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JPH06501316A - 集積可能な導電率測定装置 - Google Patents

集積可能な導電率測定装置

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JPH06501316A
JPH06501316A JP4506706A JP50670692A JPH06501316A JP H06501316 A JPH06501316 A JP H06501316A JP 4506706 A JP4506706 A JP 4506706A JP 50670692 A JP50670692 A JP 50670692A JP H06501316 A JPH06501316 A JP H06501316A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるため要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 集積可能な導電率測定装置 本発明は、液体の導電率を測定するための集積可能な導電率測定装置に関し、こ の装置は請求項1の前文に記載のように、2個の電流電極に接続され、この電極 を介して矩形波状の電流を液体に供給する電源装置と、2個の電圧電極に接続さ れ、この2個の電極間の電圧降下を測定するための測定回路とを備える。上記電 圧降下は測定すべき液体の導電率に依存する。
液体の導電率を測定するために、液体に電流を印加し、その中の電圧降下を測定 することが一般に知られている。この電圧降下は液体の導電率に反比例している 。
最も簡単な方式では、たった2個の電極か用いられる。これら2個の電極を介し て電流か液体に印加され、同時にこれら2個の電極で電圧降下か測定される。こ の場合には、有効な測定信号を歪めるいわゆる分極効果か発生する。このような 効果は、電極と電解液との間にある境界層を越えて電流か流れる時にはいつも起 こる。電解液中の電流の流れはイオン移動と結合するのて、−価のイオンか電解 液と電極間の境界層に溜まり、もとの領域を弱めるとともに測定信号を弱めるこ とになる。
このような不具合を除去するため、所謂4電極型の導電率測定装置が用いられる 。この装置では、2個の電流電極を持つ電源か測定用電流を供給するために設け られる。さらに、電圧電極用の2個の電極か液体中の電圧降下を測定するために 用いられる。電圧電極で測定された電圧降下は下流側の高抵抗増幅器によって増 幅される。
この増幅器の高い入力インピーダンスのため、電圧電極を通って流れる電流は小 さく保つことかできる。その結果、この測定方法では分極効果か低く抑えられ、 そのため2個の電極を用いた方法による導電率測定に比べて測定精度か改善され る。しかしなから、4電極型の場合には、電圧電極を通って流れる測定電流は分 極を引き起し、その結果、測定信号の歪みをもたらす。
米国特許第4,656.427号には、4電極盟の上記種類の導電率測定装置か 既に知られている。2個の電流電極が矩形波状の電流によって充電される。直流 電位を分けるために下流側にコンデンサを設けた2個の電圧電極か、測定すべき 液体に印加された矩形波状の交流電流によって起こる動的な電位変化を検出する ために用いられる。この信号は、その後の評価回路によって増幅され、A/D変 換変換表示装置上に表示される。上記評価回路は、オフセット電流を分けるため に直列に接続された別のコンデンサを持つ。
さらに、上述の導電率測定装置においては、測定によって液体中の分解プロセス を起こさせないようにするため、印加電流として正弦波状の交流電流を用いるこ とか知られている。上記分解プロセスは、直流電流を印加して測定する場合には 起こりつるからである。
上記の従来技術に基づき、本発明は改善された測定精度を得るため、上記種類の 導電率測定装置をさらに発展させることを目的とする。
本発明によれば、この目的は請求項1に記載の集積可能な導電率測定装置によっ て達成される。
この発明は、切換式コンデンサ回路室測定回路とを組み合せ、矩形波状の電流を 生じる電源装置を用いることによって、分極効果による1測定誤差か完全に回避 されることを発見したことに基づく。
本発明による導電率測定装置は、単一の基板上に電極を含んた状聾て構成される 集積回路として実施することかできる。このことは、本発明による導電率測定装 置は、非常に小さい体積のサンプルでの測定にも用いることかでき、あるいは例 えば体内に挿入して行う医学的診断の領域におけるように、従来技術では導電率 測定装置か近つき難い場所での測定にも用いることかできる。
