JP5973833B2 - パワー半導体モジュール - Google Patents

Description

本発明は、３相インバータ回路のＵ相とＶ相とＷ相とをモジュール長手方向に配列し、複数のＩＧＢＴチップをＵ相の上アームに設けたパワー半導体モジュールに関する。

特に、本発明は、３相インバータ回路のＵ相の一部を構成する複数のＩＧＢＴチップのスイッチングタイミングのばらつきを抑制しつつ、パワー半導体モジュール全体のモジュール長手方向寸法を小型化することができるパワー半導体モジュールに関する。

従来から、３相インバータ回路のＵ相とＶ相とＷ相とをモジュール長手方向に配列し、複数のＩＧＢＴチップをＵ相の上アームに設けたパワー半導体モジュールが知られている。この種のパワー半導体モジュールの例としては、例えば特許文献１（特開２００５−２５９７４８号公報）の図２、特許文献２（特開２０１２−５５１６３号公報）の図１６等に記載されたものがある。

特許文献１の図２に記載されたパワー半導体モジュールでは、３相インバータ回路のＵ相の上アームの一部を構成する絶縁基板と、Ｕ相の下アームの一部を構成する絶縁基板と、３相インバータ回路のＶ相の上アームの一部を構成する絶縁基板と、Ｖ相の下アームの一部を構成する絶縁基板と、３相インバータ回路のＷ相の上アームの一部を構成する絶縁基板と、Ｗ相の下アームの一部を構成する絶縁基板とが設けられている。

また、特許文献１の図２に記載されたパワー半導体モジュールでは、３相インバータ回路のＶ相が、Ｕ相と同一形状に形成されると共に、Ｖ相が、Ｕ相に対し、モジュール長手方向の第１の側に隣接せしめられて配置されている。更に、３相インバータ回路のＷ相が、Ｕ相と同一形状に形成されると共に、Ｗ相が、Ｖ相に対し、モジュール長手方向の第１の側に隣接せしめられて配置されている。

詳細には、特許文献１の図２に記載されたパワー半導体モジュールでは、３相インバータ回路のＵ相の下アームが、３相インバータ回路のＵ相の上アームに対し、モジュール長手方向の第１の側の反対側である第２の側に隣接せしめられて配置されている。また、２個のＩＧＢＴチップと２個のダイオードチップとがＵ相の上アームに設けられ、２個のＩＧＢＴチップと２個のダイオードチップとがＵ相の下アームに設けられている。更に、Ｕ相の上アームの２個のＩＧＢＴチップおよび２個のダイオードチップが、ＩＧＢＴチップ、ダイオードチップ、ＩＧＢＴチップ、ダイオードチップの順でモジュール短手方向に配列され、Ｕ相の上アームの絶縁基板の第１導体パターンに搭載されている。また、Ｕ相の下アームの２個のＩＧＢＴチップおよび２個のダイオードチップが、ダイオードチップ、ＩＧＢＴチップ、ダイオードチップ、ＩＧＢＴチップの順でモジュール短手方向に配列され、Ｕ相の下アームの絶縁基板の第１導体パターンに搭載されている。

ところで、特許文献１の図２に記載されたパワー半導体モジュールでは、Ｕ相の上アームの絶縁基板の第１導体パターンのうちの正極端子が電気的に接続される接続部分が、Ｕ相の上アームの２個のＩＧＢＴチップの線対称中心線上に配置されておらず、Ｕ相の上アームの２個のダイオードチップの線対称中心線上に配置されていない。

また、特許文献１の図２に記載されたパワー半導体モジュールでは、Ｕ相の上アームの絶縁基板の第２導体パターンのうちの交流端子が電気的に接続される接続部分が、Ｕ相の上アームの２個のＩＧＢＴチップの線対称中心線上に配置されておらず、Ｕ相の上アームの２個のダイオードチップの線対称中心線上に配置されていない。

そのため、特許文献１の図２に記載されたパワー半導体モジュールでは、Ｕ相の上アームの２個のＩＧＢＴチップのスイッチングタイミングのばらつきが大きくなってしまう。

更に、特許文献１の図２に記載されたパワー半導体モジュールでは、Ｕ相の下アームの絶縁基板の第１導体パターンのうちの交流端子が電気的に接続される接続部分が、Ｕ相の下アームの２個のＩＧＢＴチップの線対称中心線上に配置されておらず、Ｕ相の下アームの２個のダイオードチップの線対称中心線上に配置されていない。

また、特許文献１の図２に記載されたパワー半導体モジュールでは、Ｕ相の下アームの絶縁基板の第２導体パターンのうちの負極端子が電気的に接続される接続部分が、Ｕ相の下アームの２個のＩＧＢＴチップの線対称中心線上に配置されておらず、Ｕ相の下アームの２個のダイオードチップの線対称中心線上に配置されていない。

そのため、特許文献１の図２に記載されたパワー半導体モジュールでは、Ｕ相の下アームの２個のＩＧＢＴチップのスイッチングタイミングのばらつきが大きくなってしまう。

更に、特許文献２の図１６に記載されたパワー半導体モジュールでは、３相インバータ回路のＵ相の上アームの一部を構成する絶縁基板と、Ｕ相の下アームの一部を構成する絶縁基板と、Ｖ相の上アームの一部を構成する絶縁基板と、Ｖ相の下アームの一部を構成する絶縁基板と、Ｗ相の上アームの一部を構成する絶縁基板と、Ｗ相の下アームの一部を構成する絶縁基板とが設けられている。

また、特許文献２の図１６に記載されたパワー半導体モジュールでは、３相インバータ回路のＶ相が、Ｕ相と同一形状に形成されている。更に、３相インバータ回路のＷ相が、Ｕ相と同一形状に形成されている。

詳細には、特許文献２の図１６に記載されたパワー半導体モジュールでは、３個のＩＧＢＴチップと３個のダイオードチップとがＵ相の上アームに設けられ、３個のＩＧＢＴチップと３個のダイオードチップとがＵ相の下アームに設けられている。更に、Ｕ相の上アームの３個のＩＧＢＴチップが、モジュール短手方向に配列され、Ｕ相の上アームの絶縁基板の導体パターンに搭載されている。また、Ｕ相の上アームの３個のダイオードチップが、モジュール短手方向に配列され、Ｕ相の上アームの絶縁基板の導体パターンに搭載されている。更に、Ｕ相の下アームの３個のＩＧＢＴチップが、モジュール短手方向に配列され、Ｕ相の下アームの絶縁基板の導体パターンに搭載されている。また、Ｕ相の下アームの３個のダイオードチップが、モジュール短手方向に配列され、Ｕ相の下アームの絶縁基板の導体パターンに搭載されている。

ところで、特許文献２の図１６には、Ｕ相の上アームの絶縁基板の導体パターンのうちの正極端子が電気的に接続される接続部分が記載されていない。

特許文献２の図１６に記載されたパワー半導体モジュールでは、Ｕ相の上アームの絶縁基板の導体パターンのうちの正極端子が電気的に接続される接続部分を、Ｕ相の上アームの３個のＩＧＢＴチップの線対称中心線上であって、Ｕ相の上アームの３個のダイオードチップの線対称中心線上に配置しようとすると、Ｕ相の上アームの絶縁基板の導体パターンのうちの正極端子が電気的に接続される接続部分を、Ｕ相の上アームの３個のＩＧＢＴチップのモジュール長手方向の第１の側（特許文献２の図１６の下側）の端部とモジュール長手方向の第２の側（特許文献２の図１６の上側）の端部との間に位置に配置することができず、Ｕ相の上アームの３個のダイオードチップのモジュール長手方向の第１の側（特許文献２の図１６の下側）の端部とモジュール長手方向の第２の側（特許文献２の図１６の上側）の端部との間に位置に配置することができない。

つまり、特許文献２の図１６に記載されたパワー半導体モジュールでは、Ｕ相の上アームの絶縁基板の導体パターンのうちの正極端子が電気的に接続される接続部分を、Ｕ相の上アームの３個のＩＧＢＴチップの線対称中心線上であって、Ｕ相の上アームの３個のダイオードチップの線対称中心線上に配置しようとすると、Ｕ相の上アームのＩＧＢＴチップおよびダイオードチップをモジュール長手方向に避けた位置に、Ｕ相の上アームの絶縁基板の導体パターンのうちの正極端子が電気的に接続される接続部分を配置しなければならない。

そのため、特許文献２の図１６に記載されたパワー半導体モジュールでは、Ｕ相の上アームの絶縁基板の導体パターンのうちの正極端子が電気的に接続される接続部分が、Ｕ相の上アームのＩＧＢＴチップのモジュール長手方向の第１の側の端部とモジュール長手方向の第２の側の端部との間の位置、あるいは、Ｕ相の上アームのダイオードチップのモジュール長手方向の第１の側の端部とモジュール長手方向の第２の側の端部との間の位置に配置されている場合よりも、パワー半導体モジュール全体のモジュール長手方向寸法が大型化してしまう。

また、特許文献２の図１６には、Ｕ相の下アームの絶縁基板の導体パターンのうちの交流端子が電気的に接続される接続部分が記載されていない。

特許文献２の図１６に記載されたパワー半導体モジュールでは、Ｕ相の下アームの絶縁基板の導体パターンのうちの交流端子が電気的に接続される接続部分を、Ｕ相の下アームの３個のＩＧＢＴチップの線対称中心線上であって、Ｕ相の下アームの３個のダイオードチップの線対称中心線上に配置しようとすると、Ｕ相の下アームの絶縁基板の導体パターンのうちの交流端子が電気的に接続される接続部分を、Ｕ相の下アームの３個のＩＧＢＴチップのモジュール長手方向の第１の側（特許文献２の図１６の下側）の端部とモジュール長手方向の第２の側（特許文献２の図１６の上側）の端部との間に位置に配置することができず、Ｕ相の下アームの３個のダイオードチップのモジュール長手方向の第１の側（特許文献２の図１６の下側）の端部とモジュール長手方向の第２の側（特許文献２の図１６の上側）の端部との間に位置に配置することができない。

つまり、特許文献２の図１６に記載されたパワー半導体モジュールでは、Ｕ相の下アームの絶縁基板の導体パターンのうちの交流端子が電気的に接続される接続部分を、Ｕ相の下アームの３個のＩＧＢＴチップの線対称中心線上であって、Ｕ相の下アームの３個のダイオードチップの線対称中心線上に配置しようとすると、Ｕ相の下アームのＩＧＢＴチップおよびダイオードチップをモジュール長手方向に避けた位置に、Ｕ相の下アームの絶縁基板の導体パターンのうちの交流端子が電気的に接続される接続部分を配置しなければならない。

そのため、特許文献２の図１６に記載されたパワー半導体モジュールでは、Ｕ相の下アームの絶縁基板の導体パターンのうちの交流端子が電気的に接続される接続部分が、Ｕ相の下アームのＩＧＢＴチップのモジュール長手方向の第１の側の端部とモジュール長手方向の第２の側の端部との間の位置、あるいは、Ｕ相の下アームのダイオードチップのモジュール長手方向の第１の側の端部とモジュール長手方向の第２の側の端部との間の位置に配置されている場合よりも、パワー半導体モジュール全体のモジュール長手方向寸法が大型化してしまう。

特開２００５−２５９７４８号公報 特開２０１２−５５１６３号公報

前記問題点に鑑み、本発明は、３相インバータ回路のＵ相の一部を構成する複数のＩＧＢＴチップのスイッチングタイミングのばらつきを抑制しつつ、パワー半導体モジュール全体のモジュール長手方向寸法を小型化することができるパワー半導体モジュールを提供することを目的とする。

請求項１に記載の発明によれば、３相インバータ回路のＵ相（ＰＵ）の一部を構成するＵ相用絶縁基板（２Ｕ）を設け、
第１導体パターン（２Ｕａ）と第２導体パターン（２Ｕｂ）と第３導体パターン（２Ｕｃ）と第４導体パターン（２Ｕｄ）と第５導体パターン（２Ｕｅ）とをモジュール長手方向に並べてＵ相用絶縁基板（２Ｕ）の上面に形成し、
第１導体パターン（２Ｕａ）を、第２導体パターン（２Ｕｂ）に対し、モジュール長手方向の第１の側に隣接させて配置し、
第３導体パターン（２Ｕｃ）を、第２導体パターン（２Ｕｂ）に対し、モジュール長手方向の第１の側の反対側である、モジュール長手方向の第２の側に隣接させて配置し、
第４導体パターン（２Ｕｄ）を、第１導体パターン（２Ｕａ）に対し、モジュール長手方向の第１の側に隣接させて配置し、
第５導体パターン（２Ｕｅ）を、第３導体パターン（２Ｕｃ）に対し、モジュール長手方向の第２の側に隣接させて配置し、
Ｕ相用絶縁基板（２Ｕ）の下面と放熱部材（１）の上面とを接合し、
第１ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵａ）が、第１ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵａ）に対し、モジュール長手方向の第１の側に位置するように、第１ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵａ）および第１ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵａ）を、モジュール長手方向に隣接させて第１導体パターン（２Ｕａ）に搭載し、かつ、第１ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵａ）のコレクタ電極と第１導体パターン（２Ｕａ）とを接続すると共に、第１ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵａ）のカソード電極と第１導体パターン（２Ｕａ）とを接続し、
第２ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｂ）が、第２ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵｂ）に対し、モジュール長手方向の第１の側に位置するように、第２ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｂ）および第２ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵｂ）を、モジュール長手方向に隣接させて第１導体パターン（２Ｕａ）に搭載し、かつ、第２ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｂ）のコレクタ電極と第１導体パターン（２Ｕａ）とを接続すると共に、第２ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵｂ）のカソード電極と第１導体パターン（２Ｕａ）とを接続し、
第１ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵａ）が、第２ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｂ）に対し、モジュール長手方向に直交するモジュール短手方向の第１の側に位置するように、かつ、第１ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵａ）と第２ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｂ）との間に第１の間隔（Ｗ１）を有するように、第１ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵａ）および第２ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｂ）をモジュール短手方向に配列し、
第１ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵａ）が、第２ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵｂ）に対し、モジュール短手方向の第１の側に位置するように、かつ、第１ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵａ）と第２ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵｂ）との間に第２の間隔（Ｗ２）を有するように、第１ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵａ）および第２ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵｂ）をモジュール短手方向に配列し、
第３ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｃ）が、第３ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵｃ）に対し、モジュール長手方向の第１の側に位置するように、第３ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｃ）および第３ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵｃ）を、モジュール長手方向に隣接させて第１導体パターン（２Ｕａ）に搭載し、かつ、第３ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｃ）のコレクタ電極と第１導体パターン（２Ｕａ）とを接続すると共に、第３ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵｃ）のカソード電極と第１導体パターン（２Ｕａ）とを接続し、
第３ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｃ）が、第１ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵａ）に対し、モジュール短手方向の第１の側に位置するように、かつ、第３ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｃ）と第１ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵａ）との間に第３の間隔（Ｗ３）を有するように、第３ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｃ）および第１ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵａ）をモジュール短手方向に配列し、
第３ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵｃ）が、第１ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵａ）に対し、モジュール短手方向の第１の側に位置するように、かつ、第３ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵｃ）と第１ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵａ）との間に第４の間隔（Ｗ４）を有するように、第３ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵｃ）および第１ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵａ）をモジュール短手方向に配列し、
第４ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｄ）が、第４ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵｄ）に対し、モジュール長手方向の第１の側に位置するように、第４ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｄ）および第４ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵｄ）を、モジュール長手方向に隣接させて第１導体パターン（２Ｕａ）に搭載し、かつ、第４ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｄ）のコレクタ電極と第１導体パターン（２Ｕａ）とを接続すると共に、第４ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵｄ）のカソード電極と第１導体パターン（２Ｕａ）とを接続し、
第４ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｄ）が、第２ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｂ）に対し、モジュール短手方向の第１の側の反対側である、モジュール短手方向の第２の側に位置するように、かつ、第４ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｄ）と第２ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｂ）との間に第５の間隔（Ｗ５）を有するように、第４ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｄ）および第２ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｂ）をモジュール短手方向に配列し、
第４ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵｄ）が、第２ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵｂ）に対し、モジュール短手方向の第２の側に位置するように、かつ、第４ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵｄ）と第２ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵｂ）との間に第６の間隔（Ｗ６）を有するように、第４ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵｄ）および第２ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵｂ）をモジュール短手方向に配列し、
第５ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬａ）が、第５ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬａ）に対し、モジュール長手方向の第１の側に位置するように、第５ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬａ）および第５ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬａ）を、モジュール長手方向に隣接させて第２導体パターン（２Ｕｂ）に搭載し、かつ、第５ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬａ）のコレクタ電極と第２導体パターン（２Ｕｂ）とを接続すると共に、第５ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬａ）のカソード電極と第２導体パターン（２Ｕｂ）とを接続し、
第６ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｂ）が、第６ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬｂ）に対し、モジュール長手方向の第１の側に位置するように、第６ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｂ）および第６ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬｂ）を、モジュール長手方向に隣接させて第２導体パターン（２Ｕｂ）に搭載し、かつ、第６ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｂ）のコレクタ電極と第２導体パターン（２Ｕｂ）とを接続すると共に、第６ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬｂ）のカソード電極と第２導体パターン（２Ｕｂ）とを接続し、
第５ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬａ）が、第６ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｂ）に対し、モジュール短手方向の第１の側に位置するように、かつ、第５ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬａ）と第６ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｂ）との間に第７の間隔（Ｗ７）を有するように、第５ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬａ）および第６ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｂ）をモジュール短手方向に配列し、
第５ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬａ）が、第６ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬｂ）に対し、モジュール短手方向の第１の側に位置するように、かつ、第５ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬａ）と第６ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬｂ）との間に第８の間隔（Ｗ８）を有するように、第５ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬａ）および第６ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬｂ）をモジュール短手方向に配列し、
第７ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｃ）が、第７ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬｃ）に対し、モジュール長手方向の第１の側に位置するように、第７ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｃ）および第７ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬｃ）を、モジュール長手方向に隣接させて第２導体パターン（２Ｕｂ）に搭載し、かつ、第７ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｃ）のコレクタ電極と第２導体パターン（２Ｕｂ）とを接続すると共に、第７ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬｃ）のカソード電極と第２導体パターン（２Ｕｂ）とを接続し、
第７ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｃ）が、第５ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬａ）に対し、モジュール短手方向の第１の側に位置するように、かつ、第７ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｃ）と第５ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬａ）との間に第９の間隔（Ｗ９）を有するように、第７ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｃ）および第５ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬａ）をモジュール短手方向に配列し、
第７ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬｃ）が、第５ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬａ）に対し、モジュール短手方向の第１の側に位置するように、かつ、第７ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬｃ）と第５ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬａ）との間に第１０の間隔（Ｗ１０）を有するように、第７ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬｃ）および第５ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬａ）をモジュール短手方向に配列し、
第８ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｄ）が、第８ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬｄ）に対し、モジュール長手方向の第１の側に位置するように、第８ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｄ）および第８ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬｄ）を、モジュール長手方向に隣接させて第２導体パターン（２Ｕｂ）に搭載し、かつ、第８ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｄ）のコレクタ電極と第２導体パターン（２Ｕｂ）とを接続すると共に、第８ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬｄ）のカソード電極と第２導体パターン（２Ｕｂ）とを接続し、
第８ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｄ）が、第６ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｂ）に対し、モジュール短手方向の第２の側に位置するように、かつ、第８ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｄ）と第６ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｂ）との間に第１１の間隔（Ｗ１１）を有するように、第８ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｄ）および第６ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｂ）をモジュール短手方向に配列し、
第８ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬｄ）が、第６ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬｂ）に対し、モジュール短手方向の第２の側に位置するように、かつ、第８ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬｄ）と第６ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬｂ）との間に第１２の間隔（Ｗ１２）を有するように、第８ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬｄ）および第６ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬｂ）をモジュール短手方向に配列し、
モジュール長手方向に延びている第１ワイヤ（３ＵＵ１ａ）によって、第１ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵａ）のアノード電極と第２導体パターン（２Ｕｂ）とを接続し、
モジュール長手方向に延びている第２ワイヤ（３ＵＵ１ｂ）によって、第２ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵｂ）のアノード電極と第２導体パターン（２Ｕｂ）とを接続し、
モジュール長手方向に延びている第３ワイヤ（３ＵＵ１ｃ）によって、第３ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵｃ）のアノード電極と第２導体パターン（２Ｕｂ）とを接続し、
モジュール長手方向に延びている第４ワイヤ（３ＵＵ１ｄ）によって、第４ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵｄ）のアノード電極と第２導体パターン（２Ｕｂ）とを接続し、
モジュール長手方向に延びている第５ワイヤ（３ＵＬ１ａ）によって、第５ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬａ）のアノード電極と第３導体パターン（２Ｕｃ）とを接続し、
モジュール長手方向に延びている第６ワイヤ（３ＵＬ１ｂ）によって、第６ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬｂ）のアノード電極と第３導体パターン（２Ｕｃ）とを接続し、
モジュール長手方向に延びている第７ワイヤ（３ＵＬ１ｃ）によって、第７ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬｃ）のアノード電極と第３導体パターン（２Ｕｃ）とを接続し、
モジュール長手方向に延びている第８ワイヤ（３ＵＬ１ｄ）によって、第８ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬｄ）のアノード電極と第３導体パターン（２Ｕｃ）とを接続し、
モジュール長手方向に延びている第９ワイヤ（３ＵＵ２ａ）によって、第１ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵａ）のエミッタ電極と第２導体パターン（２Ｕｂ）とを接続し、
モジュール長手方向に延びている第１０ワイヤ（３ＵＵ２ｂ）によって、第２ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｂ）のエミッタ電極と第２導体パターン（２Ｕｂ）とを接続し、
モジュール長手方向に延びている第１１ワイヤ（３ＵＵ２ｃ）によって、第３ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｃ）のエミッタ電極と第２導体パターン（２Ｕｂ）とを接続し、
モジュール長手方向に延びている第１２ワイヤ（３ＵＵ２ｄ）によって、第４ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｄ）のエミッタ電極と第２導体パターン（２Ｕｂ）とを接続し、
モジュール長手方向に延びている第１３ワイヤ（３ＵＬ２ａ）によって、第５ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬａ）のエミッタ電極と第３導体パターン（２Ｕｃ）とを接続し、
モジュール長手方向に延びている第１４ワイヤ（３ＵＬ２ｂ）によって、第６ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｂ）のエミッタ電極と第３導体パターン（２Ｕｃ）とを接続し、
モジュール長手方向に延びている第１５ワイヤ（３ＵＬ２ｃ）によって、第７ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｃ）のエミッタ電極と第３導体パターン（２Ｕｃ）とを接続し、
モジュール長手方向に延びている第１６ワイヤ（３ＵＬ２ｄ）によって、第８ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｄ）のエミッタ電極と第３導体パターン（２Ｕｃ）とを接続し、
モジュール長手方向に延びている第１７ワイヤ（３ＵＵ３ａ）によって、第１ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵａ）のゲート電極と第４導体パターン（２Ｕｄ）とを接続し、
モジュール長手方向に延びている第１８ワイヤ（３ＵＵ３ｂ）によって、第２ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｂ）のゲート電極と第４導体パターン（２Ｕｄ）とを接続し、
モジュール長手方向に延びている第１９ワイヤ（３ＵＵ３ｃ）によって、第３ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｃ）のゲート電極と第４導体パターン（２Ｕｄ）とを接続し、
モジュール長手方向に延びている第２０ワイヤ（３ＵＵ３ｄ）によって、第４ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｄ）のゲート電極と第４導体パターン（２Ｕｄ）とを接続し、
モジュール長手方向に延びている第２１ワイヤ（３ＵＬ３ａ）によって、第５ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬａ）のゲート電極と第５導体パターン（２Ｕｅ）とを接続し、
モジュール長手方向に延びている第２２ワイヤ（３ＵＬ３ｂ）によって、第６ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｂ）のゲート電極と第５導体パターン（２Ｕｅ）とを接続し、
モジュール長手方向に延びている第２３ワイヤ（３ＵＬ３ｃ）によって、第７ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｃ）のゲート電極と第５導体パターン（２Ｕｅ）とを接続し、
モジュール長手方向に延びている第２４ワイヤ（３ＵＬ３ｄ）によって、第８ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｄ）のゲート電極と第５導体パターン（２Ｕｅ）とを接続し、
３相インバータ回路のＵ相（ＰＵ）の上アーム（ＰＵＵ）の一部を構成する正極端子（Ｐ１）と、３相インバータ回路のＵ相（ＰＵ）の一部を構成する交流端子（Ｕ）と、３相インバータ回路のＵ相（ＰＵ）の下アーム（ＰＵＬ）の一部を構成する負極端子（Ｎ１）と、３相インバータ回路のＵ相（ＰＵ）の上アーム（ＰＵＵ）の一部を構成する第１ゲート電極端子（ＧＵＵ）と、３相インバータ回路のＵ相（ＰＵ）の下アーム（ＰＵＬ）の一部を構成する第２ゲート電極端子（ＧＵＬ）とを設け、
正極端子（Ｐ１）と第１導体パターン（２Ｕａ）とを電気的に接続し、
交流端子（Ｕ）と第２導体パターン（２Ｕｂ）とを電気的に接続し、
負極端子（Ｎ１）と第３導体パターン（２Ｕｃ）とを電気的に接続し、
第１ゲート電極端子（ＧＵＵ）と第４導体パターン（２Ｕｄ）とを電気的に接続し、
第２ゲート電極端子（ＧＵＬ）と第５導体パターン（２Ｕｅ）とを電気的に接続し、
それにより、３相インバータ回路のＵ相（ＰＵ）を構成し、
３相インバータ回路のＶ相（ＰＶ）をＵ相（ＰＵ）と同一形状に形成すると共に、Ｖ相（ＰＶ）を、Ｕ相（ＰＵ）に対し、モジュール長手方向の第１の側に隣接させて配置し、
３相インバータ回路のＷ相（ＰＷ）をＵ相（ＰＵ）と同一形状に形成すると共に、Ｗ相（ＰＷ）を、Ｖ相（ＰＶ）に対し、モジュール長手方向の第１の側に隣接させて配置したパワー半導体モジュール（１００）において、
第１の間隔（Ｗ１）および第２の間隔（Ｗ２）を、第３の間隔（Ｗ３）、第４の間隔（Ｗ４）、第５の間隔（Ｗ５）および第６の間隔（Ｗ６）よりも大きい値に設定し、
第１導体パターン（２Ｕａ）のうちの正極端子（Ｐ１）が電気的に接続される接続部分（２Ｕａ１）の少なくとも一部分を、第１ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵａ）および第１ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵａ）のモジュール短手方向の第２の側の端部と、第２ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｂ）および第２ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵｂ）のモジュール短手方向の第１の側の端部との間の位置であって、第１ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵａ）および第２ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｂ）のモジュール長手方向の第１の側の端部と、第１ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵａ）および第２ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵｂ）のモジュール長手方向の第２の側の端部との間の位置に配置し、
第７の間隔（Ｗ７）を、第９の間隔（Ｗ９）および第１１の間隔（Ｗ１１）よりも大きい値に設定し、
第２導体パターン（２Ｕｂ）のうちの交流端子（Ｕ）が電気的に接続される接続部分（２Ｕｂ１）の少なくとも一部分を、第５ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬａ）のモジュール短手方向の第２の側の端部と、第６ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｂ）のモジュール短手方向の第１の側の端部との間の位置であって、第５ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬａ）および第６ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｂ）のモジュール長手方向の第１の側の端部と、第５ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬａ）および第６ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｂ）のモジュール長手方向の第２の側の端部との間の位置に配置し、
第８の間隔（Ｗ８）を、第１０の間隔（Ｗ１０）および第１２の間隔（Ｗ１２）よりも大きい値に設定し、
第３導体パターン（２Ｕｃ）のうちの負極端子（Ｎ１）が電気的に接続される接続部分（２Ｕｃ１）の少なくとも一部分を、第５ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬａ）のモジュール短手方向の第２の側の端部と、第６ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬｂ）のモジュール短手方向の第１の側の端部との間の位置であって、第５ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬａ）および第６ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬｂ）のモジュール長手方向の第１の側の端部と、第５ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬａ）および第６ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬｂ）のモジュール長手方向の第２の側の端部との間の位置に配置し、
第１導体パターン（２Ｕａ）の接続部分（２Ｕａ１）を、第１ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵａ）と第２ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｂ）との線対称中心線（ＣＬ１）上であって、第３ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｃ）と第４ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｄ）との線対称中心線（ＣＬ１）上であって、第１ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵａ）と第２ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵｂ）との線対称中心線（ＣＬ１）上であって、第３ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵｃ）と第４ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵｄ）との線対称中心線（ＣＬ１）上に配置し、
第２導体パターン（２Ｕｂ）の接続部分（２Ｕｂ１）を、第１ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵａ）と第２ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｂ）との線対称中心線（ＣＬ１）上であって、第３ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｃ）と第４ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｄ）との線対称中心線（ＣＬ１）上であって、第１ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵａ）と第２ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵｂ）との線対称中心線（ＣＬ１）上であって、第３ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵｃ）と第４ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵｄ）との線対称中心線（ＣＬ１）上であって、第５ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬａ）と第６ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｂ）との線対称中心線（ＣＬ２）上であって、第７ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｃ）と第８ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｄ）との線対称中心線（ＣＬ２）上であって、第５ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬａ）と第６ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬｂ）との線対称中心線（ＣＬ３）上であって、第７ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬｃ）と第８ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬｄ）との線対称中心線（ＣＬ３）上に配置し、
第３導体パターン（２Ｕｃ）の接続部分（２Ｕｃ１）を、第５ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬａ）と第６ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｂ）との線対称中心線（ＣＬ２）上であって、第７ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｃ）と第８ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｄ）との線対称中心線（ＣＬ２）上であって、第５ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬａ）と第６ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬｂ）との線対称中心線（ＣＬ３）上であって、第７ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬｃ）と第８ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬｄ）との線対称中心線（ＣＬ３）上に配置したことを特徴とするパワー半導体モジュール（１００）が提供される。

