JP5984403B2 - ターゲット構造体及びそれを備える放射線発生装置 - Google Patents
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Description
前記ターゲット層の表面には凹凸が形成され、凹部は前記ターゲット層の厚さの半分以上の深さを有し、
前記凹部を塞ぐことなく、前記ターゲット層の表面を覆う保護層を有することを特徴とするターゲット構造体を提供するものである。
まず、図1を用いて本発明のターゲット構造体について説明する。図1は本実施形態の放射線透過型のターゲット構造体の模式図であり、図1(a)は上面図、図1(b)は図1(a)における領域30の拡大図、図1(c)(d)は図1(b)のA−A’線における断面図である。
次に、図3を用いて本発明のターゲット構造体について説明する。図3(a)(b)は本実施形態の放射線透過型のターゲット構造体の断面図である。本実施形態は、基板2とターゲット層3の間に中間層5を備えたものであり、その他については第1の実施形態と同様とすることができる。
次に、図4を用いて本発明のターゲット構造体について説明する。図4は本実施形態の放射線透過型のターゲット構造体の断面図である。本実施形態は、ターゲット層3の凹部4を塞ぐことなく、ターゲット層3を覆う保護層6を備えたものであり、その他については第1の実施形態と同様とすることができる。
次に、図5を用いて、本発明の放射線透過型のターゲット構造体を備える放射線発生装置について説明する。本実施形態の放射線発生装置は、放射線発生管10を備えており、この放射線発生管10は収納容器17の内部に収納されている。
次に、第4の実施形態の放射線発生装置を用いた放射線撮影システムについて説明する。図6は本実施形態の放射線撮影システムの構成図である。
Claims (6)
- 基板の上に、電子の照射により放射線を発生するターゲット層が20μm以下の厚さで形成された放射線透過型のターゲット構造体であって、
前記ターゲット層の表面には凹凸が形成され、凹部は前記ターゲット層の厚さの半分以上の深さを有し、
前記凹部を塞ぐことなく、前記ターゲット層の表面を覆う保護層を有することを特徴とするターゲット構造体。 - 前記ターゲット層は、前記凹部によって複数に分割されていることを特徴とする請求項1に記載のターゲット構造体。
- 前記凹部は平均の幅が0.1μm以上20μm以下であることを特徴とする請求項1又は2に記載のターゲット構造体。
- 前記凸部は平均の幅が1μm以上100μm以下であることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載のターゲット構造体。
- 請求項1乃至4のいずれか1項に記載のターゲット構造体と、電子を放出する電子放出源とを備えることを特徴とする放射線発生装置。
- 請求項5に記載の放射線発生装置と、該放射線発生装置から放出され、被検体を透過した放射線を検出する放射線検出装置とを備えることを特徴とする放射線撮影システム。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012018561A JP5984403B2 (ja) | 2012-01-31 | 2012-01-31 | ターゲット構造体及びそれを備える放射線発生装置 |
US13/751,965 US20130195246A1 (en) | 2012-01-31 | 2013-01-28 | Target structure and radiation generating apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012018561A JP5984403B2 (ja) | 2012-01-31 | 2012-01-31 | ターゲット構造体及びそれを備える放射線発生装置 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2013157269A JP2013157269A (ja) | 2013-08-15 |
JP2013157269A5 JP2013157269A5 (ja) | 2015-03-12 |
JP5984403B2 true JP5984403B2 (ja) | 2016-09-06 |
Family
ID=48870224
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2012018561A Expired - Fee Related JP5984403B2 (ja) | 2012-01-31 | 2012-01-31 | ターゲット構造体及びそれを備える放射線発生装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20130195246A1 (ja) |
JP (1) | JP5984403B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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KR101754277B1 (ko) | 2013-09-03 | 2017-07-06 | 한국전자통신연구원 | 아노드 전극을 구비하는 엑스선 튜브 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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US8831179B2 (en) | 2011-04-21 | 2014-09-09 | Carl Zeiss X-ray Microscopy, Inc. | X-ray source with selective beam repositioning |
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US9449781B2 (en) | 2013-12-05 | 2016-09-20 | Sigray, Inc. | X-ray illuminators with high flux and high flux density |
US9448190B2 (en) | 2014-06-06 | 2016-09-20 | Sigray, Inc. | High brightness X-ray absorption spectroscopy system |
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US10269528B2 (en) | 2013-09-19 | 2019-04-23 | Sigray, Inc. | Diverging X-ray sources using linear accumulation |
US9390881B2 (en) * | 2013-09-19 | 2016-07-12 | Sigray, Inc. | X-ray sources using linear accumulation |
US10295485B2 (en) | 2013-12-05 | 2019-05-21 | Sigray, Inc. | X-ray transmission spectrometer system |
US10297359B2 (en) | 2013-09-19 | 2019-05-21 | Sigray, Inc. | X-ray illumination system with multiple target microstructures |
US9570265B1 (en) | 2013-12-05 | 2017-02-14 | Sigray, Inc. | X-ray fluorescence system with high flux and high flux density |
US10304580B2 (en) | 2013-10-31 | 2019-05-28 | Sigray, Inc. | Talbot X-ray microscope |
USRE48612E1 (en) | 2013-10-31 | 2021-06-29 | Sigray, Inc. | X-ray interferometric imaging system |
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JP6937380B2 (ja) | 2017-03-22 | 2021-09-22 | シグレイ、インコーポレイテッド | X線分光を実施するための方法およびx線吸収分光システム |
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US10989822B2 (en) | 2018-06-04 | 2021-04-27 | Sigray, Inc. | Wavelength dispersive x-ray spectrometer |
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US10656105B2 (en) | 2018-08-06 | 2020-05-19 | Sigray, Inc. | Talbot-lau x-ray source and interferometric system |
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US11056308B2 (en) | 2018-09-07 | 2021-07-06 | Sigray, Inc. | System and method for depth-selectable x-ray analysis |
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-
2012
- 2012-01-31 JP JP2012018561A patent/JP5984403B2/ja not_active Expired - Fee Related
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2013
- 2013-01-28 US US13/751,965 patent/US20130195246A1/en not_active Abandoned
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2013157269A (ja) | 2013-08-15 |
US20130195246A1 (en) | 2013-08-01 |
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Legal Events
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