JP7373378B2 - レンズ測定装置 - Google Patents

Description

本開示は、レンズ測定装置に関する。

レンズ測定装置は、被検レンズの球面度数、円柱度数（乱視度数）、円柱軸角度（乱視軸角度）、プリズム値（プリズム度数およびプリズム基底方向）等の光学特性値を算出するものがある。

レンズ測定装置は、被検レンズにおける所定の範囲の光学特性値を算出し、その光学特性値の分布を示すマッピング画像を被検レンズの大きさに合わせて表示することが考えられている（例えば、特許文献１参照）。このレンズ測定装置は、表示したマッピング画像に被検レンズを重ねることで、光学特性値の分布を把握させることができる。

特開２００６－１０５８６８号公報

ところで、被検レンズでは、所定の特徴点における光学特性値を求められることがある。しかしながら、上記のレンズ測定装置は、マッピング画像により被検レンズにおける光学特性値の分布の把握はできるが、特徴点の光学特性値を把握することが困難である。

本開示は、上記の事情に鑑みて為されたもので、被検レンズにおける所定の特徴点の光学特性値を把握させることのできるレンズ測定装置を提供することを目的とする。

上記した課題を解決するために、本開示のレンズ測定装置は、被検レンズに測定光を投光する投光光学系と、前記被検レンズを透過した前記測定光を受光する受光光学系と、前記受光光学系により受光された測定光に基づいて前記被検レンズの光学特性値を算出する光学特性算出部と、前記被検レンズにおける特徴点を検出する特徴点検出部と、前記光学特性算出部による算出結果から前記特徴点における光学特性値を抽出する特徴点特性抽出部と、前記特徴点特性抽出部が求めた前記特徴点の光学特性値を出力する光学特性出力部と、を備えることを特徴とする。

本開示のレンズ測定装置によれば、被検レンズにおける所定の特徴点の光学特性値を把握させることができる。

本開示に係るレンズ測定装置の一例としての実施例１のレンズ測定装置の全体構成を示す説明図である。 レンズ測定装置の測定光学系の構成を示す説明図である。 測定光学系のパターン板の一例としてのハルトマンプレートの構成を示す説明図である。 レンズ測定装置の制御系の構成を示すブロック図である。 レンズ画像とマッピング画像との重畳画像に特徴点指標を重畳させた画像の一例を表す説明図である。 レンズ測定装置の制御部で実行される測定制御処理（測定制御方法）を示すフローチャートである。

以下に、本開示に係るレンズ測定装置の一実施形態としてのレンズ測定装置１０の実施例１について図１から図６を参照しつつ説明する。なお、図５では、重畳画像Ｉｓにおいて、実際には眼鏡Ｇを写した画像が示されているが、理解を容易とするために眼鏡Ｇ、眼鏡フレームＦ、鼻当てＮｐ、枠入レンズＬｆの符号を付している。

レンズ測定装置１０は、被検レンズＬの光学特性を測定して光学測定値を算出するものであり、実施例１では算出した光学測定値の分布を示すマッピング画像Ｉｍとして表示できる。その被検レンズＬは、円形の未加工レンズや、眼鏡用に研削加工されたレンズや、眼鏡フレームＦへの枠入りにより固定（装着）されて眼鏡Ｇとして構成された枠入レンズＬｆ等が用いられる。その眼鏡フレームＦは、ツーポイントフレームやナイロン糸等を用いたフチ無しフレームも含む。レンズ測定装置１０は、図１に示すように、装置本体１１に表示部１２とレンズ保持機構１３と撮像部１４とが設けられて構成されている。

装置本体１１は、全体に箱状とされている。装置本体１１は、上側収容部１１ａと下側収容部１１ｂとが間隔を置いて上下に並べられており、その中間位置にレンズセット空間１５が設けられている。上側収容部１１ａは、投光光学系２０を収容しており、下側収容部１１ｂは、受光光学系３０を収容しており、レンズセット空間１５は、被検レンズＬの配置を可能とする。レンズ測定装置１０は、レンズセット空間１５に配置された被検レンズＬへ向けて投光光学系２０が測定光を投光し、その被検レンズＬを透過した測定光を受光光学系３０が受光することで、被検レンズＬの光学特性を測定する。その投光光学系２０および受光光学系３０は、レンズ測定装置１０における測定光学系Ｏｍであり、その構成については後述する。

表示部１２は、装置本体１１の上側収容部１１ａの前面上部に設けられている。表示部１２は、液晶ディスプレイや有機ＥＬディスプレイ等で構成された表示画面１２ａを有し、実施例１では表示画面１２ａをタッチパネル式としている。この表示部１２（表示画面１２ａ）は、後述する制御部５２の制御下で、被検レンズＬの特徴点Ｐｆにおける光学特性値（球面度数、円柱度数、円柱軸角度、プリズム度数、プリズム基底方向等）や、被検レンズＬの光学特性値の分布を表すマッピング画像Ｉｍ等を表示する。また、表示部１２は、後述する特徴点Ｐｆの光学特性値（それを示す特徴点特性欄Ｃｃ）を表示させることができる。このため、表示部１２は、特徴点Ｐｆの光学特性値を出力する光学特性出力部の一例として機能する。

実施例１の表示画面１２ａは、タッチパネル式とされることで、レンズ測定装置１０における操作を行うための操作部１６としての機能も併せ持つ。操作部１６は、測定モードの切り換えや、測定の開始および停止や、測定や表示やその他における各種の設定等の操作を行うものであり、それぞれの操作を示すアイコンとして表示される。なお、操作部１６は、表示画面１２ａの周辺に設けたボタンやスイッチで構成してもよく、キーボード、マウス、コントロールレバー等の入力装置としてもよく、他の構成でもよく、実施例１の構成に限定されない。

レンズ保持機構１３は、レンズセット空間１５に設けられている。レンズ保持機構１３は、レンズ押え部材１３ａと支持ピン１３ｂと鼻当支持部材１３ｃとレンズテーブル１３ｄとを有する。レンズ押え部材１３ａは、駆動機構により上方の対比位置と下方の押え位置との間で回転可能とされており、被検レンズＬを上方向から押えることができる。支持ピン１３ｂは、被検レンズＬを下方から点で支持する。支持ピン１３ｂの下端は、後述するハルトマンプレート３１（図２参照）に接続されており、被検レンズＬとハルトマンプレート３１との間の距離を一定に保持する。このレンズ押え部材１３ａおよび支持ピン１３ｂは、左右で対を為して設けられ、眼鏡フレームＦに枠入れされた左右一対の枠入レンズＬｆに対応可能とされている。