本発明における導電率測定装置の集積度により、従来技術による導電率測定装置 に比へて照射された妨害の影響を受けにくい。従来では、電極と評価電子装置と の間に長い接続用ケーブルか常に用いられているためである。このため、本発明 の導電率測定装置は、また、強い電磁ノイズを受ける環境条件下において用いる のに適している。
本発明の集積可能な導電率測定装置は、後述の詳細な説明と図面を参照すること により、説明されるであろう。
次に示すとおり、 図1は本発明の導電率測定装置の配線図であり、図2は図1の測定装置内で起こ る電流および電圧の時間変化図である。
図1に示されるように、本発明の集積可能な導電率測定装置の好ましい実施例は 、以後は全体として符号1として示されるものであるか、直流印加電流を発生す るための電源SQを含み、これは第1〜第4スイッチSl、32.S3.S4を 介して2個の電流電極E1、E4に接続可能である。上記スイッチはその切り換 え位置によって、第1の極性とこれに反する極性とに切り換えられる。
電流電極は如何なる直流部分も持たない矩形波状の電流を電解液EL中に流す。
制御装置(図示せず)は、第1の期間Tlの間は電源SQか電流電極El、E4 と第1の極性において接続され、第2の期間T2の間は電源SQか電流電極El 、E4と第2の極性において接続されるように、第1−第4スイツチ31〜S4 を制御する。第1と第2の期間T1.T2は同一長さを有している。
2個の電圧電極E2.E3は電解液EL内における電流電極El。
E4の間に配置されており、矩形波状の印加電流により電解液を介して電流電極 El、E4間に起こる電圧降下v1を測定する。
第1および第2の期間TI、T2における電圧降下の時間変化を図2a〜2cに 示す。
電流電極E2.E3は、第5〜第8のスイッチS5. S6. S7゜S8を介 して第1または第2の極性において、測定用コンデンサC1の電極と接続可能で ある。
第5.第6.第7および第8のスイッチ35〜S8は、また、マイクロプロセッ サとして構成可能な制御装置(図示せず)によって駆動される。第3の期間T3 の間は第1の極性において電圧電極E2、E3か測定用コンデンサCIと接続さ れるように、第4の期間T4ては第2の極性て電圧電極E2.E3か測定用コン デンサC1と接続されるように、制御か実行される。図2a、2bを考慮して図 2d、2eかられかるように、第3の期間T3は第1期間TI内にあり、第4の 期間T4は第2期間T2内にある。
第9と第10のスイッチS9.SlOは、測定用コンデンサCIの2個の電極と 演算増幅器OPvの変換入力および逆変換入力との間に夫々配置されており、演 算増幅器の出力はフィードバック用コンデンサC2を介してその変換入力に接続 されている。
制御装置(図示せず)は第3と第4の期間T3.T4の外に置かれた各第5の期 間の間、測定用コンデンサCIと演算増幅器OPVの入力とを接続する。フィー ドバック用コンデンサC2と測定用コンデンサC1との容量関係によって、測定 用コンデンサの電圧Ve□は演算増幅器の出力に生しる電圧■。、1に増幅され る。
図示された実施例では、制御装置!(図示せず)は各第5の期間の終了時におい て、フィードバック用コンデンサC2と並列に接続された第11のスイッチSl lを閉じる。その結果、図示された切換式コンデンサ回路35〜Sll、C1, C2,OPVは増幅回路として働く。しかしながら、幾つかの期間T1.、T2 の後に第11スイツチSllを閉じることも可能である。その結果、この場合に は切換式コンデンサ回路は積分回路として働く。
図2cにより電圧電極E2.E3間の電圧降下の過程をたどると分かるように、 第1と第2の期間はともに、切換効果か次第に減衰し、かつ電圧v1かほぼ一定 値を取るのに十分な期間に設定されている。切換プロセスか減衰した後でのみ、 測定用コンデンサは第3期間T3の間、電圧電極と接続される。そのため、電圧 電極E2゜E3から溢れた電荷キャリヤは測定用コンデンサCIの電極へと流れ る。期間T3の始めにおいて、この電流の流れは電流電極El。
E4間の元の領域の妨害をもたらし、かつ瞬間的な分極をもたらす。
測定用コンデンサC1への増大する電荷によって、電圧電極E2゜E3における 測定電流は0に向かって指数関数的に変化する。その結果、期間T3か十分に長 ければ、電圧電極E2.E3には電流か流れなくなる。十分に長い期間T3が経 過すれば、個々の場合によるか、達成できる測定精度に分極効果か最早悪影響を もたらさないことは、実験上容易に分かるであろう。
