JPH10269193A - フラッシュメモリ及びマイクロコンピュータ - Google Patents
フラッシュメモリ及びマイクロコンピュータInfo
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- JPH10269193A JPH10269193A JP7407697A JP7407697A JPH10269193A JP H10269193 A JPH10269193 A JP H10269193A JP 7407697 A JP7407697 A JP 7407697A JP 7407697 A JP7407697 A JP 7407697A JP H10269193 A JPH10269193 A JP H10269193A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 従来のフラッシュメモリ及びマイクロコンピ
ュータは、安定した制御電圧の供給が難しく、また、ア
ース電位が不安定になってしまうという課題があった。 【解決手段】 電源制御部の電源端子と、制御部の電源
制御部と同一の電源電圧で動作する回路部分の電源端子
とを分離して設ける。
ュータは、安定した制御電圧の供給が難しく、また、ア
ース電位が不安定になってしまうという課題があった。 【解決手段】 電源制御部の電源端子と、制御部の電源
制御部と同一の電源電圧で動作する回路部分の電源端子
とを分離して設ける。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、メモリ部へのデ
ータの書き込み、消去またはベリファイ動作を行うとき
にメモリ部に印加する制御電圧を制御する電源制御部
と、他の制御を行う制御部とを有し、電源制御部と制御
部の少なくとも一部の回路とが同一の電源電圧で動作す
るフラッシュメモリ及びそのようなフラッシュメモリを
備えたマイクロコンピュータに関するものである。
ータの書き込み、消去またはベリファイ動作を行うとき
にメモリ部に印加する制御電圧を制御する電源制御部
と、他の制御を行う制御部とを有し、電源制御部と制御
部の少なくとも一部の回路とが同一の電源電圧で動作す
るフラッシュメモリ及びそのようなフラッシュメモリを
備えたマイクロコンピュータに関するものである。
【0002】
【従来の技術】図6は従来の単一電源で動作可能なフラ
ッシュメモリの構成を模式的に示す図であり、図におい
て、61はフラッシュメモリ、62はメモリ素子の配列
されたメモリ部、63はメモリ部62の動作制御を行う
制御部、64はメモリ部62へのデータの書き込み、消
去またはベリファイ動作を行うときにメモリ部62に印
加する制御電圧を制御する電源制御部、66はメモリ部
62、制御部63、電源制御部64、ポート73に電力
を供給する電源(以下、VCCと表記する)、68はメ
モリ部62、制御部63、電源制御部64、ポート73
のアース回路(以下、VSSと表記する)、73は外部
回路とデータのやりとりを行うためのポートである。
ッシュメモリの構成を模式的に示す図であり、図におい
て、61はフラッシュメモリ、62はメモリ素子の配列
されたメモリ部、63はメモリ部62の動作制御を行う
制御部、64はメモリ部62へのデータの書き込み、消
去またはベリファイ動作を行うときにメモリ部62に印
加する制御電圧を制御する電源制御部、66はメモリ部
62、制御部63、電源制御部64、ポート73に電力
を供給する電源(以下、VCCと表記する)、68はメ
モリ部62、制御部63、電源制御部64、ポート73
のアース回路(以下、VSSと表記する)、73は外部
回路とデータのやりとりを行うためのポートである。
【0003】従来のフラッシュメモリ61は、メモリ部
62、制御部63、電源制御部64、ポート73に共通
の電力をVCC66から供給しており、このVCC66
を用いて、フラッシュメモリ61に対するデータの書き
込み/消去/ベリファイ時に使用する制御電圧を電源制
御部64の内部の昇圧,降圧回路で生成していた。ま
た、VSS68はメモリ部62、制御部63、電源制御
部64、ポート73で共通に使用していた。
62、制御部63、電源制御部64、ポート73に共通
の電力をVCC66から供給しており、このVCC66
を用いて、フラッシュメモリ61に対するデータの書き
込み/消去/ベリファイ時に使用する制御電圧を電源制
御部64の内部の昇圧,降圧回路で生成していた。ま
た、VSS68はメモリ部62、制御部63、電源制御
部64、ポート73で共通に使用していた。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】従来のフラッシュメモ
リは以上のように構成されているので、メモリ部へのデ
ータの書き込み/消去/ベリファイ時に使用する電源制
御部で生成する制御電圧は、制御部の他の制御回路の動
作による影響を受けやすく、安定した制御電圧の供給が
難しく、また、アース電位が不安定になってしまう場合
があった。このような場合には、書き込み電圧が低くな
ってしまった場合にはフラッシュメモリへのデータの書
き込み時間が長くなってしまい、また、消去電圧が低く
なってしまった場合にはフラッシュメモリに書き込んで
あるデータの消去時間が長くなり、書き込みまたは消去
電圧が高くなってしまった場合にはフラッシュメモリが
破損されてしまう恐れがあり、ベリファイ電圧が変動し
てしまった場合にはフラッシュメモリのデータの書き込
み/消去状態の判定を正しく行えなくなってしまうなど
の課題があった。
リは以上のように構成されているので、メモリ部へのデ
ータの書き込み/消去/ベリファイ時に使用する電源制
御部で生成する制御電圧は、制御部の他の制御回路の動
作による影響を受けやすく、安定した制御電圧の供給が
難しく、また、アース電位が不安定になってしまう場合
があった。このような場合には、書き込み電圧が低くな
ってしまった場合にはフラッシュメモリへのデータの書
き込み時間が長くなってしまい、また、消去電圧が低く
なってしまった場合にはフラッシュメモリに書き込んで
あるデータの消去時間が長くなり、書き込みまたは消去
電圧が高くなってしまった場合にはフラッシュメモリが
破損されてしまう恐れがあり、ベリファイ電圧が変動し
てしまった場合にはフラッシュメモリのデータの書き込
み/消去状態の判定を正しく行えなくなってしまうなど
の課題があった。
【0005】また、このようなフラッシュメモリを備え
たマイクロコンピュータは、上述のフラッシュメモリの
不具合の影響を受け、CPUによるフラッシュメモリへ
の書き込み・消去動作の遅速化、誤動作の発生というよ
うな課題があった。
たマイクロコンピュータは、上述のフラッシュメモリの
不具合の影響を受け、CPUによるフラッシュメモリへ
の書き込み・消去動作の遅速化、誤動作の発生というよ
うな課題があった。
【0006】この発明は上記のような課題を解決するた
めになされたもので、データの書き込み、消去、ベリフ
ァイを安定して行うことができ、破損される恐れの少な