鼻当支持部材１３ｃは、標準的な鼻の大きさに合わせて湾曲された円柱曲面とされており、水平方向に移動可能に設けられている。鼻当支持部材１３ｃは、眼鏡フレームＦの鼻当てＮｐが載せられると、その鼻当てＮｐに嵌ることで眼鏡フレームＦを固定する。レンズテーブル１３ｄは、駆動機構によりレンズセット空間１５内で前後方向に移動可能とされており、鼻当支持部材１３ｃにより固定された眼鏡フレームＦにおける両枠入レンズＬｆに接触されることで、眼鏡フレームＦの姿勢を定めてレンズセット空間１５内での両被検レンズＬの位置決めを補助する。

レンズ保持機構１３は、支持ピン１３ｂ上に被検レンズＬが置かれて操作部１６で開始のための操作が為されると、レンズ押え部材１３ａを下方へ向けて回転させて、支持ピン１３ｂ上の被検レンズＬをレンズ押え部材１３ａで押さえる。また、レンズ保持機構１３は、被検レンズＬが枠入レンズＬｆの場合には、鼻当てＮｐが鼻当支持部材１３ｃに嵌められつつ一対の枠入レンズＬｆが一対の支持ピン１３ｂ上に置かれた状態で、各枠入レンズＬｆをレンズ押え部材１３ａで押さえる。そして、レンズ保持機構１３は、レンズテーブル１３ｄを移動させることで、被検レンズＬ（枠入レンズＬｆ）のセット位置（後述する測定光学系Ｏｍの測定光軸Ｌｍに対する被検レンズＬの位置）を自動的に調整する。

実施例１のレンズ保持機構１３には、鼻当位置センサ１３ｅとテーブル位置センサ１３ｆとが設けられている（図４参照）。鼻当位置センサ１３ｅは、鼻当支持部材１３ｃの水平方向の位置を検出し、テーブル位置センサ１３ｆは、レンズテーブル１３ｄの前後方向の位置を検出する。この鼻当位置センサ１３ｅとテーブル位置センサ１３ｆとは、ポテンショメータ等で構成でき、それぞれが検出した鼻当支持部材１３ｃやレンズテーブル１３ｄの位置の情報を後述する特徴点検出部５７に出力する。

なお、レンズ測定装置１０では、レンズセット空間１５内に、レンズ保持機構１３に保持された被検レンズＬに印点を行う印点装置を設けてもよい。

［光学系の構成］
次に、レンズ測定装置１０における測定光学系Ｏｍの構成について、図２および図３を用いて説明する。図２は、レンズ保持機構１３に一対の枠入レンズＬｆが保持されて測定可能とされた状態を示している。測定光学系Ｏｍは、被検レンズＬの光学特性値を測定するためのものであり、投光光学系２０と受光光学系３０とを有している。また、この実施例１のレンズ測定装置１０は、一対の測定光学系Ｏｍを有しており、被検レンズＬとして枠入レンズＬｆを用いた場合には左右の枠入レンズＬｆを同時に測定可能となっている。

投光光学系２０は、被検レンズＬに対して測定光を投光する光学系である。投光光学系２０は、測定光学系Ｏｍの測定光軸Ｌｍ上に設けられた、光源２１とコリメータレンズ２２とを有する。光源２１は、測定光を出射するもので、実施例１ではＬＥＤ（発光ダイオード）を用いている。コリメータレンズ２２は、光源２１からの測定光を平行光にして被検レンズＬに投光する。なお、投光光学系２０は、光源２１からコリメータレンズ２２に至る光路上や、コリメータレンズ２２から被検レンズＬに至る光路上にミラーを設け、そのミラーで測定光を反射させることで光路を折り曲げる構成としてもよい。このような構成とすると、レンズ測定装置１０を小型化することができる。

受光光学系３０は、投光光学系２０により投光されて被検レンズＬを通過した測定光を受光する光学系である。受光光学系３０は、測定光学系Ｏｍの測定光軸Ｌｍ上に設けられた、ハルトマンプレート３１とスクリーン３２とフィールドレンズ３３と結像レンズ３４と測定用受光素子３５とを有する。そのスクリーン３２と測定用受光素子３５とは、互いに光学的に共役な位置に配置されている。

ハルトマンプレート３１は、被検レンズＬを通過した測定光を複数の分割測定光束に分離するパターン板である。このハルトマンプレート３１は、図３に示すように、縦横に（２次元的に）等間隔に配置された多数の円形の開口部３１ａを有する。各開口部３１ａは、間隔が適宜設定されていればよく、実施例１では２ミリメートル間隔で縦横に配列されている。被検レンズＬを透過した測定光は、ハルトマンプレート３１の各開口部３１ａを透過することで、複数の分割測定光束に分離（変換）される。なお、ハルトマンプレート３１は、被検レンズＬの光学特性の算出を可能とするために、被検レンズＬを通過した測定光を複数の分割測定光束に分離するパターン板であれば、他の構成でもよく、実施例１の構成に限定されない。

スクリーン３２には、図２に示すように、ハルトマンプレート３１の各開口部３１ａにより分離された複数の分割測定光束が投影される。複数の分割測定光束は、それぞれが被検レンズＬの光学特性値に応じてスクリーン３２における投影位置や形状が変位される。このため、各分割測定光束により形成される投影パターンは、被検レンズＬの光学特性値に応じて、スクリーン３２上で縮小または拡大されたり歪んだりする。このスクリーン３２に投影された各分割測定光束は、フィールドレンズ３３と結像レンズ３４とを経ることで、スクリーン３２と共役に配置された測定用受光素子３５に結像される。このため、フィールドレンズ３３と結像レンズ３４とは、スクリーン３２の各分割測定光束を測定用受光素子３５に結像する結像光学系として機能する。

測定用受光素子３５は、各分割測定光束を受光して電気信号（画像信号）に変換して出力するもので、実施例１ではＣＣＤ（Charge Coupled Devise）で構成されている。この測定用受光素子３５から出力される画像信号には、各分割測定光束のそれぞれについての受光位置および受光像の形状を示す情報が含まれている。この情報は、測定用受光素子３５の各画素の位置（座標）として表現される。

受光光学系３０では、ハルトマンプレート３１上に２次元座標を定義している。この２次元座標の原点は、任意の位置に設定することができ、例えば測定光学系Ｏｍの測定光軸Ｌｍ（図２参照）やハルトマンプレート３１の中心やその一頂点等とする。また、受光光学系３０では、ハルトマンプレート３１上の座標と同様の座標がスクリーン３２上や、レンズ保持機構１３に保持された被検レンズＬの裏面（支持ピン１３ｂへの当接面）や、測定用受光素子３５の受光面上にも同様の座標が定義される。この定義された座標が、受光光学系３０における座標となり、測定光学系Ｏｍの測定範囲となる。

［撮像部の詳細構成］
撮像部１４は、装置本体１１の上側収容部１１ａにおいて、一対の投光光学系２０の間に配置されている。撮像部１４は、各投光光学系２０の測定光軸Ｌｍと平行な方向で、レンズ保持機構１３に保持された被検レンズＬを撮像する。実施例１の撮像部１４は、レンズ保持機構１３に保持された被検レンズＬとしての左右一対の枠入レンズＬｆの全体を同時に撮像可能とされている。この撮像部１４は、例えば単眼式のデジタルカメラであり、撮像光学系４１と撮像素子４２とを有している。