請求項２に記載の発明によれば、第６導体パターン（２Ｕｆ）をＵ相用絶縁基板（２Ｕ）の上面に形成し、
第６導体パターン（２Ｕｆ）を、第４導体パターン（２Ｕｄ）に対し、モジュール長手方向の第１の側に隣接させて配置し、
モジュール長手方向に延びている第２５ワイヤ（３ＵＵ４ａ）によって、第１ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵａ）のエミッタ電極と第６導体パターン（２Ｕｆ）とを接続し、
モジュール長手方向に延びている第２６ワイヤ（３ＵＵ４ｂ）によって、第２ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｂ）のエミッタ電極と第６導体パターン（２Ｕｆ）とを接続し、
モジュール長手方向に延びている第２７ワイヤ（３ＵＵ４ｃ）によって、第３ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｃ）のエミッタ電極と第６導体パターン（２Ｕｆ）とを接続し、
モジュール長手方向に延びている第２８ワイヤ（３ＵＵ４ｄ）によって、第４ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｄ）のエミッタ電極と第６導体パターン（２Ｕｆ）とを接続し、
Ｖ相（ＰＶ）およびＷ相（ＰＷ）をＵ相（ＰＵ）と同一形状に形成し、
モジュール長手方向の第１の側に位置する第１側壁（５ａ）と、モジュール長手方向の第２の側に位置する第２側壁（５ｂ）と、モジュール短手方向の第１の側に位置する第３側壁（５ｃ）と、モジュール短手方向の第２の側に位置する第４側壁（５ｄ）とを有する外囲ケース（５）を設け、
第３側壁（５ｃ）と第４側壁（５ｄ）との間に延びており、かつ、３相インバータ回路のＵ相（ＰＵ）とＶ相（ＰＶ）とを仕切る第１仕切り壁（５ｅ）を外囲ケース（５）に形成し、
第３側壁（５ｃ）と第４側壁（５ｄ）との間に延びており、かつ、３相インバータ回路のＶ相（ＰＶ）とＷ相（ＰＷ）とを仕切る第２仕切り壁（５ｆ）を外囲ケース（５）に形成し、
Ｕ相（ＰＵ）の正極端子（Ｐ１）と、Ｕ相（ＰＵ）の負極端子（Ｎ１）と、Ｖ相（ＰＶ）の正極端子（Ｐ２）と、Ｖ相（ＰＶ）の負極端子（Ｎ２）と、Ｗ相（ＰＷ）の正極端子（Ｐ３）と、Ｗ相（ＰＷ）の負極端子（Ｎ３）とを、外囲ケース（５）の第３側壁（５ｃ）にインサート成形し、
Ｕ相（ＰＵ）の交流端子（Ｕ）と、Ｖ相（ＰＶ）の交流端子（Ｖ）と、Ｗ相（ＰＷ）の交流端子（Ｗ）とを、外囲ケース（５）の第４側壁（５ｄ）にインサート成形し、
Ｕ相（ＰＵ）の上アーム（ＰＵＵ）のゲート電極端子（ＧＵＵ）と、Ｕ相（ＰＵ）の上アーム（ＰＵＵ）のコレクタ電位信号端子（ＣＵＵ）と、Ｕ相（ＰＵ）の上アーム（ＰＵＵ）のエミッタ電位信号端子（ＥＵＵ）とを、外囲ケース（５）の第１仕切り壁（５ｅ）のうちのモジュール短手方向の第１の側の部分（５ｅ１）にインサート成形し、
Ｕ相（ＰＵ）の上アーム（ＰＵＵ）のゲート電極端子（ＧＵＵ）の鉛直断面形状がＬ字状になるように、上側鉛直部分（ＧＵＵＶ）と下側水平部分（ＧＵＵＨ）とをＵ相（ＰＵ）の上アーム（ＰＵＵ）のゲート電極端子（ＧＵＵ）に形成し、
Ｕ相（ＰＵ）の上アーム（ＰＵＵ）のコレクタ電位信号端子（ＣＵＵ）の鉛直断面形状がＬ字状になるように、上側鉛直部分（ＣＵＵＶ）と下側水平部分（ＣＵＵＨ）とをＵ相（ＰＵ）の上アーム（ＰＵＵ）のコレクタ電位信号端子（ＣＵＵ）に形成し、
Ｕ相（ＰＵ）の上アーム（ＰＵＵ）のエミッタ電位信号端子（ＥＵＵ）の鉛直断面形状がＬ字状になるように、上側鉛直部分（ＥＵＵＶ）と下側水平部分（ＥＵＵＨ）とをＵ相（ＰＵ）の上アーム（ＰＵＵ）のエミッタ電位信号端子（ＥＵＵ）に形成し、
Ｕ相（ＰＵ）の下アーム（ＰＵＬ）のゲート電極端子（ＧＵＬ）と、Ｕ相（ＰＵ）の下アーム（ＰＵＬ）のコレクタ電位信号端子（ＣＵＬ）と、Ｕ相（ＰＵ）の下アーム（ＰＵＬ）のエミッタ電位信号端子（ＥＵＬ）とを、外囲ケース（５）の第２側壁（５ｂ）のうちのモジュール短手方向の第２の側の部分（５ｂ２）にインサート成形し、
Ｕ相（ＰＵ）の下アーム（ＰＵＬ）のゲート電極端子（ＧＵＬ）の鉛直断面形状がＬ字状になるように、上側鉛直部分（ＧＵＬＶ）と下側水平部分（ＧＵＬＨ）とをＵ相（ＰＵ）の下アーム（ＰＵＬ）のゲート電極端子（ＧＵＬ）に形成し、
Ｕ相（ＰＵ）の下アーム（ＰＵＬ）のコレクタ電位信号端子（ＣＵＬ）の鉛直断面形状がＬ字状になるように、上側鉛直部分（ＣＵＬＶ）と下側水平部分（ＣＵＬＨ）とをＵ相（ＰＵ）の下アーム（ＰＵＬ）のコレクタ電位信号端子（ＣＵＬ）に形成し、
Ｕ相（ＰＵ）の下アーム（ＰＵＬ）のエミッタ電位信号端子（ＥＵＬ）の鉛直断面形状がＬ字状になるように、上側鉛直部分（ＥＵＬＶ）と下側水平部分（ＥＵＬＨ）とをＵ相（ＰＵ）の下アーム（ＰＵＬ）のエミッタ電位信号端子（ＥＵＬ）に形成し、
Ｖ相（ＰＶ）の上アーム（ＰＶＵ）のゲート電極端子（ＧＶＵ）と、Ｖ相（ＰＶ）の上アーム（ＰＶＵ）のコレクタ電位信号端子（ＣＶＵ）と、Ｖ相（ＰＶ）の上アーム（ＰＶＵ）のエミッタ電位信号端子（ＥＶＵ）とを、外囲ケース（５）の第２仕切り壁（５ｆ）のうちのモジュール短手方向の第１の側の部分（５ｆ１）にインサート成形し、
Ｖ相（ＰＶ）の上アーム（ＰＶＵ）のゲート電極端子（ＧＶＵ）の鉛直断面形状がＬ字状になるように、上側鉛直部分（ＧＶＵＶ）と下側水平部分（ＧＶＵＨ）とをＶ相（ＰＶ）の上アーム（ＰＶＵ）のゲート電極端子（ＧＶＵ）に形成し、
Ｖ相（ＰＶ）の上アーム（ＰＶＵ）のコレクタ電位信号端子（ＣＶＵ）の鉛直断面形状がＬ字状になるように、上側鉛直部分（ＣＶＵＶ）と下側水平部分（ＣＶＵＨ）とをＶ相（ＰＶ）の上アーム（ＰＶＵ）のコレクタ電位信号端子（ＣＶＵ）に形成し、
Ｖ相（ＰＶ）の上アーム（ＰＶＵ）のエミッタ電位信号端子（ＥＶＵ）の鉛直断面形状がＬ字状になるように、上側鉛直部分（ＥＶＵＶ）と下側水平部分（ＥＶＵＨ）とをＶ相（ＰＶ）の上アーム（ＰＶＵ）のエミッタ電位信号端子（ＥＶＵ）に形成し、
Ｖ相（ＰＶ）の下アーム（ＰＶＬ）のゲート電極端子（ＧＶＬ）と、Ｖ相（ＰＶ）の下アーム（ＰＶＬ）のコレクタ電位信号端子（ＣＶＬ）と、Ｖ相（ＰＶ）の下アーム（ＰＶＬ）のエミッタ電位信号端子（ＥＶＬ）とを、外囲ケース（５）の第１仕切り壁（５ｅ）のうちのモジュール短手方向の第２の側の部分（５ｅ２）にインサート成形し、
Ｖ相（ＰＶ）の下アーム（ＰＶＬ）のゲート電極端子（ＧＶＬ）の鉛直断面形状がＬ字状になるように、上側鉛直部分（ＧＶＬＶ）と下側水平部分（ＧＶＬＨ）とをＶ相（ＰＶ）の下アーム（ＰＶＬ）のゲート電極端子（ＧＶＬ）に形成し、
Ｖ相（ＰＶ）の下アーム（ＰＶＬ）のコレクタ電位信号端子（ＣＶＬ）の鉛直断面形状がＬ字状になるように、上側鉛直部分（ＣＶＬＶ）と下側水平部分（ＣＶＬＨ）とをＶ相（ＰＶ）の下アーム（ＰＶＬ）のコレクタ電位信号端子（ＣＶＬ）に形成し、
Ｖ相（ＰＶ）の下アーム（ＰＶＬ）のエミッタ電位信号端子（ＥＶＬ）の鉛直断面形状がＬ字状になるように、上側鉛直部分（ＥＶＬＶ）と下側水平部分（ＥＶＬＨ）とをＶ相（ＰＶ）の下アーム（ＰＶＬ）のエミッタ電位信号端子（ＥＶＬ）に形成し、
Ｗ相（ＰＷ）の上アーム（ＰＷＵ）のゲート電極端子（ＧＷＵ）と、Ｗ相（ＰＷ）の上アーム（ＰＷＵ）のコレクタ電位信号端子（ＣＷＵ）と、Ｗ相（ＰＷ）の上アーム（ＰＷＵ）のエミッタ電位信号端子（ＥＷＵ）とを、外囲ケース（５）の第１側壁（５ａ）のうちのモジュール短手方向の第１の側の部分（５ａ１）にインサート成形し、
Ｗ相（ＰＷ）の上アーム（ＰＷＵ）のゲート電極端子（ＧＷＵ）の鉛直断面形状がＬ字状になるように、上側鉛直部分（ＧＷＵＶ）と下側水平部分（ＧＷＵＨ）とをＷ相（ＰＷ）の上アーム（ＰＷＵ）のゲート電極端子（ＧＷＵ）に形成し、
Ｗ相（ＰＷ）の上アーム（ＰＷＵ）のコレクタ電位信号端子（ＣＷＵ）の鉛直断面形状がＬ字状になるように、上側鉛直部分（ＣＷＵＶ）と下側水平部分（ＣＷＵＨ）とをＷ相（ＰＷ）の上アーム（ＰＷＵ）のコレクタ電位信号端子（ＣＷＵ）に形成し、
Ｗ相（ＰＷ）の上アーム（ＰＷＵ）のエミッタ電位信号端子（ＥＷＵ）の鉛直断面形状がＬ字状になるように、上側鉛直部分（ＥＷＵＶ）と下側水平部分（ＥＷＵＨ）とをＷ相（ＰＷ）の上アーム（ＰＷＵ）のエミッタ電位信号端子（ＥＷＵ）に形成し、
Ｗ相（ＰＷ）の下アーム（ＰＷＬ）のゲート電極端子（ＧＷＬ）と、Ｗ相（ＰＷ）の下アーム（ＰＷＬ）のコレクタ電位信号端子（ＣＷＬ）と、Ｗ相（ＰＶ）の下アーム（ＰＷＬ）のエミッタ電位信号端子（ＥＷＬ）とを、外囲ケース（５）の第２仕切り壁（５ｆ）のうちのモジュール短手方向の第２の側の部分（５ｆ２）にインサート成形し、
Ｗ相（ＰＷ）の下アーム（ＰＷＬ）のゲート電極端子（ＧＷＬ）の鉛直断面形状がＬ字状になるように、上側鉛直部分（ＧＷＬＶ）と下側水平部分（ＧＷＬＨ）とをＷ相（ＰＷ）の下アーム（ＰＷＬ）のゲート電極端子（ＧＷＬ）に形成し、
Ｗ相（ＰＷ）の下アーム（ＰＷＬ）のコレクタ電位信号端子（ＣＷＬ）の鉛直断面形状がＬ字状になるように、上側鉛直部分（ＣＷＬＶ）と下側水平部分（ＣＷＬＨ）とをＷ相（ＰＷ）の下アーム（ＰＷＬ）のコレクタ電位信号端子（ＣＷＬ）に形成し、
Ｗ相（ＰＷ）の下アーム（ＰＷＬ）のエミッタ電位信号端子（ＥＷＬ）の鉛直断面形状がＬ字状になるように、上側鉛直部分（ＥＷＬＶ）と下側水平部分（ＥＷＬＨ）とをＷ相（ＰＷ）の下アーム（ＰＷＬ）のエミッタ電位信号端子（ＥＷＬ）に形成し、
外囲ケース（５）の第１仕切り壁（５ｅ）のモジュール短手方向の第１の側の部分（５ｅ１）の下側部分（５ｅ１ａ）と、外囲ケース（５）の第１仕切り壁（５ｅ）のモジュール短手方向の第２の側の部分（５ｅ２）の下側部分（５ｅ２ａ）とが、モジュール短手方向に延びている第１鉛直面（Ｓ５ｅ１）上に位置するように、かつ、外囲ケース（５）の第１仕切り壁（５ｅ）のモジュール短手方向の第１の側の部分（５ｅ１）の上側部分（５ｅ１ｂ）が、外囲ケース（５）の第１仕切り壁（５ｅ）のモジュール短手方向の第１の側の部分（５ｅ１）の下側部分（５ｅ１ａ）よりも、モジュール長手方向の第１の側に位置するように、かつ、外囲ケース（５）の第１仕切り壁（５ｅ）のモジュール短手方向の第２の側の部分（５ｅ２）の上側部分（５ｅ２ｂ）が、外囲ケース（５）の第１仕切り壁（５ｅ）のモジュール短手方向の第２の側の部分（５ｅ２）の下側部分（５ｅ２ａ）よりも、モジュール長手方向の第２の側に位置するように、外囲ケース（５）の第１仕切り壁（５ｅ）を形成し、
Ｕ相（ＰＵ）の上アーム（ＰＵＵ）のゲート電極端子（ＧＵＵ）の上側鉛直部分（ＧＵＵＶ）の上端部と、Ｕ相（ＰＵ）の上アーム（ＰＵＵ）のコレクタ電位信号端子（ＣＵＵ）の上側鉛直部分（ＣＵＵＶ）の上端部と、Ｕ相（ＰＵ）の上アーム（ＰＵＵ）のエミッタ電位信号端子（ＥＵＵ）の上側鉛直部分（ＥＵＵＶ）とを、外囲ケース（５）の第１仕切り壁（５ｅ）のモジュール短手方向の第１の側の部分（５ｅ１）の上側部分（５ｅ１ｂ）から上側に突出させると共に、第１鉛直面（Ｓ５ｅ１）よりもモジュール長手方向の第１の側に位置しかつ第１鉛直面（Ｓ５ｅ１）に平行な第２鉛直面（Ｓ５ｅ２）上に配置し、
Ｕ相（ＰＵ）の上アーム（ＰＵＵ）のゲート電極端子（ＧＵＵ）の下端水平部分（ＧＵＵＨ）と、Ｕ相（ＰＵ）の上アーム（ＰＵＵ）のコレクタ電位信号端子（ＣＵＵ）の下側水平部分（ＣＵＵＨ）と、Ｕ相（ＰＵ）の上アーム（ＰＵＵ）のエミッタ電位信号端子（ＥＵＵ）の下側水平部分（ＥＵＵＨ）とを、第１鉛直面（Ｓ５ｅ１）上に配置すると共に、外囲ケース（５）の第１仕切り壁（５ｅ）のモジュール短手方向の第１の側の部分（５ｅ１）の下側部分（５ｅ１ａ）の上面に露出させ、
Ｖ相（ＰＶ）の下アーム（ＰＶＬ）のゲート電極端子（ＧＶＬ）の上側鉛直部分（ＧＶＬＶ）の上端部と、Ｖ相（ＰＶ）の下アーム（ＰＶＬ）のコレクタ電位信号端子（ＣＶＬ）の上側鉛直部分（ＣＶＬＶ）の上端部と、Ｖ相（ＰＶ）の下アーム（ＰＶＬ）のエミッタ電位信号端子（ＥＶＬ）の上側鉛直部分（ＥＶＬＶ）とを、外囲ケース（５）の第１仕切り壁（５ｅ）のモジュール短手方向の第２の側の部分（５ｅ２）の上側部分（５ｅ２ｂ）から上側に突出させると共に、第１鉛直面（Ｓ５ｅ１）よりもモジュール長手方向の第２の側に位置しかつ第１鉛直面（Ｓ５ｅ１）に平行な第３鉛直面（Ｓ５ｅ３）上に配置し、
Ｖ相（ＰＶ）の下アーム（ＰＶＬ）のゲート電極端子（ＧＶＬ）の下端水平部分（ＧＶＬＨ）と、Ｖ相（ＰＶ）の下アーム（ＰＶＬ）のコレクタ電位信号端子（ＣＶＬ）の下側水平部分（ＣＶＬＨ）と、Ｖ相（ＰＶ）の下アーム（ＰＶＬ）のエミッタ電位信号端子（ＥＶＬ）の下側水平部分（ＥＶＬＨ）とを、第１鉛直面（Ｓ５ｅ１）上に配置すると共に、外囲ケース（５）の第１仕切り壁（５ｅ）のモジュール短手方向の第２の側の部分（５ｅ２）の下側部分（５ｅ２ａ）の上面に露出させ、
外囲ケース（５）の第２仕切り壁（５ｆ）のモジュール短手方向の第１の側の部分（５ｆ１）の下側部分（５ｆ１ａ）と、外囲ケース（５）の第２仕切り壁（５ｆ）のモジュール短手方向の第２の側の部分（５ｆ２）の下側部分（５ｆ２ａ）とが、モジュール短手方向に延びている第４鉛直面（Ｓ５ｆ１）上に位置するように、かつ、外囲ケース（５）の第２仕切り壁（５ｆ）のモジュール短手方向の第１の側の部分（５ｆ１）の上側部分（５ｆ１ｂ）が、外囲ケース（５）の第２仕切り壁（５ｆ）のモジュール短手方向の第１の側の部分（５ｆ１）の下側部分（５ｆ１ａ）よりも、モジュール長手方向の第１の側に位置するように、かつ、外囲ケース（５）の第２仕切り壁（５ｆ）のモジュール短手方向の第２の側の部分（５ｆ２）の上側部分（５ｆ２ｂ）が、外囲ケース（５）の第２仕切り壁（５ｆ）のモジュール短手方向の第２の側の部分（５ｆ２）の下側部分（５ｆ２ａ）よりも、モジュール長手方向の第２の側に位置するように、外囲ケース（５）の第２仕切り壁（５ｆ）を形成し、
Ｖ相（ＰＶ）の上アーム（ＰＶＵ）のゲート電極端子（ＧＶＵ）の上側鉛直部分（ＧＶＵＶ）の上端部と、Ｖ相（ＰＶ）の上アーム（ＰＶＵ）のコレクタ電位信号端子（ＣＶＵ）の上側鉛直部分（ＣＶＵＶ）の上端部と、Ｖ相（ＰＶ）の上アーム（ＰＶＵ）のエミッタ電位信号端子（ＥＶＵ）の上側鉛直部分（ＥＶＵＶ）とを、外囲ケース（５）の第２仕切り壁（５ｆ）のモジュール短手方向の第１の側の部分（５ｆ１）の上側部分（５ｆ１ｂ）から上側に突出させると共に、第４鉛直面（Ｓ５ｆ１）よりもモジュール長手方向の第１の側に位置しかつ第４鉛直面（Ｓ５ｆ１）に平行な第５鉛直面（Ｓ５ｆ２）上に配置し、
Ｖ相（ＰＶ）の上アーム（ＰＶＵ）のゲート電極端子（ＧＶＵ）の下端水平部分（ＧＶＵＨ）と、Ｖ相（ＰＶ）の上アーム（ＰＶＵ）のコレクタ電位信号端子（ＣＶＵ）の下側水平部分（ＣＶＵＨ）と、Ｖ相（ＰＶ）の上アーム（ＰＶＵ）のエミッタ電位信号端子（ＥＶＵ）の下側水平部分（ＥＶＵＨ）とを、第４鉛直面（Ｓ５ｆ１）上に配置すると共に、外囲ケース（５）の第２仕切り壁（５ｆ）のモジュール短手方向の第１の側の部分（５ｆ１）の下側部分（５ｆ１ａ）の上面に露出させ、
Ｗ相（ＰＷ）の下アーム（ＰＷＬ）のゲート電極端子（ＧＷＬ）の上側鉛直部分（ＧＷＬＶ）の上端部と、Ｗ相（ＰＷ）の下アーム（ＰＷＬ）のコレクタ電位信号端子（ＣＷＬ）の上側鉛直部分（ＣＷＬＶ）の上端部と、Ｗ相（ＰＷ）の下アーム（ＰＷＬ）のエミッタ電位信号端子（ＥＷＬ）の上側鉛直部分（ＥＷＬＶ）とを、外囲ケース（５）の第２仕切り壁（５ｆ）のモジュール短手方向の第２の側の部分（５ｆ２）の上側部分（５ｆ２ｂ）から上側に突出させると共に、第４鉛直面（Ｓ５ｆ１）よりもモジュール長手方向の第２の側に位置しかつ第４鉛直面（Ｓ５ｆ１）に平行な第６鉛直面（Ｓ５ｆ３）上に配置し、
Ｗ相（ＰＷ）の下アーム（ＰＷＬ）のゲート電極端子（ＧＷＬ）の下端水平部分（ＧＷＬＨ）と、Ｗ相（ＰＷ）の下アーム（ＰＷＬ）のコレクタ電位信号端子（ＣＷＬ）の下側水平部分（ＣＷＬＨ）と、Ｗ相（ＰＷ）の下アーム（ＰＷＬ）のエミッタ電位信号端子（ＥＷＬ）の下側水平部分（ＥＷＬＨ）とを、第４鉛直面（Ｓ５ｆ１）上に配置すると共に、外囲ケース（５）の第２仕切り壁（５ｆ）のモジュール短手方向の第２の側の部分（５ｆ２）の下側部分（５ｆ２ａ）の上面に露出させたことを特徴とする請求項１に記載のパワー半導体モジュール（１００）が提供される。