いフラッシュメモリを得ることを目的とする。
めになされたもので、データの書き込み、消去、ベリフ
ァイを安定して行うことができ、破損される恐れの少な
いフラッシュメモリを得ることを目的とする。
【0007】また、この発明は、フラッシュメモリの不
具合によるCPUによるフラッシュメモリへの書き込み
・消去動作の遅速化、誤動作の発生等のないマイクロコ
ンピュータを得ることを目的とする。
具合によるCPUによるフラッシュメモリへの書き込み
・消去動作の遅速化、誤動作の発生等のないマイクロコ
ンピュータを得ることを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】請求項1記載の発明に係
るフラッシュメモリは、電源制御部の電源端子と、制御
部の電源制御部と同一の電源電圧で動作する回路部分の
電源端子とを分離して設けたものである。
るフラッシュメモリは、電源制御部の電源端子と、制御
部の電源制御部と同一の電源電圧で動作する回路部分の
電源端子とを分離して設けたものである。
【0009】請求項2記載の発明に係るフラッシュメモ
リは、電源制御部及び制御部の電源制御部と同一の電源
電圧で動作する回路部分のうち大きな電源変動を生じさ
せる恐れのあるスイッチング動作を行わない回路部分の
電源端子と、制御部の電源制御部と同一の電源電圧で動
作する回路部分のうち大きな電源変動を生じさせる恐れ
のあるスイッチング動作を行う回路部分の電源端子とを
分離して設けたものである。
リは、電源制御部及び制御部の電源制御部と同一の電源
電圧で動作する回路部分のうち大きな電源変動を生じさ
せる恐れのあるスイッチング動作を行わない回路部分の
電源端子と、制御部の電源制御部と同一の電源電圧で動
作する回路部分のうち大きな電源変動を生じさせる恐れ
のあるスイッチング動作を行う回路部分の電源端子とを
分離して設けたものである。
【0010】請求項3記載の発明に係るフラッシュメモ
リは、電源制御部のアース端子と、制御部の大きなアー
ス電位変動を生じる恐れのある回路部分のアース端子と
を分離して設けたものである。
リは、電源制御部のアース端子と、制御部の大きなアー
ス電位変動を生じる恐れのある回路部分のアース端子と
を分離して設けたものである。
【0011】請求項4記載の発明に係るフラッシュメモ
リは、電源制御部及び制御部の大きなアース電位変動を
生じさせる恐れのあるスイッチング動作を行わない回路
部分のアース端子と、制御部の大きなアース電位変動変
動を生じさせる恐れのあるスイッチング動作を行う回路
部分のアース端子とを分離して設けたものである。
リは、電源制御部及び制御部の大きなアース電位変動を
生じさせる恐れのあるスイッチング動作を行わない回路
部分のアース端子と、制御部の大きなアース電位変動変
動を生じさせる恐れのあるスイッチング動作を行う回路
部分のアース端子とを分離して設けたものである。
【0012】請求項5記載の発明に係るマイクロコンピ
ュータは、フラッシュメモリの、電源制御部の電源端子
と、制御部の電源制御部と同一の電源電圧で動作する回
路部分の電源端子とが分離して設けられているものであ
る。
ュータは、フラッシュメモリの、電源制御部の電源端子
と、制御部の電源制御部と同一の電源電圧で動作する回
路部分の電源端子とが分離して設けられているものであ
る。
【0013】請求項6記載の発明に係るマイクロコンピ
ュータは、フラッシュメモリの、電源制御部及び制御部
の電源制御部と同一の電源電圧で動作する回路部分のう
ち大きな電源変動を生じさせる恐れのあるスイッチング
動作を行わない回路部分の電源端子と、制御部の電源制
御部と同一の電源電圧で動作する回路部分のうち大きな
電源変動を生じさせる恐れのあるスイッチング動作を行
う回路部分の電源端子とが分離して設けられているもの
である。
ュータは、フラッシュメモリの、電源制御部及び制御部
の電源制御部と同一の電源電圧で動作する回路部分のう
ち大きな電源変動を生じさせる恐れのあるスイッチング
動作を行わない回路部分の電源端子と、制御部の電源制
御部と同一の電源電圧で動作する回路部分のうち大きな
電源変動を生じさせる恐れのあるスイッチング動作を行
う回路部分の電源端子とが分離して設けられているもの
である。
【0014】請求項7記載のマイクロコンピュータは、
フラッシュメモリの、電源制御部のアース端子と、制御
部の電源制御部と大きなアース電位変動を生じさせる恐
れのある回路部分のアース端子とが分離して設けられて
いるものである。
フラッシュメモリの、電源制御部のアース端子と、制御
部の電源制御部と大きなアース電位変動を生じさせる恐
れのある回路部分のアース端子とが分離して設けられて
いるものである。
【0015】請求項8記載のマイクロコンピュータは、
フラッシュメモリの、電源制御部及び制御部の大きなア
ース電位変動を生じさせる恐れのあるスイッチング動作
を行わない回路部分のアース端子と、制御部の大きなア
ース電位変動を生じさせる恐れのあるスイッチング動作
を行う回路部分のアース端子とが分離して設けられてい
るものである。
フラッシュメモリの、電源制御部及び制御部の大きなア
ース電位変動を生じさせる恐れのあるスイッチング動作
を行わない回路部分のアース端子と、制御部の大きなア
ース電位変動を生じさせる恐れのあるスイッチング動作
を行う回路部分のアース端子とが分離して設けられてい
るものである。
【0016】
【発明の実施の形態】以下、この発明の実施の一形態を
説明する。 実施の形態1.図1はこの発明の実施の形態1による単
一電源で動作可能なフラッシュメモリの構成を模式的に
示す図であり、図において、1はフラッシュメモリ、2
はメモリ素子の配列されたメモリ部、3はメモリ部2の
動作制御を行う制御部、4はメモリ部2へのデータの書
き込み、消去またはベリファイ動作を行うときにメモリ
部2に印加する制御電圧を制御する電源制御部、5はメ
モリ部2へのデータの書き込み、消去またはベリファイ
動作を行うときに電源制御部4に電源電圧を供給する電
源(以下、FVCCと表記する)、6はメモリ部2、制
御部3、ポート13に電力を供給する電源(以下、VC
Cと表記する)、13は外部回路とデータのやりとりを
行うためのポートである。FVCC5の電源端子とVC
C6の電源端子とは分離して設けられている。
説明する。 実施の形態1.図1はこの発明の実施の形態1による単
一電源で動作可能なフラッシュメモリの構成を模式的に
示す図であり、図において、1はフラッシュメモリ、2
はメモリ素子の配列されたメモリ部、3はメモリ部2の
動作制御を行う制御部、4はメモリ部2へのデータの書
き込み、消去またはベリファイ動作を行うときにメモリ
部2に印加する制御電圧を制御する電源制御部、5はメ
モリ部2へのデータの書き込み、消去またはベリファイ
動作を行うときに電源制御部4に電源電圧を供給する電
源(以下、FVCCと表記する)、6はメモリ部2、制
御部3、ポート13に電力を供給する電源(以下、VC
Cと表記する)、13は外部回路とデータのやりとりを
行うためのポートである。FVCC5の電源端子とVC
