良品パッケ
ージPを、良品収納ポジションS5 では離さずに、不良
品排出ポジションS7 まで搬送してNGトレー(図示せ
ず)に排出する旨のコントロール信号をインデックステ
ーブル1に供給するように構成されている。
・パッケージボイドの判定結果、及び、ボールピッチ・
ボール径・ボール位置度・ボールコプラナリティの判定
結果のいずれか一つでも不可の場合、その不良品パッケ
ージPを、良品収納ポジションS5 では離さずに、不良
品排出ポジションS7 まで搬送してNGトレー(図示せ
ず)に排出する旨のコントロール信号をインデックステ
ーブル1に供給するように構成されている。
【0035】なお、演算処理装置7は、以上の動作に加
えて、パッケージボイドの有無及びマークの良否、ボー
ルピッチ、ボール径、ボール位置度及びボールコプラナ
リティデータをCRT等のビデオモニタ装置8、FFD
(フロッピィディスクドライブ)9及びプリンタ10等
の外部機器に出力するように構成されている。
えて、パッケージボイドの有無及びマークの良否、ボー
ルピッチ、ボール径、ボール位置度及びボールコプラナ
リティデータをCRT等のビデオモニタ装置8、FFD
(フロッピィディスクドライブ)9及びプリンタ10等
の外部機器に出力するように構成されている。
【0036】ここで、ボールコプラナリティデータを求
める演算手法については、本明細書では詳細に説明しな
いが、3次元計測用CCDカメラ5からの画像データ
を、ボール平面像データと3次元計測用CCDカメラ5
のボール形成面に対する傾き(30°)を用いて較正す
ることによって容易に求めることができる。
める演算手法については、本明細書では詳細に説明しな
いが、3次元計測用CCDカメラ5からの画像データ
を、ボール平面像データと3次元計測用CCDカメラ5
のボール形成面に対する傾き(30°)を用いて較正す
ることによって容易に求めることができる。
【0037】次に、本実施の形態の検査動作を説明す
る。まず、ローダトレーT1 には、所定数のパッケージ
P・・Pが、ボールBの形成面を下に向けたままの状態で
収納(3行×n列)されており、このローダトレーT1
がXY移動機構2aによってピックアップポジションS
1 に対して位置決めされる。この例では、初期の位置決
めでローダトレーT1 の右上角(図1参照)のパッケー
ジPがピックアップポジションS1 に配置され、これに
対応して良品トレーT2 がXY移動機構2bによって位
置決めされ、その良品トレーT2 の左上角のパッケージ
収納部が良品収納ポジションS5 に配置される。
る。まず、ローダトレーT1 には、所定数のパッケージ
P・・Pが、ボールBの形成面を下に向けたままの状態で
収納(3行×n列)されており、このローダトレーT1
がXY移動機構2aによってピックアップポジションS
1 に対して位置決めされる。この例では、初期の位置決
めでローダトレーT1 の右上角(図1参照)のパッケー
ジPがピックアップポジションS1 に配置され、これに
対応して良品トレーT2 がXY移動機構2bによって位
置決めされ、その良品トレーT2 の左上角のパッケージ
収納部が良品収納ポジションS5 に配置される。
【0038】また、この例では、初期状態のときに、イ
ンデックステーブル1のパッド1aが不良品排出ポジシ
ョンS7 に位置しており、さらに、インデックステーブ
ル1はパッケージPの搬送中には、図1の実線で示すよ
うに昇降ストロークの上昇端に配置される。
ンデックステーブル1のパッド1aが不良品排出ポジシ
ョンS7 に位置しており、さらに、インデックステーブ
ル1はパッケージPの搬送中には、図1の実線で示すよ
うに昇降ストロークの上昇端に配置される。
【0039】さて、検査動作を開始すると、まずはイン
デックステーブル1が回転し、この回転過程において、
インデックステーブル1が角度45°して各パッド1
a,1b,1c,1dがそれぞれポイントS8,S2,S4,
S6 に位置した時点で、ピックアップポジションS1 上
方の外観検査用CCDカメラ3及びその照明用光源3a
が同時に駆動され、その画像データつまりピックアップ
ポジションS1 に位置するパッケージP(第1番目)の
マーク・パッケージボイド検査データが演算処理装置7
内に採り込まれる。
デックステーブル1が回転し、この回転過程において、
