JP6641093B2 - 光学フィルム及び積層光学フィルムの欠陥検査方法 - Google Patents

Description

本発明は、光学フィルム及び積層光学フィルムの欠陥検査方法に関し、積層光学フィルムの製造方法にも関するものである。

光学特性を有する光学フィルムとして、偏光特性を有する偏光板や複屈折性を有する位相差板などが知られている。例えば、偏光板として、光学フィルム本体としての偏光子（Polyvinyl Alcohol：ＰＶＡ）の主面両側にＴＡＣ（Triacetyl Cellulose）フィルムが貼り合わされたものが知られている。位相差板として、位相差板が光学フィルム本体単独からなるものが知られている。この種の光学フィルムには、保護フィルムが貼合されたり、セパレートフィルムが付いた状態の粘着材が貼合されて積層光学フィルムとされることもある。

この種の光学フィルム及び積層光学フィルムでは、例えば上記貼合の際に、内部又は表面に異物や気泡が混入することにより、光学的な欠陥が生じることがある。特許文献１〜２には、この種の光学フィルム及び積層光学フィルムの欠陥を検査する方法が開示されている。

この種の欠陥検査方法によって欠陥が検出されると、欠陥に対応して、例えば欠陥を囲うように、光学フィルム及び積層光学フィルムの表面上にマーキングが行われ、マーキングが行われた領域は、製品としての利用から除かれる。

特開２００９−６９１４２号公報 特開２０１１−６５１８４号公報

このような欠陥検査方法では、欠陥の数を過不足なく正確に数えることが求められる。また、マーキングされるマークは、欠陥の大きさに対応した大きさであることが求められる。

ところで、この種の光学フィルム及び積層光学フィルムの欠陥検査では、２回以上の欠陥検査を行うことがある。例えば、光学フィルム及び積層光学フィルムの各層を貼合するごとに欠陥検査を行ったり、異なる欠陥を検出するために異なる検査方法を行ったりすることがある。

しかしながら、２回以上の欠陥検査を行う場合、２回目以降の検査において、前回以前に検出された欠陥を重複検出してしまい、欠陥率を精度よく求めることができないという問題がある。また、２回目以降の検査において、前回以前にマーキングされたマークを欠陥として検出して、それに対応して（例えば欠陥を囲うように）マーキングしてしまい、その結果、最終マークサイズが大きくなってしまうという問題がある。

そこで、本発明は、２回以上の欠陥検査を行う際に、前回以前に検出された欠陥を重複検出すること、及び、前回以前に検出された欠陥に対応するマークを検出することを防止することが可能な光学フィルム及び積層光学フィルムの欠陥検査方法を提供することを目的とする。また、本発明は、積層光学フィルムの製造方法を提供することをも目的とする。

本発明の積層光学フィルムの欠陥検査方法は、光学フィルムに保護フィルム及び粘着材の少なくとも一方を貼り合せて積層光学フィルムを得ながら、積層光学フィルム中の欠陥を検査する方法であって、光学フィルムの欠陥検査を行う第１検査工程と、光学フィルムに保護フィルム及び粘着材の少なくとも一方を貼り合せて積層光学フィルムを生成する工程と、第１検査工程において検出された欠陥情報を記録する記録工程と、積層光学フィルムの欠陥検査を行う第２検査工程と、第１検査工程において検出された欠陥、及び、第２検査工程において検出された欠陥に対応して積層光学フィルムにマーキングを行うマーキング工程とを含み、第２検査工程では、記録工程において記録した欠陥情報を読み取り、当該欠陥情報に対応する欠陥を検出しないことを特徴とする。

この積層光学フィルムの欠陥検査方法によれば、第２検査工程では、記録工程において記録した欠陥情報に対応する欠陥を検出しないので、２回以上の欠陥検査を行う際に、前回以前に検出された欠陥を重複検出することを防止することができる。また、この積層光学フィルムの欠陥検査方法によれば、記録工程において、第１検査工程で検出された欠陥情報を記録することにより、第２検査工程の前に第１検査工程で検出された欠陥に対応して光学フィルムにマーキングを行わないので、前回以前に検出された欠陥に対応するマークを検出することを防止することができる。