C6の電源端子とは分離して設けられている。
【0017】なお、メモリ部2に供給されるVCC6
は、メモリ部2内のセンスアンプの電源として供給され
る他、データ読み出し時にメモリ部2の各メモリ素子の
コントロールゲートに供給される。データ読み出し時の
コントロールゲート以外のメモリ部2内の各メモリ素子
の電極に供給される制御電圧は電源制御部4から図示し
ない結線を介して供給される。また、制御部3にはクロ
ック発生回路等のスイッチング動作する回路が含まれ、
電源制御部4にはスイッチング動作をする回路は含まれ
ていない。
は、メモリ部2内のセンスアンプの電源として供給され
る他、データ読み出し時にメモリ部2の各メモリ素子の
コントロールゲートに供給される。データ読み出し時の
コントロールゲート以外のメモリ部2内の各メモリ素子
の電極に供給される制御電圧は電源制御部4から図示し
ない結線を介して供給される。また、制御部3にはクロ
ック発生回路等のスイッチング動作する回路が含まれ、
電源制御部4にはスイッチング動作をする回路は含まれ
ていない。
【0018】次に動作について説明する。まず、メモリ
部2のメモリ素子にデータを書き込むときには、図2の
(1)に示すように、電源制御部4の内部に設けられた
図示しない昇圧回路によりFVCC5の電源電圧を昇圧
して、メモリ素子のコントロールゲートCGとドレイン
Dとに高圧(コントロールゲートCGに12V、ドレイ
ンDに7V)を印加し、ソースSを接地することによ
り、ドレインD近傍のアバランシェ崩壊により生じたホ
ットエレクトロンをフローティングゲートFGに注入し
て、データを書き込む。なお、図においてPはP型基板
を表す。
部2のメモリ素子にデータを書き込むときには、図2の
(1)に示すように、電源制御部4の内部に設けられた
図示しない昇圧回路によりFVCC5の電源電圧を昇圧
して、メモリ素子のコントロールゲートCGとドレイン
Dとに高圧(コントロールゲートCGに12V、ドレイ
ンDに7V)を印加し、ソースSを接地することによ
り、ドレインD近傍のアバランシェ崩壊により生じたホ
ットエレクトロンをフローティングゲートFGに注入し
て、データを書き込む。なお、図においてPはP型基板
を表す。
【0019】次に、メモリ素子からデータを消去するに
は、図2の(2)に示すように、昇圧回路からソースS
に高圧(12V)を印加し、コントロールゲートCGを
接地、ドレインDをオープンとすることにより、トンネ
ル現象を利用した電子の引き抜きを起こして消去する。
は、図2の(2)に示すように、昇圧回路からソースS
に高圧(12V)を印加し、コントロールゲートCGを
接地、ドレインDをオープンとすることにより、トンネ
ル現象を利用した電子の引き抜きを起こして消去する。
【0020】また、データが書き込まれているメモリ素
子から書き込まれたデータを読み出すには、図2の
(3)に示すように、ソースSを接地し、ドレインDに
は電源制御部4内に設けられた降圧回路により降圧され
た電圧(1V)を印加し、コントロールゲートCGにV
CC6の電源電圧を印加するが、フローティングゲート
FGに注入されている電子により、このメモリ素子トラ
ンジスタの閾値電圧が高くなっているため、メモリ素子
はONせず、ビット線に電流が流れない。この状態をセ
ンスアンプで検出して、メモリ素子の値をデータの書き
込まれた状態を表す“0”と識別する。
子から書き込まれたデータを読み出すには、図2の
(3)に示すように、ソースSを接地し、ドレインDに
は電源制御部4内に設けられた降圧回路により降圧され
た電圧(1V)を印加し、コントロールゲートCGにV
CC6の電源電圧を印加するが、フローティングゲート
FGに注入されている電子により、このメモリ素子トラ
ンジスタの閾値電圧が高くなっているため、メモリ素子
はONせず、ビット線に電流が流れない。この状態をセ
ンスアンプで検出して、メモリ素子の値をデータの書き
込まれた状態を表す“0”と識別する。
【0021】データの書き込まれていないメモリ素子か
らデータの読み出し動作を行うと、図2の(4)に示す
ように、コントロールゲートにVCCを印加するとメモ
リ素子がONし、ビット線に電流が流れる。この電流を
センスアンプで検出し、データの書き込まれていない
“1”の状態と判定する。
らデータの読み出し動作を行うと、図2の(4)に示す
ように、コントロールゲートにVCCを印加するとメモ
リ素子がONし、ビット線に電流が流れる。この電流を
センスアンプで検出し、データの書き込まれていない
“1”の状態と判定する。
【0022】ベリファイ時には上記読み出し動作を行
い、データがメモリ素子から正しく書き込まれている
か、また正しく消去されているか否かを検証する。
い、データがメモリ素子から正しく書き込まれている
か、また正しく消去されているか否かを検証する。
【0023】上述のように、この単一電源で動作するフ
ラッシュメモリ1は電源制御部4によってデータの書き
込み/消去/ベリファイ時に使用する制御電圧を昇圧回
路、降圧回路により制御し、メモリ素子に対して書き込
み/消去/ベリファイを実行する。このとき、電源制御
部4に供給される電源電圧が変動すると、電源制御部4
の昇圧回路・降圧回路から各メモリ素子の電極に印加さ
れる制御電圧が変動し、従来例の課題として述べた各種
の不具合が生じる。本実施の形態においては、大きな電
源変動をもたらすスイッチング動作を行う回路を含まな
い電源制御部4へのFVCC5の電源端子をスイッチン
グ動作を行う回路を含む制御部3へのVCC6の電源端
子から分離させて別個に設けているので、電源制御部4
の電源電圧は安定して変動し難い。
ラッシュメモリ1は電源制御部4によってデータの書き
込み/消去/ベリファイ時に使用する制御電圧を昇圧回
路、降圧回路により制御し、メモリ素子に対して書き込
み/消去/ベリファイを実行する。このとき、電源制御
部4に供給される電源電圧が変動すると、電源制御部4
の昇圧回路・降圧回路から各メモリ素子の電極に印加さ
れる制御電圧が変動し、従来例の課題として述べた各種
の不具合が生じる。本実施の形態においては、大きな電
源変動をもたらすスイッチング動作を行う回路を含まな
い電源制御部4へのFVCC5の電源端子をスイッチン
グ動作を行う回路を含む制御部3へのVCC6の電源端
子から分離させて別個に設けているので、電源制御部4
の電源電圧は安定して変動し難い。
【0024】以上のように、この実施の形態1によれ
ば、電源制御部4から安定した制御電圧がメモリ素子の
各電極に供給されるので、フラッシュメモリ1の動作を
安定させる効果が得られる。
ば、電源制御部4から安定した制御電圧がメモリ素子の
各電極に供給されるので、フラッシュメモリ1の動作を
安定させる効果が得られる。
【0025】なお、本実施の形態においてはFVCC5
を電源制御部4のみに供給したが、大きな電源変動を生
じさせる恐れのあるスイッチング動作を行わない、電源
変動を生じさせる恐れの小さい回路類の電源としてもF
VCC5を用いても良い。この場合には、FVCC5は