インデックステーブル1が角度45°して各パッド1
a,1b,1c,1dがそれぞれポイントS8,S2,S4,
S6 に位置した時点で、ピックアップポジションS1 上
方の外観検査用CCDカメラ3及びその照明用光源3a
が同時に駆動され、その画像データつまりピックアップ
ポジションS1 に位置するパッケージP(第1番目)の
マーク・パッケージボイド検査データが演算処理装置7
内に採り込まれる。
【0040】この後、インデックステーブル1のパッド
1a,1b,1c,1dがそれぞれポジションS1,S3,
S5,S7 に位置した時点で、インデックステーブル1の
回転が停止し、次いで、インデックステーブル1が降下
し、その下降端でパッド1aによりローダトレーT1 内
の第1番目のパッケージPが吸着される。この吸着され
たパッケージPは、インデックステーブル1の上昇によ
りローダトレーT1 から取り出される。
1a,1b,1c,1dがそれぞれポジションS1,S3,
S5,S7 に位置した時点で、インデックステーブル1の
回転が停止し、次いで、インデックステーブル1が降下
し、その下降端でパッド1aによりローダトレーT1 内
の第1番目のパッケージPが吸着される。この吸着され
たパッケージPは、インデックステーブル1の上昇によ
りローダトレーT1 から取り出される。
【0041】以上のパッケージPのピックアップ動作が
終了して、インデックステーブル1が上昇端まで上昇し
た時点で、インデックステーブル1が回転を開始する。
なおこのようなピックアップ動作は0.1〜0.2秒程
度で完了する。
終了して、インデックステーブル1が上昇端まで上昇し
た時点で、インデックステーブル1が回転を開始する。
なおこのようなピックアップ動作は0.1〜0.2秒程
度で完了する。
【0042】また、パッケージPのピックアップ動作が
終了した時点で(または動作終了後に)、ローダトレー
T1 が、XY駆動機構2aによってX軸方向に1ピッチ
(パッケージ収納のピッチ)分だけ移動されて、次の検
査を行うパッケージP(第2番目)がピックアップポジ
ションS1 に配置される。
終了した時点で(または動作終了後に)、ローダトレー
T1 が、XY駆動機構2aによってX軸方向に1ピッチ
(パッケージ収納のピッチ)分だけ移動されて、次の検
査を行うパッケージP(第2番目)がピックアップポジ
ションS1 に配置される。
【0043】次に、インデックステーブル1の回転によ
り第1番目のパッケージPが計測ポジションS3 に向け
て搬送される過程において、各パッド1a,1b,1
c,1dがそれぞれポイントS2,S4,S6,S8 に達した
時点で、ピックアップポジションS1 に配置された第2
番目の画像データが外観検査用CCDカメラ3によって
採取され、その画像データが演算処理装置7内に採り込
まれる。
り第1番目のパッケージPが計測ポジションS3 に向け
て搬送される過程において、各パッド1a,1b,1
c,1dがそれぞれポイントS2,S4,S6,S8 に達した
時点で、ピックアップポジションS1 に配置された第2
番目の画像データが外観検査用CCDカメラ3によって
採取され、その画像データが演算処理装置7内に採り込
まれる。
【0044】次いで、インデックステーブル1の回転に
より各パッド1a,1b,1c,1dがそれぞれポジシ
ョンS3,S5,S7,S1 に達した時点で、インデックステ
ーブル1が停止・降下する。このとき、ピックアップポ
ジションS1 では、先と同様な動作で、パッド1bによ
って第2番目のパッケージPが取り出される。また、計
測ポジションS3 においては、インデックステーブル1
が下降端に達した時点で、2台の計測用CCDカメラ4
及び5とその照明用光源4a及び5aが同時に駆動さ
れ、第1番目のパッケージPのボールB・・Bの画像デー
タが採取され、この画像データが演算処理装置7に採り
込まれる。このようなデータ採取を行った時点で、演算
処理装置7は、ボールピッチ・ボール径・ボール位置度
・ボールコプラナリティを求めるとともに、そのボール
検査データと、先の外観検査用CCDカメラ3によるマ
ーク・パッケージボイドの検査データを用いて第1番目
のパッケージPの良否を判定する。
より各パッド1a,1b,1c,1dがそれぞれポジシ
ョンS3,S5,S7,S1 に達した時点で、インデックステ
ーブル1が停止・降下する。このとき、ピックアップポ