上記した第１検査工程における欠陥検査方法と上記した第２検査工程における欠陥検査方法とは、同一であってもよいし、異なっていてもよい。

また、本発明の光学フィルムの欠陥検査方法は、光学フィルムの欠陥を検査する方法であって、光学フィルムの欠陥検査を行う第１検査工程と、第１検査工程において検出された欠陥を記録する記録工程と、光学フィルムに対して、第１検査工程における欠陥検査とは異なる欠陥検査を行う第２検査工程と、第１検査工程において検出された欠陥、及び、第２検査工程において検出された欠陥に対応して光学フィルムにマーキングを行うマーキング工程とを含み、第２検査工程では、記録工程において記録した欠陥情報を読み取り、当該欠陥情報に対応する欠陥を検出しないことを特徴とする。

なお、この発明における光学フィルムは、光学フィルム本体からなる単層光学フィルムのみならず、光学フィルム本体を含む光学フィルム、及び、その光学フィルムに保護フィルム及び粘着材の少なくとも一方を貼り合せた積層光学フィルムをも含む概念である。

この光学フィルムの欠陥検査方法でも、第２検査工程では、記録工程において記録した欠陥情報に対応する欠陥を検出しないので、２回以上の欠陥検査を行う際に、前回以前に検出された欠陥を重複検出することを防止することができる。また、この光学フィルムの欠陥検査方法でも、記録工程において、第１検査工程で検出された欠陥情報を記録することにより、第２検査工程の前に第１検査工程で検出された欠陥に対応して光学フィルムにマーキングを行わないので、前回以前に検出された欠陥に対応するマークを検出することを防止することができる。

本発明の積層光学フィルムの製造方法は、光学フィルムに保護フィルム及び粘着材の少なくとも一方を貼り合せて積層光学フィルムを製造する方法であって、上記した積層光学フィルムの欠陥検査方法を含む。この積層光学フィルムの製造方法によれば、上記した積層光学フィルムの欠陥検査方法と同様の利点を得ることができる。

本発明によれば、光学フィルム及び積層光学フィルムの欠陥検査を２回以上行う際に、前回以前に検出された欠陥を重複検出することを防止することができ、その結果、欠陥率を精度よく求めることができる。また、本発明によれば、光学フィルム及び積層光学フィルムの欠陥検査を２回以上行う際に、前回以前に検出された欠陥に対応するマークを検出することを防止することができ、その結果、最終マークサイズが大きくなってしまい、光学フィルムの収率が低下してしまうことを防止することができる。

（ａ），（ｂ）は、本発明の第１の実施形態に係る積層光学フィルムの欠陥検査方法及び製造方法を示す図である。 （ａ），（ｃ）は、図１に示す欠陥検査方法の異なる工程における積層光学フィルムの一方の主面を示す図であり、（ｂ），（ｄ）は、（ａ），（ｃ）に示す積層光学フィルムの断面図である。 （ａ），（ｃ）は、従来の欠陥検査方法の異なる工程における積層光学フィルムの一方の主面を示す図であり、（ｂ），（ｄ）は、（ａ），（ｃ）に示す積層光学フィルムの断面図である。 （ａ），（ｂ）は、本発明の第２の実施形態に係る積層光学フィルムの欠陥検査方法及び製造方法を示す図である。 （ａ），（ｃ）は、図４に示す欠陥検査方法の異なる工程における積層光学フィルムの一方の主面を示す図であり、（ｂ），（ｄ）は、（ａ），（ｃ）に示す積層光学フィルムの断面図である。

以下、図面を参照して本発明の好適な実施形態について詳細に説明する。なお、各図面において同一又は相当の部分に対しては同一の符号を附すこととする。
［第１の実施形態］

図１（ａ），（ｂ）は、本発明の第１の実施形態に係る積層光学フィルムの欠陥検査方法及び製造方法を示す図である。また、図２（ａ），（ｃ）は、図１に示す欠陥検査方法の異なる工程における積層光学フィルムの一方の主面を示す図であり、図２（ｂ），（ｄ）は、（ａ），（ｃ）に示す積層光学フィルムの断面図である。図１及び図２には、ＸＹ平面座標が示されている。Ｘ方向は積層光学フィルムの幅方向を示し、Ｙ方向は積層光学フィルムの長手方向を示す。