電源制御部4と制御部3のうち電源変動を生じさせる恐
れの少ない回路類との電源として用いられ、制御部3の
他の回路類の電源としてはVCC6が用いられることと
なる。
を電源制御部4のみに供給したが、大きな電源変動を生
じさせる恐れのあるスイッチング動作を行わない、電源
変動を生じさせる恐れの小さい回路類の電源としてもF
VCC5を用いても良い。この場合には、FVCC5は
電源制御部4と制御部3のうち電源変動を生じさせる恐
れの少ない回路類との電源として用いられ、制御部3の
他の回路類の電源としてはVCC6が用いられることと
なる。
【0026】また、本実施の形態においては単一電源で
動作可能なフラッシュメモリとしたが、このことは複数
電源で動作するフラッシュメモリの電源制御部と同一電
源電圧で動作する他の制御回路のうち電源変動の大きく
なる恐れのある回路部分の電源端子を電源制御部の電源
端子と分離して設ける形での複数電源で動作するフラッ
シュメモリへの本発明の適用を排除するものではない。
動作可能なフラッシュメモリとしたが、このことは複数
電源で動作するフラッシュメモリの電源制御部と同一電
源電圧で動作する他の制御回路のうち電源変動の大きく
なる恐れのある回路部分の電源端子を電源制御部の電源
端子と分離して設ける形での複数電源で動作するフラッ
シュメモリへの本発明の適用を排除するものではない。
【0027】実施の形態2.図3はこの発明の実施の形
態2による単一電源で動作可能なフラッシュメモリの構
成を模式的に示す図であり、図3において、図1に示し
た実施の形態1によるフラッシュメモリの構成要素と同
一の構成要素には同一の番号を付し、その説明を省略す
る。
態2による単一電源で動作可能なフラッシュメモリの構
成を模式的に示す図であり、図3において、図1に示し
た実施の形態1によるフラッシュメモリの構成要素と同
一の構成要素には同一の番号を付し、その説明を省略す
る。
【0028】図3において、31はフラッシュメモリ、
7は電源制御部4のアース回路(以下、FVSSと表記
する)、8はフラッシュメモリ31の電源制御部4以外
の部分のアース回路(以下、VSSと表記する)であ
る。FVSS7のアース端子とVSS8のアース端子と
は分離して設けられている。
7は電源制御部4のアース回路(以下、FVSSと表記
する)、8はフラッシュメモリ31の電源制御部4以外
の部分のアース回路(以下、VSSと表記する)であ
る。FVSS7のアース端子とVSS8のアース端子と
は分離して設けられている。
【0029】次に動作について説明する。本実施の形態
においては、FVSS7のアース端子とVSS8のアー
ス端子とが分離して設けられているので、VSS8のア
ース電位の変動がFVSS7のアース電位に影響を与え
ることがなく、電源制御部4は安定して動作することが
できる。
においては、FVSS7のアース端子とVSS8のアー
ス端子とが分離して設けられているので、VSS8のア
ース電位の変動がFVSS7のアース電位に影響を与え
ることがなく、電源制御部4は安定して動作することが
できる。
【0030】以上のように、この実施の形態2によれ
ば、電源制御部4から安定した制御電圧がメモリ素子の
各電極に供給されるので、フラッシュメモリ31の動作
を安定させる効果が得られる。
ば、電源制御部4から安定した制御電圧がメモリ素子の
各電極に供給されるので、フラッシュメモリ31の動作
を安定させる効果が得られる。
【0031】なお、本実施の形態においてはFVSS7
は電源制御部4のみのアース回路としたが、大きなアー
ス電位変動を生じさせる恐れのあるスイッチング動作を
行わない、アース電位変動を生じさせる恐れの小さい回
路類のアース回路もFVSS7に含めても良い。この場
合には、FVSS7は電源制御部4と制御部3のうちア
ース電位変動を生じさせる恐れの少ない回路類とのアー
ス回路として用いられ、制御部3の他の回路類のアース
回路としてVSS8が用いられることとなる。
は電源制御部4のみのアース回路としたが、大きなアー
ス電位変動を生じさせる恐れのあるスイッチング動作を
行わない、アース電位変動を生じさせる恐れの小さい回
路類のアース回路もFVSS7に含めても良い。この場
合には、FVSS7は電源制御部4と制御部3のうちア
ース電位変動を生じさせる恐れの少ない回路類とのアー
ス回路として用いられ、制御部3の他の回路類のアース
回路としてVSS8が用いられることとなる。
【0032】また、本実施の形態においては単一電源で
動作可能なフラッシュメモリとしたが、このことは複数
電源で動作するフラッシュメモリの電源制御部と同一電
源電圧で動作する他の制御回路のうち電源変動の大きく
なる恐れのある回路部分のアース端子を電源制御部のア
ース端子と分離して設ける形での複数電源で動作するフ
ラッシュメモリへの本発明の適用を排除するものではな
い。
動作可能なフラッシュメモリとしたが、このことは複数
電源で動作するフラッシュメモリの電源制御部と同一電
源電圧で動作する他の制御回路のうち電源変動の大きく
なる恐れのある回路部分のアース端子を電源制御部のア
ース端子と分離して設ける形での複数電源で動作するフ
ラッシュメモリへの本発明の適用を排除するものではな
い。
【0033】さらに、電源制御部のアース端子と他の制
御部のアース端子とを分離させて設けると共に、電源制
御部の電源端子と他の制御部の電源端子とを分離させて
設けても良い。
御部のアース端子とを分離させて設けると共に、電源制
御部の電源端子と他の制御部の電源端子とを分離させて
設けても良い。
【0034】実施の形態3.図4はこの発明の実施の形
態3による単一電源で動作可能なフラッシュメモリを備
えたマイクロコンピュータの構成を模式的に示す図であ
り、図4において、図1に示した実施の形態1によるフ
ラッシュメモリの構成要素と同一の構成要素には同一の
番号を付し、その説明を省略する。
態3による単一電源で動作可能なフラッシュメモリを備
えたマイクロコンピュータの構成を模式的に示す図であ
り、図4において、図1に示した実施の形態1によるフ
ラッシュメモリの構成要素と同一の構成要素には同一の
番号を付し、その説明を省略する。
【0035】図4において、9はマイクロコンピュー
タ、10はマイクロコンピュータ9の中央制御装置(以
下、CPUと表記する)、11はマイクロコンピュータ
9内に組み込まれたタイマ等の周辺モジュール、12は
マイクロコンピュータ9内に組み込まれたA/D変換
器、シリアルI/O等の他の周辺モジュールである。本
実施の形態においてもFVCC5の電源端子とVCC6
の電源端子とは分離して設けられている。
タ、10はマイクロコンピュータ9の中央制御装置(以
下、CPUと表記する)、11はマイクロコンピュータ
9内に組み込まれたタイマ等の周辺モジュール、12は
マイクロコンピュータ9内に組み込まれたA/D変換
器、シリアルI/O等の他の周辺モジュールである。本
実施の形態においてもFVCC5の電源端子とVCC6
の電源端子とは分離して設けられている。
【0036】次に動作について説明する。マイクロコン
