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JPH06308033A - テストストリップ分析システム - Google Patents

テストストリップ分析システム

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Publication number
JPH06308033A
JPH06308033A JP6057035A JP5703594A JPH06308033A JP H06308033 A JPH06308033 A JP H06308033A JP 6057035 A JP6057035 A JP 6057035A JP 5703594 A JP5703594 A JP 5703594A JP H06308033 A JPH06308033 A JP H06308033A
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JP
Japan
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test strip
test
analysis system
handling
strip
Prior art date
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Application number
JP6057035A
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English (en)
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Inventor
Joachim Hoenes
ヘーネス ヨアキム
Volker Unkrig
ウンクリク フォルカー
Klaus-Dieter Steeg
スティーク クラウス−ディーテル
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Roche Diagnostics GmbH
Original Assignee
Boehringer Mannheim GmbH
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Filing date
Publication date
Application filed by Boehringer Mannheim GmbH filed Critical Boehringer Mannheim GmbH
Publication of JPH06308033A publication Critical patent/JPH06308033A/ja
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Publication of JP2505710B2 publication Critical patent/JP2505710B2/ja
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    • G—PHYSICS
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Abstract

(57)【要約】 【構成】 テストストリップ収容手段（３）がテストフ
ィールド領域（１３）の中央平面（２２）よりも高くな
っており、測定位置にあるテストストリップ（４）の前
部を支持するための支持手段、および測定位置において
支持手段（２４）とテストフィールド領域（１３）の間
の位置でテストストリップ（４）の第２面を押しつける
押圧エレメント（３３）を含んでなり、そのためテスト
ストリップ（４）は測定位置において曲げ押力に付さ
れ、その曲げ押力によって前記少なくとも１つのテスト
フィールド（６）の測定ユニット（１１）からの前記一
定距離が確保されることを特徴とするテストストリップ
分析システム。 【効果】 簡単で確実な取扱いで分析装置における測定
ユニットに関するテストストリップの正確な位置決めが
可能な、安価なシステムが提供される。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、テストストリップおよ
びテストストリップ分析装置からなるテストストリップ
分析システムに関する。前記分析装置は、テストストリ
ップを測定ユニットに関して定められた測定位置に位置
