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JPH0613443A - Manufacture of semiconductor device - Google Patents

Manufacture of semiconductor device

Info

Publication number
JPH0613443A
JPH0613443A JP4193178A JP19317892A JPH0613443A JP H0613443 A JPH0613443 A JP H0613443A JP 4193178 A JP4193178 A JP 4193178A JP 19317892 A JP19317892 A JP 19317892A JP H0613443 A JPH0613443 A JP H0613443A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
image
lead frame
type
semiconductor
pattern
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP4193178A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hiroshi Miura
浩史 三浦
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Mechatronics Co Ltd
Original Assignee
Toshiba Seiki Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Seiki Co Ltd filed Critical Toshiba Seiki Co Ltd
Priority to JP4193178A priority Critical patent/JPH0613443A/en
Publication of JPH0613443A publication Critical patent/JPH0613443A/en
Pending legal-status Critical Current

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  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
  • Image Processing (AREA)
  • Die Bonding (AREA)
  • Image Analysis (AREA)

Abstract

PURPOSE:To set the work information in accordance with a product type of a semiconductor pellet and of a lead frame. CONSTITUTION:Using a camera 44 which picks up an image of a product type recognizing section which is installed on each of a semiconductor pellet 2 and a lead frame 3, a picture processing device 45 which processes an image picked up by the camera 44, a setting section 52 which sets a reference pattern for each product type judging section installed on each of the plurality of types of the semiconductor pellets 2 and the lead frames 3, and an image pattern which has been processed by the picture processing device 45, a reference pattern which is the same as this image pattern is found out from the plurality of the reference patterns set in the setting section 52. In order to do this job, a comparing section 53 which recognizes a product type of the semiconductor pellets 2 and the lead frames 3 and a displaying section 55 which displays the product type recognized by the comparing section 53 are installed.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、半導体装置の製造装置
に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor device manufacturing apparatus.

【0002】[0002]

【従来の技術】例えば、半導体装置の製造装置として用
いられるワイヤボンディング装置においては、ボンディ
ングヘッドに支持され揺動駆動されるボンディングアー
ムの先端にキャピラリを装着し、このキャピラリに挿通
したワイヤを用いて、半導体ペレットの電極とリードフ
レームのリードとを電気的に接続する作業が行なわれ
る。
2. Description of the Related Art For example, in a wire bonding apparatus used as a semiconductor device manufacturing apparatus, a capillary is attached to the tip of a bonding arm which is supported by a bonding head and is driven to swing, and a wire inserted through the capillary is used. The work of electrically connecting the electrodes of the semiconductor pellet and the leads of the lead frame is performed.

【0003】ところで、ボンディング装置を駆動制御す
るためのボンディング情報(ボンディング位置座標やボ
ンディング荷重など)は、半導体ペレットやリードフレ
ームの品種に応じて設定しなければならない。
By the way, the bonding information (bonding position coordinates, bonding load, etc.) for driving and controlling the bonding apparatus must be set in accordance with the type of semiconductor pellet or lead frame.

【0004】そこで従来は、ワイヤボンディング装置が
備える設定部に、予め品種ごとに半導体ペレットとリー
ドフレームとの組合わせに対応するボンディング情報を
設定しておき、ボンディング作業を開始するに当たり、
作業者がその品種情報をキー操作等により入力するよう
にしていた。
Conventionally, therefore, the bonding information corresponding to the combination of the semiconductor pellet and the lead frame for each product type is set in advance in the setting section of the wire bonding apparatus, and the bonding work is started.
The operator inputs the product type information by key operation or the like.

【0005】ここで、品種情報の判別は、半導体ペレッ
トやリードフレームに付された品種識別記号を頼りに行
なわれる。これは、例えば半導体ペレットの場合、ウェ
ハへのパターンエッチング時に、リードフレームにおい
てはプレス時に、それぞれ図6、図7における符号5、
6で示すような品種識別記号が付されるが、この品種識
別記号を作業者が顕微鏡を用いて観察することにて判別
していた。
Here, the type information is discriminated by relying on the type identification symbol attached to the semiconductor pellet or the lead frame. This is because, for example, in the case of a semiconductor pellet, the pattern 5 in FIG. 6 and FIG.
A product type identification code such as that shown in No. 6 is attached, but this product type identification code was determined by the operator observing it using a microscope.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】ところが、半導体ペレ
ットやリードフレームに付される品種識別記号は、極微
小の文字、マーク等から構成されるため、これを判別す
るには上述のように顕微鏡を用いて読取るという細かい
作業を必要とすることから、作業者に多大な疲労を与え
ていた。
However, since the type identification code attached to the semiconductor pellet or the lead frame is made up of extremely small letters, marks, etc., it is necessary to use the microscope as described above to identify this. Since the detailed work of reading by using it is required, a great deal of fatigue is given to the worker.

【0007】また、従来は作業者による読取り作業のた
め、文字などの読取りミスの可能性が大であり、このミ
スにより誤ったボンディング情報でボンディング作業が
行なわれてしまった場合、大量の不良品を生産してしま
うという問題点があった。
Further, since the reading work by the operator has been conventionally performed, there is a high possibility that a reading error such as a character is made. If the mistake causes the bonding work with wrong bonding information, a large amount of defective products will be produced. There was a problem of producing.

【0008】さらには、ボンディング情報設定のための
品種情報は、作業者の手動操作によってキー入力される
ものであったため、操作ミスによっても誤ったボンディ
ング情報が設定されてしまうという危険性も有してい
た。
Further, since the product type information for setting the bonding information is key-inputted by the operator's manual operation, there is a risk that wrong bonding information may be set by an operation mistake. Was there.