ピュータ9は、CPU10を始めとする各周辺モジュー
ル11、12の動作によって電源変動が顕著に現われる
ため、フラッシュメモリ1の電源制御部4の電源電圧も
影響を受けやすいが、電源制御部4の電源電圧はFVC
C5により他の部分のVCC6とは別系統で供給される
ので、他の回路部の電源変動の影響を受けない。
ピュータ9は、CPU10を始めとする各周辺モジュー
ル11、12の動作によって電源変動が顕著に現われる
ため、フラッシュメモリ1の電源制御部4の電源電圧も
影響を受けやすいが、電源制御部4の電源電圧はFVC
C5により他の部分のVCC6とは別系統で供給される
ので、他の回路部の電源変動の影響を受けない。
【0037】以上のように、この実施の形態3によれ
ば、マイクロコンピュータ9にフラッシュメモリ1を組
み込んで用いる場合にもフラッシュメモリ1の安定した
書き込み/消去/ベリファイ動作を行うことができると
いう効果が得られる。
ば、マイクロコンピュータ9にフラッシュメモリ1を組
み込んで用いる場合にもフラッシュメモリ1の安定した
書き込み/消去/ベリファイ動作を行うことができると
いう効果が得られる。
【0038】なお、本実施の形態においてはFVCC5
を電源制御部4のみに供給したが、大きな電源変動を生
じさせる恐れのあるスイッチング動作を行わない、電源
変動を生じさせる恐れの小さい回路類の電源としてもF
VCC5を用いても良い。この場合には、FVCC5は
電源制御部4と他の制御部のうち電源変動を生じさせる
恐れの少ない回路類との電源として用いられ、他の制御
部の他の回路類の電源としてはVCC6が用いられるこ
ととなる。
を電源制御部4のみに供給したが、大きな電源変動を生
じさせる恐れのあるスイッチング動作を行わない、電源
変動を生じさせる恐れの小さい回路類の電源としてもF
VCC5を用いても良い。この場合には、FVCC5は
電源制御部4と他の制御部のうち電源変動を生じさせる
恐れの少ない回路類との電源として用いられ、他の制御
部の他の回路類の電源としてはVCC6が用いられるこ
ととなる。
【0039】また、本実施の形態においては単一電源で
動作可能なフラッシュメモリとしたが、このことは複数
電源で動作するフラッシュメモリの電源制御部と同一電
源電圧で動作する他の制御回路のうち電源変動の大きく
なる恐れのある回路部分の電源端子を電源制御部の電源
端子と分離して設ける形での複数電源で動作するフラッ
シュメモリを備えたマイクロコンピュータへの本発明の
適用を排除するものではない。
動作可能なフラッシュメモリとしたが、このことは複数
電源で動作するフラッシュメモリの電源制御部と同一電
源電圧で動作する他の制御回路のうち電源変動の大きく
なる恐れのある回路部分の電源端子を電源制御部の電源
端子と分離して設ける形での複数電源で動作するフラッ
シュメモリを備えたマイクロコンピュータへの本発明の
適用を排除するものではない。
【0040】実施の形態4.図5はこの発明の実施の形
態4による単一電源で動作可能なフラッシュメモリを備
えたマイクロコンピュータの構成を模式的に示す図であ
り、図5において、図3に示した実施の形態2によるフ
ラッシュメモリ及び図4に示した実施の形態3によるマ
イクロコンピュータの構成要素と同一の構成要素には同
一の番号を付し、その説明を省略する。
態4による単一電源で動作可能なフラッシュメモリを備
えたマイクロコンピュータの構成を模式的に示す図であ
り、図5において、図3に示した実施の形態2によるフ
ラッシュメモリ及び図4に示した実施の形態3によるマ
イクロコンピュータの構成要素と同一の構成要素には同
一の番号を付し、その説明を省略する。
【0041】図5において、59はマイクロコンピュー
タである。本実施の形態においてもFVSS7のアース
端子とVSS8のアース端子とは分離して設けられてい
る。
タである。本実施の形態においてもFVSS7のアース
端子とVSS8のアース端子とは分離して設けられてい
る。
【0042】次に動作について説明する。マイクロコン
ピュータ9は、この場合も、CPU10を始めとする各
周辺モジュール11、12の動作によってアース電位変
動が顕著に現われるため、フラッシュメモリ1の電源制
御部4のアース電位も影響を受けやすいが、電源制御部
4のFVSS7は他の部分のVSS8とは分離して設け
られているので、他の回路部のアース電位変動の影響を
受けない。
ピュータ9は、この場合も、CPU10を始めとする各
周辺モジュール11、12の動作によってアース電位変
動が顕著に現われるため、フラッシュメモリ1の電源制
御部4のアース電位も影響を受けやすいが、電源制御部
4のFVSS7は他の部分のVSS8とは分離して設け
られているので、他の回路部のアース電位変動の影響を
受けない。
【0043】以上のように、この実施の形態4によれ
ば、マイクロコンピュータ59にフラッシュメモリ1を
組み込んで用いる場合にもフラッシュメモリ1の安定し
た書き込み/消去/ベリファイ動作を行うことができる
という効果が得られる。
ば、マイクロコンピュータ59にフラッシュメモリ1を
組み込んで用いる場合にもフラッシュメモリ1の安定し
た書き込み/消去/ベリファイ動作を行うことができる
という効果が得られる。
【0044】なお、本実施の形態においてはFVSS7
は電源制御部4のみのアース回路としたが、大きなアー
ス電位変動を生じさせる恐れのあるスイッチング動作を
行わない、アース電位変動を生じさせる恐れの小さい回
路類のアース回路もFVSS7に含めても良い。この場
合には、FVSS7は電源制御部4と制御部3のうち電
源変動を生じさせる恐れの少ない回路類とのアース回路
として用いられ、制御部3の他の回路類のアース回路と
してVSS8が用いられることとなる。
は電源制御部4のみのアース回路としたが、大きなアー
ス電位変動を生じさせる恐れのあるスイッチング動作を
行わない、アース電位変動を生じさせる恐れの小さい回
路類のアース回路もFVSS7に含めても良い。この場
合には、FVSS7は電源制御部4と制御部3のうち電
源変動を生じさせる恐れの少ない回路類とのアース回路
として用いられ、制御部3の他の回路類のアース回路と
してVSS8が用いられることとなる。
【0045】また、本実施の形態においては単一電源で
動作可能なフラッシュメモリとしたが、このことは複数
電源で動作するフラッシュメモリの電源制御部と同一電
源電圧で動作する他の制御回路のうちアース電位変動の
大きくなる恐れのある回路部分のアース端子を電源制御
部のアース端子と分離して設ける形での複数電源で動作
するフラッシュメモリへの本発明の適用を排除するもの
ではない。
動作可能なフラッシュメモリとしたが、このことは複数
電源で動作するフラッシュメモリの電源制御部と同一電
源電圧で動作する他の制御回路のうちアース電位変動の
大きくなる恐れのある回路部分のアース端子を電源制御
部のアース端子と分離して設ける形での複数電源で動作
するフラッシュメモリへの本発明の適用を排除するもの
ではない。
【0046】さらに、電源制御部のアース端子と他の制