請求項３に記載の発明によれば、Ｕ相用サーミスタ（ＴＭＵ）を設け、
Ｕ相用サーミスタ（ＴＭＵ）のモジュール短手方向寸法（ＷＴ）を第１の間隔（Ｗ１）より小さい値に設定し、
Ｕ相用サーミスタ（ＴＭＵ）の少なくとも一部分を、第１ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵａ）のモジュール短手方向の第２の側の端部と第２ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｂ）のモジュール短手方向の第１の側の端部との間に配置すると共に、Ｕ相用サーミスタ（ＴＭＵ）のモジュール長手方向の第２の側の端部を、第１ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵａ）および第２ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｂ）のモジュール長手方向の第１の側の端部よりもモジュール長手方向の第２の側に配置したことを特徴とする請求項２に記載のパワー半導体モジュール（１００）が提供される。

請求項４に記載の発明によれば、Ｖ相用サーミスタ（ＴＭＶ）と、Ｗ相用サーミスタ（ＴＭＷ）とを設け、
Ｖ相（ＰＶ）およびＷ相（ＰＷ）をＵ相（ＰＵ）と同一形状に形成し、
Ｕ相用サーミスタ（ＴＭＵ）に電流を供給するためのＵ相用給電端子（ＴＵ１，ＴＵ２）を、外囲ケース（５）の第１仕切り壁（５ｅ）のうちのモジュール短手方向の第１の側の部分（５ｅ１）とモジュール短手方向の第２の側の部分（５ｅ２）との中間部分（５ｅ３）にインサート成形し、
Ｕ相用給電端子（ＴＵ１，ＴＵ２）の鉛直断面形状がＬ字状になるように、上側鉛直部分（ＴＵ１Ｖ，ＴＵ２Ｖ）と下側水平部分（ＴＵ１Ｈ，ＴＵ２Ｈ）とをＵ相用給電端子（ＴＵ１，ＴＵ２）に形成し、
外囲ケース（５）の第１仕切り壁（５ｅ）の中間部分（５ｅ３）の下側部分（５ｅ３ａ）が第１鉛直面（Ｓ５ｅ１）上に位置するように、かつ、外囲ケース（５）の第１仕切り壁（５ｅ）の中間部分（５ｅ３）の上側部分（５ｅ３ｂ）が、外囲ケース（５）の第１仕切り壁（５ｅ）の中間部分（５ｅ３）の下側部分（５ｅ３ａ）よりも、モジュール長手方向の第１の側に位置するように、外囲ケース（５）の第１仕切り壁（５ｅ）を形成し、
Ｕ相用給電端子（ＴＵ１，ＴＵ２）の上側鉛直部分（ＴＵ１Ｖ，ＴＵ２Ｖ）を、外囲ケース（５）の第１仕切り壁（５ｅ）の中間部分（５ｅ３）の上側部分（５ｅ３ｂ）から上側に突出させると共に、第２鉛直面（Ｓ５ｅ２）上に配置し、
Ｕ相用給電端子（ＴＵ１，ＴＵ２）の下側水平部分（ＴＵ１Ｈ，ＴＵ２Ｈ）を、第１鉛直面（Ｓ５ｅ１）上に配置すると共に、外囲ケース（５）の第１仕切り壁（５ｅ）の中間部分（５ｅ３）の下側部分（５ｅ３ａ）の上面に露出させ、
Ｖ相用サーミスタ（ＴＭＶ）に電流を供給するためのＶ相用給電端子（ＴＶ１，ＴＶ２）を、外囲ケース（５）の第２仕切り壁（５ｆ）のうちのモジュール短手方向の第１の側の部分（５ｆ１）とモジュール短手方向の第２の側の部分（５ｆ２）との中間部分（５ｆ３）にインサート成形し、
Ｖ相用給電端子（ＴＶ１，ＴＶ２）の鉛直断面形状がＬ字状になるように、上側鉛直部分（ＴＶ１Ｖ，ＴＶ２Ｖ）と下側水平部分（ＴＶ１Ｈ，ＴＶ２Ｈ）とをＶ相用給電端子（ＴＶ１，ＴＶ２）に形成し、
外囲ケース（５）の第２仕切り壁（５ｆ）の中間部分（５ｆ３）の下側部分（５ｆ３ａ）が第４鉛直面（Ｓ５ｆ１）上に位置するように、かつ、外囲ケース（５）の第２仕切り壁（５ｆ）の中間部分（５ｆ３）の上側部分（５ｆ３ｂ）が、外囲ケース（５）の第２仕切り壁（５ｆ）の中間部分（５ｆ３）の下側部分（５ｆ３ａ）よりも、モジュール長手方向の第１の側に位置するように、外囲ケース（５）の第２仕切り壁（５ｆ）を形成し、
Ｖ相用給電端子（ＴＶ１，ＴＶ２）の上側鉛直部分（ＴＶ１Ｖ，ＴＶ２Ｖ）を、外囲ケース（５）の第２仕切り壁（５ｆ）の中間部分（５ｆ３）の上側部分（５ｆ３ｂ）から上側に突出させると共に、第５鉛直面（Ｓ５ｆ２）上に配置し、
Ｖ相用給電端子（ＴＶ１，ＴＶ２）の下側水平部分（ＴＶ１Ｈ，ＴＶ２Ｈ）を、第４鉛直面（Ｓ５ｆ１）上に配置すると共に、外囲ケース（５）の第２仕切り壁（５ｆ）の中間部分（５ｆ３）の下側部分（５ｆ３ａ）の上面に露出させたことを特徴とする請求項３に記載のパワー半導体モジュール（１００）が提供される。

請求項５に記載の発明によれば、Ｕ相用サーミスタ（ＴＭＵ）の中心位置（ＣＴＭＵ）を、第１ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵａ）と第２ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｂ）との線対称中心線（ＣＬ１）よりもモジュール短手方向の第２の側に配置したことを特徴とする請求項４に記載のパワー半導体モジュール（１００）が提供される。

請求項１に記載のパワー半導体モジュール（１００）では、３相インバータ回路のＵ相（ＰＵ）の一部を構成するＵ相用絶縁基板（２Ｕ）が設けられている。また、第１導体パターン（２Ｕａ）と第２導体パターン（２Ｕｂ）と第３導体パターン（２Ｕｃ）と第４導体パターン（２Ｕｄ）と第５導体パターン（２Ｕｅ）とが、モジュール長手方向に並べられてＵ相用絶縁基板（２Ｕ）の上面に形成されている。

具体的には、請求項１に記載のパワー半導体モジュール（１００）では、第１導体パターン（２Ｕａ）が、第２導体パターン（２Ｕｂ）に対し、モジュール長手方向の第１の側に隣接して配置されている。更に、第３導体パターン（２Ｕｃ）が、第２導体パターン（２Ｕｂ）に対し、モジュール長手方向の第１の側の反対側である、モジュール長手方向の第２の側に隣接して配置されている。また、第４導体パターン（２Ｕｄ）が、第１導体パターン（２Ｕａ）に対し、モジュール長手方向の第１の側に隣接して配置されている。更に、第５導体パターン（２Ｕｅ）が、第３導体パターン（２Ｕｃ）に対し、モジュール長手方向の第２の側に隣接して配置されている。

また、請求項１に記載のパワー半導体モジュール（１００）では、Ｕ相用絶縁基板（２Ｕ）の下面と放熱部材（１）の上面とが接合されている。

詳細には、請求項１に記載のパワー半導体モジュール（１００）では、第１ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵａ）が、第１ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵａ）に対し、モジュール長手方向の第１の側に位置するように、第１ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵａ）および第１ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵａ）が、モジュール長手方向に隣接して第１導体パターン（２Ｕａ）に搭載されている。更に、第１ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵａ）のコレクタ電極と第１導体パターン（２Ｕａ）とが接続されている。また、第１ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵａ）のカソード電極と第１導体パターン（２Ｕａ）とが接続されている。

更に、請求項１に記載のパワー半導体モジュール（１００）では、第２ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｂ）が、第２ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵｂ）に対し、モジュール長手方向の第１の側に位置するように、第２ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｂ）および第２ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵｂ）が、モジュール長手方向に隣接して第１導体パターン（２Ｕａ）に搭載されている。また、第２ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｂ）のコレクタ電極と第１導体パターン（２Ｕａ）とが接続されている。更に、第２ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵｂ）のカソード電極と第１導体パターン（２Ｕａ）とが接続されている。

また、請求項１に記載のパワー半導体モジュール（１００）では、第１ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵａ）が、第２ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｂ）に対し、モジュール長手方向に直交するモジュール短手方向の第１の側に位置するように、かつ、第１ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵａ）と第２ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｂ）との間に第１の間隔（Ｗ１）を有するように、第１ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵａ）および第２ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｂ）がモジュール短手方向に配列されている。更に、第１ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵａ）が、第２ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵｂ）に対し、モジュール短手方向の第１の側に位置するように、かつ、第１ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵａ）と第２ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵｂ）との間に第２の間隔（Ｗ２）を有するように、第１ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵａ）および第２ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵｂ）がモジュール短手方向に配列されている。

更に、請求項１に記載のパワー半導体モジュール（１００）では、第３ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｃ）が、第３ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵｃ）に対し、モジュール長手方向の第１の側に位置するように、第３ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｃ）および第３ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵｃ）が、モジュール長手方向に隣接して第１導体パターン（２Ｕａ）に搭載されている。また、第３ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｃ）のコレクタ電極と第１導体パターン（２Ｕａ）とが接続されている。更に、第３ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵｃ）のカソード電極と第１導体パターン（２Ｕａ）とが接続されている。

また、請求項１に記載のパワー半導体モジュール（１００）では、第３ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｃ）が、第１ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵａ）に対し、モジュール短手方向の第１の側に位置するように、かつ、第３ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｃ）と第１ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵａ）との間に第３の間隔（Ｗ３）を有するように、第３ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｃ）および第１ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵａ）がモジュール短手方向に配列されている。更に、第３ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵｃ）が、第１ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵａ）に対し、モジュール短手方向の第１の側に位置するように、かつ、第３ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵｃ）と第１ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵａ）との間に第４の間隔（Ｗ４）を有するように、第３ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵｃ）および第１ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵａ）がモジュール短手方向に配列されている。

更に、請求項１に記載のパワー半導体モジュール（１００）では、第４ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｄ）が、第４ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵｄ）に対し、モジュール長手方向の第１の側に位置するように、第４ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｄ）および第４ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵｄ）が、モジュール長手方向に隣接して第１導体パターン（２Ｕａ）に搭載されている。また、第４ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｄ）のコレクタ電極と第１導体パターン（２Ｕａ）とが接続されている。更に、第４ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵｄ）のカソード電極と第１導体パターン（２Ｕａ）とが接続されている。

また、請求項１に記載のパワー半導体モジュール（１００）では、第４ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｄ）が、第２ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｂ）に対し、モジュール短手方向の第１の側の反対側である、モジュール短手方向の第２の側に位置するように、かつ、第４ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｄ）と第２ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｂ）との間に第５の間隔（Ｗ５）を有するように、第４ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｄ）および第２ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｂ）がモジュール短手方向に配列されている。更に、第４ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵｄ）が、第２ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵｂ）に対し、モジュール短手方向の第２の側に位置するように、かつ、第４ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵｄ）と第２ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵｂ）との間に第６の間隔（Ｗ６）を有するように、第４ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵｄ）および第２ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵｂ）がモジュール短手方向に配列されている。

更に、請求項１に記載のパワー半導体モジュール（１００）では、第５ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬａ）が、第５ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬａ）に対し、モジュール長手方向の第１の側に位置するように、第５ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬａ）および第５ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬａ）が、モジュール長手方向に隣接して第２導体パターン（２Ｕｂ）に搭載されている。また、第５ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬａ）のコレクタ電極と第２導体パターン（２Ｕｂ）とが接続されている。更に、第５ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬａ）のカソード電極と第２導体パターン（２Ｕｂ）とが接続されている。

また、請求項１に記載のパワー半導体モジュール（１００）では、第６ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｂ）が、第６ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬｂ）に対し、モジュール長手方向の第１の側に位置するように、第６ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｂ）および第６ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬｂ）が、モジュール長手方向に隣接して第２導体パターン（２Ｕｂ）に搭載されている。更に、第６ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｂ）のコレクタ電極と第２導体パターン（２Ｕｂ）とが接続されている。また、第６ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬｂ）のカソード電極と第２導体パターン（２Ｕｂ）とが接続されている。

更に、請求項１に記載のパワー半導体モジュール（１００）では、第５ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬａ）が、第６ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｂ）に対し、モジュール短手方向の第１の側に位置するように、かつ、第５ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬａ）と第６ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｂ）との間に第７の間隔（Ｗ７）を有するように、第５ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬａ）および第６ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｂ）がモジュール短手方向に配列されている。また、第５ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬａ）が、第６ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬｂ）に対し、モジュール短手方向の第１の側に位置するように、かつ、第５ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬａ）と第６ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬｂ）との間に第８の間隔（Ｗ８）を有するように、第５ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬａ）および第６ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬｂ）がモジュール短手方向に配列されている。

また、請求項１に記載のパワー半導体モジュール（１００）では、第７ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｃ）が、第７ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬｃ）に対し、モジュール長手方向の第１の側に位置するように、第７ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｃ）および第７ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬｃ）が、モジュール長手方向に隣接して第２導体パターン（２Ｕｂ）に搭載されている。更に、第７ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｃ）のコレクタ電極と第２導体パターン（２Ｕｂ）とが接続されている。また、第７ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬｃ）のカソード電極と第２導体パターン（２Ｕｂ）とが接続されている。

更に、請求項１に記載のパワー半導体モジュール（１００）では、第７ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｃ）が、第５ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬａ）に対し、モジュール短手方向の第１の側に位置するように、かつ、第７ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｃ）と第５ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬａ）との間に第９の間隔（Ｗ９）を有するように、第７ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｃ）および第５ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬａ）がモジュール短手方向に配列されている。また、第７ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬｃ）が、第５ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬａ）に対し、モジュール短手方向の第１の側に位置するように、かつ、第７ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬｃ）と第５ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬａ）との間に第１０の間隔（Ｗ１０）を有するように、第７ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬｃ）および第５ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬａ）がモジュール短手方向に配列されている。

また、請求項１に記載のパワー半導体モジュール（１００）では、第８ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｄ）が、第８ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬｄ）に対し、モジュール長手方向の第１の側に位置するように、第８ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｄ）および第８ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬｄ）が、モジュール長手方向に隣接して第２導体パターン（２Ｕｂ）に搭載されている。更に、第８ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｄ）のコレクタ電極と第２導体パターン（２Ｕｂ）とが接続されている。また、第８ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬｄ）のカソード電極と第２導体パターン（２Ｕｂ）とが接続されている。