まず、図１（ａ）に示すように、原反ロール１０１から光学フィルム１１を繰り出す。光学フィルム１１は、光学特性を有する光学フィルム本体を含む。光学フィルム１１としては、偏光特性を有する偏光板や複屈折性を有する位相差板などが挙げられる。例えば、光学フィルム１１が偏光板である場合、光学フィルム本体として偏光子（Polyvinyl Alcohol：ＰＶＡ）を含み、この偏光子の主面両側にＴＡＣ（TriacetylCellulose）フィルムが貼り合わされている。一方、光学フィルム１１が位相差板である場合、位相差板が光学フィルム本体に相当する。

次いで、光学フィルム１１の他方の主面１１ｂ側に配置された光源（図示せず）によって、光学フィルム１１に光を照射し、光学フィルム１１の一方の主面１１ａ側に配置された透過検査器１１１によって、光学フィルム１１を透過した光を受光し、受光した透過光に基づいて光学フィルム１１の欠陥検査を行う（第１検査工程、透過検査）。

次いで、原反ロール１０２から保護フィルム１２を繰り出し、保護フィルム１２を光学フィルム１１の一方の主面１１ａ側に積層する。保護フィルム１２としてはＰＥＴ（ポリエチレンテレフタレート）フィルムなどが用いられる。次いで、貼合ロール１０３によって光学フィルム１１と保護フィルム１２とを貼り合わせ、積層光学フィルム１０Ａを生成する。

次いで、積層光学フィルム１０Ａの保護フィルム１２側に配置されたインクジェット印刷器１１３を用いて（液滴法によって）、第１検査工程で検出された欠陥情報をコードとして、積層光学フィルム１０Ａの保護フィルム１２側の表面端部に記録する（記録工程）。

例えば、図２（ａ），（ｂ）に示すように、積層光学フィルム１０Ａ内部に異物が混入することによって生じる３つの欠陥２０が検出された場合、これらの欠陥２０の座標情報をバーコード４０として、積層光学フィルム１０Ａの保護フィルム１２側の表面のＸ方向端部に、各欠陥２０に対して記録する。なお、図２（ｂ）及び図１（ａ）では、図２（ａ）における１つの欠陥２０、及び、この欠陥２０に対応するバーコード４０のみを概略的に示す。

なお、Ｙ方向の所定区間ごとに（例えば、６０ｍｍ間隔ごとに）、１つのバーコード４０を記録してもよい。この場合、所定区間に存在する欠陥全ての情報を纏めて１つのバーコード４０に記録すればよい。

次いで、原反ロール１０４に積層光学フィルム１０Ａを巻き取る。

次いで、図１（ｂ）に示すように、原反ロール１０４から積層光学フィルム１０Ａを繰り出し、また、原反ロール１０５から、セパレートフィルム（離型フィルム）１４が粘着材１５に貼り合わされたセパレートフィルム付き粘着材１３を繰り出し、積層光学フィルム１０Ａの光学フィルム１１側にセパレートフィルム付き粘着材１３を積層する。セパレートフィルムの材料としてはＰＥＴ（Polyethylene Terephthalate）などが用いられる。次いで、貼合ロール１０６によって積層光学フィルム１０Ａとセパレートフィルム付き粘着材１３とを貼り合わせ、積層光学フィルム１０Ｂを生成する。

次いで、積層光学フィルム１０Ｂの他方の主面１０ｂ側（セパレートフィルム付き粘着材１３側）に配置された光源（図示せず）によって、積層光学フィルム１０Ｂに光を照射し、積層光学フィルム１０Ｂの一方の主面１０ａ側（保護フィルム１２側）に配置された透過検査器１１５によって、積層光学フィルム１０Ｂを透過した光を受光し、受光した透過光に基づいて積層光学フィルム１０Ｂの欠陥検査を行う（第２検査工程、透過検査）。