ジションS1 では、先と同様な動作で、パッド1bによ
って第2番目のパッケージPが取り出される。また、計
測ポジションS3 においては、インデックステーブル1
が下降端に達した時点で、2台の計測用CCDカメラ4
及び5とその照明用光源4a及び5aが同時に駆動さ
れ、第1番目のパッケージPのボールB・・Bの画像デー
タが採取され、この画像データが演算処理装置7に採り
込まれる。このようなデータ採取を行った時点で、演算
処理装置7は、ボールピッチ・ボール径・ボール位置度
・ボールコプラナリティを求めるとともに、そのボール
検査データと、先の外観検査用CCDカメラ3によるマ
ーク・パッケージボイドの検査データを用いて第1番目
のパッケージPの良否を判定する。
【0045】以上の第1番目のパッケージPのボール計
測を終了し、インデックステーブル1の上昇により、ピ
ックアップポジションS1 での第2番目のパッケージP
のピックアップ動作を終了した時点(または動作終了
後)で、ローダトレーT1 が、XY駆動機構2aによっ
てX軸方向に1ピッチ(パッケージ収納のピッチ)分だ
け移動されて、次の検査を行うパッケージP(第3番
目)がピックアップポジションS1 に配置される。
測を終了し、インデックステーブル1の上昇により、ピ
ックアップポジションS1 での第2番目のパッケージP
のピックアップ動作を終了した時点(または動作終了
後)で、ローダトレーT1 が、XY駆動機構2aによっ
てX軸方向に1ピッチ(パッケージ収納のピッチ)分だ
け移動されて、次の検査を行うパッケージP(第3番
目)がピックアップポジションS1 に配置される。
【0046】また、第2番目のパッケージPのピックア
ップ動作が完了した時点で、インデックステーブル1が
回転し、この回転過程において、各パッド1a,1b,
1c,1dがそれぞれポイントS4,S6,S8,S2 に達し
た時点で、ピックアップポジションS1 に配置された第
3番目の画像データが外観検査用CCDカメラ3によっ
て採取され、次いで、各パッド1a,1b,1c,1d
がそれぞれポジションS5,S7,S1,S3 に達した時点
で、各ポジションS1,S3,S5 で次の動作が行われる。
ップ動作が完了した時点で、インデックステーブル1が
回転し、この回転過程において、各パッド1a,1b,
1c,1dがそれぞれポイントS4,S6,S8,S2 に達し
た時点で、ピックアップポジションS1 に配置された第
3番目の画像データが外観検査用CCDカメラ3によっ
て採取され、次いで、各パッド1a,1b,1c,1d
がそれぞれポジションS5,S7,S1,S3 に達した時点
で、各ポジションS1,S3,S5 で次の動作が行われる。
【0047】ピックアップポジションS1 では、先と同
様な動作により、パッド1cによるパッケージP(第3
番目)の取り出しが行われる。また、その第3番目のパ
ッケージPのピックアップ動作が完了した時点(または
動作完了後)で、XY駆動機構2aによるローダトレー
T1 のX軸及びY軸移動により、2列の第4番目のパッ
ケージPがピックアップポジションS1 に配置される。
様な動作により、パッド1cによるパッケージP(第3
番目)の取り出しが行われる。また、その第3番目のパ
ッケージPのピックアップ動作が完了した時点(または
動作完了後)で、XY駆動機構2aによるローダトレー
T1 のX軸及びY軸移動により、2列の第4番目のパッ
ケージPがピックアップポジションS1 に配置される。
【0048】計測ポジションS3 では、先と同様な動作
で、2台の計測用CCDカメラ4及び5よる第2番目の
パッケージPのボール計測が行われる。
で、2台の計測用CCDカメラ4及び5よる第2番目の
パッケージPのボール計測が行われる。
【0049】良品収納ポジションP5 においては、この
ポジションにパッド1aで搬送された第1番目のパッケ
ージPが良品である場合には、インデックステーブル1
の降下とパッド1aでの吸着解除により、第1番目のパ
ッケージPが良品トレーT2内に収容される。一方、第
1番目のパッケージPが不良品である場合、インデック
ステーブル1が下降端に達してもパッド1aでパッケー
ジPを吸着したままの状態が維持される。
ポジションにパッド1aで搬送された第1番目のパッケ
ージPが良品である場合には、インデックステーブル1