決めするためのテストストリップ収容手段（ホルダー）
を有する。そのシステムの一部を形成するテストストリ
ップはそれぞれ前端（通常テストストリップホルダーへ
最初に挿入される）および取扱端を有する。少なくとも
１つのテストフィールドを有するテストフィールド領域
は、取扱端と前端の間に位置する。ストリップのテスト
フィールド領域と前端との間の部分を前部と呼び、テス
トフィールド領域と取扱端との間の部分を取扱部と呼
ぶ。
【０００２】
【従来の技術および発明が解決しようとする課題】テス
トストリップ分析システムはしばしば液体の、とくに血
液や尿などの体液の、分析のために用いられる。特定の
分析（たとえば血中グルコース）をただ１つだけ行なう
ことができる単一パラメータシステムと、それぞれが１
つの分析用に設計されている複数の異なるタイプのテス
トキャリアでもって働き、同一の装置ですべて分析され
る多パラメータシステムとは区別されてよい。
【０００３】テストストリップは、通常、細長い基層と
その上に配置された少なくとも１つのテストフィールド
で構成されている。テストフィールドは１またはそれ以
上の試薬を含有する。試薬がサンプルと接触すると反応
が起こり、その結果最終的に検出層に検出可能なシグナ
ル、とくに色彩変化が生じる。テストフィールド表面の
拡散反射率を測定する分析装置において反射測光測定を
行なうことにより、特定の液体成分（分析物）の濃度の
測定が可能である。
【０００４】挿入過程の間テストストリップを一定の方
向に向けておくため、および測定位置において水平方向
の位置決めを確実にするため、テストストリップホルダ
ーはガイドを含んでいる。反射測光器に関してテストス
トリップを正確に位置決めするために位置決め手段が設
けられている。測定の正確さおよび取扱いの容易さは、
実質的には位置決めのデバイスによって決まる。テスト
ストリップホルダー中のテストストリップの位置決め
は、空間における３つの次元、すなわちテストフィール
ド表面の長手方向と横方向およびテストフィールド表面
に垂直な方向に関連する。
【０００５】テストフィールドの表面と光学測定システ
ムとの垂直距離は、正確な測定のための重大なパラメー
タである。（コスト上の理由で）テスト層の面積を減ら
す傾向が強くなってきているため、テストストリップの
長手方向および横方向の位置決めも高い正確さをもって
行なわれ、検出層の表面の可能な限り大きな部分を測定
領域として用いることができるようにしなければならな
い。テストストリップの不正確な空間位置合せによって
測定面積が減少し、そのため測定誤差が生じる。
【０００６】上に述べた種類のテストストリップ分析シ
ステムは、ＥＰ−Ａ ０３７６１１１（ＵＳＰ−５，０
９１，１５４）から知られる。そのシステムでは、テス
トストリップはその前端付近に凹所を有している。分析
装置の位置決めデバイスは、テストストリップの分析装
置への挿入と同時に前記凹所へ旋回して入るピボット円
すいカムを有している。最終的な位置では、テストスト
リップはその前端をストップに突当てており、旋回する
円すいカムは接触面に向けてテストストリップを下向き
に押しつける。そうすると、カムは、テストストリップ
が空間の３次元のすべてにおいて圧力をうけるような方
法で、凹所に結合する。これによって位置決めが達成さ
れる。
【０００７】ＥＰ−Ａ ０１２９２２０（ＵＳＰ−４，
７８０，２８３）で知られるまた別のデバイスでは、テ
ストストリップは、取扱端および前端の両方に、ドエル
（dowel ）ピンが入ってかみ合うような凹所を有する。
位置決め操作を行なう間、前端のドエルピンは初めに対
応する凹所中へと移動する。つぎに、テストストリップ
は調整可能なフラップの操作により曲げられ、そうして
ドエルピンは取扱端の領域で第２の凹所とかみ合う。ば
ねが、テストストリップが長手方向に引っぱり張力をう
けるようなやり方で第２のドエルピンに連動する。この
引っぱり張力のために、テストストリップはその下側を
圧力板に押しつけられ、その結果テストストリップの上
側に配されたテストフィールドは所望の位置にくる。
【０００８】このように、既知のテストストリップ分析
システムでは、テストストリップの位置決めのために機
械部品を用いなければならない、かなり複雑なデザイン
を用いている。さらに、既知のデバイスが適切に機能す
るためには、テストストリップの凹所を正確な方法で位
置決めすることが必要である。
【０００９】したがって、本発明の取り組む問題は、簡
単で確実な取扱いで分析装置における測定ユニットに関
するテストストリップの正確な位置決めを可能にするこ