第２検査工程では、コード読取器１１７によって、記録工程でバーコード４０に記録した欠陥情報を読み取り、読み取った欠陥情報に対応する欠陥２０を検出しない。すなわち、第２検査工程では、第１検査工程では検出されておらず、第２検査工程で初めて検出された欠陥２１を検出する（図２（ｃ），（ｄ）を参照）。具体的には、第２検査工程では、バーコード４０から読み取った欠陥座標と同じ位置の欠陥を同一欠陥と判別して検出しない。

次いで、積層光学フィルム１０Ｂの一方の主面１０ａ側に配置されたインクジェット印刷器１１９を用いて（液滴法によって）、第１検査工程で検出された欠陥（すなわち、バーコード４０から読み取った欠陥）、及び、第２検査工程で検出された欠陥に対応して、積層光学フィルム１０Ｂの一方の主面１０ａ側の表面にマーキングを行う（マーキング工程）。

例えば、図２（ａ），（ｂ）に示すように、第１検査工程において、積層光学フィルム１０Ａ内部に異物が混入することによって生じる３つの欠陥２０が検出され、図２（ｃ），（ｄ）に示すように、第２検査工程において、積層光学フィルム１０Ｂ内部に異物が混入することによって生じる２つの欠陥２１が検出された場合、これらの欠陥２０，２１それぞれに対してＸ方向の両側それぞれに、線状のマーク３１をＹ方向にマーキングすることによって、欠陥２０，２１を挟み込むように、換言すれば欠陥２０，２１を囲うように、積層光学フィルム１０Ｂの一方の主面１０ａ側の表面にマーキングを行う。

なお、図２（ｄ）では、図２（ｃ）における１つの欠陥２０、及び、この欠陥２０に対応する２つの線状のマーク３１を概略的に示すと共に、図２（ｃ）における１つの欠陥２１、及び、この欠陥２１に対応する２つの線状のマーク３１を概略的に示す。また、図１（ｂ）では、図２（ｃ）における１つの欠陥２０又は２１、及び、この欠陥２０又は２１に対応する２つの線状のマーク３１のみを概略的に示す。

次いで、積層光学フィルム１０Ｂを原反ロール１０７に巻き取る。

ここで、図３（ａ），（ｃ）は、従来の欠陥検査方法の異なる工程における積層光学フィルムの一方の主面を示す図であり、図３（ｂ），（ｄ）は、（ａ），（ｃ）に示す積層光学フィルムの断面図である。

従来の欠陥検査方法では、本実施形態において記録工程及びマーキング工程に代えて、第１マーキング工程及び第２マーキング工程を備え、第２検査工程において、第１検査工程で検出された欠陥を検出しないという機能を備えていない点で、本実施形態の欠陥検査方法と相違する。

第１マーキング工程では、例えば、図３（ａ），（ｂ）に示すように、積層光学フィルム１０Ａ内部に異物が混入することによって生じる３つの欠陥２０が検出された場合、これらの欠陥２０それぞれに対してＸ方向の両側それぞれに、線状のマーク３０をＹ方向にマーキングすることによって、欠陥２０を挟み込むように、換言すれば欠陥２０を囲うように、積層光学フィルム１０Ａの保護フィルム１２側の表面にマーキングを行う。

また、第２マーキング工程では、例えば、図３（ｃ），（ｄ）に示すように、積層光学フィルム１０Ｂ内部に異物が混入することによって生じる２つの欠陥２１が検出された場合、これらの欠陥２１それぞれに対してＸ方向の両側それぞれに、線状のマーク３１をＹ方向にマーキングすることによって、欠陥２１を挟み込むように、換言すれば欠陥２１を囲うように、積層光学フィルム１０Ｂの一方の主面１０ａ側の表面にマーキングを行う。

この従来の欠陥検査方法では、図３（ｃ），（ｄ）に示すように、第２検査工程において、第１検査工程で欠陥２０を再度検出してしまうと共に、第１マーキング工程で形成されたマーク３０を欠陥として検出してしまう。その結果、第２マーキング工程において、第１検査工程で検出された欠陥２０及び第１マーキング工程で形成されたマーク３０に対応して、これらの欠陥２０及びマーク３０を挟み込むように、換言すれば欠陥２０及びマーク３０を囲うように、マーク３１が形成されてしまう。