の降下とパッド1aでの吸着解除により、第1番目のパ
ッケージPが良品トレーT2内に収容される。一方、第
1番目のパッケージPが不良品である場合、インデック
ステーブル1が下降端に達してもパッド1aでパッケー
ジPを吸着したままの状態が維持される。
【0050】また、良品収納ポジションP5 では、第1
番目のパッケージPが良品で、このパッケージPが良品
トレーT2 に収納されたときには、ローダトレーT2
が、XY駆動機構2bによってX軸方向に1ピッチ(パ
ッケージ収納のピッチ)分だけ移動されて、次のパッケ
ージPを収納する場所が良品収納ポジションS5 に配置
される。
番目のパッケージPが良品で、このパッケージPが良品
トレーT2 に収納されたときには、ローダトレーT2
が、XY駆動機構2bによってX軸方向に1ピッチ(パ
ッケージ収納のピッチ)分だけ移動されて、次のパッケ
ージPを収納する場所が良品収納ポジションS5 に配置
される。
【0051】以上の各ポジションS1,S3,S5 での動作
が完了した時点で、インデックステーブル1が回転し、
この回転の過程において、第4番目のパッケージPの画
像データが採取された後、各パッド1a,1b,1c,
1dが回転初期の位置(図2に示す位置)に戻る。この
状態で、ピックアップポジションS1 において第4のパ
ッケージPのピックアップ(パッド1dによる吸着)が
行われるとともに、計測ポジションP3 での第3番目の
パッケージPのボール計測と、良品収納ポジションP5
での第2番目のパッケージPの良品トレーT2 への収納
(良品の場合)が同時に行われる。なお、検査結果が不
良品で、良品収納ポジションS5 でトレーへの収納が行
われなかったパッケージP(第1番目)は、この時点で
NGトレーに排出される。
が完了した時点で、インデックステーブル1が回転し、
この回転の過程において、第4番目のパッケージPの画
像データが採取された後、各パッド1a,1b,1c,
1dが回転初期の位置(図2に示す位置)に戻る。この
状態で、ピックアップポジションS1 において第4のパ
ッケージPのピックアップ(パッド1dによる吸着)が
行われるとともに、計測ポジションP3 での第3番目の
パッケージPのボール計測と、良品収納ポジションP5
での第2番目のパッケージPの良品トレーT2 への収納
(良品の場合)が同時に行われる。なお、検査結果が不
良品で、良品収納ポジションS5 でトレーへの収納が行
われなかったパッケージP(第1番目)は、この時点で
NGトレーに排出される。
【0052】以上で、インデックステーブル1の1サイ
クル分の動作が完了し、以後、第4番目のパッケージP
のボール計測と、第5番目以降のパッケージPのマーク
・パッケージボイド検査及びボール計測が同様な動作で
順次に実行されてゆく。
クル分の動作が完了し、以後、第4番目のパッケージP
のボール計測と、第5番目以降のパッケージPのマーク
・パッケージボイド検査及びボール計測が同様な動作で
順次に実行されてゆく。
【0053】以上のように本発明の実施の形態において
は、トレーtoトレー(ローダトレーT1 から良品トレ
ーT2 への搬送)の過程において、パッケージPを反転
させる必要がなく、しかもマーク・ボイドパッケージ検
査とボール計測を同時に行うことができる。
は、トレーtoトレー(ローダトレーT1 から良品トレ
ーT2 への搬送)の過程において、パッケージPを反転
させる必要がなく、しかもマーク・ボイドパッケージ検
査とボール計測を同時に行うことができる。
【0054】ちなみに、従来の外観検査装置において
は、検査タクトの短縮化をはかっても、上面外観検査
(マーク・パッケージボイド検査)も行うと、3秒程度
が限界であったのに対し、図1に示す構成の本発明の外
観検査装置では、タクト時間を1.2秒以下に抑えるこ
とができる。
は、検査タクトの短縮化をはかっても、上面外観検査
(マーク・パッケージボイド検査)も行うと、3秒程度
が限界であったのに対し、図1に示す構成の本発明の外
観検査装置では、タクト時間を1.2秒以下に抑えるこ
とができる。
【0055】また、本発明の実施の形態では、高画素C
CDカメラを用いているので、ボールピッチ、ボール
径、ボール位置度及びボールコプラナリティを高精度で
計測することができる。
CDカメラを用いているので、ボールピッチ、ボール