撮像光学系４１は、複数のレンズから構成され、レンズ保持機構１３に保持された被検レンズＬ（一対の枠入レンズＬｆの場合も含む）の被写体像を撮像素子４２上に形成する。撮像素子４２は、撮像光学系４１により形成された被写体像を電気信号（画像信号）に変換して出力する。

［制御系の詳細構成］
次に、レンズ測定装置１０の制御系の構成を、図４を用いて説明する。レンズ測定装置１０は、ＣＰＵ（Central Processing Unit）５０と記憶部５１とを有する。記憶部５１は、ＲＯＭ（Read Only Memory）やＨＤＤ（Hard Disk Drive）やＥＥＰＲＯＭ（Electrically Erasable Programmable ROM）等により構成されて必要な制御プログラムを格納している。

ＣＰＵ５０は、記憶部５１に格納された制御プログラムを、例えばＲＡＭ（Random Access Memory）よって構成された内部メモリ上に展開することにより、レンズ測定装置１０の各部の動作制御や光学特性値の算出処理などを実行する。ＣＰＵ５０は、この制御プログラムにより、制御部５２、光学特性算出部５３、マッピング形成部５４、レンズ画像取得部５５、重畳画像生成部５６、特徴点検出部５７、特徴点特性抽出部５８、画像制御部５９、誤差算出部６１、誤差判別部６２として動作する。

制御部５２は、レンズ測定装置１０の各部の動作を統括的に制御する。制御部５２は、例えば、投光光学系２０の光源２１の点灯や消灯の制御処理、上記の各部（符号５３から５９、６１、６２）における信号のやり取りの動作の制御処理、測定用受光素子３５からの画像信号や撮像素子４２からの撮像信号やマッピング形成部５４からのマッピング画像Ｉｍや特徴点特性抽出部５８からの光学特性値や画像制御部５９からの重畳画像Ｉｓ等の記憶部５１への記憶処理および読出処理等を行う。

光学特性算出部５３は、測定用受光素子３５から入力される画像信号に基づいて、各分割測定光束の投影パターンにおける、縮小または拡大による大きさの変化と、歪みによる形状の変化と、を解析することにより、被検レンズＬの光学特性値を算出する処理を行う。その光学特性値は、被検レンズＬの各部の球面度数、円柱度数、円柱軸角度、プリズム度数、プリズム基底方向等である。この算出のために、レンズ測定装置１０では、被検レンズＬが置かれていない状態でハルトマンプレート３１を経た各分割測定光束について、スクリーン３２上や測定用受光素子３５（その受光面）での受光位置（座標）を示すデータや、受光像（受光点）の形状を示すデータ等の基準データを予め用意している。この基準データは、例えば、記憶部５１内の制御プログラムに格納されている。

光学特性算出部５３は、被検レンズＬの測定が行われると、測定用受光素子３５からの画像信号に基づいて各分割測定光束の受光位置および受光像の形状を解析して取得し、その解析結果を基準データと比較することにより、被検レンズＬの各部の光学特性値を算出する。これにより、光学特性算出部５３は、被検レンズＬにおける測定光学系Ｏｍの測定範囲内の全ての位置の光学特性値を算出する。この光学特性値の算出については、従来と同様であるので、詳細な説明は省略する。光学特性算出部５３は、算出した光学測定値の数値データを、マッピング形成部５４、特徴点特性抽出部５８、画像制御部５９へと出力する。

マッピング形成部５４は、被検レンズＬの光学特性値の分布を表すマッピング画像Ｉｍ（図５参照）を形成する処理を行う。マッピング形成部５４は、光学特性算出部５３により算出された被検レンズＬの各位置（座標）の光学特性値のうち、光学特性値が等しい位置を、等高線のように等度数線によって結ぶことで、被検レンズＬの光学特性値の分布を表すマッピング画像Ｉｍを形成する。なお、図５には、マッピング画像Ｉｍの一例として、球面度数（Ｓ）および円柱度数（Ｃ）の分布を示す複合マップを示している。マッピング形成部５４は、形成したマッピング画像Ｉｍの画像データを重畳画像生成部５６へと出力する。

レンズ画像取得部５５は、撮像部１４の撮像素子４２から入力される撮像信号、つまり、撮像素子４２によって光電変換された被写体像から、撮像部１４が撮像した被検レンズＬの画像を取得する。実施例１のレンズ画像取得部５５は、取得する被検レンズＬの画像を静止画像としているが、動画であってもよい。レンズ画像取得部５５は、取得した被検レンズＬの画像に対して、座標変換やコントラスト調整や色変換（半透明やセピアカラーとする等）や明るさ調整やフィルタ処理等の必要な処理や加工を実施したレンズ画像Ｉｒとする。その必要な処理や加工には、レンズ画像Ｉｒをマッピング画像Ｉｍよりも目立たなくさせる処理を含めてもよい。レンズ画像取得部５５は、取得したレンズ画像Ｉｒ（その画像データ）を、重畳画像生成部５６へと出力する。

重畳画像生成部５６は、マッピング形成部５４によって形成されたマッピング画像Ｉｍと、レンズ画像取得部５５によって取得されたレンズ画像Ｉｒと、を重畳して重畳画像Ｉｓを生成する。このとき、重畳画像生成部５６は、被検レンズＬに対するマッピング画像Ｉｍの倍率と、被検レンズＬに対するレンズ画像Ｉｒの倍率とを一致させた状態とする。また、重畳画像生成部５６は、マッピング画像Ｉｍ内にマップ内基準位置を設定するとともにレンズ画像Ｉｒ内に撮像内基準位置を設定し、両基準位置が予め設定した位置関係になるよう、マッピング画像Ｉｍの配置（位置、向き等）を決定し、決定した配置でマッピング画像Ｉｍをレンズ画像Ｉｒに重畳する。実施例１の重畳画像生成部５６は、受光光学系３０の座標（ハルトマンプレート３１上や測定用受光素子３５の受光面上等に定義した座標）と、撮像部１４における撮影光軸と、の位置関係を用いることで、両基準位置を予め設定した位置関係として重畳画像Ｉｓを生成する。この受光光学系３０の座標と撮像部１４の撮影光軸とは、レンズ測定装置１０での初期設定から位置関係を取得できる。このため、重畳画像Ｉｓは、レンズ画像Ｉｒ上の任意の位置がマッピング画像Ｉｍ上の何処の位置に対応するのかを容易に把握させることができ、そのマッピング画像Ｉｍから対応する位置での光学特性値を取得することで、レンズ画像Ｉｒ上の任意の位置の光学特性値の取得を可能とする。