【0009】本発明は、半導体ペレット並びにリードフ
レームの品種に応じた作業情報を容易に設定することが
できる半導体装置の製造装置を提供することを第1の目
的とする。
It is a first object of the present invention to provide a semiconductor device manufacturing apparatus capable of easily setting work information according to the types of semiconductor pellets and lead frames.

【0010】また本発明は、半導体ペレット並びにリー
ドフレームの品種に応じた作業情報を確実に設定するこ
とができる半導体装置の製造装置を提供することを第2
の目的とする。
A second object of the present invention is to provide a semiconductor device manufacturing apparatus capable of reliably setting work information according to the types of semiconductor pellets and lead frames.
The purpose of.

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】請求項1に記載の本発明
は、半導体ペレット並びにリードフレーム個々に設けら
れた品種判別部位を撮像する撮像手段と、この撮像手段
が撮像した画像を処理する画像処理手段と、複数種の前
記半導体ペレット並びに前記リードフレーム個々の品種
判別部位の基準パターンが設定される設定手段と、前記
画像処理手段にて処理された画像パターンに基づき、前
記設定手段に設定された複数の基準パターンの中からこ
の画像パターンと一致する基準パターンを見つけ出し、
これにより前記半導体ペレット並びに前記リードフレー
ムの品種をそれぞれ判別する品種判別手段と、品種判別
手段にて判別した品種を表示する表示手段とを有するこ
とを特徴とする。
According to a first aspect of the present invention, there is provided an image pickup means for picking up an image of a type discrimination portion provided on each of a semiconductor pellet and a lead frame, and an image for processing an image picked up by this image pickup means. A processing unit, a setting unit for setting a reference pattern of a plurality of types of the semiconductor pellets and the individual lead frame type determination regions, and an image pattern processed by the image processing unit are set in the setting unit. Find a reference pattern that matches this image pattern from the multiple reference patterns,
Accordingly, it is characterized in that it has a type discriminating means for discriminating the type of each of the semiconductor pellets and the lead frame, and a display means for displaying the type discriminated by the type discriminating means.

【0012】請求項2に記載の本発明は、半導体ペレッ
ト並びにリードフレーム個々に設けられた品種判別部位
を撮像する撮像手段と、この撮像手段が撮像した画像を
処理する画像処理手段と、複数種の前記半導体ペレット
並びに前記リードフレーム個々の品種判別部位の基準パ
ターン、並びに品種ごとに前記半導体ペレットと前記リ
ードフレームとの複数の組み合わせに対応する作業情報
が設定される設定手段と、前記画像処理手段にて処理さ
れた画像パターンに基づき、前記設定手段に設定された
複数の基準パターンの中からこの画像パターンと一致す
る基準パターンを見つけ出し、これにより前記半導体ペ
レット並びに前記リードフレームの品種をそれぞれ判別
する品種判別手段と、品種判別手段にて判別した前記半
導体ペレットの品種並びに前記リードフレームの品種の
組み合わせに対応する作業情報を前記設定手段から得て
この作業情報に基づいて作業部を駆動制御する制御手段
とを有することを特徴とする。
According to a second aspect of the present invention, there are provided a plurality of types of image pickup means for picking up an image of the type discrimination portion provided on each of the semiconductor pellet and the lead frame, an image processing means for processing an image picked up by the image pickup means. Of the semiconductor pellets and the lead frame, reference patterns of individual product type identification parts, and setting means for setting work information corresponding to a plurality of combinations of the semiconductor pellets and the lead frame, and the image processing means. On the basis of the image pattern processed in step 1, a reference pattern matching the image pattern is found out of the plurality of reference patterns set in the setting means, and thereby the semiconductor pellet and the lead frame type are discriminated respectively. Product type discrimination means and the product of the semiconductor pellets discriminated by the product type discrimination means And characterized by having a control means for driving and controlling a working unit based on the task information corresponding to the combination of varieties of the lead frame in the task information obtained from the setting unit.

【0013】[0013]

【作用】請求項1に記載の本発明によれば、撮像手段に
よって取り込んだ半導体ペレット並びにリードフレーム
個々に設けられた品種判別部位の画像が画像処理手段に
よって処理される。そして品種判別手段において、前記
画像処理手段にて処理された画像パターンに基づき、設
定手段に設定された複数の基準パターンの中からこの画
像パターンと一致する基準パターンを見つけ出し、これ
により前記半導体ペレット並びに前記リードフレームの
品種がそれぞれ判別され、その結果が表示手段に表示さ
れる。
According to the first aspect of the present invention, the image of the semiconductor pellet taken in by the image pickup means and the image of the product type discrimination portion provided on each of the lead frames is processed by the image processing means. Then, in the product type discriminating means, based on the image pattern processed by the image processing means, a reference pattern that matches the image pattern is found from among the plurality of reference patterns set in the setting means, and thereby the semiconductor pellet and The type of the lead frame is discriminated and the result is displayed on the display means.