更に、請求項１に記載のパワー半導体モジュール（１００）では、第８ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｄ）が、第６ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｂ）に対し、モジュール短手方向の第２の側に位置するように、かつ、第８ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｄ）と第６ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｂ）との間に第１１の間隔（Ｗ１１）を有するように、第８ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｄ）および第６ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｂ）がモジュール短手方向に配列されている。また、第８ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬｄ）が、第６ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬｂ）に対し、モジュール短手方向の第２の側に位置するように、かつ、第８ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬｄ）と第６ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬｂ）との間に第１２の間隔（Ｗ１２）を有するように、第８ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬｄ）および第６ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬｂ）がモジュール短手方向に配列されている。

また、請求項１に記載のパワー半導体モジュール（１００）では、モジュール長手方向に延びている第１ワイヤ（３ＵＵ１ａ）によって、第１ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵａ）のアノード電極と第２導体パターン（２Ｕｂ）とが接続されている。更に、モジュール長手方向に延びている第２ワイヤ（３ＵＵ１ｂ）によって、第２ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵｂ）のアノード電極と第２導体パターン（２Ｕｂ）とが接続されている。

更に、請求項１に記載のパワー半導体モジュール（１００）では、モジュール長手方向に延びている第３ワイヤ（３ＵＵ１ｃ）によって、第３ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵｃ）のアノード電極と第２導体パターン（２Ｕｂ）とが接続されている。また、モジュール長手方向に延びている第４ワイヤ（３ＵＵ１ｄ）によって、第４ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵｄ）のアノード電極と第２導体パターン（２Ｕｂ）とが接続されている。

また、請求項１に記載のパワー半導体モジュール（１００）では、モジュール長手方向に延びている第５ワイヤ（３ＵＬ１ａ）によって、第５ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬａ）のアノード電極と第３導体パターン（２Ｕｃ）とが接続されている。更に、モジュール長手方向に延びている第６ワイヤ（３ＵＬ１ｂ）によって、第６ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬｂ）のアノード電極と第３導体パターン（２Ｕｃ）とが接続されている。

更に、請求項１に記載のパワー半導体モジュール（１００）では、モジュール長手方向に延びている第７ワイヤ（３ＵＬ１ｃ）によって、第７ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬｃ）のアノード電極と第３導体パターン（２Ｕｃ）とが接続されている。また、モジュール長手方向に延びている第８ワイヤ（３ＵＬ１ｄ）によって、第８ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬｄ）のアノード電極と第３導体パターン（２Ｕｃ）とが接続されている。

また、請求項１に記載のパワー半導体モジュール（１００）では、モジュール長手方向に延びている第９ワイヤ（３ＵＵ２ａ）によって、第１ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵａ）のエミッタ電極と第２導体パターン（２Ｕｂ）とが接続されている。更に、モジュール長手方向に延びている第１０ワイヤ（３ＵＵ２ｂ）によって、第２ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｂ）のエミッタ電極と第２導体パターン（２Ｕｂ）とが接続されている。

更に、請求項１に記載のパワー半導体モジュール（１００）では、モジュール長手方向に延びている第１１ワイヤ（３ＵＵ２ｃ）によって、第３ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｃ）のエミッタ電極と第２導体パターン（２Ｕｂ）とが接続されている。また、モジュール長手方向に延びている第１２ワイヤ（３ＵＵ２ｄ）によって、第４ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｄ）のエミッタ電極と第２導体パターン（２Ｕｂ）とが接続されている。

また、請求項１に記載のパワー半導体モジュール（１００）では、モジュール長手方向に延びている第１３ワイヤ（３ＵＬ２ａ）によって、第５ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬａ）のエミッタ電極と第３導体パターン（２Ｕｃ）とが接続されている。更に、モジュール長手方向に延びている第１４ワイヤ（３ＵＬ２ｂ）によって、第６ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｂ）のエミッタ電極と第３導体パターン（２Ｕｃ）とが接続されている。

更に、請求項１に記載のパワー半導体モジュール（１００）では、モジュール長手方向に延びている第１５ワイヤ（３ＵＬ２ｃ）によって、第７ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｃ）のエミッタ電極と第３導体パターン（２Ｕｃ）とが接続されている。また、モジュール長手方向に延びている第１６ワイヤ（３ＵＬ２ｄ）によって、第８ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｄ）のエミッタ電極と第３導体パターン（２Ｕｃ）とが接続されている。

また、請求項１に記載のパワー半導体モジュール（１００）では、モジュール長手方向に延びている第１７ワイヤ（３ＵＵ３ａ）によって、第１ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵａ）のゲート電極と第４導体パターン（２Ｕｄ）とが接続されている。更に、モジュール長手方向に延びている第１８ワイヤ（３ＵＵ３ｂ）によって、第２ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｂ）のゲート電極と第４導体パターン（２Ｕｄ）とが接続されている。

更に、請求項１に記載のパワー半導体モジュール（１００）では、モジュール長手方向に延びている第１９ワイヤ（３ＵＵ３ｃ）によって、第３ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｃ）のゲート電極と第４導体パターン（２Ｕｄ）とが接続されている。また、モジュール長手方向に延びている第２０ワイヤ（３ＵＵ３ｄ）によって、第４ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｄ）のゲート電極と第４導体パターン（２Ｕｄ）とが接続されている。

また、請求項１に記載のパワー半導体モジュール（１００）では、モジュール長手方向に延びている第２１ワイヤ（３ＵＬ３ａ）によって、第５ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬａ）のゲート電極と第５導体パターン（２Ｕｅ）とが接続されている。更に、モジュール長手方向に延びている第２２ワイヤ（３ＵＬ３ｂ）によって、第６ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｂ）のゲート電極と第５導体パターン（２Ｕｅ）とが接続されている。

更に、請求項１に記載のパワー半導体モジュール（１００）では、モジュール長手方向に延びている第２３ワイヤ（３ＵＬ３ｃ）によって、第７ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｃ）のゲート電極と第５導体パターン（２Ｕｅ）とが接続されている。また、モジュール長手方向に延びている第２４ワイヤ（３ＵＬ３ｄ）によって、第８ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｄ）のゲート電極と第５導体パターン（２Ｕｅ）とが接続されている。

また、請求項１に記載のパワー半導体モジュール（１００）では、３相インバータ回路のＵ相（ＰＵ）の上アーム（ＰＵＵ）の一部を構成する正極端子（Ｐ１）と、３相インバータ回路のＵ相（ＰＵ）の一部を構成する交流端子（Ｕ）と、３相インバータ回路のＵ相（ＰＵ）の下アーム（ＰＵＬ）の一部を構成する負極端子（Ｎ１）と、３相インバータ回路のＵ相（ＰＵ）の上アーム（ＰＵＵ）の一部を構成する第１ゲート電極端子（ＧＵＵ）と、３相インバータ回路のＵ相（ＰＵ）の下アーム（ＰＵＬ）の一部を構成する第２ゲート電極端子（ＧＵＬ）とが設けられている。

更に、請求項１に記載のパワー半導体モジュール（１００）では、正極端子（Ｐ１）と第１導体パターン（２Ｕａ）とが電気的に接続されている。また、交流端子（Ｕ）と第２導体パターン（２Ｕｂ）とが電気的に接続されている。更に、負極端子（Ｎ１）と第３導体パターン（２Ｕｃ）とが電気的に接続されている。

また、請求項１に記載のパワー半導体モジュール（１００）では、第１ゲート電極端子（ＧＵＵ）と第４導体パターン（２Ｕｄ）とが電気的に接続されている。更に、第２ゲート電極端子（ＧＵＬ）と第５導体パターン（２Ｕｅ）とが電気的に接続され、それにより、３相インバータ回路のＵ相（ＰＵ）が構成されている。

更に、請求項１に記載のパワー半導体モジュール（１００）では、３相インバータ回路のＶ相（ＰＶ）がＵ相（ＰＵ）と同一形状に形成されている。また、Ｖ相（ＰＶ）が、Ｕ相（ＰＵ）に対し、モジュール長手方向の第１の側に隣接して配置されている。更に、３相インバータ回路のＷ相（ＰＷ）がＵ相（ＰＵ）と同一形状に形成されている。また、Ｗ相（ＰＷ）が、Ｖ相（ＰＶ）に対し、モジュール長手方向の第１の側に隣接して配置されている。

詳細には、請求項１に記載のパワー半導体モジュール（１００）では、第１の間隔（Ｗ１）および第２の間隔（Ｗ２）が、第３の間隔（Ｗ３）、第４の間隔（Ｗ４）、第５の間隔（Ｗ５）および第６の間隔（Ｗ６）よりも大きい値に設定されている。また、第１導体パターン（２Ｕａ）のうちの正極端子（Ｐ１）が電気的に接続される接続部分（２Ｕａ１）の少なくとも一部分が、第１ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵａ）および第１ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵａ）のモジュール短手方向の第２の側の端部と、第２ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｂ）および第２ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵｂ）のモジュール短手方向の第１の側の端部との間の位置であって、第１ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵａ）および第２ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｂ）のモジュール長手方向の第１の側の端部と、第１ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵａ）および第２ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵｂ）のモジュール長手方向の第２の側の端部との間の位置に配置されている。

そのため、請求項１に記載のパワー半導体モジュール（１００）によれば、第１導体パターン（２Ｕａ）のうちの正極端子（Ｐ１）が電気的に接続される接続部分（２Ｕａ１）が、第１ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵａ）および第２ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｂ）のモジュール長手方向の第１の側の端部と、第１ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵａ）および第２ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵｂ）のモジュール長手方向の第２の側の端部との間の位置に配置されない場合よりも、Ｕ相（ＰＵ）のモジュール長手方向寸法を小型化することができ、それにより、パワー半導体モジュール（１００）全体のモジュール長手方向寸法を小型化することができる。

更に、請求項１に記載のパワー半導体モジュール（１００）では、第７の間隔（Ｗ７）が、第９の間隔（Ｗ９）および第１１の間隔（Ｗ１１）よりも大きい値に設定されている。また、第２導体パターン（２Ｕｂ）のうちの交流端子（Ｕ）が電気的に接続される接続部分（２Ｕｂ１）の少なくとも一部分が、第５ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬａ）のモジュール短手方向の第２の側の端部と、第６ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｂ）のモジュール短手方向の第１の側の端部との間の位置であって、第５ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬａ）および第６ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｂ）のモジュール長手方向の第１の側の端部と、第５ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬａ）および第６ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｂ）のモジュール長手方向の第２の側の端部との間の位置に配置されている。

そのため、請求項１に記載のパワー半導体モジュール（１００）によれば、第２導体パターン（２Ｕｂ）のうちの交流端子（Ｕ）が電気的に接続される接続部分（２Ｕｂ１）が、第５ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬａ）および第６ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｂ）のモジュール長手方向の第１の側の端部と、第５ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬａ）および第６ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｂ）のモジュール長手方向の第２の側の端部との間の位置に配置されない場合よりも、Ｕ相（ＰＵ）のモジュール長手方向寸法を小型化することができ、それにより、パワー半導体モジュール（１００）全体のモジュール長手方向寸法を小型化することができる。

また、請求項１に記載のパワー半導体モジュール（１００）では、第８の間隔（Ｗ８）が、第１０の間隔（Ｗ１０）および第１２の間隔（Ｗ１２）よりも大きい値に設定されている。更に、第３導体パターン（２Ｕｃ）のうちの負極端子（Ｎ１）が電気的に接続される接続部分（２Ｕｃ１）の少なくとも一部分が、第５ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬａ）のモジュール短手方向の第２の側の端部と、第６ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬｂ）のモジュール短手方向の第１の側の端部との間の位置であって、第５ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬａ）および第６ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬｂ）のモジュール長手方向の第１の側の端部と、第５ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬａ）および第６ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬｂ）のモジュール長手方向の第２の側の端部との間の位置に配置されている。

そのため、請求項１に記載のパワー半導体モジュール（１００）によれば、第３導体パターン（２Ｕｃ）のうちの負極端子（Ｎ１）が電気的に接続される接続部分（２Ｕｃ１）が、第５ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬａ）および第６ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬｂ）のモジュール長手方向の第１の側の端部と、第５ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬａ）および第６ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬｂ）のモジュール長手方向の第２の側の端部との間の位置に配置されない場合よりも、Ｕ相（ＰＵ）のモジュール長手方向寸法を小型化することができ、それにより、パワー半導体モジュール（１００）全体のモジュール長手方向寸法を小型化することができる。

更に、請求項１に記載のパワー半導体モジュール（１００）では、第１導体パターン（２Ｕａ）の接続部分（２Ｕａ１）が、第１ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵａ）と第２ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｂ）との線対称中心線（ＣＬ１）上であって、第３ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｃ）と第４ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｄ）との線対称中心線（ＣＬ１）上であって、第１ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵａ）と第２ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵｂ）との線対称中心線（ＣＬ１）上であって、第３ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵｃ）と第４ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵｄ）との線対称中心線（ＣＬ１）上に配置されている。また、第２導体パターン（２Ｕｂ）の接続部分（２Ｕｂ１）が、第１ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵａ）と第２ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｂ）との線対称中心線（ＣＬ１）上であって、第３ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｃ）と第４ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｄ）との線対称中心線（ＣＬ１）上であって、第１ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵａ）と第２ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵｂ）との線対称中心線（ＣＬ１）上であって、第３ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵｃ）と第４ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵｄ）との線対称中心線（ＣＬ１）上に配置されている。

そのため、請求項１に記載のパワー半導体モジュール（１００）によれば、第１ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵａ）と第２ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｂ）とのスイッチングタイミングのばらつきを抑制することができ、第３ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｃ）と第４ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｄ）とのスイッチングタイミングのばらつきを抑制することができる。

また、請求項１に記載のパワー半導体モジュール（１００）では、第２導体パターン（２Ｕｂ）の接続部分（２Ｕｂ１）が、第５ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬａ）と第６ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｂ）との線対称中心線（ＣＬ２）上であって、第７ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｃ）と第８ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｄ）との線対称中心線（ＣＬ２）上であって、第５ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬａ）と第６ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬｂ）との線対称中心線（ＣＬ３）上であって、第７ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬｃ）と第８ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬｄ）との線対称中心線（ＣＬ３）上に配置されている。更に、第３導体パターン（２Ｕｃ）の接続部分（２Ｕｃ１）が、第５ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬａ）と第６ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｂ）との線対称中心線（ＣＬ２）上であって、第７ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｃ）と第８ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｄ）との線対称中心線（ＣＬ２）上であって、第５ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬａ）と第６ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬｂ）との線対称中心線（ＣＬ３）上であって、第７ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬｃ）と第８ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬｄ）との線対称中心線（ＣＬ３）上に配置されている。

そのため、請求項１に記載のパワー半導体モジュール（１００）によれば、第５ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬａ）と第６ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｂ）とのスイッチングタイミングのばらつきを抑制することができ、第７ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｃ）と第８ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｄ）とのスイッチングタイミングのばらつきを抑制することができる。

換言すれば、請求項１に記載のパワー半導体モジュール（１００）によれば、３相インバータ回路のＵ相（ＰＵ）の一部を構成する複数のＩＧＢＴチップ（ＱＵＵａ，ＱＵＵｂ，ＱＵＵｃ，ＱＵＵｄ，ＱＵＬａ，ＱＵＬｂ，ＱＵＬｃ，ＱＵＬｄ）のスイッチングタイミングのばらつきを抑制しつつ、パワー半導体モジュール（１００）全体のモジュール長手方向寸法を小型化することができる。

請求項２に記載のパワー半導体モジュール（１００）では、第６導体パターン（２Ｕｆ）がＵ相用絶縁基板（２Ｕ）の上面に形成されている。また、第６導体パターン（２Ｕｆ）が、第４導体パターン（２Ｕｄ）に対し、モジュール長手方向の第１の側に隣接して配置されている。

更に、請求項２に記載のパワー半導体モジュール（１００）では、モジュール長手方向に延びている第２５ワイヤ（３ＵＵ４ａ）によって、第１ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵａ）のエミッタ電極と第６導体パターン（２Ｕｆ）とが接続されている。また、モジュール長手方向に延びている第２６ワイヤ（３ＵＵ４ｂ）によって、第２ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｂ）のエミッタ電極と第６導体パターン（２Ｕｆ）とが接続されている。更に、モジュール長手方向に延びている第２７ワイヤ（３ＵＵ４ｃ）によって、第３ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｃ）のエミッタ電極と第６導体パターン（２Ｕｆ）とが接続されている。また、モジュール長手方向に延びている第２８ワイヤ（３ＵＵ４ｄ）によって、第４ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｄ）のエミッタ電極と第６導体パターン（２Ｕｆ）とが接続されている。

また、請求項２に記載のパワー半導体モジュール（１００）では、Ｖ相（ＰＶ）およびＷ相（ＰＷ）がＵ相（ＰＵ）と同一形状に形成されている。更に、モジュール長手方向の第１の側に位置する第１側壁（５ａ）と、モジュール長手方向の第２の側に位置する第２側壁（５ｂ）と、モジュール短手方向の第１の側に位置する第３側壁（５ｃ）と、モジュール短手方向の第２の側に位置する第４側壁（５ｄ）とを有する外囲ケース（５）が設けられている。

更に、請求項２に記載のパワー半導体モジュール（１００）では、第３側壁（５ｃ）と第４側壁（５ｄ）との間に延びており、かつ、３相インバータ回路のＵ相（ＰＵ）とＶ相（ＰＶ）とを仕切る第１仕切り壁（５ｅ）が、外囲ケース（５）に形成されている。また、第３側壁（５ｃ）と第４側壁（５ｄ）との間に延びており、かつ、３相インバータ回路のＶ相（ＰＶ）とＷ相（ＰＷ）とを仕切る第２仕切り壁（５ｆ）が、外囲ケース（５）に形成されている。

また、請求項２に記載のパワー半導体モジュール（１００）では、Ｕ相（ＰＵ）の正極端子（Ｐ１）と、Ｕ相（ＰＵ）の負極端子（Ｎ１）と、Ｖ相（ＰＶ）の正極端子（Ｐ２）と、Ｖ相（ＰＶ）の負極端子（Ｎ２）と、Ｗ相（ＰＷ）の正極端子（Ｐ３）と、Ｗ相（ＰＷ）の負極端子（Ｎ３）とが、外囲ケース（５）の第３側壁（５ｃ）にインサート成形されている。更に、Ｕ相（ＰＵ）の交流端子（Ｕ）と、Ｖ相（ＰＶ）の交流端子（Ｖ）と、Ｗ相（ＰＷ）の交流端子（Ｗ）とが、外囲ケース（５）の第４側壁（５ｄ）にインサート成形されている。

更に、請求項２に記載のパワー半導体モジュール（１００）では、Ｕ相（ＰＵ）の上アーム（ＰＵＵ）のゲート電極端子（ＧＵＵ）と、Ｕ相（ＰＵ）の上アーム（ＰＵＵ）のコレクタ電位信号端子（ＣＵＵ）と、Ｕ相（ＰＵ）の上アーム（ＰＵＵ）のエミッタ電位信号端子（ＥＵＵ）とが、外囲ケース（５）の第１仕切り壁（５ｅ）のうちのモジュール短手方向の第１の側の部分（５ｅ１）にインサート成形されている。また、Ｕ相（ＰＵ）の上アーム（ＰＵＵ）のゲート電極端子（ＧＵＵ）の鉛直断面形状がＬ字状になるように、上側鉛直部分（ＧＵＵＶ）と下側水平部分（ＧＵＵＨ）とがＵ相（ＰＵ）の上アーム（ＰＵＵ）のゲート電極端子（ＧＵＵ）に形成されている。

また、請求項２に記載のパワー半導体モジュール（１００）では、Ｕ相（ＰＵ）の上アーム（ＰＵＵ）のコレクタ電位信号端子（ＣＵＵ）の鉛直断面形状がＬ字状になるように、上側鉛直部分（ＣＵＵＶ）と下側水平部分（ＣＵＵＨ）とがＵ相（ＰＵ）の上アーム（ＰＵＵ）のコレクタ電位信号端子（ＣＵＵ）に形成されている。更に、Ｕ相（ＰＵ）の上アーム（ＰＵＵ）のエミッタ電位信号端子（ＥＵＵ）の鉛直断面形状がＬ字状になるように、上側鉛直部分（ＥＵＵＶ）と下側水平部分（ＥＵＵＨ）とがＵ相（ＰＵ）の上アーム（ＰＵＵ）のエミッタ電位信号端子（ＥＵＵ）に形成されている。

更に、請求項２に記載のパワー半導体モジュール（１００）では、Ｕ相（ＰＵ）の下アーム（ＰＵＬ）のゲート電極端子（ＧＵＬ）と、Ｕ相（ＰＵ）の下アーム（ＰＵＬ）のコレクタ電位信号端子（ＣＵＬ）と、Ｕ相（ＰＵ）の下アーム（ＰＵＬ）のエミッタ電位信号端子（ＥＵＬ）とが、外囲ケース（５）の第２側壁（５ｂ）のうちのモジュール短手方向の第２の側の部分（５ｂ２）にインサート成形されている。また、Ｕ相（ＰＵ）の下アーム（ＰＵＬ）のゲート電極端子（ＧＵＬ）の鉛直断面形状がＬ字状になるように、上側鉛直部分（ＧＵＬＶ）と下側水平部分（ＧＵＬＨ）とがＵ相（ＰＵ）の下アーム（ＰＵＬ）のゲート電極端子（ＧＵＬ）に形成されている。

また、請求項２に記載のパワー半導体モジュール（１００）では、Ｕ相（ＰＵ）の下アーム（ＰＵＬ）のコレクタ電位信号端子（ＣＵＬ）の鉛直断面形状がＬ字状になるように、上側鉛直部分（ＣＵＬＶ）と下側水平部分（ＣＵＬＨ）とがＵ相（ＰＵ）の下アーム（ＰＵＬ）のコレクタ電位信号端子（ＣＵＬ）に形成されている。更に、Ｕ相（ＰＵ）の下アーム（ＰＵＬ）のエミッタ電位信号端子（ＥＵＬ）の鉛直断面形状がＬ字状になるように、上側鉛直部分（ＥＵＬＶ）と下側水平部分（ＥＵＬＨ）とがＵ相（ＰＵ）の下アーム（ＰＵＬ）のエミッタ電位信号端子（ＥＵＬ）に形成されている。

更に、請求項２に記載のパワー半導体モジュール（１００）では、Ｖ相（ＰＶ）の上アーム（ＰＶＵ）のゲート電極端子（ＧＶＵ）と、Ｖ相（ＰＶ）の上アーム（ＰＶＵ）のコレクタ電位信号端子（ＣＶＵ）と、Ｖ相（ＰＶ）の上アーム（ＰＶＵ）のエミッタ電位信号端子（ＥＶＵ）とが、外囲ケース（５）の第２仕切り壁（５ｆ）のうちのモジュール短手方向の第１の側の部分（５ｆ１）にインサート成形されている。また、Ｖ相（ＰＶ）の上アーム（ＰＶＵ）のゲート電極端子（ＧＶＵ）の鉛直断面形状がＬ字状になるように、上側鉛直部分（ＧＶＵＶ）と下側水平部分（ＧＶＵＨ）とがＶ相（ＰＶ）の上アーム（ＰＶＵ）のゲート電極端子（ＧＶＵ）に形成されている。