本発明における導電率測定装置は電極E1〜E4と、回路電源SQと、切換式コ ンデンサ回路を含む電子増幅システムとを1枚の半導体基板上に集積するのに適 している。半導体基板上にモノリシック集積化することにより、本発明の導電率 測定装置は高度に小型化され、その結果、僅かな体積のサンプルや、例えば体内 に挿入して行う医学的診断の領域におけるように、到達困難な場所において、測 定か可能となる。
上記回路の素子は、CMO3技術によって実施できる。この場合、電極として貴 金属層を適用する追加工程を必要とするだけのため、電極の製造はCMO3工程 で代替できる。
また、本発明の導電率測定装置か完全な集積回路に適しているという事実に係わ らず、別個に配置された電極を待つ測定回路を本発明の概念に基づいて実現する ことも可能である。
FIG、2 国際調査報告

Claims (9)

    【特許請求の範囲】
  1. 1.2個の電流電極に接続可能で、この電極を介して矩形波状の電流を液体に対 して供給する電源装置と、2個の電圧電極に接続され、測定すべき液体の導電率 に依存する上記電極間の電圧降下を測定する測定回路とを備えた、液体の導電率 を測定するための集積可能な導電率測定装置において、上記測定回路は、測定用 コンデンサ(C1)と、フィードバック経路に配置されたフィードバック用コン デンサ(C2)を有する演算増幅器(OPV)と、スイッチ手段(S5〜S11 )とを備えた切換式コンデンサ回路であって、 上記測定用コンデンサ(C1)はスイッチ手段(S5〜S11)によって、時間 に依存する足形波状の電流の動きに従い、ある切換状態では電圧電極(E2,E 3)と接続され、他の切換状態では増幅回路(OPV)の入力に接続されること を特徴とする測定装置。
  2. 2.請求項1に記載の集積可能な導電率測定装置において、上記電源装置は直流 電源(SQ)を含み、この電源は第1および第2の極性において第1,第2,第 3および第4のスイッチ(Sl,S2,S3,S4)を介して電流電極(E1, E4)と接続されることを特徴とする測定装置。
  3. 3.請求項2に記載の集積可能な導電率測定装置において、上記第1,第2,第 3および第4のスイッチ(S1,S2,S3,S4)が、第1の極性における第 1の期間(T1)の間と、第2の極性における第2の期間(T2)の間、電源( SQ)と電流電極(E1,E4)とを接続するように、上記スイッチを制御する 制御装置が設けられることを特徴とする測定装置。
  4. 4.請求項3に記載の集積可能な導電率測定装置において、上記スイッチ手段は 第5,第6,第7および第8のスイッチ(S5,S6,S7,S8)を有し、 上記制御装置は、第1の極性における第3の期間(T3)の間と、第2の極性に おける第4の期間(T4)の間、電圧電極(E2,E3)と測定用コンデンサ( Cl)とを接続するように上記第5〜第8のスイッチ(S5,S6,S7,S8 )を制御し、上記第3の期間(T3)は第1の期間(T1)内にあり、第4の期 間(T4)は第2の期間(T2)内にあることを特徴とする測定装置。
  5. 5.請求項3に記載の集積可能な導電率測定装置において、第1と第2の期間( Tl,T2)は、矩形波状の電流が時間平均において直流部分を持たないように 、同一長さとしたことを特徴とする測定装置。
  6. 6.請求項1乃至5のいずれかに記載の集積可能な導電率測定装置において、 上記スイッチ手段(S5〜S11)は第9と第10のスイッチ(S9.S10) を有し、 増幅回路(OPV)は上記第9と第10のスイッチ(S9,S10)を介して測 定用コンデンサ(C1)と接続可能であることを特徴とする測定装置。
  7. 7.請求項6に記載の集積可能な導電率測定装置において、上記制御装置は、上 記第3と第4の期間(T3,T4)の期間外にある第5の期間(T5)の間、増 幅回路(OPV)と測定用コンデンサ(C1)とを接続するように上記第9と第 10のスイッチ(S9,S10)を制御することを特徴とする測定装置。
  8. 8.請求項1乃至7のいずれかに記載の集積可能な導電率測定装置において、 上記フィードバック用コンデンサ(C2)と並列に第11のスイッチ(S11) が設けられ、 上記制御装置は、各第5の期間(T5)の後でフィードバック用コンデンサ(C 2)が放電されるように、第11のスイッチ(S11)を制御することを特徴と する測定装置。
  9. 9.請求項1乃至7のいずれかに記載の集積可能な導電率測定装置において、 上記フィードバック用コンデンサ(C2)と並列に第11のスイッチ(S11) が設けられ、 上記制御装置は、複数の期間(T1,T2)の後でフィードバック用コンデンサ (C2)が放電されるように、第11のスイッチ(S11)を制御することを特 徴とする測定装置。
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