【0014】請求項2に記載の本発明によれば、撮像手
段によって取り込んだ半導体ペレット並びにリードフレ
ーム個々に設けられた品種判別部位の画像が画像処理手
段によって処理される。そして品種判別手段において、
前記画像処理手段にて処理された画像パターンに基づ
き、設定手段に設定された複数の基準パターンの中から
この画像パターンと一致する基準パターンを見つけ出
し、これにより前記半導体ペレット並びに前記リードフ
レームの品種がそれぞれ判別される。品種が判別される
と、この判別された品種の組み合わせに対応する作業情
報が設定手段から自動的に制御手段に取り込まれ、この
作業情報に基づいて作業部が駆動制御される。
According to the second aspect of the present invention, the image of the semiconductor pellets taken in by the image pickup means and the image of the type discrimination portion provided on each of the lead frames is processed by the image processing means. Then, in the type discrimination means,
Based on the image pattern processed by the image processing means, find a reference pattern that matches the image pattern from the plurality of reference patterns set in the setting means, thereby the type of the semiconductor pellet and the lead frame Each is determined. When the type is determined, the work information corresponding to the determined combination of types is automatically taken in from the setting means to the control means, and the working unit is drive-controlled based on this work information.

【0015】[0015]

【実施例】本発明の実施例を図面を用いて説明する。図
1は本発明に係わるワイヤボンディング装置の一構成
図、図2は図1の要部構成図、図3は半導体ペレットと
基準パターンとの対応表、図4はリードフレームと基準
パターンとの対応表、図5は半導体ペレットとリードフ
レームとの組合わせに対応するボンディング情報を示す
マトリックス表、図6は半導体ペレットの要部拡大図、
図7はリードフレームの要部拡大図をそれぞれ示す。
Embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. 1 is a configuration diagram of a wire bonding apparatus according to the present invention, FIG. 2 is a configuration diagram of essential parts of FIG. 1, FIG. 3 is a correspondence table between semiconductor pellets and reference patterns, and FIG. 4 is correspondence between lead frames and reference patterns. Table, FIG. 5 is a matrix table showing bonding information corresponding to the combination of the semiconductor pellet and the lead frame, and FIG. 6 is an enlarged view of a main part of the semiconductor pellet.
FIG. 7 is an enlarged view of a main part of the lead frame.

【0016】図1乃至図2において、ワイヤボンディン
グ装置1は、半導体ペレット2がマウントされたリード
フレーム3を供給する供給部10と、供給されたリード
フレーム3を搬送する搬送手段20と、ワイヤボンディ
ングの施されたリードフレーム3を収納する収納部30
と、搬送手段20によるリードフレーム3の搬送途中に
位置し、半導体ペレット2とリードフレーム3に対して
ワイヤボンディングを施すボンディングヘッド40、制
御装置50とから構成される。
1 and 2, a wire bonding apparatus 1 includes a supply unit 10 for supplying a lead frame 3 on which a semiconductor pellet 2 is mounted, a conveying means 20 for conveying the supplied lead frame 3, and a wire bonding device. Storage section 30 for storing the lead frame 3 with
And a bonding head 40 for performing wire bonding on the semiconductor pellets 2 and the lead frame 3 and a controller 50, which are located in the middle of the transportation of the lead frame 3 by the transportation means 20.

【0017】供給部10は、半導体ペレット2がマウン
トされたリードフレーム3を所定のピッチ間隔で収納す
るマガジン11と、このマガジン11を所定ピッチ間隔
毎に昇降動作させるとともに、所定位置に収納されたリ
ードフレーム3を搬送手段20の搬送レベルに位置決め
する昇降機構12と、搬送レベルに位置決めされたリー
ドフレーム3を搬送手段20上に送り出す押し出し機構
13とを有する。
The supply unit 10 stores a lead frame 3 on which the semiconductor pellets 2 are mounted at a predetermined pitch interval, and a magazine 11 that moves the magazine 11 up and down at a predetermined pitch interval and is stored at a predetermined position. An elevating mechanism 12 for positioning the lead frame 3 at the carrying level of the carrying means 20 and a pushing mechanism 13 for sending the lead frame 3 positioned at the carrying level onto the carrying means 20.

【0018】搬送手段20は、リードフレーム3を搬送
案内する一対の搬送レール21を有し、不図示の送り機
構によりリードフレーム3を搬送する。
The carrying means 20 has a pair of carrying rails 21 for carrying and guiding the lead frame 3, and carries the lead frame 3 by a feeding mechanism (not shown).

【0019】収納部30は、ワイヤボンディングが施さ
れたリードフレーム3を所定のピッチ間隔で収納するマ
ガジン31と、このマガジン31を所定ピッチ間隔毎に
昇降動作させるとともに、マガジン31における所定の
リードフレーム収納位置を搬送手段20の搬送レベルに
位置決めする昇降機構32とを有する。
The accommodating section 30 accommodates the lead frame 3 to which wire bonding is applied at a predetermined pitch interval, and raises and lowers the magazine 31 at a predetermined pitch interval, and also at a predetermined lead frame in the magazine 31. An elevating mechanism 32 for positioning the storage position at the carrying level of the carrying means 20.

【0020】ボンディングヘッド40は、水平方向に移
動自在な移動テーブル41上に載置され、上下方向に揺
動駆動されるボンディングアーム42と、ボンディング
アーム42の先端に装着され、ワイヤ4を挿通したキャ
ピラリ43とを有する。またボンディングヘッド40に
は、キャピラリ43のほぼ直上に固定されたカメラ44
が設けられ、画像処理装置45を介して制御装置50に
接続される。
The bonding head 40 is mounted on a movable table 41 which is movable in the horizontal direction, and is attached to the tip of the bonding arm 42 which is swingably driven in the vertical direction, and the wire 4 is inserted therethrough. And a capillary 43. The bonding head 40 has a camera 44 fixed almost directly above the capillary 43.
Is provided and is connected to the control device 50 via the image processing device 45.