また、請求項２に記載のパワー半導体モジュール（１００）では、Ｖ相（ＰＶ）の上アーム（ＰＶＵ）のコレクタ電位信号端子（ＣＶＵ）の鉛直断面形状がＬ字状になるように、上側鉛直部分（ＣＶＵＶ）と下側水平部分（ＣＶＵＨ）とがＶ相（ＰＶ）の上アーム（ＰＶＵ）のコレクタ電位信号端子（ＣＶＵ）に形成されている。更に、Ｖ相（ＰＶ）の上アーム（ＰＶＵ）のエミッタ電位信号端子（ＥＶＵ）の鉛直断面形状がＬ字状になるように、上側鉛直部分（ＥＶＵＶ）と下側水平部分（ＥＶＵＨ）とがＶ相（ＰＶ）の上アーム（ＰＶＵ）のエミッタ電位信号端子（ＥＶＵ）に形成されている。

更に、請求項２に記載のパワー半導体モジュール（１００）では、Ｖ相（ＰＶ）の下アーム（ＰＶＬ）のゲート電極端子（ＧＶＬ）と、Ｖ相（ＰＶ）の下アーム（ＰＶＬ）のコレクタ電位信号端子（ＣＶＬ）と、Ｖ相（ＰＶ）の下アーム（ＰＶＬ）のエミッタ電位信号端子（ＥＶＬ）とが、外囲ケース（５）の第１仕切り壁（５ｅ）のうちのモジュール短手方向の第２の側の部分（５ｅ２）にインサート成形されている。また、Ｖ相（ＰＶ）の下アーム（ＰＶＬ）のゲート電極端子（ＧＶＬ）の鉛直断面形状がＬ字状になるように、上側鉛直部分（ＧＶＬＶ）と下側水平部分（ＧＶＬＨ）とがＶ相（ＰＶ）の下アーム（ＰＶＬ）のゲート電極端子（ＧＶＬ）に形成されている。

また、請求項２に記載のパワー半導体モジュール（１００）では、Ｖ相（ＰＶ）の下アーム（ＰＶＬ）のコレクタ電位信号端子（ＣＶＬ）の鉛直断面形状がＬ字状になるように、上側鉛直部分（ＣＶＬＶ）と下側水平部分（ＣＶＬＨ）とがＶ相（ＰＶ）の下アーム（ＰＶＬ）のコレクタ電位信号端子（ＣＶＬ）に形成されている。更に、Ｖ相（ＰＶ）の下アーム（ＰＶＬ）のエミッタ電位信号端子（ＥＶＬ）の鉛直断面形状がＬ字状になるように、上側鉛直部分（ＥＶＬＶ）と下側水平部分（ＥＶＬＨ）とがＶ相（ＰＶ）の下アーム（ＰＶＬ）のエミッタ電位信号端子（ＥＶＬ）に形成されている。

更に、請求項２に記載のパワー半導体モジュール（１００）では、Ｗ相（ＰＷ）の上アーム（ＰＷＵ）のゲート電極端子（ＧＷＵ）と、Ｗ相（ＰＷ）の上アーム（ＰＷＵ）のコレクタ電位信号端子（ＣＷＵ）と、Ｗ相（ＰＷ）の上アーム（ＰＷＵ）のエミッタ電位信号端子（ＥＷＵ）とが、外囲ケース（５）の第１側壁（５ａ）のうちのモジュール短手方向の第１の側の部分（５ａ１）にインサート成形されている。また、Ｗ相（ＰＷ）の上アーム（ＰＷＵ）のゲート電極端子（ＧＷＵ）の鉛直断面形状がＬ字状になるように、上側鉛直部分（ＧＷＵＶ）と下側水平部分（ＧＷＵＨ）とがＷ相（ＰＷ）の上アーム（ＰＷＵ）のゲート電極端子（ＧＷＵ）に形成されている。

また、請求項２に記載のパワー半導体モジュール（１００）では、Ｗ相（ＰＷ）の上アーム（ＰＷＵ）のコレクタ電位信号端子（ＣＷＵ）の鉛直断面形状がＬ字状になるように、上側鉛直部分（ＣＷＵＶ）と下側水平部分（ＣＷＵＨ）とがＷ相（ＰＷ）の上アーム（ＰＷＵ）のコレクタ電位信号端子（ＣＷＵ）に形成されている。更に、Ｗ相（ＰＷ）の上アーム（ＰＷＵ）のエミッタ電位信号端子（ＥＷＵ）の鉛直断面形状がＬ字状になるように、上側鉛直部分（ＥＷＵＶ）と下側水平部分（ＥＷＵＨ）とがＷ相（ＰＷ）の上アーム（ＰＷＵ）のエミッタ電位信号端子（ＥＷＵ）に形成されている。

更に、請求項２に記載のパワー半導体モジュール（１００）では、Ｗ相（ＰＷ）の下アーム（ＰＷＬ）のゲート電極端子（ＧＷＬ）と、Ｗ相（ＰＷ）の下アーム（ＰＷＬ）のコレクタ電位信号端子（ＣＷＬ）と、Ｗ相（ＰＶ）の下アーム（ＰＷＬ）のエミッタ電位信号端子（ＥＷＬ）とが、外囲ケース（５）の第２仕切り壁（５ｆ）のうちのモジュール短手方向の第２の側の部分（５ｆ２）にインサート成形されている。また、Ｗ相（ＰＷ）の下アーム（ＰＷＬ）のゲート電極端子（ＧＷＬ）の鉛直断面形状がＬ字状になるように、上側鉛直部分（ＧＷＬＶ）と下側水平部分（ＧＷＬＨ）とがＷ相（ＰＷ）の下アーム（ＰＷＬ）のゲート電極端子（ＧＷＬ）に形成されている。

また、請求項２に記載のパワー半導体モジュール（１００）では、Ｗ相（ＰＷ）の下アーム（ＰＷＬ）のコレクタ電位信号端子（ＣＷＬ）の鉛直断面形状がＬ字状になるように、上側鉛直部分（ＣＷＬＶ）と下側水平部分（ＣＷＬＨ）とがＷ相（ＰＷ）の下アーム（ＰＷＬ）のコレクタ電位信号端子（ＣＷＬ）に形成されている。更に、Ｗ相（ＰＷ）の下アーム（ＰＷＬ）のエミッタ電位信号端子（ＥＷＬ）の鉛直断面形状がＬ字状になるように、上側鉛直部分（ＥＷＬＶ）と下側水平部分（ＥＷＬＨ）とがＷ相（ＰＷ）の下アーム（ＰＷＬ）のエミッタ電位信号端子（ＥＷＬ）に形成されている。

詳細には、請求項２に記載のパワー半導体モジュール（１００）では、外囲ケース（５）の第１仕切り壁（５ｅ）のモジュール短手方向の第１の側の部分（５ｅ１）の下側部分（５ｅ１ａ）と、外囲ケース（５）の第１仕切り壁（５ｅ）のモジュール短手方向の第２の側の部分（５ｅ２）の下側部分（５ｅ２ａ）とが、モジュール短手方向に延びている第１鉛直面（Ｓ５ｅ１）上に位置するように、かつ、外囲ケース（５）の第１仕切り壁（５ｅ）のモジュール短手方向の第１の側の部分（５ｅ１）の上側部分（５ｅ１ｂ）が、外囲ケース（５）の第１仕切り壁（５ｅ）のモジュール短手方向の第１の側の部分（５ｅ１）の下側部分（５ｅ１ａ）よりも、モジュール長手方向の第１の側に位置するように、かつ、外囲ケース（５）の第１仕切り壁（５ｅ）のモジュール短手方向の第２の側の部分（５ｅ２）の上側部分（５ｅ２ｂ）が、外囲ケース（５）の第１仕切り壁（５ｅ）のモジュール短手方向の第２の側の部分（５ｅ２）の下側部分（５ｅ２ａ）よりも、モジュール長手方向の第２の側に位置するように、外囲ケース（５）の第１仕切り壁（５ｅ）が形成されている。

更に、請求項２に記載のパワー半導体モジュール（１００）では、Ｕ相（ＰＵ）の上アーム（ＰＵＵ）のゲート電極端子（ＧＵＵ）の上側鉛直部分（ＧＵＵＶ）の上端部と、Ｕ相（ＰＵ）の上アーム（ＰＵＵ）のコレクタ電位信号端子（ＣＵＵ）の上側鉛直部分（ＣＵＵＶ）の上端部と、Ｕ相（ＰＵ）の上アーム（ＰＵＵ）のエミッタ電位信号端子（ＥＵＵ）の上側鉛直部分（ＥＵＵＶ）とが、外囲ケース（５）の第１仕切り壁（５ｅ）のモジュール短手方向の第１の側の部分（５ｅ１）の上側部分（５ｅ１ｂ）から上側に突出せしめられると共に、第１鉛直面（Ｓ５ｅ１）よりもモジュール長手方向の第１の側に位置しかつ第１鉛直面（Ｓ５ｅ１）に平行な第２鉛直面（Ｓ５ｅ２）上に配置されている。

また、請求項２に記載のパワー半導体モジュール（１００）では、Ｕ相（ＰＵ）の上アーム（ＰＵＵ）のゲート電極端子（ＧＵＵ）の下端水平部分（ＧＵＵＨ）と、Ｕ相（ＰＵ）の上アーム（ＰＵＵ）のコレクタ電位信号端子（ＣＵＵ）の下側水平部分（ＣＵＵＨ）と、Ｕ相（ＰＵ）の上アーム（ＰＵＵ）のエミッタ電位信号端子（ＥＵＵ）の下側水平部分（ＥＵＵＨ）とが、第１鉛直面（Ｓ５ｅ１）上に配置されると共に、外囲ケース（５）の第１仕切り壁（５ｅ）のモジュール短手方向の第１の側の部分（５ｅ１）の下側部分（５ｅ１ａ）の上面に露出せしめられている。

更に、請求項２に記載のパワー半導体モジュール（１００）では、Ｖ相（ＰＶ）の下アーム（ＰＶＬ）のゲート電極端子（ＧＶＬ）の上側鉛直部分（ＧＶＬＶ）の上端部と、Ｖ相（ＰＶ）の下アーム（ＰＶＬ）のコレクタ電位信号端子（ＣＶＬ）の上側鉛直部分（ＣＶＬＶ）の上端部と、Ｖ相（ＰＶ）の下アーム（ＰＶＬ）のエミッタ電位信号端子（ＥＶＬ）の上側鉛直部分（ＥＶＬＶ）とが、外囲ケース（５）の第１仕切り壁（５ｅ）のモジュール短手方向の第２の側の部分（５ｅ２）の上側部分（５ｅ２ｂ）から上側に突出せしめられると共に、第１鉛直面（Ｓ５ｅ１）よりもモジュール長手方向の第２の側に位置しかつ第１鉛直面（Ｓ５ｅ１）に平行な第３鉛直面（Ｓ５ｅ３）上に配置されている。

また、請求項２に記載のパワー半導体モジュール（１００）では、Ｖ相（ＰＶ）の下アーム（ＰＶＬ）のゲート電極端子（ＧＶＬ）の下端水平部分（ＧＶＬＨ）と、Ｖ相（ＰＶ）の下アーム（ＰＶＬ）のコレクタ電位信号端子（ＣＶＬ）の下側水平部分（ＣＶＬＨ）と、Ｖ相（ＰＶ）の下アーム（ＰＶＬ）のエミッタ電位信号端子（ＥＶＬ）の下側水平部分（ＥＶＬＨ）とが、第１鉛直面（Ｓ５ｅ１）上に配置されると共に、外囲ケース（５）の第１仕切り壁（５ｅ）のモジュール短手方向の第２の側の部分（５ｅ２）の下側部分（５ｅ２ａ）の上面に露出せしめられている。

そのため、請求項２に記載のパワー半導体モジュール（１００）によれば、Ｕ相（ＰＵ）の上アーム（ＰＵＵ）のゲート電極端子（ＧＵＵ）の上側鉛直部分（ＧＵＵＶ）の上端部と、Ｕ相（ＰＵ）の上アーム（ＰＵＵ）のコレクタ電位信号端子（ＣＵＵ）の上側鉛直部分（ＣＵＵＶ）の上端部と、Ｕ相（ＰＵ）の上アーム（ＰＵＵ）のエミッタ電位信号端子（ＥＵＵ）の上側鉛直部分（ＥＵＵＶ）と、Ｖ相（ＰＶ）の下アーム（ＰＶＬ）のゲート電極端子（ＧＶＬ）の上側鉛直部分（ＧＶＬＶ）の上端部と、Ｖ相（ＰＶ）の下アーム（ＰＶＬ）のコレクタ電位信号端子（ＣＶＬ）の上側鉛直部分（ＣＶＬＶ）の上端部と、Ｖ相（ＰＶ）の下アーム（ＰＶＬ）のエミッタ電位信号端子（ＥＶＬ）の上側鉛直部分（ＥＶＬＶ）とが、モジュール短手方向に延びている単一の鉛直面上に配置されている場合よりも、Ｕ相（ＰＵ）とＶ相（ＰＶ）との間隔を小さくすることができ、それにより、パワー半導体モジュール（１００）全体のモジュール長手方向寸法を小型化することができる。

更に、請求項２に記載のパワー半導体モジュール（１００）では、外囲ケース（５）の第２仕切り壁（５ｆ）のモジュール短手方向の第１の側の部分（５ｆ１）の下側部分（５ｆ１ａ）と、外囲ケース（５）の第２仕切り壁（５ｆ）のモジュール短手方向の第２の側の部分（５ｆ２）の下側部分（５ｆ２ａ）とが、モジュール短手方向に延びている第４鉛直面（Ｓ５ｆ１）上に位置するように、かつ、外囲ケース（５）の第２仕切り壁（５ｆ）のモジュール短手方向の第１の側の部分（５ｆ１）の上側部分（５ｆ１ｂ）が、外囲ケース（５）の第２仕切り壁（５ｆ）のモジュール短手方向の第１の側の部分（５ｆ１）の下側部分（５ｆ１ａ）よりも、モジュール長手方向の第１の側に位置するように、かつ、外囲ケース（５）の第２仕切り壁（５ｆ）のモジュール短手方向の第２の側の部分（５ｆ２）の上側部分（５ｆ２ｂ）が、外囲ケース（５）の第２仕切り壁（５ｆ）のモジュール短手方向の第２の側の部分（５ｆ２）の下側部分（５ｆ２ａ）よりも、モジュール長手方向の第２の側に位置するように、外囲ケース（５）の第２仕切り壁（５ｆ）が形成されている。

また、請求項２に記載のパワー半導体モジュール（１００）では、Ｖ相（ＰＶ）の上アーム（ＰＶＵ）のゲート電極端子（ＧＶＵ）の上側鉛直部分（ＧＶＵＶ）の上端部と、Ｖ相（ＰＶ）の上アーム（ＰＶＵ）のコレクタ電位信号端子（ＣＶＵ）の上側鉛直部分（ＣＶＵＶ）の上端部と、Ｖ相（ＰＶ）の上アーム（ＰＶＵ）のエミッタ電位信号端子（ＥＶＵ）の上側鉛直部分（ＥＶＵＶ）とが、外囲ケース（５）の第２仕切り壁（５ｆ）のモジュール短手方向の第１の側の部分（５ｆ１）の上側部分（５ｆ１ｂ）から上側に突出せしめられると共に、第４鉛直面（Ｓ５ｆ１）よりもモジュール長手方向の第１の側に位置しかつ第４鉛直面（Ｓ５ｆ１）に平行な第５鉛直面（Ｓ５ｆ２）上に配置されている。

更に、請求項２に記載のパワー半導体モジュール（１００）では、Ｖ相（ＰＶ）の上アーム（ＰＶＵ）のゲート電極端子（ＧＶＵ）の下端水平部分（ＧＶＵＨ）と、Ｖ相（ＰＶ）の上アーム（ＰＶＵ）のコレクタ電位信号端子（ＣＶＵ）の下側水平部分（ＣＶＵＨ）と、Ｖ相（ＰＶ）の上アーム（ＰＶＵ）のエミッタ電位信号端子（ＥＶＵ）の下側水平部分（ＥＶＵＨ）とが、第４鉛直面（Ｓ５ｆ１）上に配置されると共に、外囲ケース（５）の第２仕切り壁（５ｆ）のモジュール短手方向の第１の側の部分（５ｆ１）の下側部分（５ｆ１ａ）の上面に露出せしめられている。

また、請求項２に記載のパワー半導体モジュール（１００）では、Ｗ相（ＰＷ）の下アーム（ＰＷＬ）のゲート電極端子（ＧＷＬ）の上側鉛直部分（ＧＷＬＶ）の上端部と、Ｗ相（ＰＷ）の下アーム（ＰＷＬ）のコレクタ電位信号端子（ＣＷＬ）の上側鉛直部分（ＣＷＬＶ）の上端部と、Ｗ相（ＰＷ）の下アーム（ＰＷＬ）のエミッタ電位信号端子（ＥＷＬ）の上側鉛直部分（ＥＷＬＶ）とが、外囲ケース（５）の第２仕切り壁（５ｆ）のモジュール短手方向の第２の側の部分（５ｆ２）の上側部分（５ｆ２ｂ）から上側に突出せしめられると共に、第４鉛直面（Ｓ５ｆ１）よりもモジュール長手方向の第２の側に位置しかつ第４鉛直面（Ｓ５ｆ１）に平行な第６鉛直面（Ｓ５ｆ３）上に配置されている。

更に、請求項２に記載のパワー半導体モジュール（１００）では、Ｗ相（ＰＷ）の下アーム（ＰＷＬ）のゲート電極端子（ＧＷＬ）の下端水平部分（ＧＷＬＨ）と、Ｗ相（ＰＷ）の下アーム（ＰＷＬ）のコレクタ電位信号端子（ＣＷＬ）の下側水平部分（ＣＷＬＨ）と、Ｗ相（ＰＷ）の下アーム（ＰＷＬ）のエミッタ電位信号端子（ＥＷＬ）の下側水平部分（ＥＷＬＨ）とが、第４鉛直面（Ｓ５ｆ１）上に配置されると共に、外囲ケース（５）の第２仕切り壁（５ｆ）のモジュール短手方向の第２の側の部分（５ｆ２）の下側部分（５ｆ２ａ）の上面に露出せしめられている。

そのため、請求項２に記載のパワー半導体モジュール（１００）によれば、Ｖ相（ＰＶ）の上アーム（ＰＶＵ）のゲート電極端子（ＧＶＵ）の上側鉛直部分（ＧＶＵＶ）の上端部と、Ｖ相（ＰＶ）の上アーム（ＰＶＵ）のコレクタ電位信号端子（ＣＶＵ）の上側鉛直部分（ＣＶＵＶ）の上端部と、Ｖ相（ＰＶ）の上アーム（ＰＶＵ）のエミッタ電位信号端子（ＥＶＵ）の上側鉛直部分（ＥＶＵＶ）と、Ｗ相（ＰＷ）の下アーム（ＰＷＬ）のゲート電極端子（ＧＷＬ）の上側鉛直部分（ＧＷＬＶ）の上端部と、Ｗ相（ＰＷ）の下アーム（ＰＷＬ）のコレクタ電位信号端子（ＣＷＬ）の上側鉛直部分（ＣＷＬＶ）の上端部と、Ｗ相（ＰＷ）の下アーム（ＰＷＬ）のエミッタ電位信号端子（ＥＷＬ）の上側鉛直部分（ＥＷＬＶ）とが、モジュール短手方向に延びている単一の鉛直面上に配置されている場合よりも、Ｖ相（ＰＶ）とＷ相（ＰＷ）との間隔を小さくすることができ、それにより、パワー半導体モジュール（１００）全体のモジュール長手方向寸法を小型化することができる。

請求項３に記載のパワー半導体モジュール（１００）では、Ｕ相用サーミスタ（ＴＭＵ）が設けられている。また、Ｕ相用サーミスタ（ＴＭＵ）のモジュール短手方向寸法（ＷＴ）が第１の間隔（Ｗ１）より小さい値に設定されている。更に、Ｕ相用サーミスタ（ＴＭＵ）の少なくとも一部分が、第１ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵａ）のモジュール短手方向の第２の側の端部と第２ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｂ）のモジュール短手方向の第１の側の端部との間に配置されている。また、Ｕ相用サーミスタ（ＴＭＵ）のモジュール長手方向の第２の側の端部が、第１ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵａ）および第２ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｂ）のモジュール長手方向の第１の側の端部よりもモジュール長手方向の第２の側に配置されている。

そのため、請求項３に記載のパワー半導体モジュール（１００）によれば、Ｕ相用サーミスタ（ＴＭＵ）のモジュール長手方向の第２の側の端部が、第１ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵａ）および第２ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｂ）のモジュール長手方向の第１の側の端部よりもモジュール長手方向の第２の側に配置されない場合よりも、Ｕ相（ＰＵ）のモジュール長手方向寸法を小型化することができ、それにより、パワー半導体モジュール（１００）全体のモジュール長手方向寸法を小型化することができる。

請求項４に記載のパワー半導体モジュール（１００）では、Ｖ相用サーミスタ（ＴＭＶ）と、Ｗ相用サーミスタ（ＴＭＷ）とが設けられている。また、Ｖ相（ＰＶ）およびＷ相（ＰＷ）がＵ相（ＰＵ）と同一形状に形成されている。更に、Ｕ相用サーミスタ（ＴＭＵ）に電流を供給するためのＵ相用給電端子（ＴＵ１，ＴＵ２）が、外囲ケース（５）の第１仕切り壁（５ｅ）のうちのモジュール短手方向の第１の側の部分（５ｅ１）とモジュール短手方向の第２の側の部分（５ｅ２）との中間部分（５ｅ３）にインサート成形されている。