径、ボール位置度及びボールコプラナリティを高精度で
計測することができる。
【0056】例えば、ボール計測用の2次元計測用CC
Dカメラ4を400万画素、3次元計測用CCDカメラ
5を100万画素のものを使用した場合、繰り返し精度
±5〜10μmという高精度のボール計測を行うことが
できる。
Dカメラ4を400万画素、3次元計測用CCDカメラ
5を100万画素のものを使用した場合、繰り返し精度
±5〜10μmという高精度のボール計測を行うことが
できる。
【0057】なお、400万画素の超高画素CCDカメ
ラの画像処理には膨大な時間を要するが、大容量同時並
列画像処理ボード群を用いることにより、その処理時間
を上記した検査タクト時間内に納めることは可能であ
る。
ラの画像処理には膨大な時間を要するが、大容量同時並
列画像処理ボード群を用いることにより、その処理時間
を上記した検査タクト時間内に納めることは可能であ
る。
【0058】以上の実施の形態において、パッケージP
のボール像を撮像する3次元計測用CCDカメラ5は、
パッケージPのボール形成面に対して斜めに傾けて配置
しているので、得られる画像にはカメラの傾き方向にお
いて歪み(縮み)が生じ、そのままのデータでは精度
上、問題がある場合には較正を行っておく。
のボール像を撮像する3次元計測用CCDカメラ5は、
パッケージPのボール形成面に対して斜めに傾けて配置
しているので、得られる画像にはカメラの傾き方向にお
いて歪み(縮み)が生じ、そのままのデータでは精度
上、問題がある場合には較正を行っておく。
【0059】その較正法としては、画像処理によるソフ
ト的な手法、また、3次元計測用CCDカメラ5の光学
系に遠近補正用レンズとシリンドリカルレンズ等を組み
合わせて、斜めから撮像しても全視野にピントが合うよ
うにする、といったハード的な較正法を採ることもでき
る。
ト的な手法、また、3次元計測用CCDカメラ5の光学
系に遠近補正用レンズとシリンドリカルレンズ等を組み
合わせて、斜めから撮像しても全視野にピントが合うよ
うにする、といったハード的な較正法を採ることもでき
る。
【0060】以上の実施の形態では平面十字形のインデ
ックステーブルを使用しているが、そのテーブルの形状
は、パッケージPの搬送過程においてピックアップポジ
ションS1 でのCCDカメラ2による撮像が可能なもの
であれば任意の形状を採用することができ、例えば図5
に示すように、円盤形の外周4箇所に半円形の切欠きC
・・Cを設けた形状のインデックステーブル101を用い
てもよい。
ックステーブルを使用しているが、そのテーブルの形状
は、パッケージPの搬送過程においてピックアップポジ
ションS1 でのCCDカメラ2による撮像が可能なもの
であれば任意の形状を採用することができ、例えば図5
に示すように、円盤形の外周4箇所に半円形の切欠きC
・・Cを設けた形状のインデックステーブル101を用い
てもよい。
【0061】以上の実施の形態では、インデックステー
ブルの4箇所にパッケージ吸着用のパッドを設けた例を
示したが、そのパッドの配置数は複数であれば特に限定
されない。さらに、このような回転方式のインデックス
テーブルに替えて、X−Y軸と鉛直方向に移動可能な他
のピックアップ装置を用いても本発明は実施可能であ
る。
ブルの4箇所にパッケージ吸着用のパッドを設けた例を
示したが、そのパッドの配置数は複数であれば特に限定
されない。さらに、このような回転方式のインデックス
テーブルに替えて、X−Y軸と鉛直方向に移動可能な他
のピックアップ装置を用いても本発明は実施可能であ
る。
【0062】以上の実施の形態では、ボールコプラナリ
ティ計測を行うため、計測ポジションS3 に3次元計測
用CCDカメラ5を配置しているが、ボールコプラナリ
ティが不要の場合は、検査ステージの下方にはボール平
面像を撮像する2次元計測用CCDカメラ4のみを配置
すればよい。
ティ計測を行うため、計測ポジションS3 に3次元計測
用CCDカメラ5を配置しているが、ボールコプラナリ
ティが不要の場合は、検査ステージの下方にはボール平
面像を撮像する2次元計測用CCDカメラ4のみを配置
すればよい。
【0063】以上の実施の形態では、パッケージの端子
側の検査を画像処理計測で行う例を示したが、本発明は
これに限られることなく、パッケージの端子側の検査と