【0021】制御装置50は、ワイヤボンディング装置
1の動作制御を司るもので、制御部51、設定部52、
比較部53、および記憶部54を有する。
The control unit 50 controls the operation of the wire bonding apparatus 1, and includes a control unit 51, a setting unit 52,
The comparison unit 53 and the storage unit 54 are included.

【0022】ここで、設定部52には予め次の情報が設
定される。
Here, the following information is set in advance in the setting section 52.

【0023】a.複数品種の半導体ペレット2にそれぞ
れ付された異なる品種識別記号5の基準パターン(図3
参照)
A. Reference patterns of different product identification symbols 5 attached to the semiconductor pellets 2 of a plurality of products (see FIG. 3).
reference)

【0024】本実施例では、4種類の半導体ペレット2
a〜2dのそれぞれに付された異なる品種識別記号の画
像をカメラ44にて個別に撮像し、その撮像した画像を
画像処理装置45にて画像処理した後の画像パターンを
基準パターンPa〜Pdとして設定するものである。な
お各基準パターンPa〜Pdは、各半導体ペレット2a
〜2dにおける品種識別記号の画像を取り込むべきカメ
ラ44の撮像位置座標とともに記憶設定される。
In this embodiment, four types of semiconductor pellets 2 are used.
Images of different product identification symbols assigned to a to 2d are individually captured by the camera 44, and the image patterns after the captured images are image-processed by the image processing device 45 are set as reference patterns Pa to Pd. It is something to set. In addition, each of the reference patterns Pa to Pd corresponds to each of the semiconductor pellets 2a.
It is stored and set together with the image pickup position coordinates of the camera 44 that should capture the image of the product type identification symbol in 2d.

【0025】b.複数品種のリードフレーム3のそれぞ
れに付された異なる品種識別記号6の基準パターン(図
4参照)
B. Reference patterns of different product type identification symbols 6 attached to the lead frames 3 of a plurality of product types (see FIG. 4)

【0026】本実施例では、4種類のリードフレーム3
a〜3dそれぞれに付された異なる品種識別記号の画像
をカメラ44にて個別に撮像し、その撮像した画像を画
像処理装置45にて画像処理した後の画像パターンを基
準パターンFa〜Fdとして設定するものである。なお
各基準パターンFa〜Fdは、各リードフレーム3a〜
3dにおける品種識別記号の画像を取り込むべきカメラ
44の撮像位置座標とともに記憶設定される。
In this embodiment, four types of lead frames 3 are used.
Images of different product identification symbols assigned to a to 3d are individually captured by the camera 44, and the image patterns after the captured images are processed by the image processing device 45 are set as the reference patterns Fa to Fd. To do. The reference patterns Fa to Fd correspond to the lead frames 3a to 3d.
The image of the product identification code in 3d is stored and set together with the image capturing position coordinates of the camera 44 that should capture the image.

【0027】c.品種ごとに半導体ペレット2a〜2d
とリードフレーム3a〜3dとの複数の組み合わせに対
応するボンディング情報(図5参照)
C. Semiconductor pellets 2a to 2d for each product type
Information corresponding to a plurality of combinations of the lead frames 3a to 3d (see FIG. 5)

【0028】図5において、例えば半導体ペレットの品
種が2b、リードフレームの品種が3cの場合には、B
fなるボンディング情報でワイヤボンディング装置1を
動作制御することを意味する。また同図において、半導
体ペレットの品種が2c、リードフレームの品種が3a
のような場合、ボンディング情報が斜線で示されている
が、これは同組み合わせが存在し得ないことを意味す
る。
In FIG. 5, if the type of semiconductor pellet is 2b and the type of lead frame is 3c, for example, B
It means that the operation of the wire bonding apparatus 1 is controlled by the bonding information f. In the figure, the type of semiconductor pellet is 2c and the type of lead frame is 3a.
In such a case, the bonding information is indicated by diagonal lines, which means that the same combination cannot exist.

【0029】なお図2において、符号55は表示部で、
後述のようにして比較部53で判別された半導体ペレッ
ト2並びにリードフレーム3の品種が表示される。
In FIG. 2, reference numeral 55 is a display unit,
The types of the semiconductor pellets 2 and the lead frame 3 determined by the comparison unit 53 as described later are displayed.

【0030】次に上記ワイヤボンディング装置1の作動
について説明する。
Next, the operation of the wire bonding apparatus 1 will be described.

【0031】まず供給部10に、半導体ペレット2がマ
ウントされたリードフレーム3を収納するマガジン11
が載置されると、昇降機構12の作動により、マガジン
11内の最下位に位置するリードフレーム3が搬送手段
20の搬送レベルに位置決めされる。次に押し出し機構
13により、リードフレーム3が搬送レール21上に押
し出される。搬送レール21上に押し出されたリードフ
レーム3は、搬送レール21上を所定ピッチ毎に搬送さ
れ、ボンディングヘッド40のボンディング位置に位置
決めされる。
First, a magazine 11 for accommodating the lead frame 3 on which the semiconductor pellets 2 are mounted is provided in the supply section 10.
Then, the lead frame 3 located at the lowest position in the magazine 11 is positioned at the carrying level of the carrying means 20 by the operation of the elevating mechanism 12. Next, the lead frame 3 is pushed onto the transport rail 21 by the pushing mechanism 13. The lead frame 3 extruded onto the transport rail 21 is transported on the transport rail 21 at a predetermined pitch and positioned at the bonding position of the bonding head 40.