とおよび安価な設計によりこれを達成することである。
【００１０】
【課題を解決するための手段】この問題は、本発明にし
たがい、以下のようなテストストリップ分析システムに
よって解決された：測定ユニットに関して定められた測
定位置にテストストリップを位置決めするためのテスト
ストリップホルダーを有する分析装置、ならびにそこで
もってテストストリップホルダー中へ挿入される前端、
取扱端、該取扱端と前記前端との間にある少なくとも１
つのテストフィールドを有するテストフィールド領域、
該テストフィールド領域と前記前端との間にある前部お
よび前記テストフィールド領域と取扱端とに間の取扱部
を有するテストストリップを含んでなるテストストリッ
プ分析システムであって、前記テストストリップホルダ
ーはテストストリップが前記テストストリップホルダー
に挿入されるときに前記テストストリップを横方向につ
いて導くためのガイドを含み、測定位置でテストストリ
ップの凹所とかみあう固定エレメントを含み、およびテ
ストストリップの第１面が載せられてそのテストフィー
ルド領域が測定ユニットから定められた距離になるよう
な、テストストリップシートを含むものであって、測定
位置においてテストストリップの前部が位置している範
囲で、テストストリップホルダーが、測定位置において
支持体とテストフィールド領域の間にテストストリップ
の第２面を押しつける押圧エレメントとともに、テスト
ストリップの第１面に向かって高くなっており、そのた
めテストフィールド領域の中央平面に関して（テストス
トリップシートから離れる方向に）高さにおいて補われ
ている（offset in hight ）支持体を含んでいて、測定
位置におけるテストストリップは曲げ押力に付され、そ
れによって少なくとも１つのテストフィールドの測定ユ
ニットからの定められた距離が確保される。
【００１１】さらに、前記固定手段および支持手段が、
テストストリップ表面に対して傾斜しており、テストス
トリップの凹所の縁の少なくとも一部が載る側面を有す
る定置保持エレメントにより同時に形成されていてもよ
く、また、テストストリップがその取扱端の方向および
その前端の方向いずれの方向における長手方向の動きに
対しても固定されるように、テストストリップの凹所が
保持エレメントの側面上に載るものでもよい。テストス
トリップシート手段の前端にストップが設けられ、スト
ップと保持エレメントとの距離と、テストストリップの
前端とテストストリップの凹所の前端に面する縁の一部
との距離が、測定位置にあるテストストリップが、その
前端でもってストップに突当たり、その凹所の前端に面
する縁の一部でもって保持エレメントの傾斜側面に載る
ように互いに調整されていてもよく、テストストリップ
シート手段が、測定位置の支持手段と押圧エレメントの
間でテストストリップの第１面に接触しないように構成
されており、支持手段と押圧エレメントの間ではテスト
ストリップは拘束されることなく張られてもよく、押圧
エレメントが、静止しており、テストストリップがテス
トストリップ収容手段中に挿入される際にその中を通る
ギャップをテストストリップシート手段と押圧エレメン
トの間に形成するテストストリップガイド手段の橋渡し
をしてもよく、テストストリップの前端に面するテスト
フィールド領域の境界から押圧エレメントの距離（ａ）
が、前端に面するテストフィールドの境界と支持手段と
の距離（ｂ）の０．３５倍から０．６５倍であってよ
く、テストストリップシート手段がテストストリップの
長さより短く、そのためその取扱端がテストストリップ
シート手段を越えて突き出してもよく、テストストリッ
プ収容手段が、ガイド手段の両端に位置する弾性バネエ
レメントを含んでなり、前記弾性バネエレメントは取扱
部においてテストストリップの縁を押しつけており、そ
れによってテストストリップがテストストリップシート
手段に対し押しつけられてもよい。
【００１２】
【作用】本発明では、テストストリップの長手方向の軸
を横切り、テストストリップ表面に平行に方向づけられ
た曲げ軸の回りのテストストリップの曲げを位置決めに
用いうることが見出された。曲げ押力はテストストリッ
プ基層の弾性のために生じる。したがって、材料特性お
よび特質において、そのような位置決めのために充分な
弾性を有するすべての分析エレメント（テストキャリ
ア）は、本発明の目的のためのテストストリップと考え
られる。曲げ押力は主に前部において生じる。取扱部は
普通は押しつけられない。
【００１３】本発明のテストストリップ分析システムの
ばあい、定められた測定位置におけるテストストリップ