してレーザ変位計測を用いてもよい。
側の検査を画像処理計測で行う例を示したが、本発明は
これに限られることなく、パッケージの端子側の検査と
してレーザ変位計測を用いてもよい。
【0064】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の外観検査
装置によれば、ボールピッチ、ボール径及びボール位置
度等の端子計測を高速かつ高精度で行うことができる。
またパッケージの上面マーク・パッケージボイド検査も
同一タクト内で行うことができる。しかも、それらの検
査を、パッケージを反転することなく正方向姿勢のまま
で実行できるので、パッケージのピックアップから出荷
トレーへの収納まで、パッケージのボール部にピックア
ップ装置等が接触せず、ボールが傷つく虞れがなくな
る。
装置によれば、ボールピッチ、ボール径及びボール位置
度等の端子計測を高速かつ高精度で行うことができる。
またパッケージの上面マーク・パッケージボイド検査も
同一タクト内で行うことができる。しかも、それらの検
査を、パッケージを反転することなく正方向姿勢のまま
で実行できるので、パッケージのピックアップから出荷
トレーへの収納まで、パッケージのボール部にピックア
ップ装置等が接触せず、ボールが傷つく虞れがなくな
る。
【0065】さらに、トレーtoトレー方式のため、製
造工程用トレーから出荷トレーへの移し替え工程を、本
発明の検査装置が兼用し、削除することができる。
造工程用トレーから出荷トレーへの移し替え工程を、本
発明の検査装置が兼用し、削除することができる。
【図1】本発明の実施の形態の概略構成を示す平面図
【図2】同じく実施の形態の概略構成を示す正面図
【図3】本発明の実施の形態における計測ポジションS
3 の構成を示す図
3 の構成を示す図
【図4】本発明の実施の形態の信号処理系の構成を示す
ブロック図
ブロック図
【図5】インデックテーブルの変形例を示す平面図
1 インデックステーブル 1a,1b,1c,1d パッド 2a XY移動機構(ロードトレーT1 用) 2b XY移動機構(良品トレーT2 用) 3 マーク・パッケージボイド検査用CCDカメラ 3a 照明用光源 4 2次元計測用CCDカメラ 4a 照明用光源 5 3次元計測用CCDカメラ 5a 照明用光源 63,64,65 信号処理装置 7 演算処理装置 P パッケージ T1 ロードトレー T2 良品トレー S1 ピックアップポジション S3 計測ポジション S5 良品収納ポジション S7 不良品排出ポジション
Claims (2)
- 【請求項1】 BGA・CSP型IC等のパッケージ
で、上面等にマークが付され裏面に電気接続用の端子が
形成されてなるパッケージの外観を検査する装置であっ
て、 端子面を下に向けた姿勢でトレーに収納されたパッケー
ジをピックアップして計測ポジションに搬送するピック
アップ装置と、そのトレーからのパッケージのピックア
ップポジションの上方に配置されたマーク・パッケージ
ボイド検査手段と、ピックアップ装置によって上部が保
持された状態で計測ポジションに搬送されたパッケージ
の端子側を、画像処理計測またはレーザ変位計測で検査
する計測手段を備え、 上記パッケージボイド検査手段は、先にマーク・パッケ
ージボイド検査を終えたパッケージをピックアップ装置
が計測ポジションに搬送している過程で、ピックアップ
ポジションに位置する、次のパッケージの検査を行うよ
うに構成されていることを特徴とする外観検査装置。 - 【請求項2】 当該外観検査装置全体のタイムタクトを
高速化するために、上記ピックアップ装置として、パッ
ケージをトレーのピックアップポジション→計測ポジシ
ョン→別のトレーの順で移動するインデックステーブル
を用いることを特徴とする、請求項1に記載の外観検査
装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP22323097A JPH1163951A (ja) | 1997-08-20 | 1997-08-20 | 外観検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP22323097A JPH1163951A (ja) | 1997-08-20 | 1997-08-20 | 外観検査装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH1163951A true JPH1163951A (ja) | 1999-03-05 |