このように、従来の欠陥検査方法では、２回以上の欠陥検査を行う場合、２回目以降の検査において、前回以前に検出された欠陥を重複検出してしまい、欠陥率を精度よく求めることができないという問題がある。また、２回目以降の検査において、前回以前にマーキングされたマークを欠陥として検出して、それに対応して欠陥の近傍に更にマーキングしてしまい、その結果、最終マークサイズが大きくなってしまい、光学フィルムの収率が低下してしまうという問題がある。

しかしながら、第１の実施形態の積層光学フィルムの欠陥検査方法によれば、第２検査工程では、記録工程において記録した欠陥情報に対応する欠陥を検出しないので、２回以上の欠陥検査を行う際に、前回以前に検出された欠陥２０を重複検出することを防止することができ、その結果、欠陥率を精度よく求めることができる。また、第１の実施形態の積層光学フィルムの欠陥検査方法によれば、記録工程において、第１検査工程で検出された欠陥情報をバーコード４０として記録することにより、第２検査工程の前に第１検査工程で検出された欠陥２０に対応して光学フィルムにマーキングを行わないので、前回以前に検出された欠陥に対応するマークを検出することを防止することができ、その結果、最終マークサイズが大きくなってしまい、光学フィルムの収率が低下してしまうことを防止することができる。
［第１の実施形態の変形例］

第１の実施形態では、光学フィルム１１に保護フィルム１２及びセパレートフィルム付き粘着材１３を貼り合わせる工程の前と後とで同一の種類の欠陥検査（透過検査）を複数回行う方法を例示したが、本発明の思想は、以下に詳説するように、異なる種類の欠陥検査を組み合わせて行う形態、例えば、第１の実施形態において、第１検査工程として透過検査を行い、第２検査工程として反射検査を行う形態にも適用可能である。
［第２の実施形態］

また、第１の実施形態では、光学フィルム１１に保護フィルム１２及びセパレートフィルム付き粘着材１３を貼り合わせる工程の前と後とで複数回の欠陥検査を行う方法を例示したが、本発明の思想は、同一の積層光学フィルムに対して複数回の欠陥検査を行う方法にも適用可能である。

例えば、同一の積層光学フィルムに対して、異なる検査（例えば、透過検査及び反射検査）を組み合わせて行うことがある。例えば、透過検査は、光学フィルム内部に混入する黒色系の異物の検出に適しているが、光学フィルム表面に混入する小さい気泡の検出が困難である。一方、反射検査は、光学フィルム表面に混入する小さい気泡の検出に適しているが、光学フィルム内部に混入する黒色系の異物の検出が困難である。

以下に、同一の積層光学フィルムに対して異なる検査を組み合わせて行う欠陥検査方法を例示する。なお、この第２の実施形態では、積層光学フィルムの欠陥検査方法を例示するが、本発明の思想は、単層光学フィルムに対して異なる検査を組み合わせて行う欠陥検査方法にも適用可能である。

図４（ａ），（ｂ）は、本発明の第２の実施形態に係る積層光学フィルムの欠陥検査方法及び製造方法を示す図である。また、図５（ａ），（ｃ）は、図４に示す欠陥検査方法の異なる工程における積層光学フィルムの一方の主面を示す図であり、図５（ｂ），（ｄ）は、（ａ），（ｃ）に示す積層光学フィルムの断面図である。

まず、図４（ａ）に示すように、原反ロール１０１から積層光学フィルム１０Ｂを繰り出す。そして、積層光学フィルム１０Ｂの他方の主面１０ｂ側に配置された光源（図示せず）によって、積層光学フィルム１０Ｂに光を照射し、積層光学フィルム１０Ｂの一方の主面１０ａ側に配置された透過検査器１１１によって、積層光学フィルム１０Ｂを透過した光を受光し、受光した透過光に基づいて積層光学フィルム１０Ｂの欠陥検査を行う（第１検査工程、透過検査）。