の位置決めおよび固定は、テストストリップのテストス
トリップホルダーへの挿入動作により簡単に達成され
る。使用者、または分析装置のドライブのいずれかによ
って操作されなければならない、分析装置中のテストス
トリップを固定するための仕組みはない。
【００１４】テストフィールドの正確な位置決めが、テ
ストフィールド領域付近でテストストリップを下向きに
押しつけるいかなる部品もなしに達成されるということ
は、とくに有利である。従前に知られていた装置では、
テストストリップホルダーは、多くのばあいに、テスト
ストリップを下向きに押さえる保持バネを有するフラッ
プの下に位置する。このフラップの開閉は追加の取扱い
工程であり、もし不注意によりフラップが完全に閉じら
れないと、誤差の原因となる可能性がある。テストフィ
ールドの付近の押圧エレメントの必要を避けるため、ま
た別の既知の装置においては、テストストリップの両側
が入って導びかれるような溝が設けられている。そのよ
うな設計において、血液の適用のためのテストフィール
ドの使用しやすさを確保するためには、テストストリッ
プ幅の中央に比較的小さなテストフィールドを有する極
めて幅広いテストストリップが必要である。そのため製
造コストが高くなり、包装容積も大きくなってしまう。
【００１５】本発明により、テストストリップホルダー
およびテストストリップ自体の両方に関して、テストフ
ィールドが非常に使用しやすくなり、極めて低コストで
正確な位置決めが可能になる。
【００１６】
【実施例】好ましい実施態様においては、固定エレメン
トは、テストストリップの凹所の縁の少なくとも一部分
が載る側面を有する定置突起状エレメント（以下、「保
持突起」という）である。その側面は、（凹所の範囲内
で）テストストリップ表面と鋭角をなす。このように、
保持突起の傾斜した側面が支持体を形成する。
【００１７】この実施態様の第１の変形においては、テ
ストストリップの凹所の形および大きさと保持突起の形
および大きさが互いに対応しており、そのため凹所の縁
は測定位置において、少なくとも２点で保持突起の側面
に載り、テストストリップは、取扱端および前端の方向
への軸上の運動に対して固定される。
【００１８】この変形において、テストストリップシー
トの前端にはストップは必要ない。正確な位置決めのた
めには、テストフィールドと凹所との間の距離の許容誤
差は小さくなくてはならない。これは容易に達成でき
る。いわゆる「ノンワイプ」テストストリップではとく
に容易である。体液はテストフィールドを上から下へ向
かって通過し、テストストリップの基層は、テストフィ
ールドの拡散反射をその下側から測光学的に測定するた
めの測定窓を含む。テストストリップの製造の際に、基
層の測定窓と凹所とは、好適な道具によって、１回の操
作で同時に打ち抜くことが可能である。
【００１９】保持突起を有する実施態様の第２の変形に
おいては、保持突起とテストストリップシートの前端に
設けられたストップとの間の距離と、テストストリップ
の前端とテストストリップ中の凹所の縁の前端に面する
部分との距離とは、互いに対応し、そのため測定位置に
おいてテストストリップはその前端でもってストップに
突当り、凹所の縁の前端に面する部分で保持突起の傾斜
側面に載る。このばあいには、前端からテストフィール
ドまでの距離は正確でなくてはならない。前端からの凹
所の距離についての許容誤差は比較的大きくてもよい。
【００２０】また別の好ましい実施態様において、押圧
エレメントは動かない。このため、テストストリップホ
ルダーには動く部分がまったくない。
【００２１】本発明を図面に図示した実施態様を例にあ
げることによって以下に詳しく説明する。
【００２２】図１は、本発明のテストストリップ分析シ
ステムの斜視図を示す。図２は、テストストリップホル
ダーの斜視図を示す。図３は、テストストリップを測定
位置に入れた図２のテストストリップホルダーの線III
−III についての断面図を示す。図４は、テストストリ
ップホルダーの第２の変形の図３のような断面図の１部
を示す。
【００２３】図１および図３は、テストストリップホル
ダー３およびテストストリップ４をともなう分析装置２
からなるテストストリップ分析システム１を示す。テス
トストリップ４（そのうち１つだけを図示している）
は、通常プラスチック材料からなる柔軟性基層５および
テストフィールド６を含んでなる。図示したテストスト
リップ４は、いわゆる「ノンワイプ」テストストリップ
である。これらのテストストリップでは体液はテストフ
ィールドの上面から適用されたあと、複数の層６ａ〜６