御部のアース端子とを分離させて設けると共に、電源制
御部の電源端子と他の制御部の電源端子とを分離させて
設けても良い。
御部のアース端子とを分離させて設けると共に、電源制
御部の電源端子と他の制御部の電源端子とを分離させて
設けても良い。
【0047】
【発明の効果】以上のように、請求項1記載の発明によ
れば、電源制御部の電源端子と、制御部の電源制御部と
同一の電源電圧で動作する回路部分の電源端子とを分離
して設けたので、フラッシュメモリの書き込み/消去/
ベリファイ動作を安定して行うことができる効果があ
る。また、従来の電源端子に供給する電源の規格が緩和
できるなど、ボード作成時に電源供給部の設計容易化が
図れる効果もある。
れば、電源制御部の電源端子と、制御部の電源制御部と
同一の電源電圧で動作する回路部分の電源端子とを分離
して設けたので、フラッシュメモリの書き込み/消去/
ベリファイ動作を安定して行うことができる効果があ
る。また、従来の電源端子に供給する電源の規格が緩和
できるなど、ボード作成時に電源供給部の設計容易化が
図れる効果もある。
【0048】請求項2記載の発明によれば、電源制御部
及び制御部の電源制御部と同一の電源電圧で動作する回
路部分のうち大きな電源変動を生じさせる恐れのあるス
イッチング動作を行わない回路部分の電源端子と、制御
部の電源制御部と同一の電源電圧で動作する回路部分の
うち大きな電源変動を生じさせる恐れのあるスイッチン
グ動作を行う回路部分の電源端子とを分離して設けたの
で、請求項1記載の発明の効果の他、更に設計の自由度
が大きくなる効果がある。
及び制御部の電源制御部と同一の電源電圧で動作する回
路部分のうち大きな電源変動を生じさせる恐れのあるス
イッチング動作を行わない回路部分の電源端子と、制御
部の電源制御部と同一の電源電圧で動作する回路部分の
うち大きな電源変動を生じさせる恐れのあるスイッチン
グ動作を行う回路部分の電源端子とを分離して設けたの
で、請求項1記載の発明の効果の他、更に設計の自由度
が大きくなる効果がある。
【0049】請求項3記載の発明によれば、電源制御部
のアース端子と、制御部の大きなアース電位変動を生じ
る恐れのある回路部分のアース端子とを分離して設けた
ので、フラッシュメモリの書き込み/消去/ベリファイ
時に使用するアース電位の安定化が図れ、請求項1記載
の発明と同様な効果がある。
のアース端子と、制御部の大きなアース電位変動を生じ
る恐れのある回路部分のアース端子とを分離して設けた
ので、フラッシュメモリの書き込み/消去/ベリファイ
時に使用するアース電位の安定化が図れ、請求項1記載
の発明と同様な効果がある。
【0050】請求項4記載の発明によれば、電源制御部
及び制御部の大きなアース電位変動を生じさせる恐れの
あるスイッチング動作を行わない回路部分のアース端子
と、制御部の大きなアース電位変動を生じさせる恐れの
あるスイッチング動作を行う回路部分のアース端子とを
分離して設けたので、請求項3記載の発明の効果の他、
更に設計の自由度が大きくなる効果がある。
及び制御部の大きなアース電位変動を生じさせる恐れの
あるスイッチング動作を行わない回路部分のアース端子
と、制御部の大きなアース電位変動を生じさせる恐れの
あるスイッチング動作を行う回路部分のアース端子とを
分離して設けたので、請求項3記載の発明の効果の他、
更に設計の自由度が大きくなる効果がある。
【0051】請求項5記載の発明によれば、フラッシュ
メモリの、電源制御部の電源端子と、制御部の電源制御
部と同一の電源電圧で動作する回路部分の電源端子とが
分離して設けられているようにマイクロコンピュータを
構成したので、フラッシュメモリの書き込み/消去/ベ
リファイ動作を安定して行うことができ、また、従来の
電源端子に供給する電源の規格が緩和できるなど、ボー
ド作成時に電源供給部の設計容易化が図れるマイクロコ
ンピュータが得られる効果がある。
メモリの、電源制御部の電源端子と、制御部の電源制御
部と同一の電源電圧で動作する回路部分の電源端子とが
分離して設けられているようにマイクロコンピュータを
構成したので、フラッシュメモリの書き込み/消去/ベ
リファイ動作を安定して行うことができ、また、従来の
電源端子に供給する電源の規格が緩和できるなど、ボー
ド作成時に電源供給部の設計容易化が図れるマイクロコ
ンピュータが得られる効果がある。
【0052】請求項6記載の発明によれば、フラッシュ
メモリの、電源制御部及び制御部の電源制御部と同一の
電源電圧で動作する回路部分のうち大きな電源変動を生
じさせる恐れのあるスイッチング動作を行わない回路部
分の電源端子と、制御部の電源制御部と同一の電源電圧
で動作する回路部分のうち大きな電源変動を生じさせる
恐れのあるスイッチング動作を行う回路部分の電源端子
とが分離して設けられているようにマイクロコンピュー
タを構成したので、請求項5記載の発明の効果の他、更
に設計の自由度が大きくなる効果がある。
メモリの、電源制御部及び制御部の電源制御部と同一の
電源電圧で動作する回路部分のうち大きな電源変動を生
じさせる恐れのあるスイッチング動作を行わない回路部
分の電源端子と、制御部の電源制御部と同一の電源電圧
で動作する回路部分のうち大きな電源変動を生じさせる
恐れのあるスイッチング動作を行う回路部分の電源端子
とが分離して設けられているようにマイクロコンピュー
タを構成したので、請求項5記載の発明の効果の他、更
に設計の自由度が大きくなる効果がある。
【0053】請求項7記載の発明によれば、フラッシュ
メモリの、電源制御部のアース端子と、制御部の大きな
アース電位変動を所持させる恐れのある回路部分のアー
ス端子とが分離して設けられているようにマイクロコン
ピュータを構成したので、フラッシュメモリの書き込み
/消去/ベリファイ時に使用するアース電位の安定化が
図れ、請求項5記載の発明と同様な効果がある。
メモリの、電源制御部のアース端子と、制御部の大きな
アース電位変動を所持させる恐れのある回路部分のアー
ス端子とが分離して設けられているようにマイクロコン
ピュータを構成したので、フラッシュメモリの書き込み
/消去/ベリファイ時に使用するアース電位の安定化が
図れ、請求項5記載の発明と同様な効果がある。
【0054】請求項8記載の発明によれば、フラッシュ
メモリの、電源制御部及び制御部の大きなアース電位変
動を生じさせる恐れのあるスイッチング動作を行わない
回路部分のアース端子と、制御部の大きなアース電位変
動を生じさせる恐れのあるスイッチング動作を行う回路
部分のアース端子とが分離して設けられているようにマ
イクロコンピュータを構成したので、請求項7記載の発
明の効果の他、更に設計の自由度が大きくなる効果があ
る。
メモリの、電源制御部及び制御部の大きなアース電位変
動を生じさせる恐れのあるスイッチング動作を行わない
回路部分のアース端子と、制御部の大きなアース電位変
動を生じさせる恐れのあるスイッチング動作を行う回路
部分のアース端子とが分離して設けられているようにマ
イクロコンピュータを構成したので、請求項7記載の発