【0032】リードフレーム3がボンディング位置に位
置決めされると、ここでリードフレーム3並びに半導体
ペレット2の品種の判別作業が次のようにして行なわれ
る。
When the lead frame 3 is positioned at the bonding position, the work of discriminating the types of the lead frame 3 and the semiconductor pellet 2 is carried out as follows.

【0033】まずリードフレーム3の品種判別作業にあ
っては、制御装置50の制御部51からの指令によっ
て、移動テーブル41が駆動制御され、設定部52に設
定された基準パターンFaの撮像位置座標の位置にまず
カメラ44が移動する。そして図7に示すように、この
位置でカメラ44はその視野44a内の画像を取り込
み、撮像画像は画像処理装置45で処理され、その画像
パターンが記憶部54に記憶される。次に比較部53に
おいては、いま記憶部54に記憶された画像パターンと
基準パターンFaとの比較を行なう。この時、両者のパ
ターンの一致が確認されたときには、供給されたリード
フレーム3の品種は3aであることが判別されるととも
に、その品種が表示部55に表示される。また両者のパ
ターンの不一致が確認された場合には、カメラ44は次
に基準パターンFbの撮像位置座標の位置に移動する。
そして上述と同様にして、ここでカメラ44が撮像し画
像処理装置45で処理された画像パターンが基準パター
ンFbと比較される。そしてここで両者のパターンの一
致が確認されると、リードフレーム3の品種は3bであ
ることが判別される。ここで再度両パターンが不一致で
あった場合には、一致が確認されるまで以下同様にし
て、カメラ44は基準パターンFcの撮像位置座標、基
準パターンFdの撮像位置座標の各位置へと順次移動
し、判別作業が行なわれる。なおカメラ44が基準パタ
ーンFdの撮像位置座標の位置に移動し、ここでカメラ
44の撮像画像に基づく画像パターンと基準パターンF
dとの一致が確認されなかった場合には、警報などによ
り作業者に知らせるとともに、装置を停止させるように
しても良い。
First, in the work for discriminating the type of the lead frame 3, the movement table 41 is drive-controlled by a command from the control unit 51 of the control device 50, and the image pickup position coordinates of the reference pattern Fa set in the setting unit 52. First, the camera 44 moves to the position. Then, as shown in FIG. 7, the camera 44 captures the image within the field of view 44 a at this position, the captured image is processed by the image processing device 45, and the image pattern is stored in the storage unit 54. Next, the comparison unit 53 compares the image pattern now stored in the storage unit 54 with the reference pattern Fa. At this time, when it is confirmed that the two patterns match, it is determined that the type of the supplied lead frame 3 is 3a, and the type is displayed on the display unit 55. When it is confirmed that the two patterns do not match, the camera 44 next moves to the position of the image pickup position coordinate of the reference pattern Fb.
Then, similarly to the above, the image pattern captured by the camera 44 and processed by the image processing device 45 is compared with the reference pattern Fb. When it is confirmed that the two patterns match, it is determined that the type of the lead frame 3 is 3b. If the two patterns do not match again, the camera 44 sequentially moves to respective positions of the image pickup position coordinates of the reference pattern Fc and the image pickup position coordinates of the reference pattern Fd until the match is confirmed. Then, the discrimination work is performed. The camera 44 moves to the position of the image pickup position coordinate of the reference pattern Fd, and here, the image pattern based on the image picked up by the camera 44 and the reference pattern F are displayed.
If the match with d is not confirmed, the operator may be notified by an alarm or the like and the apparatus may be stopped.

【0034】このようにしてリードフレーム3の品種が
判別されると、次にリードフレーム3上の半導体ペレッ
ト2の品種の判別作業が行なわれる。この作業は、上述
したリードフレーム3の品種判別作業とほぼ同様に行な
われるもので、カメラ44は最初に基準パターンPaの
撮像位置座標の位置に移動し、ここで図6に示すよう
に、その視野44a内の画像を取り込む。そして撮像画
像は画像処理装置45で処理されて記憶部54に記憶さ
れ、そして比較部53にてこの画像パターンが基準パタ
ーンPaと比較される。この結果両パターンの一致が確
認された場合は、その半導体ペレット2の品種は2aで
あることが判別されるとともに、その品種が表示部55
に表示される。両パターンの不一致が確認された場合に
は、一致が確認されるまで以下同様にして、カメラ44
が基準パターンPbの撮像位置座標、基準パターンPc
の撮像位置座標、基準パターンPdの撮像位置座標の各
位置へと順次移動し、判別作業が行なわれる。なおリー
ドフレーム3の品種判別作業の時と同様に、カメラ44
が基準パターンPdの撮像位置座標の位置に移動し、こ
こでカメラ44の撮像画像に基づく画像パターンと基準
パターンPdとの一致が確認されなかった場合には、警
報などにより作業者に知らせるとともに、装置を停止さ
せるようにしても良い。
When the type of the lead frame 3 is discriminated in this way, the type of semiconductor pellet 2 on the lead frame 3 is discriminated. This work is performed almost in the same way as the above-described work of discriminating the type of the lead frame 3, and the camera 44 first moves to the position of the image pickup position coordinate of the reference pattern Pa, and as shown in FIG. The image in the field of view 44a is captured. Then, the captured image is processed by the image processing device 45 and stored in the storage unit 54, and this image pattern is compared with the reference pattern Pa by the comparison unit 53. As a result, when it is confirmed that the two patterns match, it is determined that the type of the semiconductor pellet 2 is 2a, and that type is displayed on the display unit 55.
Is displayed in. If a discrepancy between the two patterns is confirmed, the same process is repeated until the camera 44 is confirmed.
Is the imaging position coordinate of the reference pattern Pb, the reference pattern Pc
And the image pickup position coordinates of the reference pattern Pd are sequentially moved to perform the determination work. In addition, the camera 44
Moves to the position of the image pickup position coordinate of the reference pattern Pd, and if the image pattern based on the image picked up by the camera 44 and the reference pattern Pd are not confirmed here, the operator is notified by an alarm or the like, and The device may be stopped.