また、請求項４に記載のパワー半導体モジュール（１００）では、Ｕ相用給電端子（ＴＵ１，ＴＵ２）の鉛直断面形状がＬ字状になるように、上側鉛直部分（ＴＵ１Ｖ，ＴＵ２Ｖ）と下側水平部分（ＴＵ１Ｈ，ＴＵ２Ｈ）とがＵ相用給電端子（ＴＵ１，ＴＵ２）に形成されている。更に、外囲ケース（５）の第１仕切り壁（５ｅ）の中間部分（５ｅ３）の下側部分（５ｅ３ａ）が第１鉛直面（Ｓ５ｅ１）上に位置するように、かつ、外囲ケース（５）の第１仕切り壁（５ｅ）の中間部分（５ｅ３）の上側部分（５ｅ３ｂ）が、外囲ケース（５）の第１仕切り壁（５ｅ）の中間部分（５ｅ３）の下側部分（５ｅ３ａ）よりも、モジュール長手方向の第１の側に位置するように、外囲ケース（５）の第１仕切り壁（５ｅ）が形成されている。

更に、請求項４に記載のパワー半導体モジュール（１００）では、Ｕ相用給電端子（ＴＵ１，ＴＵ２）の上側鉛直部分（ＴＵ１Ｖ，ＴＵ２Ｖ）が、外囲ケース（５）の第１仕切り壁（５ｅ）の中間部分（５ｅ３）の上側部分（５ｅ３ｂ）から上側に突出せしめられると共に、第２鉛直面（Ｓ５ｅ２）上に配置されている。また、Ｕ相用給電端子（ＴＵ１，ＴＵ２）の下側水平部分（ＴＵ１Ｈ，ＴＵ２Ｈ）が、第１鉛直面（Ｓ５ｅ１）上に配置されると共に、外囲ケース（５）の第１仕切り壁（５ｅ）の中間部分（５ｅ３）の下側部分（５ｅ３ａ）の上面に露出せしめられている。

そのため、請求項４に記載のパワー半導体モジュール（１００）によれば、Ｕ相（ＰＵ）の上アーム（ＰＵＵ）のゲート電極端子（ＧＵＵ）の上側鉛直部分（ＧＵＵＶ）の上端部と、Ｕ相（ＰＵ）の上アーム（ＰＵＵ）のコレクタ電位信号端子（ＣＵＵ）の上側鉛直部分（ＣＵＵＶ）の上端部と、Ｕ相（ＰＵ）の上アーム（ＰＵＵ）のエミッタ電位信号端子（ＥＵＵ）の上側鉛直部分（ＥＵＵＶ）と、Ｕ相用給電端子（ＴＵ１，ＴＵ２）の上側鉛直部分（ＴＵ１Ｖ，ＴＵ２Ｖ）と、Ｖ相（ＰＶ）の下アーム（ＰＶＬ）のゲート電極端子（ＧＶＬ）の上側鉛直部分（ＧＶＬＶ）の上端部と、Ｖ相（ＰＶ）の下アーム（ＰＶＬ）のコレクタ電位信号端子（ＣＶＬ）の上側鉛直部分（ＣＶＬＶ）の上端部と、Ｖ相（ＰＶ）の下アーム（ＰＶＬ）のエミッタ電位信号端子（ＥＶＬ）の上側鉛直部分（ＥＶＬＶ）とが、モジュール短手方向に延びている単一の鉛直面上に配置されている場合よりも、Ｕ相（ＰＵ）とＶ相（ＰＶ）との間隔を小さくすることができ、それにより、パワー半導体モジュール（１００）全体のモジュール長手方向寸法を小型化することができる。

また、請求項４に記載のパワー半導体モジュール（１００）では、Ｖ相用サーミスタ（ＴＭＶ）に電流を供給するためのＶ相用給電端子（ＴＶ１，ＴＶ２）が、外囲ケース（５）の第２仕切り壁（５ｆ）のうちのモジュール短手方向の第１の側の部分（５ｆ１）とモジュール短手方向の第２の側の部分（５ｆ２）との中間部分（５ｆ３）にインサート成形されている。

更に、請求項４に記載のパワー半導体モジュール（１００）では、Ｖ相用給電端子（ＴＶ１，ＴＶ２）の鉛直断面形状がＬ字状になるように、上側鉛直部分（ＴＶ１Ｖ，ＴＶ２Ｖ）と下側水平部分（ＴＶ１Ｈ，ＴＶ２Ｈ）とがＶ相用給電端子（ＴＶ１，ＴＶ２）に形成されている。また、外囲ケース（５）の第２仕切り壁（５ｆ）の中間部分（５ｆ３）の下側部分（５ｆ３ａ）が第４鉛直面（Ｓ５ｆ１）上に位置するように、かつ、外囲ケース（５）の第２仕切り壁（５ｆ）の中間部分（５ｆ３）の上側部分（５ｆ３ｂ）が、外囲ケース（５）の第２仕切り壁（５ｆ）の中間部分（５ｆ３）の下側部分（５ｆ３ａ）よりも、モジュール長手方向の第１の側に位置するように、外囲ケース（５）の第２仕切り壁（５ｆ）が形成されている。

また、請求項４に記載のパワー半導体モジュール（１００）では、Ｖ相用給電端子（ＴＶ１，ＴＶ２）の上側鉛直部分（ＴＶ１Ｖ，ＴＶ２Ｖ）が、外囲ケース（５）の第２仕切り壁（５ｆ）の中間部分（５ｆ３）の上側部分（５ｆ３ｂ）から上側に突出せしめられると共に、第５鉛直面（Ｓ５ｆ２）上に配置されている。更に、Ｖ相用給電端子（ＴＶ１，ＴＶ２）の下側水平部分（ＴＶ１Ｈ，ＴＶ２Ｈ）が、第４鉛直面（Ｓ５ｆ１）上に配置されると共に、外囲ケース（５）の第２仕切り壁（５ｆ）の中間部分（５ｆ３）の下側部分（５ｆ３ａ）の上面に露出せしめられている。

そのため、請求項４に記載のパワー半導体モジュール（１００）によれば、Ｖ相（ＰＶ）の上アーム（ＰＶＵ）のゲート電極端子（ＧＶＵ）の上側鉛直部分（ＧＶＵＶ）の上端部と、Ｖ相（ＰＶ）の上アーム（ＰＶＵ）のコレクタ電位信号端子（ＣＶＵ）の上側鉛直部分（ＣＶＵＶ）の上端部と、Ｖ相（ＰＶ）の上アーム（ＰＶＵ）のエミッタ電位信号端子（ＥＶＵ）の上側鉛直部分（ＥＶＵＶ）と、Ｖ相用給電端子（ＴＶ１，ＴＶ２）の上側鉛直部分（ＴＶ１Ｖ，ＴＶ２Ｖ）と、Ｗ相（ＰＷ）の下アーム（ＰＷＬ）のゲート電極端子（ＧＷＬ）の上側鉛直部分（ＧＷＬＶ）の上端部と、Ｗ相（ＰＷ）の下アーム（ＰＷＬ）のコレクタ電位信号端子（ＣＷＬ）の上側鉛直部分（ＣＷＬＶ）の上端部と、Ｗ相（ＰＷ）の下アーム（ＰＷＬ）のエミッタ電位信号端子（ＥＷＬ）の上側鉛直部分（ＥＷＬＶ）とが、モジュール短手方向に延びている単一の鉛直面上に配置されている場合よりも、Ｖ相（ＰＶ）とＷ相（ＰＷ）との間隔を小さくすることができ、それにより、パワー半導体モジュール（１００）全体のモジュール長手方向寸法を小型化することができる。

請求項５に記載のパワー半導体モジュール（１００）では、Ｕ相用サーミスタ（ＴＭＵ）の中心位置（ＣＴＭＵ）が、第１ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵａ）と第２ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｂ）との線対称中心線（ＣＬ１）よりもモジュール短手方向の第２の側に配置されている。

そのため、請求項５に記載のパワー半導体モジュール（１００）によれば、Ｕ相用サーミスタ（ＴＭＵ）の中心位置（ＣＴＭＵ）が第１ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵａ）と第２ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｂ）との線対称中心線（ＣＬ１）上に配置されている場合よりも、第２ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｂ）の温度を正確に測定することができる。

第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００を示した図である。 第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００を示した図である。 第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００の一部を構成する放熱部材１、Ｕ相用絶縁基板２Ｕ、Ｖ相用絶縁基板２ＶおよびＷ相用絶縁基板２Ｗの組立体などを示した図である。 図３に示す組立体に対して、ＩＧＢＴチップＱＵＵａ，ＱＵＵｂ，ＱＵＵｃ，ＱＵＵｄ，ＱＵＬａ，ＱＵＬｂ，ＱＵＬｃ，ＱＵＬｄ，…およびダイオードチップＦＷＤＵＵａ，ＦＷＤＵＵｂ，ＦＷＤＵＵｃ，ＦＷＤＵＵｄ，ＦＷＤＵＬａ，ＦＷＤＵＬｂ，ＦＷＤＵＬｃ，ＦＷＤＵＬｄ，…が搭載された状態を示した図である。 リボンワイヤ３ＵＵ１ａ，３ＵＵ１ｂ，３ＵＵ１ｃ，３ＵＵ１ｄ，３ＵＬ１ａ，３ＵＬ１ｂ，３ＵＬ１ｃ，３ＵＬ１ｄ，…のボンディングが行われた状態の組立体の平面図である。 リボンワイヤ３ＵＵ１ａ，３ＵＵ１ｂ，３ＵＵ１ｃ，３ＵＵ１ｄ，３ＵＬ１ａ，３ＵＬ１ｂ，３ＵＬ１ｃ，３ＵＬ１ｄ，…のボンディングが行われた状態の組立体の斜視図である。 図５および図６に示す組立体に対して、リボンワイヤ３ＵＵ２ａ，３ＵＵ２ｂ，３ＵＵ２ｃ，３ＵＵ２ｄ，３ＵＬ２ａ，３ＵＬ２ｂ，３ＵＬ２ｃ，３ＵＬ２ｄ，３ＵＵ４ａ，３ＵＵ４ｂ，３ＵＵ４ｃ，３ＵＵ４ｄ，…のボンディングおよび太線ワイヤ３ＵＵ３ａ，３ＵＵ３ｂ，３ＵＵ３ｃ，３ＵＵ３ｄ，３ＵＬ３ａ，３ＵＬ３ｂ，３ＵＬ３ｃ，３ＵＬ３ｄ，…のボンディングが行われた状態を示した図である。 図５および図６に示す組立体に対して、リボンワイヤ３ＵＵ２ａ，３ＵＵ２ｂ，３ＵＵ２ｃ，３ＵＵ２ｄ，３ＵＬ２ａ，３ＵＬ２ｂ，３ＵＬ２ｃ，３ＵＬ２ｄ，３ＵＵ４ａ，３ＵＵ４ｂ，３ＵＵ４ｃ，３ＵＵ４ｄ，…のボンディングおよび太線ワイヤ３ＵＵ３ａ，３ＵＵ３ｂ，３ＵＵ３ｃ，３ＵＵ３ｄ，３ＵＬ３ａ，３ＵＬ３ｂ，３ＵＬ３ｃ，３ＵＬ３ｄ，…のボンディングが行われた状態を示した図である。 樹脂により正極端子Ｐ１，Ｐ２，Ｐ３、負極端子Ｎ１，Ｎ２，Ｎ３、交流端子Ｕ，Ｖ，Ｗ、ゲート電極端子ＧＵＵ，ＧＵＬ，ＧＶＵ，ＧＶＬ，ＧＷＵ，ＧＷＬ、コレクタ電位信号端子ＣＵＵ，ＣＵＬ，ＣＶＵ，ＣＶＬ，ＣＷＵ，ＣＷＬおよびエミッタ電位信号端子ＥＵＵ，ＥＵＬ，ＥＶＵ，ＥＶＬ，ＥＷＵ，ＥＷＬがインサートされて成形された外囲ケース５の部品図である。 樹脂により正極端子Ｐ１，Ｐ２，Ｐ３、負極端子Ｎ１，Ｎ２，Ｎ３、交流端子Ｕ，Ｖ，Ｗ、ゲート電極端子ＧＵＵ，ＧＵＬ，ＧＶＵ，ＧＶＬ，ＧＷＵ，ＧＷＬ、コレクタ電位信号端子ＣＵＵ，ＣＵＬ，ＣＶＵ，ＣＶＬ，ＣＷＵ，ＣＷＬおよびエミッタ電位信号端子ＥＵＵ，ＥＵＬ，ＥＶＵ，ＥＶＬ，ＥＷＵ，ＥＷＬがインサートされて成形された外囲ケース５の部品図である。 樹脂により正極端子Ｐ１，Ｐ２，Ｐ３、負極端子Ｎ１，Ｎ２，Ｎ３、交流端子Ｕ，Ｖ，Ｗ、ゲート電極端子ＧＵＵ，ＧＵＬ，ＧＶＵ，ＧＶＬ，ＧＷＵ，ＧＷＬ、コレクタ電位信号端子ＣＵＵ，ＣＵＬ，ＣＶＵ，ＣＶＬ，ＣＷＵ，ＣＷＬおよびエミッタ電位信号端子ＥＵＵ，ＥＵＬ，ＥＶＵ，ＥＶＬ，ＥＷＵ，ＥＷＬがインサートされて成形された外囲ケース５の部品図である。 樹脂により正極端子Ｐ１，Ｐ２，Ｐ３、負極端子Ｎ１，Ｎ２，Ｎ３、交流端子Ｕ，Ｖ，Ｗ、ゲート電極端子ＧＵＵ，ＧＵＬ，ＧＶＵ，ＧＶＬ，ＧＷＵ，ＧＷＬ、コレクタ電位信号端子ＣＵＵ，ＣＵＬ，ＣＶＵ，ＣＶＬ，ＣＷＵ，ＣＷＬおよびエミッタ電位信号端子ＥＵＵ，ＥＵＬ，ＥＶＵ，ＥＶＬ，ＥＷＵ，ＥＷＬがインサートされて成形された外囲ケース５の部品図である。 樹脂により正極端子Ｐ１，Ｐ２，Ｐ３、負極端子Ｎ１，Ｎ２，Ｎ３、交流端子Ｕ，Ｖ，Ｗ、ゲート電極端子ＧＵＵ，ＧＵＬ，ＧＶＵ，ＧＶＬ，ＧＷＵ，ＧＷＬ、コレクタ電位信号端子ＣＵＵ，ＣＵＬ，ＣＶＵ，ＣＶＬ，ＣＷＵ，ＣＷＬおよびエミッタ電位信号端子ＥＵＵ，ＥＵＬ，ＥＶＵ，ＥＶＬ，ＥＷＵ，ＥＷＬがインサートされて成形された外囲ケース５の部品図である。 樹脂により正極端子Ｐ１，Ｐ２，Ｐ３、負極端子Ｎ１，Ｎ２，Ｎ３、交流端子Ｕ，Ｖ，Ｗ、ゲート電極端子ＧＵＵ，ＧＵＬ，ＧＶＵ，ＧＶＬ，ＧＷＵ，ＧＷＬ、コレクタ電位信号端子ＣＵＵ，ＣＵＬ，ＣＶＵ，ＣＶＬ，ＣＷＵ，ＣＷＬおよびエミッタ電位信号端子ＥＵＵ，ＥＵＬ，ＥＶＵ，ＥＶＬ，ＥＷＵ，ＥＷＬがインサートされて成形された外囲ケース５の部品図である。 図７および図８に示す組立体の放熱部材１に対して、図９〜図１４に示す外囲ケース５を接合した状態を示した図である。 図７および図８に示す組立体の放熱部材１に対して、図９〜図１４に示す外囲ケース５を接合した状態を示した図である。 第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００の放熱部材１、正極端子Ｐ１、負極端子Ｎ１および交流端子Ｕの概略的な鉛直断面図である。 第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００の正極端子Ｐ１の拡大部品図である。 第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００の負極端子Ｎ１の拡大部品図である。 第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００の交流端子Ｕの拡大部品図である。

以下、本発明のパワー半導体モジュールの第１の実施形態について説明する。図１および図２は第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００を示した図である。詳細には、図１（Ａ）は第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００の平面図、図１（Ｂ）は第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００の正面図である。図２（Ａ）は第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００の左側面図、図２（Ｂ）は第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００の斜視図、図２（Ｃ）は第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００の等価回路図である。

第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、３相インバータ回路のＵ相ＰＵ（図２（Ｃ）参照）の上アームＰＵＵ（図２（Ｃ）参照）の一部を構成する正極端子Ｐ１（図１（Ａ）、図２（Ａ）、図２（Ｂ）および図２（Ｃ）参照）が設けられている。また、３相インバータ回路のＵ相ＰＵ（図２（Ｃ）参照）の下アームＰＵＬ（図２（Ｃ）参照）の一部を構成する負極端子Ｎ１（図１（Ａ）、図２（Ｂ）および図２（Ｃ）参照）が設けられている。更に、３相インバータ回路のＵ相ＰＵ（図２（Ｃ）参照）の一部を構成する交流端子Ｕ（図１および図２参照）が設けられている。

また、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、３相インバータ回路のＵ相ＰＵ（図２（Ｃ）参照）の上アームＰＵＵ（図２（Ｃ）参照）の一部を構成するゲート電極端子ＧＵＵ（図１（Ａ）および図２参照）が設けられている。更に、３相インバータ回路のＵ相ＰＵ（図２（Ｃ）参照）の下アームＰＵＬ（図２（Ｃ）参照）の一部を構成するゲート電極端子ＧＵＬ（図１（Ａ）および図２参照）が設けられている。

更に、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、３相インバータ回路のＶ相ＰＶ（図２（Ｃ）参照）の上アームＰＶＵ（図２（Ｃ）参照）の一部を構成する正極端子Ｐ２（図１（Ａ）、図２（Ｂ）および図２（Ｃ）参照）が設けられている。また、３相インバータ回路のＶ相ＰＶ（図２（Ｃ）参照）の下アームＰＶＬ（図２（Ｃ）参照）の一部を構成する負極端子Ｎ２（図１（Ａ）、図２（Ｂ）および図２（Ｃ）参照）が設けられている。更に、３相インバータ回路のＶ相ＰＶ（図２（Ｃ）参照）の一部を構成する交流端子Ｖ（図１、図２（Ｂ）および図２（Ｃ）参照）が設けられている。

また、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、３相インバータ回路のＶ相ＰＶ（図２（Ｃ）参照）の上アームＰＶＵ（図２（Ｃ）参照）の一部を構成するゲート電極端子ＧＶＵ（図１（Ａ）、図２（Ｂ）および図２（Ｃ）参照）が設けられている。更に、３相インバータ回路のＶ相ＰＶ（図２（Ｃ）参照）の下アームＰＶＬ（図２（Ｃ）参照）の一部を構成するゲート電極端子ＧＶＬ（図１（Ａ）、図２（Ｂ）および図２（Ｃ）参照）が設けられている。

更に、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、３相インバータ回路のＷ相ＰＷ（図２（Ｃ）参照）の上アームＰＷＵ（図２（Ｃ）参照）の一部を構成する正極端子Ｐ３（図１（Ａ）、図２（Ｂ）および図２（Ｃ）参照）が設けられている。また、３相インバータ回路のＷ相ＰＷ（図２（Ｃ）参照）の下アームＰＷＬ（図２（Ｃ）参照）の一部を構成する負極端子Ｎ３（図１（Ａ）、図２（Ｂ）および図２（Ｃ）参照）が設けられている。更に、３相インバータ回路のＷ相ＰＷ（図２（Ｃ）参照）の一部を構成する交流端子Ｗ（図１、図２（Ｂ）および図２（Ｃ）参照）が設けられている。

また、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、３相インバータ回路のＷ相ＰＷ（図２（Ｃ）参照）の上アームＰＷＵ（図２（Ｃ）参照）の一部を構成するゲート電極端子ＧＷＵ（図１（Ａ）、図２（Ｂ）および図２（Ｃ）参照）が設けられている。更に、３相インバータ回路のＷ相ＰＷ（図２（Ｃ）参照）の下アームＰＷＬ（図２（Ｃ）参照）の一部を構成するゲート電極端子ＧＷＬ（図１（Ａ）、図２（Ｂ）および図２（Ｃ）参照）が設けられている。

図３は第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００の一部を構成する放熱部材１、Ｕ相用絶縁基板２Ｕ、Ｖ相用絶縁基板２ＶおよびＷ相用絶縁基板２Ｗの組立体などを示した図である。詳細には、図３（Ａ）は第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００の一部を構成する放熱部材１および絶縁基板２Ｕ，２Ｖ，２Ｗの組立体の平面図である。図３（Ｂ）は図３（Ａ）の絶縁基板２Ｕなどの拡大図である。

第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、３相インバータ回路のＵ相ＰＵ（図２（Ｃ）参照）の一部を構成する絶縁基板２Ｕ（図３参照）が設けられている。また、導体パターン２Ｕａ（図３参照）と導体パターン２Ｕｂ（図３参照）と導体パターン２Ｕｃ（図３参照）と導体パターン２Ｕｄ（図３参照）と導体パターン２Ｕｅ（図３参照）と導体パターン２Ｕｆ（図３参照）とが、左右方向（モジュール長手方向）（図３の左右方向）に並べられて絶縁基板２Ｕ（図３参照）の上面に形成されている。更に、導体パターン２Ｕａ（図３参照）が、導体パターン２Ｕｂ（図３参照）の右側に隣接して配置されている。また、導体パターン２Ｕｃ（図３参照）が、導体パターン２Ｕｂ（図３参照）の左側に隣接して配置されている。更に、導体パターン２Ｕｄ（図３参照）が、導体パターン２Ｕａ（図３参照）の右側に隣接して配置されている。また、導体パターン２Ｕｅ（図３参照）が、導体パターン２Ｕｃ（図３参照）の左側に隣接して配置されている。更に、導体パターン２Ｕｆ（図３参照）が、導体パターン２Ｕｄ（図３参照）の右側に隣接して配置されている。また、絶縁基板２Ｕ（図３参照）の下面と放熱部材１（図３参照）の中央部１ａ（図３参照）の上面とが接合されている。

また、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、Ｕ相ＰＵ（図２（Ｃ）および図３（Ａ）参照）の絶縁基板２Ｕ（図３参照）と同一形状に形成されたＶ相ＰＶ（図２（Ｃ）および図３（Ａ）参照）の絶縁基板２Ｖ（図３（Ａ）参照）と、Ｕ相ＰＵ（図２（Ｃ）および図３（Ａ）参照）の絶縁基板２Ｕ（図３参照）と同一形状に形成されたＷ相ＰＷ（図２（Ｃ）および図３（Ａ）参照）の絶縁基板２Ｗ（図３（Ａ）参照）とが放熱部材１（図３（Ａ）参照）の中央部１ａ（図３（Ａ）参照）の上面に接合されている。詳細には、Ｖ相ＰＶの絶縁基板２Ｖが、Ｕ相ＰＵの絶縁基板２Ｕの右側に隣接して配置されている。また、Ｗ相ＰＷの絶縁基板２Ｗが、Ｖ相ＰＶの絶縁基板２Ｖの右側に隣接して配置されている。