次いで、積層光学フィルム１０Ｂの一方の主面１０ａ側に配置されたインクジェット印刷器１１３を用いて（液滴法によって）、第１検査工程で検出された欠陥情報をコードとして、積層光学フィルム１０Ａの保護フィルム１２側の表面端部に記録する（記録工程）。

例えば、図５（ａ），（ｂ）に示すように、積層光学フィルム１０Ｂ内部に異物が混入することによって生じる３つの欠陥２０が検出された場合、これらの欠陥２０の座標情報をバーコード４０として、積層光学フィルム１０Ａの保護フィルム１２側の表面のＸ方向端部に、各欠陥２０に対して記録する。なお、図５（ｂ）及び図４（ａ）では、図５（ａ）における１つの欠陥２０、及び、この欠陥２０に対応するバーコード４０のみを概略的に示す。

次いで、原反ロール１０４に積層光学フィルム１０Ｂを巻き取る。

次いで、図４（ｂ）に示すように、原反ロール１０４から積層光学フィルム１０Ｂを繰り出す。次いで、積層光学フィルム１０Ｂの一方の主面１０ａ側に配置された光源（図示せず）によって、積層光学フィルム１０Ｂに光を照射し、積層光学フィルム１０Ｂの一方の主面１０ａ側に配置された反射検査器１１５によって、積層光学フィルム１０Ｂの一方の主面１０ａで反射した光を受光し、受光した反射光に基づいて積層光学フィルム１０Ｂの欠陥検査を行う（第２検査工程、反射検査）。

第２検査工程では、コード読取器１１７によって、記録工程でバーコード４０に記録した欠陥情報を読み取り、読み取った欠陥情報に対応する欠陥２０を検出しない。すなわち、第２検査工程では、第１検査工程では検出されておらず、第２検査工程で初めて検出された欠陥２５を検出する（図５（ｃ），（ｄ）を参照）。具体的には、第２検査工程では、バーコード４０から読み取った欠陥座標と同じ位置の欠陥を同一欠陥と判別して検出しない。

次いで、積層光学フィルム１０Ｂの一方の主面１０ａ側に配置されたインクジェット印刷器１１９を用いて（液滴法によって）、第１検査工程で検出された欠陥（すなわち、バーコード４０から読み取った欠陥）、及び、第２検査工程で検出された欠陥に対応して、積層光学フィルム１０Ｂの一方の主面１０ａ側の表面にマーキングを行う（マーキング工程）。

例えば、図５（ａ），（ｂ）に示すように、第１検査工程において、積層光学フィルム１０Ｂ内部に異物が混入することによって生じる３つの欠陥２０が検出され、図５（ｃ），（ｄ）に示すように、第２検査工程において、積層光学フィルム１０Ｂ表面に気泡が混入することによって生じる２つの欠陥２５が検出された場合、これらの欠陥２０，２５それぞれに対してＸ方向の両側それぞれに、線状のマーク３１をＹ方向にマーキングすることによって、欠陥２０，２５を挟み込むように、換言すれば欠陥２０，２５を囲うように、積層光学フィルム１０Ｂの一方の主面１０ａ側の表面にマーキングを行う。

なお、図５（ｄ）では、図５（ｃ）における１つの欠陥２０、及び、この欠陥２０に対応する２つの線状のマーク３１を概略的に示すと共に、図５（ｃ）における１つの欠陥２５、及び、この欠陥２５に対応する２つの線状のマーク３１を概略的に示す。また、図４（ｂ）では、図５（ｃ）における１つの欠陥２０又は２５、及び、この欠陥２０又は２５に対応する２つの線状のマーク３１のみを概略的に示す。

次いで、積層光学フィルム１０Ｂを原反ロール１０７に巻き取る。

この第２の実施形態の積層光学フィルムの欠陥検査方法及び製造方法でも、第１の実施形態の積層光学フィルムの欠陥検査方法及び製造方法と同様の利点を得ることができる。

なお、本発明は上記した本実施形態に限定されることなく種々の変形が可能である。例えば、本実施形態では、欠陥検査を２回行う形態を例示したが、本発明の思想は、欠陥検査を３回以上行う形態にも適用可能である。