【0035】さてこのようにして半導体ペレット2並び
にリードフレーム3の品種が判別されると、制御部51
は、両品種の組み合わせに対応するボンディング情報を
設定部52から呼び出す。具体的には、図5において、
例えば半導体ペレット2並びにリードフレーム3の品種
がそれぞれ2a、3aと判別された場合には、Baなる
ボンディング情報を呼び出すという具合である。そして
制御部51においては、この呼び出したボンディング情
報Baに基づき、ボンディングヘッド40を動作制御
し、ボンディング作業を行なう。なお、判別した半導体
ペレット2並びにリードフレーム3の品種の組み合わせ
に対応するボンディング情報が存在し得ない場合(例え
ば図5において、品種2cの半導体ペレットと品種3a
のリードフレームの組み合わせの場合)には、制御部5
1は異常検出信号を出力し、警報などにより作業者に知
らせるとともに、装置を停止させるようにしても良い。
When the types of the semiconductor pellet 2 and the lead frame 3 are discriminated in this way, the control unit 51
Calls the bonding information corresponding to the combination of both types from the setting unit 52. Specifically, in FIG.
For example, when it is determined that the types of the semiconductor pellet 2 and the lead frame 3 are 2a and 3a, the bonding information Ba is called. Then, the control unit 51 controls the operation of the bonding head 40 based on the called bonding information Ba and performs the bonding work. In addition, when the bonding information corresponding to the combination of the determined type of the semiconductor pellets 2 and the lead frame 3 cannot exist (for example, in FIG. 5, the semiconductor pellets of the type 2c and the type 3a).
In the case of the lead frame combination), the control unit 5
1 may output an abnormality detection signal, notify the operator by an alarm or the like, and stop the apparatus.

【0036】ボンディングの施されたリードフレーム3
は、その後搬送手段20によりピッチ移動させられ、リ
ードフレーム3上のすべての半導体ペレット2に対して
ボンディング作業が完了すると、そのリードフレーム3
は収納部30へと搬送される。この時、昇降機構32に
より収納部30のマガジン31は上限位置に位置付けら
れており、搬送されてきたリードフレーム3は、このマ
ガジン31の最下位に収容される。その後、昇降機構3
2の作動により1ピッチ下降する。
Bonded lead frame 3
After that, the pitch is moved by the carrier means 20, and when the bonding work is completed for all the semiconductor pellets 2 on the lead frame 3, the lead frame 3
Are transported to the storage unit 30. At this time, the magazine 31 of the storage unit 30 is positioned at the upper limit position by the elevating mechanism 32, and the lead frame 3 that has been transported is stored at the lowest position of this magazine 31. After that, the lifting mechanism 3
By the action of 2, the pitch is lowered by 1 pitch.

【0037】以後は、供給部10側のマガジン11内に
収納されたリードフレーム3がなくなるまで、上記のボ
ンディング情報によりボンディング作業が行なわれる。
After that, the bonding work is performed according to the above-mentioned bonding information until the lead frames 3 housed in the magazine 11 on the side of the supply unit 10 are exhausted.

【0038】なお上述した半導体ペレット2並びにリー
ドフレーム3の品種判別作業は、供給部10におけるマ
ガジン11の交換の度に行なわれる。
The operation of discriminating the type of the semiconductor pellet 2 and the lead frame 3 described above is performed every time the magazine 11 in the supply unit 10 is replaced.

【0039】上記実施例によれば、ボンディング位置に
位置付けられた半導体ペレット2並びにリードフレーム
3に設けられた品種識別記号がボンディング作業前にカ
メラ44によって順次撮像され、そしてこの撮像画像に
基づいてそれぞれの品種が判別される。そして判別され
た品種は表示部55に表示され、またその品種の組み合
わせに対応するボンディング情報が自動的に読み出さ
れ、この読み出された情報に基づいてボンディング作業
が行なわれる。
According to the above-described embodiment, the semiconductor pellets 2 positioned at the bonding position and the product identification symbols provided on the lead frame 3 are sequentially picked up by the camera 44 before the bonding work, and based on the picked-up images, respectively. The variety of is discriminated. Then, the determined product type is displayed on the display unit 55, and the bonding information corresponding to the combination of the product types is automatically read out, and the bonding work is performed based on the read out information.

【0040】このように、品種がカメラ44の撮像画像
に基づいて自動的に判別されるため、その判別に作業者
の介在を必要とせず、従って作業者の疲労を大幅に軽減
させることができる。また同理由により、作業者による
誤認識も防止できる。
As described above, since the product type is automatically discriminated based on the image picked up by the camera 44, the intervention of the operator is not required for the discrimination, and the fatigue of the operator can be greatly reduced. . Further, for the same reason, it is possible to prevent erroneous recognition by the operator.