ここで、重畳画像生成部５６は、マッピング画像Ｉｍおよびレンズ画像Ｉｒを両方とも半透明に画像加工し、半透明状態のマッピング画像Ｉｍとレンズ画像Ｉｒを重ねることで、両者が重畳した領域であっても、両方の画像が目視できる重畳画像Ｉｓを生成する。また、重畳画像生成部５６は、マッピング画像Ｉｍおよびレンズ画像Ｉｒのいずれか一方を半透明に加工し、マッピング画像Ｉｍとレンズ画像Ｉｒを重ねる際、半透明状態の画像が前面に位置するように重畳することで、両方の画像が目視できる重畳画像Ｉｓを生成してもよい。図５には、上記の複合マップとしての重畳画像Ｉｓを示しており、レンズ画像Ｉｒにおいて被検レンズＬ内の一部の領域にマッピング画像Ｉｍを重畳した例を示している。

特徴点検出部５７は、被検レンズＬにおける特徴点Ｐｆを検出する。その特徴点Ｐｆは、被検レンズＬにおいて光学的に特徴のある箇所や、被検レンズＬに指標が形成された箇所である。その光学的に特徴のある箇所としては、後面頂点、前面頂点、遠用度数測定位置（Ｆ点）、近用度数測定位置（Ｎ点）、遠用ポイント、近用ポイント、累進帯の中心線、累進帯長、幾何学的光学中心、プリズム測定点、アイポイント等があげられる。また、その指標は、印点インクによる印点マーク、アイポイントを示すマジック印、ペイント印等の被検レンズＬに直接描かれたり、刻印されたり、貼付されたりした目印や、被検レンズＬに設けられた隠しマーク等があげられる。特徴点Ｐｆは、上記したうちのいずれを対象とするのかは、予め設定されていてもよく、操作部１６への操作により設定するものとしてもよい。特徴点検出部５７は、設定された対象に応じて、これらの光学的に特徴のある箇所や指標を検出することで、被検レンズＬにおける特徴点Ｐｆを検出する。この特徴点Ｐｆは、様々な手法で検出することができ、実施例１では３つの手法を例示している。

１つ目の手法は、レンズ画像取得部５５で取得したレンズ画像Ｉｒにおいて、被検レンズＬの外周縁Ｏｐ（輪郭）を検出し、その外周縁Ｏｐに基づいて特徴点Ｐｆを検出する。すなわち、特徴点検出部５７は、レンズ画像Ｉｒを解析することで、被検レンズＬの外周縁Ｏｐのレンズ画像Ｉｒ上での座標を検出する。そして、特徴点検出部５７は、検出した外周縁Ｏｐ（その座標）に対して所定の位置関係となる位置を特徴点Ｐｆとする。特徴点検出部５７は、例えば、被検レンズＬの使用状態において、外周縁Ｏｐの内側の端部から水平方向で所定の距離で、かつ外周縁Ｏｐの下側の端部から鉛直方向で所定の距離となる位置となる座標を特徴点Ｐｆとする。この所定の距離は、特徴点Ｐｆとしようとしている光学的に特徴のある箇所の種類に応じた平均値等に基づいて適宜設定する。

２つ目の手法は、レンズ画像取得部５５で取得されたレンズ画像Ｉｒにおいて、被検レンズＬの指標を検出し、その指標を特徴点Ｐｆとする。すなわち、特徴点検出部５７は、レンズ画像Ｉｒを解析することで、被検レンズＬに設けられた指標を検出し、その指標の位置を特徴点Ｐｆとする。このとき、特徴点検出部５７は、例えば、指標が刻印や貼付や隠しマーク等であって検出が困難である場合、被検レンズＬに対して様々な方向から光を照射した状態のレンズ画像Ｉｒをレンズ画像取得部５５に取得させることで、指標の検出を容易なものにできる。

３つ目の手法は、レンズ保持機構１３による保持位置に基づいて特徴点Ｐｆを検出する。すなわち、特徴点検出部５７は、レンズ保持機構１３における鼻当支持部材１３ｃの位置から瞳孔間距離（平均値でもよく実測値でもよい）に基づいて水平方向で所定の距離となる位置を算出し、レンズテーブル１３ｄの位置から固定された眼鏡フレームＦにおける被検レンズＬの外周縁Ｏｐの下側の端部とからの鉛直方向で所定の距離となる位置を算出する。この鼻当支持部材１３ｃおよびレンズテーブル１３ｄの位置は、鼻当位置センサ１３ｅおよびテーブル位置センサ１３ｆから取得できる。また、レンズ測定装置１０では、初期設定から、レンズ保持機構１３における鼻当支持部材１３ｃやレンズテーブル１３ｄの基準位置に対する撮像部１４の撮影光軸の位置関係を取得できる。これらにより、特徴点検出部５７は、レンズ画像Ｉｒにおいて、算出した水平方向および鉛直方向で所定の距離となる位置を、特徴点Ｐｆとして検出する。このときの所定の距離は、１つ目の手法と同様のものを用いることができる。

特徴点検出部５７は、上記したように特徴点Ｐｆを検出し、その特徴点Ｐｆの座標（そのデータ）を特徴点特性抽出部５８へと出力する。ここで、特徴点検出部５７は、上記のように特徴点Ｐｆとして様々なものを設定可能であることから、複数の特徴点Ｐｆを検出することができる。例えば、特徴点検出部５７は、１つ目または３つ目の手法を用いて、予め定められた所定の位置を検出して第１の特徴点Ｐｆ１とするとともに、レンズ画像Ｉｒに基づいて被検レンズＬに指標が設けられているか否かを判定し、設けられていると判定した場合には、２つ目の手法を用いてレンズ画像Ｉｒ上での指標の座標を検出して第２の特徴点Ｐｆ２としてもよい（図５参照）。この検出する特徴点Ｐｆの数は、予め設定されていてもよく、操作部１６への操作により設定するものとしてもよい。

特徴点特性抽出部５８は、特徴点検出部５７で検出された特徴点Ｐｆにおける被検レンズＬの光学特性値を、光学特性算出部５３が算出した光学測定値の数値データから抽出する。特徴点特性抽出部５８は、特徴点検出部５７から特徴点Ｐｆのレンズ画像Ｉｒ上での座標を取得し、その座標から重畳画像Ｉｓすなわちマッピング画像Ｉｍ上の対応する座標を取得し、それに基づいて光学特性算出部５３からの数値データにおいてハルトマンプレート３１おける特徴点Ｐｆに対応する座標位置での光学特性値を求めることで、特徴点Ｐｆにおける光学特性値を抽出する。