Family
ID=16794841
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP22323097A Pending JPH1163951A (ja) | 1997-08-20 | 1997-08-20 | 外観検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH1163951A (ja) |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003065754A (ja) * | 2001-08-24 | 2003-03-05 | Ricoh Co Ltd | 半導体装置実装体の平坦度検査方法及び装置 |
US6741734B2 (en) | 2000-04-06 | 2004-05-25 | Nec Corporation | Appearance inspection method and appearance inspection apparatus having high inspection processing speed |
CN107520141A (zh) * | 2017-08-18 | 2017-12-29 | 广东长盈精密技术有限公司 | 壳体检测装置 |
CN108955749A (zh) * | 2017-05-18 | 2018-12-07 | 东京威尔斯股份有限公司 | 工件外观检查装置以及工件外观检查方法 |
KR102038289B1 (ko) * | 2018-04-23 | 2019-10-30 | 아진산업(주) | 영상기반 용접부 검사장치 |
CN111609933A (zh) * | 2019-02-25 | 2020-09-01 | 精工爱普生株式会社 | 分光检查方法、图像处理装置以及机器人系统 |
CN113231332A (zh) * | 2021-05-26 | 2021-08-10 | 苏州艾科瑞思智能装备股份有限公司 | 一种压电陶瓷元件的三维化检测装置 |
-
1997
- 1997-08-20 JP JP22323097A patent/JPH1163951A/ja active Pending
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6741734B2 (en) | 2000-04-06 | 2004-05-25 | Nec Corporation | Appearance inspection method and appearance inspection apparatus having high inspection processing speed |
JP2003065754A (ja) * | 2001-08-24 | 2003-03-05 | Ricoh Co Ltd | 半導体装置実装体の平坦度検査方法及び装置 |
JP4557471B2 (ja) * | 2001-08-24 | 2010-10-06 | 株式会社リコー | 半導体装置実装体の平坦度検査方法及び装置 |
CN108955749A (zh) * | 2017-05-18 | 2018-12-07 | 东京威尔斯股份有限公司 | 工件外观检查装置以及工件外观检查方法 |
CN107520141A (zh) * | 2017-08-18 | 2017-12-29 | 广东长盈精密技术有限公司 | 壳体检测装置 |
KR102038289B1 (ko) * | 2018-04-23 | 2019-10-30 | 아진산업(주) | 영상기반 용접부 검사장치 |
CN111609933A (zh) * | 2019-02-25 | 2020-09-01 | 精工爱普生株式会社 | 分光检查方法、图像处理装置以及机器人系统 |
CN113231332A (zh) * | 2021-05-26 | 2021-08-10 | 苏州艾科瑞思智能装备股份有限公司 | 一种压电陶瓷元件的三维化检测装置 |
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