明の効果の他、更に設計の自由度が大きくなる効果があ
る。
【図1】 この発明の実施の形態1によるフラッシュメ
モリの構成を模式的に示す図である。
モリの構成を模式的に示す図である。
【図2】 実施の形態1によるフラッシュメモリのメモ
リ素子の動作を示す断面図である。
リ素子の動作を示す断面図である。
【図3】 この発明の実施の形態2によるフラッシュメ
モリの構成を模式的に示す図である。
モリの構成を模式的に示す図である。
【図4】 この発明の実施の形態3によるマイクロコン
ピュータの構成を模式的に示す図である。
ピュータの構成を模式的に示す図である。
【図5】 この発明の実施の形態4によるマイクロコン
ピュータの構成を模式的に示す図である。
ピュータの構成を模式的に示す図である。
【図6】 従来のフラッシュメモリの構成を模式的に示
す図である。
す図である。
1,31 フラッシュメモリ、2 メモリ部、3 制御
部、4 電源制御部、9,59 マイクロコンピュー
タ。
部、4 電源制御部、9,59 マイクロコンピュー
タ。
Claims (8)
- 【請求項1】 メモリ部へのデータの書き込み、消去ま
たはベリファイ動作を行うときに該メモリ部に印加する
制御電圧を制御する電源制御部と、他の制御を行う制御
部とを有し、前記電源制御部と前記制御部の少なくとも
一部の回路とが同一の電源電圧で動作するフラッシュメ
モリにおいて、 前記電源制御部の電源端子と、前記制御部の前記電源制
御部と同一の電源電圧で動作する回路部分の電源端子と
を分離して設けたことを特徴とするフラッシュメモリ。 - 【請求項2】 メモリ部へのデータの書き込み、消去ま
たはベリファイ動作を行うときに該メモリ部に印加する
制御電圧を制御する電源制御部と、他の制御を行う制御
部とを有し、前記電源制御部と前記制御部の少なくとも
一部の回路とが同一の電源電圧で動作するフラッシュメ
モリにおいて、 前記電源制御部及び前記制御部の前記電源制御部と同一
の電源電圧で動作する回路部分のうち大きな電源変動を
生じさせる恐れのあるスイッチング動作を行わない回路
部分の電源端子と、前記制御部の前記電源制御部と同一
の電源電圧で動作する回路部分のうち大きな電源変動を
生じさせる恐れのあるスイッチング動作を行う回路部分
の電源端子とを分離して設けたことを特徴とするフラッ
シュメモリ。 - 【請求項3】 メモリ部へのデータの書き込み、消去ま
たはベリファイ動作を行うときに該メモリ部に印加する
制御電圧を制御する電源制御部と、他の制御を行う制御
部とを有し、前記電源制御部と前記制御部の少なくとも
一部の回路とが同一の電源電圧で動作するフラッシュメ
モリにおいて、 前記電源制御部のアース端子と、前記制御部の大きなア
ース電位変動を生じる恐れのある回路部分のアース端子
とを分離して設けたことを特徴とするフラッシュメモ
リ。 - 【請求項4】 メモリ部へのデータの書き込み、消去ま
たはベリファイ動作を行うときに該メモリ部に印加する
制御電圧を制御する電源制御部と、他の制御を行う制御
部とを有し、前記電源制御部と前記制御部の少なくとも
一部の回路とが同一の電源電圧で動作するフラッシュメ
モリにおいて、 前記電源制御部及び前記制御部の大きなアース電位変動
を生じさせる恐れのあるスイッチング動作を行わない回
路部分のアース端子と、前記制御部の大きなアース電位
変動を生じさせる恐れのあるスイッチング動作を行う回
路部分のアース端子とを分離して設けたことを特徴とす
るフラッシュメモリ。 - 【請求項5】 メモリ部へのデータの書き込み、消去ま
たはベリファイ動作を行うときに該メモリ部に印加する
制御電圧を制御する電源制御部と、他の制御を行う制御
部とを有し、前記電源制御部と前記制御部の少なくとも
一部の回路とが同一の電源電圧で動作するフラッシュメ
モリを備えたマイクロコンピュータにおいて、 前記フラッシュメモリの、前記電源制御部の電源端子
と、前記制御部の前記電源制御部と同一の電源電圧で動
作する回路部分の電源端子とが分離して設けられている
ことを特徴とするマイクロコンピュータ。 - 【請求項6】 メモリ部へのデータの書き込み、消去ま
たはベリファイ動作を行うときに該メモリ部に印加する
制御電圧を制御する電源制御部と、他の制御を行う制御
部とを有し、前記電源制御部と前記制御部の少なくとも
一部の回路とが同一の電源電圧で動作するフラッシュメ
モリを備えたマイクロコンピュータにおいて、 前記フラッシュメモリの、前記電源制御部及び前記制御
部の前記電源制御部と同一の電源電圧で動作する回路部
分のうち大きな電源変動を生じさせる恐れのあるスイッ
チング動作を行わない回路部分の電源端子と、前記制御
部の前記電源制御部と同一の電源電圧で動作する回路部
分のうち大きな電源変動を生じさせる恐れのあるスイッ
チング動作を行う回路部分の電源端子とが分離して設け
られていることを特徴とするマイクロコンピュータ。 - 【請求項7】 メモリ部へのデータの書き込み、消去ま
たはベリファイ動作を行うときに該メモリ部に印加する
制御電圧を制御する電源制御部と、他の制御を行う制御
部とを有し、前記電源制御部と前記制御部の少なくとも
一部の回路とが同一の電源電圧で動作するフラッシュメ
モリを備えたマイクロコンピュータにおいて、 前記フラッシュメモリの、前記電源制御部のアース端子
と、前記制御部の大きなアース電位変動を生じさせる恐
れのある回路部分のアース端子とが分離して設けられて
いることを特徴とするマイクロコンピュータ。 - 【請求項8】 メモリ部へのデータの書き込み、消去ま
たはベリファイ動作を行うときに該メモリ部に印加する
制御電圧を制御する電源制御部と、他の制御を行う制御
部とを有し、前記電源制御部と前記制御部の少なくとも
一部の回路とが同一の電源電圧で動作するフラッシュメ
モリを備えたマイクロコンピュータにおいて、 前記フラッシュメモリの、前記電源制御部及び前記制御
部の大きなアース電位変動を生じさせる恐れのあるスイ
ッチング動作を行わない回路部分のアース端子と、前記
制御部の大きなアース電位変動を生じさせる恐れのある
スイッチング動作を行う回路部分のアース端子とが分離
して設けられていることを特徴とするマイクロコンピュ
ータ。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7407697A JPH10269193A (ja) | 1997-03-26 | 1997-03-26 | フラッシュメモリ及びマイクロコンピュータ |
TW086109142A TW378327B (en) | 1997-03-26 | 1997-06-30 | Flash memory and microcomputer |
US08/911,073 US5956270A (en) | 1997-03-26 | 1997-08-14 | Flash memory and microcomputer |
KR1019970047396A KR100274920B1 (ko) | 1997-03-26 | 1997-09-13 | 플래쉬메모리및그를구비한마이크로컴퓨터 |