特徴点特性抽出部５８は、被検レンズＬにおける特徴点Ｐｆでの光学特性値（球面度数、円柱度数、円柱軸角度、プリズム度数、プリズム基底方向等）と、処方箋の光学特性値と、の差分（以下では光学特性ズレ量とする）を求めるものとしてもよい。この処方箋は、メガネ装用者の視力を適切に矯正できる被検レンズＬとするためのもので、特定の特徴点Ｐｆにおける光学特性値を含んでいる。このため、光学特性ズレ量は、被検レンズＬ（枠入レンズＬｆ）が適切に形成されている場合には、それぞれが０（ゼロ）となる。換言すると、光学特性ズレ量の有無またはその大きさにより、被検レンズＬ（枠入レンズＬｆ）が適切であるか否かやその適切度合いの判断材料にできる。

画像制御部５９は、表示部１２（その表示画面１２ａ）に各種画像を表示させるための制御を行う。画像制御部５９は、撮像素子４２の受光面上の座標と表示部１２の表示画面１２ａ上の座標とを関連付ける情報をあらかじめ備えており、この情報に基づいて撮像素子４２による受光像を表示部１２に表示させる。その一つとして、画像制御部５９は、重畳画像生成部５６が生成した重畳画像Ｉｓ（図５参照）を表示部１２に表示させる。実施例１の画像制御部５９は、図５に示すように、重畳画像Ｉｓに特徴点特性欄Ｃｃを重ねて表示部１２に表示させている。この特徴点特性欄Ｃｃは、特徴点検出部５７で検出された特徴点Ｐｆにおける光学特性値を示すもので、図５の例では左右の被検レンズＬのそれぞれの球面度数（Ｓ）、円柱度数（Ｃ）、円柱軸角度（Ａ）、プリズム度数（Ｐ）、加入度数（ＡＤＤ）を数値によって示している。

また、画像制御部５９は、重畳画像Ｉｓにおいて、特徴点Ｐｆの位置を示す特徴点指標ｍを重畳させることができる。この特徴点指標ｍは、複数の特徴点Ｐｆを検出する設定とされている場合には、それぞれの位置に重畳される。例えば、上記のように第１の特徴点Ｐｆ１と第２の特徴点Ｐｆ２とを検出する設定の場合には、図５に示すように、第１の特徴点Ｐｆ１に対応する第１の特徴点指標ｍ１と、第２の特徴点Ｐｆ２に対応する第２の特徴点指標ｍ２と、を重畳した重畳画像Ｉｓを表示部１２に表示させる。その図５に示す重畳画像Ｉｓは、遠用度数測定位置としての第１の特徴点Ｐｆ１の座標位置を示す第１の特徴点指標ｍ１と、実際のメガネ装用者の遠用アイポイントを示すマジック印（指標）の座標位置を示す第２の特徴点指標ｍ２と、を重畳させている。

加えて、画像制御部５９は、特徴点特性抽出部５８が上記のように光学特性ズレ量を求める場合には、その光学特性ズレ量を特徴点Ｐｆの光学特性値と併せて表示させてもよい。この光学特性ズレ量は、上記の特徴点特性欄Ｃｃ内で表示してもよく、それとは別に表示してもよい。

誤差算出部６１は、眼鏡フレームＦに固定された左右の枠入レンズＬｆ（被検レンズＬ）の等しい所定位置（例えば特徴点Ｐｆ）における光学特性値の差分となる相対プリズム誤差Ｅｐを求める。実施例１の誤差算出部６１は、左側の枠入レンズＬｆと右側の枠入レンズＬｆとのそれぞれの特徴点Ｐｆのプリズム値（光学特性値）の差分を、水平成分と垂直成分とのそれぞれについて算出して、その算出結果を相対プリズム誤差Ｅｐとする。これにより、誤差算出部６１は、左右の枠入レンズＬｆにおける水平成分と垂直成分との相対プリズム誤差Ｅｐを算出できる。誤差算出部６１は、算出した相対プリズム誤差Ｅｐを、誤差判別部６２や画像制御部５９に適宜出力する。

誤差判別部６２は、誤差算出部６１で算出した相対プリズム誤差Ｅｐが許容範囲Ｌｔ内であるか否かを判別する。その許容範囲Ｌｔは、特徴点Ｐｆにおける水平成分と垂直成分とのプリズム値のうちの大きな方のプリズム値に応じて、複数の段階に場合分けされて設定されている。また、許容範囲Ｌｔは、水平成分と垂直成分とのそれぞれにおいて、特徴点Ｐｆにおける屈折力（その値）の大きさに応じて、複数の段階に場合分けされて設定されている。すなわち、許容範囲Ｌｔは、プリズム値に応じて３つの段階に場合分けているとともに、水平成分と垂直成分とのそれぞれで屈折力の大きさに応じて２つの段階に場合分けているものとすると、１２個の値が設定されていることとなる。なお、許容範囲Ｌｔは、場合分けの数や数値、場合分けをする光学特性の種類等は、種々の規格として定められたものに合わせてもよく、適宜設定してもよい。

誤差判別部６２は、上記のように設定された許容範囲Ｌｔの中から特徴点Ｐｆにおける光学特性値に合致するものを選択し、その選択した許容範囲Ｌｔ内に誤差算出部６１で算出した相対プリズム誤差Ｅｐが入っているか否かを判別する。そして、誤差判別部６２は、その判別結果を画像制御部５９に出力する。

実施例１の画像制御部５９は、重畳画像Ｉｓに誤差判別欄Ｃｅ（図５参照）を重ねて表示することができる。この誤差判別欄Ｃｅは、誤差判別部６２による判別結果、すなわち特徴点Ｐｆの光学特性値の差分である相対プリズム誤差Ｅｐが許容範囲Ｌｔ内であるか否かを示すものである。図５の例の誤差判別欄Ｃｅは、判別結果に加えて、誤差算出部６１で算出した相対プリズム誤差Ｅｐを表示するものとしている。

［測定制御処理構成］
次に、レンズ測定装置１０を用いて、被検レンズＬを測定する一例としての測定制御処理（測定制御方法）について、図６を用いて説明する。この測定制御処理は、記憶部５１に記憶されたプログラムに基づいて、制御部５２が実行する。以下では、この図６のフローチャートの各ステップ（各工程）について説明する。図６のフローチャートは、測定対象の被検レンズＬを、眼鏡フレームＦに固定されて眼鏡Ｇとして形成された一対の枠入レンズＬｆとした場合を示しており、相対プリズム誤差Ｅｐが許容範囲Ｌｔ内であるかも併せて判別するものとしている。この図６のフローチャートは、レンズ測定装置１０が起動されてブラウザまたはアプリが立ち上がって表示部１２が表示され、眼鏡Ｇ（眼鏡フレームＦ）がレンズ保持機構１３に保持された状態で操作部１６に測定の開始の操作が為されることにより開始される。

ステップＳ１では、枠入レンズＬｆ（被検レンズＬ）の光学測定を実施し、ステップＳ２へ進む。このステップＳ１は、投光光学系２０（その光源２１）から枠入レンズＬｆに向けて測定光を投光し、枠入レンズＬｆを通過した測定光の像を受光光学系３０（その測定用受光素子３５）にて取得する。