【0041】また上記実施例においては、判別された品
種の組み合わせに対応するボンディング情報が自動的に
読み取られる構成のため、作業者による操作ミスも防止
できる。
Further, in the above-mentioned embodiment, since the bonding information corresponding to the determined combination of types is automatically read, it is possible to prevent the operator from making an operation error.

【0042】従って本実施例によれば、半導体ペレット
2並びにリードフレーム3の品種に応じたボンディング
情報を、容易にしかも確実に設定することができる。
Therefore, according to this embodiment, the bonding information according to the types of the semiconductor pellet 2 and the lead frame 3 can be set easily and surely.

【0043】なお上記実施例においては、半導体ペレッ
ト2並びにリードフレーム3の品種が判別されると、こ
の品種の組み合わせに対応するボンディング情報が自動
的に読み出されるようにしたが、品種の判別は上記実施
例と同様にして行ない、作業者が表示部55に表示され
た品種を頼りに、ワイヤボンディング装置1に設けられ
た不図示の操作パネルなどからその品種をキー入力する
ようにしても、本発明の第1の目的は十分に達成できる
ものである。この場合、制御装置50においては、その
品種入力信号に基づき、以後ボンディング情報を設定部
52から得ることとなる。
In the above embodiment, when the type of the semiconductor pellet 2 and the lead frame 3 is determined, the bonding information corresponding to the combination of this type is automatically read out. Even if the operation is performed in the same manner as in the embodiment and the operator relies on the product type displayed on the display unit 55 to key in the product type from an operation panel (not shown) provided in the wire bonding apparatus 1 or the like, The first object of the invention can be sufficiently achieved. In this case, the control device 50 subsequently obtains the bonding information from the setting unit 52 based on the product type input signal.

【0044】また実施例では、供給部10のマガジン1
1から最初に供給されるリードフレーム3乃至半導体ペ
レット2に対してのみその品種判別作業を行なうように
したが、マガジン11から供給されるリードフレーム3
ごとに、この判別作業を行なうようにしても良い。この
場合、同一マガジン11から供給されたにもかかわら
ず、判別された品種が今までと相違した場合にエラー信
号を出すようにしておけば、マガジン11内に異なるリ
ードフレームが混在していた場合でも、ボンディング前
にそれを見つけ出すことができる。
In the embodiment, the magazine 1 of the supply unit 10 is also used.
Although the type discrimination work is performed only on the lead frame 3 to the semiconductor pellets 2 firstly supplied from 1, the lead frame 3 supplied from the magazine 11
This determination work may be performed every time. In this case, if different types of lead frames are mixed in the magazine 11 if an error signal is output when the discriminated product type is different from the past even though they are supplied from the same magazine 11. But you can figure it out before bonding.

【0045】また上記実施例において、ワイヤボンディ
ング装置1がインラインに組み込まれていて、ホストコ
ンピュータからの指令によってそのボンディング情報の
設定が行なわれるような場合には、半導体ペレット2並
びにリードフレーム3の品種の判別結果をチェック機能
に用いることもできる。これは、ホストコンピュータに
よって指定されたボンディング情報によってボンディン
グされるべき半導体ペレット2とリードフレーム3の品
種情報と、実際にワイヤボンディング装置1に供給され
た半導体ペレット2、リードフレーム3に対して比較部
53が判別した品種判別情報とを比較し、一致するか否
かを確認するものである。
Further, in the above embodiment, when the wire bonding apparatus 1 is incorporated in-line and the setting of the bonding information is performed by the command from the host computer, the types of the semiconductor pellet 2 and the lead frame 3 are different. It is also possible to use the determination result of the check function for the check function. This is a comparison unit for the type information of the semiconductor pellet 2 and the lead frame 3 to be bonded according to the bonding information designated by the host computer, and the semiconductor pellet 2 and the lead frame 3 actually supplied to the wire bonding apparatus 1. The information is compared with the product type identification information determined by 53 to confirm whether or not they match.

【0046】さらに実施例では、本発明をワイヤボンデ
ィング装置に適用した例を用いて説明したが、本発明の
適用対象はワイヤボンディング装置に限られることな
く、例えばペレットボンディング装置であってもよい。
この場合、リードフレームの品種は上記実施例と同様に
して判別し、半導体ペレットにおいては、供給位置に位
置付けられた半導体ペレットまたはウェハ状態の半導体
ペレットに付された品種識別記号を、この供給位置に配
置された認識カメラにて撮像し、その撮像画像に基づき
半導体ペレットの品種を判別するようにすると良い。
Further, in the embodiment, the example in which the present invention is applied to the wire bonding apparatus has been described, but the application target of the present invention is not limited to the wire bonding apparatus, and may be, for example, a pellet bonding apparatus.
In this case, the type of the lead frame is determined in the same manner as in the above embodiment, and in the case of semiconductor pellets, the type identification code attached to the semiconductor pellet positioned at the supply position or the semiconductor pellet in the wafer state is set to this supply position. It is preferable that an image is picked up by a recognition camera provided and the type of semiconductor pellet is discriminated based on the picked-up image.

【0047】[0047]

【発明の効果】本発明は、半導体ペレット並びにリード
フレームの品種に応じた作業情報を容易に設定すること
ができ、さらには確実に設定することができる。
According to the present invention, work information can be easily set according to the types of semiconductor pellets and lead frames, and moreover, can be set reliably.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明に係わるワイヤボンディング装置の一構
成図である。
FIG. 1 is a configuration diagram of a wire bonding apparatus according to the present invention.