更に、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、放熱部材１（図３（Ａ）参照）に水冷機能が備えられている。具体的には、放熱部材１（図３（Ａ）参照）の中央部１ａ（図３（Ａ）参照）に、狭いピッチで左右方向（モジュール長手方向）（図３（Ａ）の左右方向）に配列され、前後方向（モジュール短手方向）（図３（Ａ）の上下方向）に延びている複数の冷却水路１ａ１（図１７参照）が形成されている。また、放熱部材１（図３（Ａ）参照）の前端部１ｂ（図３（Ａ）参照）に、左右方向（図３の左右方向）に延びている冷却水路１ｂ１（図２（Ａ）参照）が形成されている。更に、放熱部材１（図３（Ａ）参照）の後端部１ｃ（図３（Ａ）参照）に、左右方向（図３の左右方向）に延びている冷却水路１ｃ１（図２（Ｂ）参照）が形成されている。

図４は図３に示す組立体に対して、ＩＧＢＴチップＱＵＵａ，ＱＵＵｂ，ＱＵＵｃ，ＱＵＵｄ，ＱＵＬａ，ＱＵＬｂ，ＱＵＬｃ，ＱＵＬｄ，…およびダイオードチップＦＷＤＵＵａ，ＦＷＤＵＵｂ，ＦＷＤＵＵｃ，ＦＷＤＵＵｄ，ＦＷＤＵＬａ，ＦＷＤＵＬｂ，ＦＷＤＵＬｃ，ＦＷＤＵＬｄ，…が搭載された状態を示した図である。詳細には、図４（Ａ）はＩＧＢＴチップＱＵＵａ，ＱＵＵｂ，ＱＵＵｃ，ＱＵＵｄ，ＱＵＬａ，ＱＵＬｂ，ＱＵＬｃ，ＱＵＬｄ，…およびダイオードチップＦＷＤＵＵａ，ＦＷＤＵＵｂ，ＦＷＤＵＵｃ，ＦＷＤＵＵｄ，ＦＷＤＵＬａ，ＦＷＤＵＬｂ，ＦＷＤＵＬｃ，ＦＷＤＵＬｄ，…が搭載された状態の組立体の平面図である。図４（Ｂ）は図４（Ａ）のＵ相ＰＵの絶縁基板２Ｕの拡大図である。

第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００の製造時には、図３（Ａ）に示す組立体に対し、ＩＧＢＴチップＱＵＵａ，ＱＵＵｂ，ＱＵＵｃ，ＱＵＵｄ（図４参照），…およびダイオードチップＦＷＤＵＵａ，ＦＷＤＵＵｂ，ＦＷＤＵＵｃ，ＦＷＤＵＵｄ（図４参照），…が搭載されると共に、ＩＧＢＴチップＱＵＬａ，ＱＵＬｂ，ＱＵＬｃ，ＱＵＬｄ（図４参照），…およびダイオードチップＦＷＤＵＬａ，ＦＷＤＵＬｂ，ＦＷＤＵＬｃ，ＦＷＤＵＬｄ（図４参照），…が搭載される。また、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００の製造時には、図３に示す組立体に対し、ＩＧＢＴチップＱＵＵｂ（図４参照）の温度を検出するためのＵ相用サーミスタＴＭＵ（図４参照）と、Ｖ相用サーミスタＴＭＶ（図４参照）と、Ｗ相用サーミスタＴＭＷ（図４参照）とが搭載される。

詳細には、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、図４（Ｂ）に示すように、ＩＧＢＴチップＱＵＵａがダイオードチップＦＷＤＵＵａの右側（図４（Ｂ）の右側）に位置するように、ＩＧＢＴチップＱＵＵａおよびダイオードチップＦＷＤＵＵａが、モジュール長手方向（図４（Ｂ）の左右方向）に隣接して導体パターン２Ｕａに搭載されている。更に、ＩＧＢＴチップＱＵＵａのコレクタ電極と導体パターン２Ｕａとが例えば半田などによって接続されている。また、ダイオードチップＦＷＤＵＵａのカソード電極と導体パターン２Ｕａとが例えば半田などによって接続されている。

更に、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、図４（Ｂ）に示すように、ＩＧＢＴチップＱＵＵｂがダイオードチップＦＷＤＵＵｂの右側（図４（Ｂ）の右側）に位置するように、ＩＧＢＴチップＱＵＵｂおよびダイオードチップＦＷＤＵＵｂが、モジュール長手方向（図４（Ｂ）の左右方向）に隣接して導体パターン２Ｕａに搭載されている。また、ＩＧＢＴチップＱＵＵｂのコレクタ電極と導体パターン２Ｕａとが例えば半田などによって接続されている。更に、ダイオードチップＦＷＤＵＵｂのカソード電極と導体パターン２Ｕａとが例えば半田などによって接続されている。

また、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、図４（Ｂ）に示すように、ＩＧＢＴチップＱＵＵａがＩＧＢＴチップＱＵＵｂの後側（図４（Ｂ）の上側）に位置するように、かつ、ＩＧＢＴチップＱＵＵａとＩＧＢＴチップＱＵＵｂとの間に間隔Ｗ１を有するように、ＩＧＢＴチップＱＵＵａおよびＩＧＢＴチップＱＵＵｂがモジュール短手方向（前後方向）（図４（Ｂ）の上下方向）に配列されている。更に、ダイオードチップＦＷＤＵＵａがダイオードチップＦＷＤＵＵｂの後側（図４（Ｂ）の上側）に位置するように、かつ、ダイオードチップＦＷＤＵＵａとダイオードチップＦＷＤＵＵｂとの間に間隔Ｗ２を有するように、ダイオードチップＦＷＤＵＵａおよびダイオードチップＦＷＤＵＵｂがモジュール短手方向（前後方向）（図４（Ｂ）の上下方向）に配列されている。

更に、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、図４（Ｂ）に示すように、ＩＧＢＴチップＱＵＵｃがダイオードチップＦＷＤＵＵｃの右側（図４（Ｂ）の右側）に位置するように、ＩＧＢＴチップＱＵＵｃおよびダイオードチップＦＷＤＵＵｃが、モジュール長手方向（図４（Ｂ）の左右方向）に隣接して導体パターン２Ｕａに搭載されている。また、ＩＧＢＴチップＱＵＵｃのコレクタ電極と導体パターン２Ｕａとが例えば半田などによって接続されている。更に、第３ダイオードチップＦＷＤＵＵｃのカソード電極と導体パターン２Ｕａとが例えば半田などによって接続されている。

また、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、図４（Ｂ）に示すように、ＩＧＢＴチップＱＵＵｃがＩＧＢＴチップＱＵＵａの後側（図４（Ｂ）の上側）に位置するように、かつ、ＩＧＢＴチップＱＵＵｃとＩＧＢＴチップＱＵＵａとの間に間隔Ｗ３を有するように、ＩＧＢＴチップＱＵＵｃおよびＩＧＢＴチップＱＵＵａがモジュール短手方向（前後方向）（図４（Ｂ）の上下方向）に配列されている。更に、ダイオードチップＦＷＤＵＵｃがダイオードチップＦＷＤＵＵａの後側（図４（Ｂ）の上側）に位置するように、かつ、ダイオードチップＦＷＤＵＵｃとダイオードチップＦＷＤＵＵａとの間に間隔Ｗ４を有するように、ダイオードチップＦＷＤＵＵｃおよびダイオードチップＦＷＤＵＵａがモジュール短手方向（前後方向）（図４（Ｂ）の上下方向）に配列されている。

更に、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、図４（Ｂ）に示すように、ＩＧＢＴチップＱＵＵｄがダイオードチップＦＷＤＵＵｄの右側（図４（Ｂ）の右側）に位置するように、ＩＧＢＴチップＱＵＵｄおよびダイオードチップＦＷＤＵＵｄが、モジュール長手方向（図４（Ｂ）の左右方向）に隣接して導体パターン２Ｕａに搭載されている。また、ＩＧＢＴチップＱＵＵｄのコレクタ電極と導体パターン２Ｕａとが例えば半田などによって接続されている。更に、ダイオードチップＦＷＤＵＵｄのカソード電極と導体パターン２Ｕａとが例えば半田などによって接続されている。

また、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、図４（Ｂ）に示すように、ＩＧＢＴチップＱＵＵｄがＩＧＢＴチップＱＵＵｂの前側（図４（Ｂ）の下側）に位置するように、かつ、ＩＧＢＴチップＱＵＵｄとＩＧＢＴチップＱＵＵｂとの間に間隔Ｗ５を有するように、ＩＧＢＴチップＱＵＵｄおよびＩＧＢＴチップＱＵＵｂがモジュール短手方向（前後方向）（図４（Ｂ）の上下方向）に配列されている。更に、ダイオードチップＦＷＤＵＵｄがダイオードチップＦＷＤＵＵｂの前側（図４（Ｂ）の下側）に位置するように、かつ、ダイオードチップＦＷＤＵＵｄとダイオードチップＦＷＤＵＵｂとの間に間隔Ｗ６を有するように、ダイオードチップＦＷＤＵＵｄおよびダイオードチップＦＷＤＵＵｂがモジュール短手方向（前後方向）（図４（Ｂ）の上下方向）に配列されている。

つまり、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、互いに並列に接続された４個のＩＧＢＴチップＱＵＵａ，ＱＵＵｂ，ＱＵＵｃ，ＱＵＵｄ（図４（Ｂ）参照）が、図２（Ｃ）に示す等価回路図中のＵ相ＰＵの上アームＰＵＵのＩＧＢＴＱＵＵに対応している。また、互いに並列に接続された４個のダイオードチップＦＷＤＵＵａ，ＦＷＤＵＵｂ，ＦＷＤＵＵｃ，ＦＷＤＵＵｄ（図４（Ｂ）参照）が、図２（Ｃ）に示す等価回路図中のＵ相ＰＵの上アームＰＵＵのダイオードＦＷＤＵＵに対応している。

更に、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、図４（Ｂ）に示すように、ＩＧＢＴチップＱＵＬａがダイオードチップＦＷＤＵＬａの右側（図４（Ｂ）の右側）に位置するように、ＩＧＢＴチップＱＵＬａおよびダイオードチップＦＷＤＵＬａが、モジュール長手方向（図４（Ｂ）の左右方向）に隣接して導体パターン２Ｕｂに搭載されている。また、ＩＧＢＴチップＱＵＬａのコレクタ電極と導体パターン２Ｕｂとが例えば半田などによって接続されている。更に、ダイオードチップＦＷＤＵＬａのカソード電極と導体パターン２Ｕｂとが例えば半田などによって接続されている。

また、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、図４（Ｂ）に示すように、ＩＧＢＴチップＱＵＬｂがダイオードチップＦＷＤＵＬｂの右側（図４（Ｂ）の右側）に位置するように、ＩＧＢＴチップＱＵＬｂおよびダイオードチップＦＷＤＵＬｂが、モジュール長手方向（図４（Ｂ）の左右方向）に隣接して導体パターン２Ｕｂに搭載されている。更に、ＩＧＢＴチップＱＵＬｂのコレクタ電極と導体パターン２Ｕｂとが例えば半田などによって接続されている。また、ダイオードチップＦＷＤＵＬｂのカソード電極と導体パターン２Ｕｂとが例えば半田などによって接続されている。

更に、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、図４（Ｂ）に示すように、ＩＧＢＴチップＱＵＬａがＩＧＢＴチップＱＵＬｂの後側（図４（Ｂ）の上側）に位置するように、かつ、ＩＧＢＴチップＱＵＬａとＩＧＢＴチップＱＵＬｂとの間に間隔Ｗ７を有するように、ＩＧＢＴチップＱＵＬａおよびＩＧＢＴチップＱＵＬｂがモジュール短手方向（前後方向）（図４（Ｂ）の上下方向）に配列されている。また、ダイオードチップＦＷＤＵＬａがダイオードチップＦＷＤＵＬｂの後側（図４（Ｂ）の上側）に位置するように、かつ、ダイオードチップＦＷＤＵＬａとダイオードチップＦＷＤＵＬｂとの間に間隔Ｗ８を有するように、ダイオードチップＦＷＤＵＬａおよびダイオードチップＦＷＤＵＬｂがモジュール短手方向（前後方向）（図４（Ｂ）の上下方向）に配列されている。

また、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、図４（Ｂ）に示すように、ＩＧＢＴチップＱＵＬｃがダイオードチップＦＷＤＵＬｃの右側（図４（Ｂ）の右側）に位置するように、ＩＧＢＴチップＱＵＬｃおよびダイオードチップＦＷＤＵＬｃが、モジュール長手方向（図４（Ｂ）の左右方向）に隣接して導体パターン２Ｕｂに搭載されている。更に、ＩＧＢＴチップＱＵＬｃのコレクタ電極と導体パターン２Ｕｂとが例えば半田などによって接続されている。また、ダイオードチップＦＷＤＵＬｃのカソード電極と導体パターン２Ｕｂとが例えば半田などによって接続されている。

更に、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、図４（Ｂ）に示すように、ＩＧＢＴチップＱＵＬｃがＩＧＢＴチップＱＵＬａの後側（図４（Ｂ）の上側）に位置するように、かつ、ＩＧＢＴチップＱＵＬｃとＩＧＢＴチップＱＵＬａとの間に間隔Ｗ９を有するように、ＩＧＢＴチップＱＵＬｃおよびＩＧＢＴチップＱＵＬａがモジュール短手方向（前後方向）（図４（Ｂ）の上下方向）に配列されている。また、ダイオードチップＦＷＤＵＬｃがダイオードチップＦＷＤＵＬａの後側（図４（Ｂ）の上側）に位置するように、かつ、ダイオードチップＦＷＤＵＬｃとダイオードチップＦＷＤＵＬａとの間に間隔Ｗ１０を有するように、ダイオードチップＦＷＤＵＬｃおよびダイオードチップＦＷＤＵＬａがモジュール短手方向（前後方向）（図４（Ｂ）の上下方向）に配列されている。

また、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、図４（Ｂ）に示すように、ＩＧＢＴチップＱＵＬｄがダイオードチップＦＷＤＵＬｄの右側（図４（Ｂ）の右側）に位置するように、ＩＧＢＴチップＱＵＬｄおよびダイオードチップＦＷＤＵＬｄが、モジュール長手方向（図４（Ｂ）の左右方向）に隣接して導体パターン２Ｕｂに搭載されている。更に、ＩＧＢＴチップＱＵＬｄのコレクタ電極と導体パターン２Ｕｂとが例えば半田などによって接続されている。また、ダイオードチップＦＷＤＵＬｄのカソード電極と導体パターン２Ｕｂとが例えば半田などによって接続されている。

更に、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、図４（Ｂ）に示すように、ＩＧＢＴチップＱＵＬｄがＩＧＢＴチップＱＵＬｂの前側（図４（Ｂ）の下側）に位置するように、かつ、ＩＧＢＴチップＱＵＬｄとＩＧＢＴチップＱＵＬｂとの間に間隔Ｗ１１を有するように、ＩＧＢＴチップＱＵＬｄおよびＩＧＢＴチップＱＵＬｂがモジュール短手方向（前後方向）（図４（Ｂ）の上下方向）に配列されている。また、ダイオードチップＦＷＤＵＬｄがダイオードチップＦＷＤＵＬｂの前側（図４（Ｂ）の下側）に位置するように、かつ、ダイオードチップＦＷＤＵＬｄとダイオードチップＦＷＤＵＬｂとの間に間隔Ｗ１２を有するように、ダイオードチップＦＷＤＵＬｄおよびダイオードチップＦＷＤＵＬｂがモジュール短手方向（前後方向）（図４（Ｂ）の上下方向）に配列されている。

つまり、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、互いに並列に接続された４個のＩＧＢＴチップＱＵＬａ，ＱＵＬｂ，ＱＵＬｃ，ＱＵＬｄ（図４（Ｂ）参照）が、図２（Ｃ）に示す等価回路図中のＵ相ＰＵの下アームＰＵＬのＩＧＢＴＱＵＬに対応している。また、互いに並列に接続された４個のダイオードチップＦＷＤＵＬａ，ＦＷＤＵＬｂ，ＦＷＤＵＬｃ，ＦＷＤＵＬｄ（図４（Ｂ）参照）が、図２（Ｃ）に示す等価回路図中のＵ相ＰＵの下アームＰＵＬのダイオードＦＷＤＵＬに対応している。

また、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００の製造時には、図４（Ａ）に示す段階で、Ｖ相ＰＶ（図４（Ａ）参照）の上アームＰＶＵ（図４（Ａ）参照）およびＷ相ＰＷ（図４（Ａ）参照）の上アームＰＷＵ（図４（Ａ）参照）がＵ相ＰＵ（図４（Ａ）参照）の上アームＰＵＵ（図４（Ａ）参照）と同様に構成され、Ｖ相ＰＶ（図４（Ａ）参照）の下アームＰＶＬ（図４（Ａ）参照）およびＷ相ＰＷ（図４（Ａ）参照）の下アームＰＷＬ（図４（Ａ）参照）がＵ相ＰＵ（図４（Ａ）参照）の下アームＰＵＬ（図４（Ａ）参照）と同様に構成される。

図５および図６は図４（Ａ）に示す組立体に対して、リボンワイヤ３ＵＵ１ａ，３ＵＵ１ｂ，３ＵＵ１ｃ，３ＵＵ１ｄ，３ＵＬ１ａ，３ＵＬ１ｂ，３ＵＬ１ｃ，３ＵＬ１ｄ，…のボンディングが行われた状態を示した図である。詳細には、図５はリボンワイヤ３ＵＵ１ａ，３ＵＵ１ｂ，３ＵＵ１ｃ，３ＵＵ１ｄ，３ＵＬ１ａ，３ＵＬ１ｂ，３ＵＬ１ｃ，３ＵＬ１ｄ，…のボンディングが行われた状態の組立体の平面図である。図６はリボンワイヤ３ＵＵ１ａ，３ＵＵ１ｂ，３ＵＵ１ｃ，３ＵＵ１ｄ，３ＵＬ１ａ，３ＵＬ１ｂ，３ＵＬ１ｃ，３ＵＬ１ｄ，…のボンディングが行われた状態の組立体の斜視図である。

第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００の製造時には、図４（Ａ）に示す組立体に対し、リボンワイヤ３ＵＵ１ａ，３ＵＵ１ｂ，３ＵＵ１ｃ，３ＵＵ１ｄ（図５および図６参照），…のボンディングが行われると共に、リボンワイヤ３ＵＬ１ａ，３ＵＬ１ｂ，３ＵＬ１ｃ，３ＵＬ１ｄ（図５および図６参照），…のボンディングが行われる。

詳細には、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、横長矩形の断面形状を有し、かつ、モジュール長手方向（図５の左右方向）に延びている例えば４本の帯状のリボンワイヤ３ＵＵ１ａ（図５および図６参照）によって、ダイオードチップＦＷＤＵＵａ（図４参照）のアノード電極と導体パターン２Ｕｂ（図３および図４（Ｂ）参照）とが接続されている。また、リボンワイヤ３ＵＵ１ａ（図５および図６参照）と同一の断面形状を有し、かつ、モジュール長手方向（図５の左右方向）に延びている例えば４本の帯状のリボンワイヤ３ＵＵ１ｂ（図５および図６参照）によって、ダイオードチップＦＷＤＵＵｂ（図４参照）のアノード電極と導体パターン２Ｕｂ（図３および図４（Ｂ）参照）とが接続されている。更に、リボンワイヤ３ＵＵ１ａ（図５および図６参照）と同一の断面形状を有し、かつ、モジュール長手方向（図５の左右方向）に延びている例えば４本の帯状のリボンワイヤ３ＵＵ１ｃ（図５および図６参照）によって、ダイオードチップＦＷＤＵＵｃ（図４参照）のアノード電極と導体パターン２Ｕｂ（図３および図４（Ｂ）参照）とが接続されている。更に、リボンワイヤ３ＵＵ１ａ（図５および図６参照）と同一の断面形状を有し、かつ、モジュール長手方向（図５の左右方向）に延びている例えば４本の帯状のリボンワイヤ３ＵＵ１ｄ（図５および図６参照）によって、ダイオードチップＦＷＤＵＵｄ（図４参照）のアノード電極と導体パターン２Ｕｂ（図３および図４（Ｂ）参照）とが接続されている。

また、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、リボンワイヤ３ＵＵ１ａ（図５および図６参照）と同一の断面形状を有し、かつ、モジュール長手方向（図５の左右方向）に延びている例えば４本の帯状のリボンワイヤ３ＵＬ１ａ（図５および図６参照）によって、ダイオードチップＦＷＤＵＬａ（図４参照）のアノード電極と導体パターン２Ｕｃ（図３および図４（Ｂ）参照）とが接続されている。更に、リボンワイヤ３ＵＵ１ａ（図５および図６参照）と同一の断面形状を有し、かつ、モジュール長手方向（図５の左右方向）に延びている例えば４本の帯状のリボンワイヤ３ＵＬ１ｂ（図５および図６参照）によって、ダイオードチップＦＷＤＵＬｂ（図４参照）のアノード電極と導体パターン２Ｕｃ（図３および図４（Ｂ）参照）とが接続されている。また、リボンワイヤ３ＵＵ１ａ（図５および図６参照）と同一の断面形状を有し、かつ、モジュール長手方向（図５の左右方向）に延びている帯状の例えば４本のリボンワイヤ３ＵＬ１ｃ（図５および図６参照）によって、ダイオードチップＦＷＤＵＬｃ（図４参照）のアノード電極と導体パターン２Ｕｃ（図３および図４（Ｂ）参照）とが接続されている。更に、リボンワイヤ３ＵＵ１ａ（図５および図６参照）と同一の断面形状を有し、かつ、モジュール長手方向（図５の左右方向）に延びている例えば４本の帯状のリボンワイヤ３ＵＬ１ｄ（図５および図６参照）によって、ダイオードチップＦＷＤＵＬｄ（図４参照）のアノード電極と導体パターン２Ｕｃ（図３および図４（Ｂ）参照）とが接続されている。

更に、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００の製造時には、図５および図６に示す段階で、Ｖ相ＰＶ（図５参照）の上アームＰＶＵ（図５参照）およびＷ相ＰＷ（図５参照）の上アームＰＷＵ（図５参照）がＵ相ＰＵ（図５参照）の上アームＰＵＵ（図５参照）と同様に構成され、Ｖ相ＰＶ（図５参照）の下アームＰＶＬ（図５参照）およびＷ相ＰＷ（図５参照）の下アームＰＷＬ（図５参照）がＵ相ＰＵ（図５参照）の下アームＰＵＬ（図５参照）と同様に構成される。