ステップＳ２では、一対の枠入レンズＬｆを撮像して、ステップＳ３へ進む。このステップＳ２は、撮像部１４により、レンズ保持機構１３に保持された一対の枠入レンズＬｆを撮像する。なお、ステップＳ２は、ステップＳ３の後に行ってもよく、実施例１の順番に限定されない。

ステップＳ３では、各枠入レンズＬｆの光学特性値を算出して、ステップＳ４へ進む。このステップＳ３は、光学特性算出部５３が、ステップＳ１の光学測定で得られた複数の分割測定光束の像に基づいて、各枠入レンズＬｆにおける所定の範囲の光学特性値を算出する。

ステップＳ４では、特徴点Ｐｆを検出して、ステップＳ５へ進む。このステップＳ４は、特徴点検出部５７が、各枠入レンズＬｆにおける特徴点Ｐｆを検出する。ステップＳ４では、検出する特徴点Ｐｆの数が複数に設定されている場合には、枠入レンズＬｆ毎に複数の特徴点Ｐｆを検出する。

ステップＳ５では、特徴点Ｐｆの光学特性値を抽出して、ステップＳ６へ進む。このステップＳ５は、特徴点特性抽出部５８が、ステップＳ４で検出した各枠入レンズＬｆにおける特徴点Ｐｆの光学特性値を、ステップＳ３で算出した光学測定値の数値データから抽出する。

ステップＳ６では、相対プリズム誤差Ｅｐの判別を行って、ステップＳ７へ進む。このステップＳ６は、誤差算出部６１が、ステップＳ５で抽出した両枠入レンズＬｆの特徴点Ｐｆの光学特性値から相対プリズム誤差Ｅｐを求め、誤差判別部６２が、その相対プリズム誤差Ｅｐが許容範囲Ｌｔ内であるか否かを判別する。

ステップＳ７では、マッピング画像Ｉｍを形成して、ステップＳ８へ進む。このステップＳ７は、マッピング形成部５４が、ステップＳ３で算出した光学測定値の数値データに基づいて、光学特性値の枠入レンズＬｆ上での分布を表すマッピング画像Ｉｍを形成する。

ステップＳ８では、重畳画像Ｉｓを生成して、ステップＳ９へ進む。このステップＳ８は、レンズ画像取得部５５がステップＳ２で撮像した一対の枠入レンズＬｆの画像からレンズ画像Ｉｒを取得し、重畳画像生成部５６が、そのレンズ画像ＩｒにステップＳ７で形成したマッピング画像Ｉｍを重畳して、重畳画像Ｉｓを生成する。なお、ステップＳ７およびステップＳ８は、ステップＳ４からステップＳ６の前または間に行ってもよく、実施例１の順番に限定されない。

ステップＳ９では、重畳画像Ｉｓを表示させて、この測定制御処理を終了する。このステップＳ９では、ステップＳ２で取得したレンズ画像Ｉｒに、画像制御部５９が、ステップＳ４で検出した特徴点Ｐｆの位置を示す特徴点指標ｍと、その特徴点Ｐｆにおける光学特性値を示す特徴点特性欄Ｃｃと、ステップＳ６での判別結果を示す誤差判別欄Ｃｅと、を重畳した重畳画像Ｉｓを表示部１２（表示画面１２ａ）に表示させる。

このように、レンズ測定装置１０は、被検レンズＬにおける所定の範囲の光学特性値を取得するとともに、設定された特徴点Ｐｆにおける光学特性値を取得して、それらを示す特徴点特性欄Ｃｃを光学特性出力部の一例としての表示部１２で表示できる。このため、レンズ測定装置１０は、被検レンズＬの所定の範囲の光学特性値を把握させるだけではなく、所定の特徴点Ｐｆの光学特性値を把握させることができ、使い勝手を向上できる。

また、レンズ測定装置１０は、レンズ画像Ｉｒ上に特徴点Ｐｆの位置を示す特徴点指標ｍを重畳させているので、特徴点Ｐｆの位置の把握を容易なものにできる。特に、レンズ測定装置１０は、所定の範囲の光学特性値を示すマッピング画像Ｉｍもレンズ画像Ｉｒ上に重畳しているので、光学特性値の分布の把握を容易にできるとともに、その分布上での特徴点Ｐｆの位置の把握を容易なものにできる。

加えて、レンズ測定装置１０は、眼鏡フレームＦに固定された一対の枠入レンズＬｆを被検レンズＬとした場合、左右の枠入レンズＬｆにおける特徴点Ｐｆの相対プリズム誤差Ｅｐが許容範囲Ｌｔ内であるか否かを判別し、その判別結果を表示部１２で表示できる。このため、レンズ測定装置１０は、このような相対プリズム誤差Ｅｐが求められる任意の位置を特徴点Ｐｆとして設定することで、求められた任意の位置での相対プリズム誤差Ｅｐが許容範囲Ｌｔ内であるか否かを容易に把握させることができる。

本開示に係るレンズ測定装置の実施例１のレンズ測定装置１０は、以下の各作用効果を得ることができる。

レンズ測定装置１０は、投光光学系２０から投光して被検レンズＬを透過した測定光を受光光学系３０で受光することで、光学特性算出部５３が被検レンズＬの光学特性値を算出する。そして、レンズ測定装置１０は、特徴点検出部５７が被検レンズＬの特徴点Ｐｆを検出し、特徴点特性抽出部５８が特徴点Ｐｆにおける光学特性値を抽出し、光学特性出力部（実施例１では表示部１２）が特徴点Ｐｆの光学特性値を出力する。このため、レンズ測定装置１０は、所定の特徴点Ｐｆの光学特性値の把握を容易なものにできる。

レンズ測定装置１０は、受光光学系３０が、被検レンズＬを通過した測定光を複数の分割測定光束に分離するパターン板（実施例１ではハルトマンプレート３１）と、その分離された複数の分割測定光束が投影されるスクリーン３２と、そこを透過して複数の分割測定光束を受光する測定用受光素子３５と、を有する。そして、レンズ測定装置１０は、特徴点特性抽出部５８が、パターン板における特徴点Ｐｆに対応する座標位置での光学特性値を求めることで、特徴点Ｐｆにおける光学特性値を抽出する。このため、レンズ測定装置１０は、容易にかつ適切に特徴点特性抽出部５８が特徴点Ｐｆにおける光学特性値を抽出できる。

レンズ測定装置１０は、被検レンズＬを撮像してレンズ画像Ｉｒを取得する撮像部１４を備え、光学特性出力部が、レンズ画像Ｉｒに特徴点Ｐｆを示す特徴点指標ｍを重畳させて出力する。このため、レンズ測定装置１０は、被検レンズＬにおける特徴点Ｐｆの位置を容易に把握させることができる。