【図2】図1の要部構成図である。FIG. 2 is a configuration diagram of a main part of FIG.

【図3】半導体ペレットと基準パターンとの対応表であ
る。
FIG. 3 is a correspondence table of semiconductor pellets and reference patterns.

【図4】リードフレームと基準パターンとの対応表であ
る。
FIG. 4 is a correspondence table of lead frames and reference patterns.

【図5】半導体ペレットとリードフレームとの組合わせ
に対応するボンディング情報を示すマトリックス表であ
る。
FIG. 5 is a matrix table showing bonding information corresponding to a combination of a semiconductor pellet and a lead frame.

【図6】半導体ペレットの要部拡大図である。FIG. 6 is an enlarged view of a main part of a semiconductor pellet.

【図7】リードフレームの要部拡大図である。FIG. 7 is an enlarged view of a main part of a lead frame.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 ワイヤボンディング装置 2(a〜d)半導体ペレット 3(a〜d)リードフレーム 5 半導体ペレットに付された品種識別記号 6 リードフレームに付された品種識別記号 10 供給部 20 搬送手段 30 収納部 40 ボンディングヘッド 42 ボンディングアーム 43 キャピラリ 44 カメラ(撮像手段) 45 画像処理装置(画像処理手段) 50 制御装置 51 制御部 52 設定部(設定手段) 53 比較部(品種判別手段) 54 記憶部 55 表示部(表示手段) DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Wire bonding apparatus 2 (a-d) Semiconductor pellet 3 (a-d) Lead frame 5 Type identification code attached to a semiconductor pellet 6 Type identification symbol attached to a lead frame 10 Supply part 20 Conveying means 30 Storage part 40 Bonding head 42 Bonding arm 43 Capillary 44 Camera (imaging means) 45 Image processing device (image processing means) 50 Control device 51 Control section 52 Setting section (setting means) 53 Comparison section (product type determination means) 54 Storage section 55 Display section ( Display means)

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 半導体ペレット並びにリードフレーム個
々に設けられた品種判別部位を撮像する撮像手段と、こ
の撮像手段が撮像した画像を処理する画像処理手段と、
複数種の前記半導体ペレット並びに前記リードフレーム
個々の品種判別部位の基準パターンが設定される設定手
段と、前記画像処理手段にて処理された画像パターンに
基づき、前記設定手段に設定された複数の基準パターン
の中からこの画像パターンと一致する基準パターンを見
つけ出し、これにより前記半導体ペレット並びに前記リ
ードフレームの品種をそれぞれ判別する品種判別手段
と、品種判別手段にて判別した品種を表示する表示手段
とを有することを特徴とする半導体装置の製造装置。
1. An image pickup means for picking up an image of a product type discrimination portion provided on each of the semiconductor pellet and the lead frame, and an image processing means for processing an image picked up by the image pickup means.
Setting means for setting a reference pattern of a plurality of types of semiconductor pellets and individual lead frame type discrimination parts, and a plurality of references set in the setting means based on the image pattern processed by the image processing means A reference pattern that matches the image pattern is found from the patterns, and a type determination unit that determines the type of each of the semiconductor pellet and the lead frame by this, and a display unit that displays the type determined by the type determination unit. An apparatus for manufacturing a semiconductor device having.
【請求項2】 半導体ペレット並びにリードフレーム個
々に設けられた品種判別部位を撮像する撮像手段と、こ
の撮像手段が撮像した画像を処理する画像処理手段と、
複数種の前記半導体ペレット並びに前記リードフレーム
個々の品種判別部位の基準パターン、並びに品種ごとに
前記半導体ペレットと前記リードフレームとの複数の組
み合わせに対応する作業情報が設定される設定手段と、
前記画像処理手段にて処理された画像パターンに基づ
き、前記設定手段に設定された複数の基準パターンの中
からこの画像パターンと一致する基準パターンを見つけ
出し、これにより前記半導体ペレット並びに前記リード
フレームの品種をそれぞれ判別する品種判別手段と、品
種判別手段にて判別した前記半導体ペレットの品種並び
に前記リードフレームの品種の組み合わせに対応する作
業情報を前記設定手段から得てこの作業情報に基づいて
作業部を駆動制御する制御手段とを有することを特徴と
する半導体装置の製造装置。
2. An image pickup means for picking up an image of a product type discrimination portion provided on each of the semiconductor pellet and the lead frame, and an image processing means for processing an image picked up by the image pickup means.
A plurality of types of the semiconductor pellets and the reference pattern of the type discrimination portion of each of the lead frames, and setting means for setting work information corresponding to a plurality of combinations of the semiconductor pellets and the lead frame for each type,
Based on the image pattern processed by the image processing means, a reference pattern that matches the image pattern is found from among the plurality of reference patterns set by the setting means, and by this, the type of the semiconductor pellet and the lead frame. And the work information corresponding to the combination of the type of the semiconductor pellet and the type of the lead frame, which are determined by the type determining unit, is obtained from the setting unit, and the working unit is determined based on this work information. An apparatus for manufacturing a semiconductor device, comprising: a control unit that controls driving.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7555358B2 (en) 1997-03-24 2009-06-30 Micron Technology, Inc. Process and method for continuous, non lot-based integrated circuit manufacturing

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US7555358B2 (en) 1997-03-24 2009-06-30 Micron Technology, Inc. Process and method for continuous, non lot-based integrated circuit manufacturing

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