ｃ（図３）からなるテストフィールド６の全厚さを通過
する。そうすることにより、テストフィールド６に含有
される試薬と体液との間に化学反応が起こる。これらの
反応によって検出層６ｃに生じた光学的に検出可能な変
化を、テストストリップの下側２１から反射測光的に検
出しうる。図３において見ることができるように、この
目的のためにテストストリップ４の基層５は、テストフ
ィールド６の領域に測定開口部７を有する。
【００２４】テストストリップ４は、長手方向に３つの
部分に分けることができる。テストフィールド６は、テ
ストフィールド領域１３を規定する。図示したテストス
トリップ４は唯一のテストフィールド６を含有するの
で、テストフィールド領域１３の境界はテストフィール
ド６の前縁８および後縁９である。しかしながら、本発
明は、複数のテストフィールドがより広いテストフィー
ルド領域に順番に配置されたテストストリップにも好適
である。そのようなばあいには、テストフィールド領域
は、挿入方向Ａにおいて最初のテストフィールドの前縁
から最後のテストフィールドの後縁までの範囲である。
前端１０（テストストリップがテストストリップホルダ
ー３に挿入される端）とテストフィールド領域１３の間
の部分を、前部１２として記載している。取扱部１５
は、テストストリップ４の取扱端１６（前端の反対側に
ある）とテストフィールド領域１３との間の範囲であ
る。前端１０の付近の前部１２において、テストストリ
ップ４は、テストストリップ４の横方向において中央に
配置された円形の凹所１７を有する。
【００２５】図２および３からわかるように、テストス
トリップホルダー３には、テストストリップ４がその第
１面（下面）２１でその上に接するテストストリップシ
ート２０が設けられている。図３に示された測定位置で
は、テストフィールド領域１３の中央面２２が、テスト
ストリップシート２０の測定開口部２３の真下に位置す
る測定ユニット１１から定められた距離に位置するよう
なやり方で、テストストリップ４がテストストリップシ
ート２０上に置かれている。テストフィールド領域１３
においてテストストリップ４の基層５の中央を通る幾何
学的平面は、テストフィールド領域１３の中央面２２と
して設計され、図３に示される。
【００２６】測定位置にあるとき前部１２の位置する領
域にあるテストストリップシート２０の一部は、テスト
フィールド領域１３の中央面２２よりも高くなっている
支持体２４として設計されている。いいかえれば、テス
トストリップ４が支持体２４に載った位置と中央面２２
には一定の垂直距離がある。図示した実施態様では、定
置コーン型保持突起２６が、テストストリップ４を長手
方向に固定するための固定エレメント２５としておよび
支持体２４としての両方の役割を果たす。テストストリ
ップ４の挿入の動きはストップ３２によって制限され
る。
【００２７】保持突起２６のこの機能のためには、保持
突起２６がストップ３２に対して傾いた（凹所１７の領
域においてテストストリップ表面に対して鋭角にのび
る）側面２７を有し、テストストリップシート２０が保
持突起２６の周りの領域において、テストストリップ４
がその前端１０に面した一番先の部分でただ２つの定め
られた接点を有するように形づくられる、すなわちテス
トストリップ４がストップ３２に対して前端１０で突当
り、前端１０に面する凹所１７の縁の部分２８で保持突
起２６の傾いた側面２７に載ることが重要である。保持
突起２６とストップ３２との距離は、凹所１７の中央と
テストストリップ４の前端１０との距離よりもわずかに
短い。
【００２８】この設計の結果、側面２７によって形成さ
れる支持体２４によって、（保持突起２６の領域におい
て）テストストリップ４がテストストリップシート２０
へ向かう方向（下向）へ動く可能性が制限される。支持
体２４とテストフィールド領域１３の中央面２２との距
離は、図中ｄｈと印されている。したがって、このばあ
い、支持体２４は中央面２２に関してｄｈだけ高くなっ
ている。
【００２９】テストストリップホルダー３は、テストス
トリップシート２０に橋のようにしてかかる定置押圧エ
レメント３３を含む。テストストリップ４がテストスト
リップホルダー３中に挿入される際に通る、定置押圧エ
レメント３３とテストストリップシート２０との間に形
成されたギャップ３６の高さは、少なくとも基層５の厚
さの１．５倍である。押圧エレメント３３は、前部１２
のおよそ中央で、テストストリップ４の第２面（上面）
３４を押しつける。押圧エレメント３３がテストストリ
ップ４に接触する面である底面３５は、支持体２４より