レンズ測定装置１０は、光学特性算出部５３で算出された光学特性値に基づいて被検レンズＬの光学特性値の分布を表すマッピング画像Ｉｍを形成するマッピング形成部５４を備え、光学特性出力部が、レンズ画像Ｉｒに特徴点指標ｍとマッピング画像Ｉｍとを重畳させて出力する。このため、レンズ測定装置１０は、被検レンズＬにおける光学特性値の分布を容易に把握させることができるとともに、その光学特性値の分布上での特徴点Ｐｆの位置を容易に把握させることができる。

レンズ測定装置１０は、被検レンズＬを撮像してレンズ画像Ｉｒを取得する撮像部１４を備え、特徴点検出部５７が、レンズ画像Ｉｒに基づいて被検レンズＬの外周縁Ｏｐを検出し、外周縁Ｏｐからの間隔に基づいて特徴点Ｐｆを検出する。このため、レンズ測定装置１０は、容易にかつ適切に特徴点検出部５７で特徴点Ｐｆを検出できる。

レンズ測定装置１０は、被検レンズＬを撮像してレンズ画像Ｉｒを取得する撮像部１４を備え、特徴点検出部５７が、レンズ画像Ｉｒに基づいて指標を検出し、指標の位置を特徴点Ｐｆとする。このため、レンズ測定装置１０は、容易にかつ適切に特徴点検出部５７で特徴点Ｐｆを検出できる。

レンズ測定装置１０は、被検レンズＬが固定された眼鏡フレームＦの鼻当てＮｐを支持する鼻当支持部材１３ｃと、そこに支持された眼鏡フレームＦが押し当てられるレンズテーブル１３ｄと、を備え、特徴点検出部５７が、鼻当支持部材１３ｃとレンズテーブル１３ｄとの位置に基づいて特徴点Ｐｆを検出する。このため、レンズ測定装置１０は、容易にかつ適切に特徴点検出部５７で特徴点Ｐｆを検出できる。

レンズ測定装置１０は、眼鏡フレームＦに固定された一対の被検レンズＬの特徴点Ｐｆにおける光学特性値に基づいて相対プリズム誤差Ｅｐを求める誤差算出部６１と、相対プリズム誤差Ｅｐが許容範囲Ｌｔ内であるか否かを判別する誤差判別部６２と、を備える。また、レンズ測定装置１０は、投光光学系２０と受光光学系３０とが、一対の被検レンズＬの双方に対応して設けられ、光学特性算出部５３が、一対の被検レンズＬのそれぞれの光学特性値を算出し、特徴点検出部５７が、一対の被検レンズＬのそれぞれの特徴点Ｐｆを検出し、特徴点特性抽出部５８が、一対の被検レンズＬのそれぞれの特徴点Ｐｆの光学特性値を抽出する。そして、レンズ測定装置１０は、誤差算出部６１が、一対の被検レンズＬのそれぞれの特徴点Ｐｆの光学特性値の差分を相対プリズム誤差Ｅｐとし、光学特性出力部が、誤差判別部６２による判別結果を出力する。このため、レンズ測定装置１０は、任意の位置を特徴点Ｐｆとして設定することで、その特徴点Ｐｆでの相対プリズム誤差Ｅｐが許容範囲Ｌｔ内であるか否かを容易に把握させることができる。

レンズ測定装置１０は、誤差判別部６２が、特徴点Ｐｆにおけるプリズム値と屈折力とに応じて異なる許容範囲Ｌｔを用いる。このため、レンズ測定装置１０は、特徴点Ｐｆでの相対プリズム誤差Ｅｐが許容範囲Ｌｔ内であるか否かの判断を、プリズム値や屈折力に応じたものにでき、より適切なものにできる。

レンズ測定装置１０は、特徴点特性抽出部５８が、被検レンズＬにおける測定光軸Ｌｍ上での光学特性値と処方箋の光学特性値との差分である光学特性ズレ量を求め、光学特性出力部が、その光学特性ズレ量を出力するものとしてもよい。この場合、レンズ測定装置１０は、特徴点Ｐｆの光学特性値に加えて光学特性ズレ量も把握させることができ、被検レンズＬの評価の幅を広げることができる。

したがって、本開示に係るレンズ測定装置の一実施例としてのレンズ測定装置１０では、被検レンズＬにおける所定の特徴点Ｐｆの光学特性値を把握させることができる。

以上、本開示のレンズ測定装置を実施例１に基づき説明してきたが、具体的な構成については実施例１に限られるものではなく、特許請求の範囲の各請求項に係る発明の要旨を逸脱しない限り、設計の変更や追加等は許容される。

例えば、実施例１では、レンズ画像Ｉｒにおいて、被検レンズＬの所定の領域に外形がギザギザなマッピング画像Ｉｍを重畳している（図５参照）。これは、測定光学系Ｏｍにおいて、ハルトマンプレート３１の大きさ寸法により光学特性値を測定できる範囲が制限されることと、そのハルトマンプレート３１に形成された多数の開口部３１ａの影響により光学特性値の測定範囲の外形が滑らかな曲線にならずにギザギザに表現されてしまうことと、による。そこで、マッピング形成部５４は、ギザギザな外形を超えて、レンズ画像Ｉｒにおける被検レンズＬに相当するレンズ領域の全体に亘り光学特性値の分布を示すマッピング画像Ｉｍを形成するものとしてもよい。この場合、マッピング形成部５４は、レンズ画像Ｉｒにおける被検レンズＬの外周縁Ｏｐを検出し、その外周縁Ｏｐの内方における測定光学系Ｏｍでの測定範囲の外側を否測定領域とし、測定による光学特性値の分布に基づいて否測定領域での光学特性値の分布を推定する。これにより、マッピング形成部５４は、レンズ領域の全体に亘り光学特性値の分布を示すマッピング画像Ｉｍを形成でき、その推定した箇所を含むマッピング画像Ｉｍをレンズ画像Ｉｒに重畳することで、レンズ画像Ｉｒにおける被検レンズＬの全域に亘り光学特性値の分布を示すことができる。

また、実施例１では、被検レンズＬとして、眼鏡フレームＦに固定された一対の枠入レンズＬｆを測定している。しかしながら、被検レンズＬは、円形の未加工レンズや、眼鏡用に研削加工されたレンズであってもよく、実施例１の構成に限定されない。このような場合であっても、被検レンズＬの特徴点Ｐｆにおける光学特性値を示すことができる。また、実施例１のように眼鏡フレームＦに固定された一対の枠入レンズＬｆを測定すれば、特徴点Ｐｆでの相対プリズム誤差Ｅｐが許容範囲Ｌｔ内であるか否かを判別して、その判別結果を出力することができる。