また、本実施形態では、欠陥検査の種類として透過検査及び反射検査を例示したが、欠陥検査の種類はこれに限定されない。本発明の思想は、クロスニコル検査などを含む欠陥検査方法にも適用可能である。

また、本実施形態では、記録工程において、検出した欠陥２０の座標情報をバーコード４０として積層光学フィルム１０Ａに記録したが、記録工程において、検出した欠陥２０の座標情報をコンピュータ等のメモリーに記録してもよい。また、本実施形態では、第２検査工程において、コード読取器１１７によってバーコード４０に記録した欠陥の座標情報を読み取ったが、第２検査工程において、コンピュータ等のメモリーに記録された座標情報を読み取ってもよい。

１０Ａ，１０Ｂ…積層光学フィルム、１１…光学フィルム、１２…保護フィルム、１３…セパレートフィルム付き粘着材、１４…セパレートフィルム、１５…粘着材、２０，２１，２５…欠陥、３０，３１…マーク、４０…バーコード（コード）、１０１，１０２，１０４，１０５，１０７…原反ロール、１０３、１０６…貼合ロール、１１１…透過検査器、１１３，１１９…インクジェット印刷器、１１５…透過検査器又は反射検査器、１１７…コード読取器。

Claims (5)

1. 光学フィルムに保護フィルム及び粘着材の少なくとも一方を貼り合せて積層光学フィルムを得ながら、前記積層光学フィルム中の欠陥を検査する方法であって、
   前記光学フィルムの欠陥検査を行って第１欠陥情報を得る第１検査工程と、
   前記光学フィルムに前記保護フィルム及び前記粘着材の少なくとも一方を貼り合せて前記積層光学フィルムを生成する工程と、
   前記第１欠陥情報を記録する記録工程と、
   前記積層光学フィルムの欠陥検査を行って得られた検出結果から、前記記録工程において記録した前記第１欠陥情報に対応する欠陥を除いて第２欠陥情報を得る第２検査工程と、
   前記第１欠陥情報に対応する欠陥、及び、前記第２欠陥情報に対応する欠陥に対応して前記積層光学フィルムにマーキングを行うマーキング工程と、
   を含み、
   前記記録工程では、前記光学フィルムの幅方向における端部に前記第１欠陥情報を記録し、
   前記第２検査工程では、前記光学フィルムに記録された前記第１欠陥情報を読み取るとともに、前記検出結果から、前記第１欠陥情報に対応する欠陥を除いて第２欠陥情報を得ることを特徴とする、
   積層光学フィルムの欠陥検査方法。
2. 前記第１検査工程における欠陥検査方法と前記第２検査工程における欠陥検査方法とは同一である、請求項１に記載の積層光学フィルムの欠陥検査方法。
3. 前記第１検査工程における欠陥検査方法と前記第２検査工程における欠陥検査方法とは異なる、請求項１に記載の積層光学フィルムの欠陥検査方法。
4. 光学フィルムの欠陥を検査する方法であって、
   前記光学フィルムの欠陥検査を行って第１欠陥情報を得る第１検査工程と、
   前記第１欠陥情報を記録する記録工程と、
   前記光学フィルムに対して、前記第１検査工程における欠陥検査とは異なる欠陥検査を行って得られた検出結果から、前記記録工程において記録した前記第１欠陥情報に対応する欠陥を除いて第２欠陥情報を得る第２検査工程と、
   前記第１欠陥情報に対応する欠陥、及び、前記第２欠陥情報に対応する欠陥に対応して前記光学フィルムにマーキングを行うマーキング工程と、
   を含み、
   前記記録工程では、前記光学フィルムの幅方向における端部に前記第１欠陥情報を記録し、
   前記第２検査工程では、前記光学フィルムに記録された前記第１欠陥情報を読み取るとともに、前記検出結果から、前記第１欠陥情報に対応する欠陥を除いて第２欠陥情報を得ることを特徴とする、
   光学フィルムの欠陥検査方法。
5. 光学フィルムに保護フィルム及び粘着材の少なくとも一方を貼り合せて積層光学フィルムを製造する方法であって、
   請求項１〜３の何れか１項に記載の積層光学フィルムの欠陥検査方法を含む、
   積層光学フィルムの製造方法。