DE19743370A DE19743370A1 (de) | 1997-03-26 | 1997-09-30 | Flashspeicher und Mikrocomputer |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7407697A JPH10269193A (ja) | 1997-03-26 | 1997-03-26 | フラッシュメモリ及びマイクロコンピュータ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH10269193A true JPH10269193A (ja) | 1998-10-09 |
Family
ID=13536730
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP7407697A Pending JPH10269193A (ja) | 1997-03-26 | 1997-03-26 | フラッシュメモリ及びマイクロコンピュータ |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5956270A (ja) |
JP (1) | JPH10269193A (ja) |
KR (1) | KR100274920B1 (ja) |
DE (1) | DE19743370A1 (ja) |
TW (1) | TW378327B (ja) |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2769747B1 (fr) * | 1997-10-15 | 2001-10-05 | Sgs Thomson Microelectronics | Perfectionnement aux memoires non volatiles programmables par effet dit "de porteurs chauds" et effacables par effet tunnel |
US6629047B1 (en) * | 2000-03-30 | 2003-09-30 | Intel Corporation | Method and apparatus for flash voltage detection and lockout |
TWI319160B (en) * | 2005-07-11 | 2010-01-01 | Via Tech Inc | Memory card capable of supporting various voltage supply and control chip and method of supporting voltage thereof |
KR101177555B1 (ko) * | 2006-02-01 | 2012-08-27 | 삼성전자주식회사 | 메모리 카드, 메모리 카드의 데이터 구동 방법, 그리고메모리 카드 시스템 |
US20070242550A1 (en) * | 2006-03-29 | 2007-10-18 | Sandisk Il Ltd. | Device and method of controlling operation of a flash memory |
US7639540B2 (en) * | 2007-02-16 | 2009-12-29 | Mosaid Technologies Incorporated | Non-volatile semiconductor memory having multiple external power supplies |
CN101617371B (zh) * | 2007-02-16 | 2014-03-26 | 莫塞德技术公司 | 具有多个外部电源的非易失性半导体存储器 |
JP2012234591A (ja) * | 2011-04-28 | 2012-11-29 | Toshiba Corp | 不揮発性半導体記憶装置 |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63168896A (ja) * | 1987-01-06 | 1988-07-12 | Toshiba Corp | 半導体集積回路装置 |
JPH02143553A (ja) * | 1988-11-25 | 1990-06-01 | Nec Corp | 半導体装置 |
EP0489227B1 (en) * | 1990-12-06 | 1998-12-23 | Tandberg Data Asa | Data storage system having removable media and equipped to download a control program from the removable media |
JP2830637B2 (ja) * | 1992-08-18 | 1998-12-02 | 日本電気株式会社 | Loc型半導体装置 |
US5301161A (en) * | 1993-01-12 | 1994-04-05 | Intel Corporation | Circuitry for power supply voltage detection and system lockout for a nonvolatile memory |
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-
1997
- 1997-03-26 JP JP7407697A patent/JPH10269193A/ja active Pending
- 1997-06-30 TW TW086109142A patent/TW378327B/zh not_active IP Right Cessation
- 1997-08-14 US US08/911,073 patent/US5956270A/en not_active Expired - Fee Related
- 1997-09-13 KR KR1019970047396A patent/KR100274920B1/ko not_active Expired - Fee Related
- 1997-09-30 DE DE19743370A patent/DE19743370A1/de not_active Ceased
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE19743370A1 (de) | 1998-10-01 |
TW378327B (en) | 2000-01-01 |
KR19980079365A (ko) | 1998-11-25 |
US5956270A (en) | 1999-09-21 |
KR100274920B1 (ko) | 2000-12-15 |
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