も中央面２２に近い。そのため、テストストリップ４は
測定位置にあるとき曲げ押力に付される。基層５の弾性
のため、テストストリップはテストフィールド領域１３
においてテストストリップシート２０に対して押しつけ
られ、それゆえテストフィールド６の測定ユニット１１
からの定められた距離が保証される。テストストリップ
４のキャップ３６への挿入を簡単にするために、押圧エ
レメント３３の前端面３７は朝顔胴形に設計される。
【００３０】基層５の弾性および記載された幾何学的関
係のため、テストストリップ４の前端１０も下向きに押
えつけられる。これによって、凹所１７は傾いた側面２
７上をストップ３２の方向へすべり、それゆえ（基層５
の固有の弾性のため）テストストリップ４の長手方向に
ストップ３２への力成分が生じるので、同時にテストス
トリップ４の長手方向の位置決めが行なわれる。
【００３１】テストストリップ４の前端１０に面するテ
ストフィールド領域１３の境界と定置押圧エレメント３
３との距離ａは、好ましくは前端１０に面するテストフ
ィールド領域１３の境界と支持体２４との距離ｂの０．
３５倍〜０．６５倍である。
【００３２】図３からわかるように、テストストリップ
シート２０の長さは、テストストリップ４の長さより短
い。そのため、取扱部１５の一部、すなわちテストフィ
ールド領域１３に面する部分のみがテストストリップシ
ート２０に載る。取扱部１５の残りの部分は分析装置２
の外へ自由に突き出しており、これによってテストスト
リップ４の取扱いも容易である。
【００３３】図２に示すように、テストストリップホル
ダー３は、テストストリップ４の挿入のためおよびその
正確な横方向の位置決めのためのガイド４０を含む。取
扱部１５の領域では、このガイドは、テストストリップ
の基層の剛性を考慮に入れてさまざまに形づくることが
できる。基層が比較的堅いときには、ガイドはテストス
トリップのこの領域での横方向の動きを防げば充分であ
る。これは、たとえば挿入方向に平行なガイド面を有
し、テストストリップシートから垂直にのび、互いの距
離がテストストリップの幅よりもわずかに大きい２つの
ガイドエレメントによって達成することができる。
【００３４】比較的薄くてそれゆえ柔軟なテストストリ
ップのばあいには、ガイド４０が横方向の誘導に加えて
テストストリップをテストストリップシート２０上へ押
しつければ、テストストリップのテストストリップシー
ト２０上での確かな配置に有利でありうる。図１〜３に
例示する実施態様のばあいには、弾性バネ４１を有する
バネエレメント３９が、取扱部１５の領域においてテス
トストリップシート２０の端、ガイド４０の両側に配置
されている。これらのバネは対応するホルダー４２に固
定されている。バネ４１はそれぞれのばあいにレシーバ
ー４２から円形部分に対応する断面を有して突き出して
いる。バネ４１同士の最短距離は、テストストリップシ
ート２０の上方にある。テストストリップシート２０上
に位置するテストストリップのレベルでのそれらの距離
はテストストリップの幅よりもわずかに短い。テストス
トリップ４はそれによって弾性バネ４１の間に弾性的に
維持、固定される。
【００３５】前部１２の領域において、ガイド４０は、
テストストリップシート２０から垂直にのびてテストス
トリップシート２０の境界を示す側壁４３、４４によっ
て形成される。押圧エレメント３３から始まって、側壁
４３、４４の最初の部分は円椎形の横ガイドを形成し、
それから壁４３、４４は、テストストリップ４の幅より
もわずかに大きい一定間隔でストップ３２までのびる。
【００３６】テストストリップ４を分析装置２中に置く
ときは、テストストリップ４はその前端１０でもって、
テストストリップホルダー３のギャップ３６中に上から
斜めに挿入する。さらなる挿入の動作の間、前端１０
は、テストストリップシート２０に関して高くなってい
る保持突起２６によってもち上げられている。保持突起
２６が凹所１７とかみ合うとすぐに、テストストリップ
４の下向きに作用する弾性圧力および保持突起２６の側
面２７の傾斜のため、前記の力成分がストップ３２に向
けて働く。テストストリップ４は、ストップ３２の方向
に、図３に示す定められた測定位置に達するまですべ
る。
【００３７】取扱端１６は、バネ４１の抵抗に抗して下
向きに、テストストリップシート２０に対して手で押え
られ、バネ４１によってそこに固定される。
【００３８】図４は、本発明のまた別の第２の実施態様
を示す部分図である。前記の実施態様と比較したばあい
の主な違いは、このテストストリップ分析システムは前