さらに、実施例１では、撮像部１４を、一対の投光光学系２０の間に配置された単眼式デジタルカメラで構成する例を示している。しかしながら、撮像部１４は、レンズ保持機構１３に保持された被検レンズＬを撮像できるものであれば、例えば複眼式のデジタルカメラを用いてもよく、複数の単眼式カメラを用いてもよく、それらで撮像した画像を合成してレンズ画像Ｉｒを生成してもよく、実施例１の構成に限定されない。また、撮像部１４は、装置本体１１の上側収容部１１ａに設けられていたが、レンズ保持機構１３に保持された被検レンズＬを撮像できるものであれば、レンズセット空間１５を区画する壁面や、レンズ押え部材１３ａや、レンズテーブル１３ｄ等や、その他の位置に設けてもよく、実施例１の構成に限定されない。

実施例１では、光学特性出力部として表示部１２を用いている。しかしながら、光学特性出力部は、少なくとも特徴点Ｐｆの光学特性値を出力するものであれば、音声で出力する音声出力部や、印字する印刷部や、光学特性値をデータとして外部メモリやサーバーに出力するデータ出力部等でもよく、実施例１の構成に限定されない。

実施例１では、レンズ画像Ｉｒにマッピング画像Ｉｍを重畳させた重畳画像Ｉｓに、特徴点Ｐｆの位置を示す特徴点指標ｍを重畳させている。しかしながら、レンズ画像Ｉｒに特徴点指標ｍを重畳させた重畳画像を光学特性出力部から出力してもよく、実施例１の構成に限定されない。

１０ レンズ測定装置１０ １２ （光学特性出力部の一例としての）表示部 １３ｃ 鼻当支持部材 １３ｄ レンズテーブル １４ 撮像部 ２０ 投光光学系 ３０ 受光光学系 ３１ （パターン板の一例としての）ハルトマンプレート ３２ スクリーン ３５ 測定用受光素子 ５３ 光学特性算出部 ５４ マッピング形成部 ５７ 特徴点検出部 ５８ 特徴点特性抽出部 ６１ 誤差算出部 ６２ 誤差判別部 Ｅｐ 相対プリズム誤差 Ｆ 眼鏡フレーム Ｉｍマッピング画像 Ｉｒ レンズ画像 Ｌ 被検レンズ Ｌｔ 許容範囲 ｍ 特徴点指標 Ｎｐ 鼻当て Ｏｐ 外周縁 Ｐｆ 特徴点

Claims (10)

1. 被検レンズに測定光を投光する投光光学系と、
   前記被検レンズを透過した前記測定光を受光する受光光学系と、
   前記受光光学系により受光された測定光に基づいて前記被検レンズの光学特性値を算出する光学特性算出部と、
   前記被検レンズにおける特徴点を検出する特徴点検出部と、
   前記光学特性算出部による算出結果から前記特徴点における光学特性値を抽出する特徴点特性抽出部と、
   前記特徴点特性抽出部が求めた前記特徴点の光学特性値を出力する光学特性出力部と、を備えることを特徴とするレンズ測定装置。
2. 前記受光光学系は、前記被検レンズを通過した測定光を複数の分割測定光束に分離するパターン板と、前記パターン板で分離された複数の分割測定光束が投影されるスクリーンと、前記スクリーンを透過して複数の分割測定光束を受光する測定用受光素子と、を有し、
   前記特徴点特性抽出部は、前記パターン板における前記特徴点に対応する座標位置での光学特性値を求めることで、前記特徴点における光学特性値を抽出することを特徴とする請求項１に記載のレンズ測定装置。
3. 請求項１または請求項２に記載のレンズ測定装置であって、
   さらに、前記被検レンズを撮像してレンズ画像を取得する撮像部を備え、
   前記光学特性出力部は、前記レンズ画像に前記特徴点を示す特徴点指標を重畳させて出力することを特徴とするレンズ測定装置。
4. 請求項３に記載のレンズ測定装置であって、
   さらに、前記光学特性算出部で算出された光学特性値に基づいて前記被検レンズの光学特性値の分布を表すマッピング画像を形成するマッピング形成部を備え、
   前記光学特性出力部は、前記レンズ画像に前記特徴点指標と前記マッピング画像とを重畳させて出力することを特徴とするレンズ測定装置。
5. 請求項１から請求項４までのいずれか１項に記載のレンズ測定装置であって、
   さらに、前記被検レンズを撮像してレンズ画像を取得する撮像部を備え、
   前記特徴点検出部は、前記レンズ画像に基づいて前記被検レンズの外周縁を検出し、前記外周縁からの間隔に基づいて前記特徴点を検出することを特徴とするレンズ測定装置。
6. 請求項１から請求項４までのいずれか１項に記載のレンズ測定装置であって、
   さらに、前記被検レンズを撮像してレンズ画像を取得する撮像部を備え、
   前記特徴点検出部は、前記レンズ画像に基づいて指標を検出し、前記指標の位置を前記特徴点とすることを特徴とするレンズ測定装置。
7. 請求項１から請求項４までのいずれか１項に記載のレンズ測定装置であって、
   さらに、前記被検レンズが固定された眼鏡フレームの鼻当てを支持する鼻当支持部材と、前記鼻当支持部材に前記鼻当てが支持された前記眼鏡フレームが押し当てられるレンズテーブルと、を備え、
   前記特徴点検出部は、前記鼻当支持部材と前記レンズテーブルとの位置に基づいて前記特徴点を検出することを特徴とするレンズ測定装置。
8. 請求項１から請求項７のいずれか１項に記載のレンズ測定装置であって、
   さらに、眼鏡フレームに固定された一対の前記被検レンズの前記特徴点における光学特性値に基づいて相対プリズム誤差を求める誤差算出部と、
   前記相対プリズム誤差が許容範囲内であるか否かを判別する誤差判別部と、を備え、
   前記投光光学系と前記受光光学系とは、一対の前記被検レンズの双方に対応して設けられ、
   前記光学特性算出部は、一対の前記被検レンズのそれぞれの光学特性値を算出し、
   前記特徴点検出部は、一対の前記被検レンズのそれぞれの前記特徴点を検出し、
   前記特徴点特性抽出部は、一対の前記被検レンズのそれぞれの前記特徴点の光学特性値を抽出し、
   前記誤差算出部は、一対の前記被検レンズのそれぞれの前記特徴点の光学特性値の差分を前記相対プリズム誤差とし、
   前記光学特性出力部は、前記誤差判別部による判別結果を出力することを特徴とするレンズ測定装置。
9. 前記誤差判別部は、前記特徴点におけるプリズム値と屈折力とに応じて異なる前記許容範囲を用いることを特徴とする請求項８に記載のレンズ測定装置。
10. 前記特徴点特性抽出部は、前記特徴点の光学特性値と処方箋の光学特性値との差分である光学特性ズレ量を求め、
    前記光学特性出力部は、前記光学特性ズレ量を出力することを特徴とする請求項１から請求項９までのいずれか１項に記載のレンズ測定装置。