端の領域にストップがないように設計されていることで
ある。前述の実施態様のその他の特徴はここにも設けら
れている。保持突起５０およびテストストリップ４の凹
所１７は、断面が円形であって、そのためテストストリ
ップ４は、測定位置にあるとき、凹所１７の縁でもって
実質上完全に維持突起５０の側面５３に中央に載り、後
者の上に固定される。
【００３９】図３および図４に示した実施態様では、円
椎形の保持突起２６、５０は同時に支持体の機能と固定
エレメントの機能を果す。しかしながら、２つの機能は
別々のエレメントによっても満たされてもよい。たとえ
ば、図３におけるテストストリップシート２０を、スト
ップ３２の方向に上向きに均一に湾曲させて設計して、
テストフィールド領域１３の中央面２２に関して高くな
った支持体を提供することも可能である。長手方向の固
定も、別の点、たとえばシート２０上に載っている取扱
部１５の部分において、テストストリップに設けられた
凹所および対応する固定デバイスによって提供されよ
う。
【００４０】
【発明の効果】本発明のテストストリップ分析システム
によれば、簡単で確実な取扱いで分析装置における測定
ユニットに関するテストストリップの正確な位置決めが
可能な、安価なシステムが提供される。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明のテストストリップ分析システムの斜視
図である。
【図２】テストストリップホルダーの斜視図である。
【図３】テストストリップを測定位置に入れた図２のテ
ストストリップホルダーの線III −III についての断面
図である。
【図４】テストストリップホルダーの第２の変形の図３
のような断面図の一部である。
【符号の説明】
２ 分析装置 ３ テストストリップ収容手段（テストストリップホル
ダー） ４ テストストリップ ６ テストフィールド １０ 前端 １１ 測定ユニット １２ 前部 １３ テストフィールド領域 １５ 取扱部 １６ 取扱端 １７ 凹所 ２０ テストストリップシート手段（テストストリップ
シート） ２２ 中央平面 ２４ 支持手段（支持体） ２５ 固定手段 ３３ 押圧エレメント ４０ ガイド手段（ガイド）
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成６年３月２９日
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正内容】
【特許請求の範囲】
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ヨアキム ヘーネス ドイツ連邦共和国、デー−64673 ツビン ゲンベルク、ロダウエルストラーセ 50 アー (72)発明者 フォルカー ウンクリク ドイツ連邦共和国、デー−68526 ラーデ ンブルク、シュタールビューリンク 27 (72)発明者 クラウス−ディーテル スティーク ドイツ連邦共和国、デー−76709 クロナ ウ、ガルテンストラーセ １−２

Claims (9)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 測定ユニット（１１）に関して定められ
    た測定位置にテストストリップ（４）を位置決めするた
    めのテストストリップ収容手段（３）を有する分析装置
    （２）、ならびに前端（１０）、取扱端（１６）、該取
    扱端（１６）と前記前端（１０）との間に少なくとも１
    つのテストフィールド（６）を有するテストフィールド
    領域（１３）、該テストフィールド領域（１３）と前記
    前端（１０）との間の前部（１２）および前記テストフ
    ィールド領域（１３）と取扱端（１６）との間の取扱部
    （１５）を有するテストストリップ（４）を含んでなる
    テストストリップ分析システムであって、 前記テストストリップ収容手段（３）は、テストストリ
    ップが該テストストリップ収容手段（３）に挿入される
    ときに該テストストリップを横方向について導くための
    ガイド手段（４０）、テストストリップ収容手段（３）
    中のテストストリップ（４）の測定位置にあって、テス
    トストリップ（４）の凹所（１７）とかみ合う固定手段
    （２５）、およびテストストリップ（４）の第１面が載
    せられてそのテストフィールド領域（１３）が測定ユニ
    ット（１１）から定められた距離になるようなテストス
    トリップシート手段（２０）を含んでなっており、テス
    トストリップ収容手段（３）がテストフィールド領域
    （１３）の中央平面（２２）に関して垂直方向に補わ
    れ、測定位置にあるテストストリップ（４）の前部を支
    持するための支持手段、および測定位置において支持手
    段（２４）とテストフィールド領域（１３）の間の位置
    でテストストリップ（４）の第２面を押しつける押圧エ
    レメント（３３）を含んでなり、そのためテストストリ
    ップ（４）は測定位置において曲げ押力に付され、その
    曲げ押力によって前記少なくとも１つのテストフィール
    ド（６）の測定ユニット（１１）からの前記定められた
    距離が確保されることを特徴とするテストストリップ分
    析システム。
  2. 【請求項２】 前記固定手段（２５）および支持手段
    が、テストストリップ表面に対して傾斜しており、テス
    トストリップの凹所（１７）の縁の少なくとも一部（２
    ８）が載る側面（２７、５３）を有する定置保持エレメ
    ント（２６、５０）により同時に形成されている請求項
    １記載のテストストリップ分析システム。
  3. 【請求項３】 テストストリップ（４）がその取扱端
    （１６）の方向およびその前端（１０）の方向いずれの
    方向における長手方向の動きに対しても固定されるよう
    に、テストストリップ（４）の凹所（１７）が保持エレ
    メント（５０）の側面（５３）上に載る請求項２記載の
    テストストリップ分析システム。
  4. 【請求項４】 テストストリップシート手段（２０）の
    前端にストップ（３２）が設けられ、ストップ（３２）
    と保持エレメント（２６）との距離と、テストストリッ
    プ（４）の前端（１０）とテストストリップ（４）の凹
    所（１７）の前端（１０）に面する縁の一部との距離
    が、測定位置にあるテストストリップ（４）が、その前
    端（１０）でもってストップ（３２）に突当たり、その
    凹所（１７）の前端（１０）に面する縁の一部（２８）
    でもって保持エレメント（２６）の傾斜側面（２７）に
    載るように互いに調整されている請求項２記載のテスト
    ストリップ分析システム。
  5. 【請求項５】 テストストリップシート手段（２０）
    が、測定位置の支持手段（２４）と押圧エレメント（３
    ３）の間でテストストリップ（４）の第１面に接触しな
    いように構成されており、そのため支持手段（２４）と
    押圧エレメント（３３）の間ではテストストリップ
    （４）は拘束されることなく張られる請求項１、２、３
    または４記載のテストストリップ分析システム。
  6. 【請求項６】 押圧エレメント（３３）が、静止してお
    り、テストストリップ（４）がテストストリップ収容手
    段（３）中に挿入される際にその中を通るギャップ（３
    ６）をテストストリップシート手段（２０）と押圧エレ
    メント（３３）の間に形成するテストストリップガイド
    手段（４０）の橋渡しをする請求項１、２、３、４また
    は５記載のテストストリップ分析システム。
  7. 【請求項７】 テストストリップ（４）の前端（１０）
    に面するテストフィールド領域（１３）の境界（８）か
    ら押圧エレメント（３３）の距離（ａ）が、前端（１
    ０）に面するテストフィールド（６）の境界と支持手段
    （２４）との距離（ｂ）の０．３５倍から０．６５倍で
    ある請求項１、２、３、４、５または６記載のテストス
    トリップ分析システム。
  8. 【請求項８】 テストストリップシート手段（２０）が
    テストストリップ（４）の長さより短く、そのためその
    取扱端（１６）がテストストリップシート手段（２０）
    を越えて突き出す請求項１、２、３、４、５、６または
    ７記載のテストストリップ分析システム。
  9. 【請求項９】 テストストリップ収容手段（３）が、ガ
    イド手段（４０）の両端に位置する弾性バネエレメント
    （３９）を含んでなり、前記弾性バネエレメントは取扱
    部（１５）においてテストストリップ（４）の縁を押し
    つけており、それによってテストストリップ（４）がテ
    ストストリップシート手段（２０）に対し押しつけられ
    る、請求項１、２、３、４、５、６、７または８記載の
    テストストリップ分析システム。
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