図７および図８は図５および図６に示す組立体に対して、リボンワイヤ３ＵＵ２ａ，３ＵＵ２ｂ，３ＵＵ２ｃ，３ＵＵ２ｄ，３ＵＬ２ａ，３ＵＬ２ｂ，３ＵＬ２ｃ，３ＵＬ２ｄ，３ＵＵ４ａ，３ＵＵ４ｂ，３ＵＵ４ｃ，３ＵＵ４ｄ，…のボンディングおよび太線ワイヤ３ＵＵ３ａ，３ＵＵ３ｂ，３ＵＵ３ｃ，３ＵＵ３ｄ，３ＵＬ３ａ，３ＵＬ３ｂ，３ＵＬ３ｃ，３ＵＬ３ｄ，…のボンディングが行われた状態を示した図である。詳細には、図７（Ａ）はリボンワイヤ３ＵＵ２ａ，３ＵＵ２ｂ，３ＵＵ２ｃ，３ＵＵ２ｄ，３ＵＬ２ａ，３ＵＬ２ｂ，３ＵＬ２ｃ，３ＵＬ２ｄ，３ＵＵ４ａ，３ＵＵ４ｂ，３ＵＵ４ｃ，３ＵＵ４ｄ，…のボンディングおよび太線ワイヤ３ＵＵ３ａ，３ＵＵ３ｂ，３ＵＵ３ｃ，３ＵＵ３ｄ，３ＵＬ３ａ，３ＵＬ３ｂ，３ＵＬ３ｃ，３ＵＬ３ｄ，…のボンディングが行われた状態の組立体の平面図である。図７（Ｂ）は図７（Ａ）のＵ相ＰＵの絶縁基板２Ｕの拡大図である。図８はリボンワイヤ３ＵＵ２ａ，３ＵＵ２ｂ，３ＵＵ２ｃ，３ＵＵ２ｄ，３ＵＬ２ａ，３ＵＬ２ｂ，３ＵＬ２ｃ，３ＵＬ２ｄ，…のボンディング、リボンワイヤ３ＵＵ４ａ，３ＵＵ４ｂ，３ＵＵ４ｃ，３ＵＵ４ｄ（図７（Ｂ）参照），…のボンディングおよび太線ワイヤ３ＵＵ３ａ，３ＵＵ３ｂ，３ＵＵ３ｃ，３ＵＵ３ｄ，３ＵＬ３ａ，３ＵＬ３ｂ，３ＵＬ３ｃ，３ＵＬ３ｄ，…のボンディングが行われた状態の組立体の斜視図である。

第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００の製造時には、図５および図６に示す組立体に対し、リボンワイヤ３ＵＵ２ａ，３ＵＵ２ｂ，３ＵＵ２ｃ，３ＵＵ２ｄ（図７および図８参照），…のボンディングが行われ、リボンワイヤ３ＵＵ４ａ，３ＵＵ４ｂ，３ＵＵ４ｃ，３ＵＵ４ｄ（図７（Ｂ）参照），…のボンディングが行われ、リボンワイヤ３ＵＬ２ａ，３ＵＬ２ｂ，３ＵＬ２ｃ，３ＵＬ２ｄ（図７および図８参照），…のボンディングが行われる。また、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００の製造時には、図５および図６に示す組立体に対し、太線ワイヤ３ＵＵ３ａ，３ＵＵ３ｂ，３ＵＵ３ｃ，３ＵＵ３ｄ（図７および図８参照），…のボンディングが行われると共に、太線ワイヤ３ＵＬ３ａ，３ＵＬ３ｂ，３ＵＬ３ｃ，３ＵＬ３ｄ（図７および図８参照），…のボンディングが行われる。

詳細には、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、リボンワイヤ３ＵＵ１ａ（図５および図６参照）と同一の断面形状を有し、かつ、モジュール長手方向（図７の左右方向）に延びている例えば４本の帯状のリボンワイヤ３ＵＵ２ａ（図７および図８参照）によって、ＩＧＢＴチップＱＵＵａ（図４参照）のエミッタ電極と導体パターン２Ｕｂ（図３、図４（Ｂ）および図７（Ｂ）参照）とが接続されている。また、リボンワイヤ３ＵＵ１ａ（図５および図６参照）と同一の断面形状を有し、かつ、モジュール長手方向（図７の左右方向）に延びている例えば４本の帯状のリボンワイヤ３ＵＵ２ｂ（図７および図８参照）によって、ＩＧＢＴチップＱＵＵｂ（図４参照）のエミッタ電極と導体パターン２Ｕｂ（図３、図４（Ｂ）および図７（Ｂ）参照）とが接続されている。更に、リボンワイヤ３ＵＵ１ａ（図５および図６参照）と同一の断面形状を有し、かつ、モジュール長手方向（図７の左右方向）に延びている例えば４本の帯状のリボンワイヤ３ＵＵ２ｃ（図７および図８参照）によって、ＩＧＢＴチップＱＵＵｃ（図４参照）のエミッタ電極と導体パターン２Ｕｂ（図３、図４（Ｂ）および図７（Ｂ）参照）とが接続されている。また、リボンワイヤ３ＵＵ１ａ（図５および図６参照）と同一の断面形状を有し、かつ、モジュール長手方向（図７の左右方向）に延びている例えば４本の帯状のリボンワイヤ３ＵＵ２ｄ（図７および図８参照）によって、ＩＧＢＴチップＱＵＵｄ（図４参照）のエミッタ電極と導体パターン２Ｕｂ（図３、図４（Ｂ）および図７（Ｂ）参照）とが接続されている。

更に、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、リボンワイヤ３ＵＵ１ａ（図５および図６参照）と同一の断面形状を有し、かつ、モジュール長手方向（図７の左右方向）に延びている例えば４本の帯状のリボンワイヤ３ＵＬ２ａ（図７および図８参照）によって、ＩＧＢＴチップＱＵＬａ（図４参照）のエミッタ電極と導体パターン２Ｕｃ（図３、図４（Ｂ）および図７（Ｂ）参照）とが接続されている。また、リボンワイヤ３ＵＵ１ａ（図５および図６参照）と同一の断面形状を有し、かつ、モジュール長手方向（図７の左右方向）に延びている例えば４本の帯状のリボンワイヤ３ＵＬ２ｂ（図７および図８参照）によって、ＩＧＢＴチップＱＵＬｂ（図４参照）のエミッタ電極と導体パターン２Ｕｃ（図３、図４（Ｂ）および図７（Ｂ）参照）とが接続されている。更に、リボンワイヤ３ＵＵ１ａ（図５および図６参照）と同一の断面形状を有し、かつ、モジュール長手方向（図７の左右方向）に延びている例えば４本の帯状のリボンワイヤ３ＵＬ２ｃ（図７および図８参照）によって、ＩＧＢＴチップＱＵＬｃ（図４参照）のエミッタ電極と導体パターン２Ｕｃ（図３、図４（Ｂ）および図７（Ｂ）参照）とが接続されている。また、リボンワイヤ３ＵＵ１ａ（図５および図６参照）と同一の断面形状を有し、かつ、モジュール長手方向（図７の左右方向）に延びている例えば４本の帯状のリボンワイヤ３ＵＬ２ｄ（図７および図８参照）によって、ＩＧＢＴチップＱＵＬｄ（図４参照）のエミッタ電極と導体パターン２Ｕｃ（図３、図４（Ｂ）および図７（Ｂ）参照）とが接続されている。

また、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、リボンワイヤ３ＵＵ１ａ（図５および図６参照）と同一の断面形状を有し、かつ、モジュール長手方向（図７（Ｂ）の左右方向）に延びている例えば１本の帯状のリボンワイヤ３ＵＵ４ａ（図７（Ｂ）参照）によって、ＩＧＢＴチップＱＵＵａ（図４（Ｂ）参照）のエミッタ電極と導体パターン２Ｕｆ（図３、図４（Ｂ）および図７（Ｂ）参照）とが接続されている。更に、リボンワイヤ３ＵＵ１ａ（図５および図６参照）と同一の断面形状を有し、かつ、モジュール長手方向（図７（Ｂ）の左右方向）に延びている例えば１本の帯状のリボンワイヤ３ＵＵ４ｂ（図７（Ｂ）参照）によって、ＩＧＢＴチップＱＵＵｂ（図４（Ｂ）参照）のエミッタ電極と導体パターン２Ｕｆ（図３、図４（Ｂ）および図７（Ｂ）参照）とが接続されている。また、リボンワイヤ３ＵＵ１ａ（図５および図６参照）と同一の断面形状を有し、かつ、モジュール長手方向（図７（Ｂ）の左右方向）に延びている例えば１本の帯状のリボンワイヤ３ＵＵ４ｃ（図７（Ｂ）参照）によって、ＩＧＢＴチップＱＵＵｃ（図４（Ｂ）参照）のエミッタ電極と導体パターン２Ｕｆ（図３、図４（Ｂ）および図７（Ｂ）参照）とが接続されている。更に、リボンワイヤ３ＵＵ１ａ（図５および図６参照）と同一の断面形状を有し、かつ、モジュール長手方向（図７（Ｂ）の左右方向）に延びている例えば１本の帯状のリボンワイヤ３ＵＵ４ｄ（図７（Ｂ）参照）によって、ＩＧＢＴチップＱＵＵｄ（図４（Ｂ）参照）のエミッタ電極と導体パターン２Ｕｆ（図３、図４（Ｂ）および図７（Ｂ）参照）とが接続されている。

また、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、リボンワイヤ３ＵＵ１ａ（図５および図６参照）より小さい断面積を有し、かつ、モジュール長手方向（図７の左右方向）に延びている例えば１本の線状の太線ワイヤ３ＵＵ３ａ（図７および図８参照）によって、ＩＧＢＴチップＱＵＵａ（図４参照）のゲート電極と導体パターン２Ｕｄ（図３、図４（Ｂ）および図７（Ｂ）参照）とが接続されている。更に、太線ワイヤ３ＵＵ３ａ（図７および図８参照）と同一の断面形状を有し、かつ、モジュール長手方向（図７の左右方向）に延びている例えば１本の線状の太線ワイヤ３ＵＵ３ｂ（図７および図８参照）によって、ＩＧＢＴチップＱＵＵｂ（図４参照）のゲート電極と導体パターン２Ｕｄ（図３、図４（Ｂ）および図７（Ｂ）参照）とが接続されている。また、太線ワイヤ３ＵＵ３ａ（図７および図８参照）と同一の断面形状を有し、かつ、モジュール長手方向（図７の左右方向）に延びている例えば１本の線状の太線ワイヤ３ＵＵ３ｃ（図７および図８参照）によって、ＩＧＢＴチップＱＵＵｃ（図４参照）のゲート電極と導体パターン２Ｕｄ（図３、図４（Ｂ）および図７（Ｂ）参照）とが接続されている。更に、太線ワイヤ３ＵＵ３ａ（図７および図８参照）と同一の断面形状を有し、かつ、モジュール長手方向（図７の左右方向）に延びている例えば１本の線状の太線ワイヤ３ＵＵ３ｄ（図７および図８参照）によって、ＩＧＢＴチップＱＵＵｄ（図４参照）のゲート電極と導体パターン２Ｕｄ（図３、図４（Ｂ）および図７（Ｂ）参照）とが接続されている。

更に、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、太線ワイヤ３ＵＵ３ａ（図７および図８参照）と同一の断面形状を有し、かつ、モジュール長手方向（図７の左右方向）に延びている例えば１本の線状の太線ワイヤ３ＵＬ３ａ（図７および図８参照）によって、ＩＧＢＴチップＱＵＬａ（図４参照）のゲート電極と導体パターン２Ｕｅ（図３、図４（Ｂ）および図７（Ｂ）参照）とが接続されている。また、太線ワイヤ３ＵＵ３ａ（図７および図８参照）と同一の断面形状を有し、かつ、モジュール長手方向（図７の左右方向）に延びている例えば１本の線状の太線ワイヤ３ＵＬ３ｂ（図７および図８参照）によって、ＩＧＢＴチップＱＵＬｂ（図４参照）のゲート電極と導体パターン２Ｕｅ（図３、図４（Ｂ）および図７（Ｂ）参照）とが接続されている。更に、太線ワイヤ３ＵＵ３ａ（図７および図８参照）と同一の断面形状を有し、かつ、モジュール長手方向（図７の左右方向）に延びている例えば１本の線状の太線ワイヤ３ＵＬ３ｃ（図７および図８参照）によって、ＩＧＢＴチップＱＵＬｃ（図４参照）のゲート電極と導体パターン２Ｕｅ（図３、図４（Ｂ）および図７（Ｂ）参照）とが接続されている。また、太線ワイヤ３ＵＵ３ａ（図７および図８参照）と同一の断面形状を有し、かつ、モジュール長手方向（図７の左右方向）に延びている例えば１本の線状の太線ワイヤ３ＵＬ３ｄ（図７および図８参照）によって、ＩＧＢＴチップＱＵＬｄ（図４参照）のゲート電極と導体パターン２Ｕｅ（図３、図４（Ｂ）および図７（Ｂ）参照）とが接続されている。

詳細には、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、リボンワイヤ３ＵＵ１ａ（図５および図６参照）の左端部の左側（図５および図７の左側）に、リボンワイヤ３ＵＵ２ａ（図７および図８参照）の左端部が配置されている。また、リボンワイヤ３ＵＵ１ａ（図５および図６参照）の上面と、リボンワイヤ３ＵＵ２ａ（図７および図８参照）の下面の一部とが対向せしめられている。更に、リボンワイヤ３ＵＵ１ｂ（図５および図６参照）の左端部の左側（図５および図７の左側）に、リボンワイヤ３ＵＵ２ｂ（図７および図８参照）の左端部が配置されている。また、リボンワイヤ３ＵＵ１ｂ（図５および図６参照）の上面と、リボンワイヤ３ＵＵ２ｂ（図７および図８参照）の下面の一部とが対向せしめられている。更に、リボンワイヤ３ＵＵ１ｃ（図５および図６参照）の左端部の左側（図５および図７の左側）に、リボンワイヤ３ＵＵ２ｃ（図７および図８参照）の左端部が配置されている。また、リボンワイヤ３ＵＵ１ｃ（図５および図６参照）の上面と、リボンワイヤ３ＵＵ２ｃ（図７および図８参照）の下面の一部とが対向せしめられている。更に、リボンワイヤ３ＵＵ１ｄ（図５および図６参照）の左端部の左側（図５および図７の左側）に、リボンワイヤ３ＵＵ２ｄ（図７および図８参照）の左端部が配置されている。また、リボンワイヤ３ＵＵ１ｄ（図５および図６参照）の上面と、リボンワイヤ３ＵＵ２ｄ（図７および図８参照）の下面の一部とが対向せしめられている。

更に、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、リボンワイヤ３ＵＬ１ａ（図５および図６参照）の左端部の左側（図５および図７の左側）に、リボンワイヤ３ＵＬ２ａ（図７および図８参照）の左端部が配置されている。また、リボンワイヤ３ＵＬ１ａ（図５および図６参照）の上面と、リボンワイヤ３ＵＬ２ａ（図７および図８参照）の下面の一部とが対向せしめられている。更に、リボンワイヤ３ＵＬ１ｂ（図５および図６参照）の左端部の左側（図５および図７の左側）に、リボンワイヤ３ＵＬ２ｂ（図７および図８参照）の左端部が配置されている。また、リボンワイヤ３ＵＬ１ｂ（図５および図６参照）の上面と、リボンワイヤ３ＵＬ２ｂ（図７および図８参照）の下面の一部とが対向せしめられている。更に、リボンワイヤ３ＵＬ１ｃ（図５および図６参照）の左端部の左側（図５および図７の左側）に、リボンワイヤ３ＵＬ２ｃ（図７および図８参照）の左端部が配置されている。また、リボンワイヤ３ＵＬ１ｃ（図５および図６参照）の上面と、リボンワイヤ３ＵＬ２ｃ（図７および図８参照）の下面の一部とが対向せしめられている。更に、リボンワイヤ３ＵＬ１ｄ（図５および図６参照）の左端部の左側（図５および図７の左側）に、リボンワイヤ３ＵＬ２ｄ（図７および図８参照）の左端部が配置されている。また、リボンワイヤ３ＵＬ１ｄ（図５および図６参照）の上面と、リボンワイヤ３ＵＬ２ｄ（図７および図８参照）の下面の一部とが対向せしめられている。

また、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００の製造時には、図７および図８に示す段階で、Ｖ相ＰＶ（図７参照）の上アームＰＶＵ（図７参照）およびＷ相ＰＷ（図７参照）の上アームＰＷＵ（図７参照）がＵ相ＰＵ（図７参照）の上アームＰＵＵ（図７参照）と同様に構成され、Ｖ相ＰＶ（図７参照）の下アームＰＶＬ（図７参照）およびＷ相ＰＷ（図７参照）の下アームＰＷＬ（図７参照）がＵ相ＰＵ（図７参照）の下アームＰＵＬ（図７参照）と同様に構成される。

図９〜図１４は樹脂により正極端子Ｐ１，Ｐ２，Ｐ３、負極端子Ｎ１，Ｎ２，Ｎ３、交流端子Ｕ，Ｖ，Ｗ、ゲート電極端子ＧＵＵ，ＧＵＬ，ＧＶＵ，ＧＶＬ，ＧＷＵ，ＧＷＬ、コレクタ電位信号端子ＣＵＵ，ＣＵＬ，ＣＶＵ，ＣＶＬ，ＣＷＵ，ＣＷＬおよびエミッタ電位信号端子ＥＵＵ，ＥＵＬ，ＥＶＵ，ＥＶＬ，ＥＷＵ，ＥＷＬがインサートされて成形された外囲ケース５の部品図である。詳細には、図９（Ａ）は外囲ケース５の平面図、図９（Ｂ）は外囲ケース５の正面図、図９（Ｃ）は外囲ケース５の底面図、図９（Ｄ）は外囲ケース５の後側面図である。図１０（Ａ）は右前側かつ上側から見た外囲ケース５の斜視図、図１０（Ｂ）は右後側かつ下側から見た外囲ケース５の斜視図である。図１１（Ａ）は図９（Ａ）の外囲ケース５のうちの左側壁５ｂと仕切り壁５ｅとの間の部分の拡大図である。図１１（Ｂ）は図９（Ａ）の外囲ケース５のうちの右側壁５ａと仕切り壁５ｆとの間の部分の拡大図である。

図１２（Ａ）は図９（Ａ）の下側（モジュール短手方向の前側）から見たエミッタ電位信号端子ＥＵＬなどの鉛直断面図である。図１２（Ｂ）は図９（Ａ）の下側（モジュール短手方向の前側）から見たゲート電極端子ＧＵＬなどの鉛直断面図である。図１２（Ｃ）は図９（Ａ）の下側（モジュール短手方向の前側）から見たコレクタ電位信号端子ＣＵＬなどの鉛直断面図である。図１２（Ｄ）は図９（Ａ）の下側（モジュール短手方向の前側）から見たコレクタ電位信号端子ＣＵＵなどの鉛直断面図である。図１２（Ｅ）は図９（Ａ）の下側（モジュール短手方向の前側）から見たゲート電極端子ＧＵＵなどの鉛直断面図である。図１２（Ｆ）は図９（Ａ）の下側（モジュール短手方向の前側）から見たエミッタ電位信号端子ＥＵＵなどの鉛直断面図である。図１２（Ｇ）は図９（Ａ）の下側（モジュール短手方向の前側）から見た給電端子ＴＵ１などの鉛直断面図である。図１２（Ｈ）は図９（Ａ）の下側（モジュール短手方向の前側）から見た給電端子ＴＵ２などの鉛直断面図である。

図１３（Ａ）は図９（Ａ）の下側（モジュール短手方向の前側）から見たエミッタ電位信号端子ＥＶＬなどの鉛直断面図である。図１３（Ｂ）は図９（Ａ）の下側（モジュール短手方向の前側）から見たゲート電極端子ＧＶＬなどの鉛直断面図である。図１３（Ｃ）は図９（Ａ）の下側（モジュール短手方向の前側）から見たコレクタ電位信号端子ＣＶＬなどの鉛直断面図である。図１３（Ｄ）は図９（Ａ）の下側（モジュール短手方向の前側）から見たコレクタ電位信号端子ＣＶＵなどの鉛直断面図である。図１３（Ｅ）は図９（Ａ）の下側（モジュール短手方向の前側）から見たゲート電極端子ＧＶＵなどの鉛直断面図である。図１３（Ｆ）は図９（Ａ）の下側（モジュール短手方向の前側）から見たエミッタ電位信号端子ＥＶＵなどの鉛直断面図である。図１３（Ｇ）は図９（Ａ）の下側（モジュール短手方向の前側）から見た給電端子ＴＶ１などの鉛直断面図である。図１３（Ｈ）は図９（Ａ）の下側（モジュール短手方向の前側）から見た給電端子ＴＶ２などの鉛直断面図である。

図１４（Ａ）は図９（Ａ）の下側（モジュール短手方向の前側）から見たエミッタ電位信号端子ＥＷＬなどの鉛直断面図である。図１４（Ｂ）は図９（Ａ）の下側（モジュール短手方向の前側）から見たゲート電極端子ＧＷＬなどの鉛直断面図である。図１４（Ｃ）は図９（Ａ）の下側（モジュール短手方向の前側）から見たコレクタ電位信号端子ＣＷＬなどの鉛直断面図である。図１４（Ｄ）は図９（Ａ）の下側（モジュール短手方向の前側）から見たコレクタ電位信号端子ＣＷＵなどの鉛直断面図である。図１４（Ｅ）は図９（Ａ）の下側（モジュール短手方向の前側）から見たゲート電極端子ＧＷＵなどの鉛直断面図である。図１４（Ｆ）は図９（Ａ）の下側（モジュール短手方向の前側）から見たエミッタ電位信号端子ＥＷＵなどの鉛直断面図である。図１４（Ｇ）は図９（Ａ）の下側（モジュール短手方向の前側）から見た給電端子ＴＷ１などの鉛直断面図である。図１４（Ｈ）は図９（Ａ）の下側（モジュール短手方向の前側）から見た給電端子ＴＷ２などの鉛直断面図である。

第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、正極端子Ｐ１，Ｐ２，Ｐ３（図９および図１０参照）、負極端子Ｎ１，Ｎ２，Ｎ３（図９および図１０参照）、交流端子Ｕ，Ｖ，Ｗ（図９および図１０参照）、ゲート電極端子ＧＵＵ，ＧＵＬ，ＧＶＵ，ＧＶＬ，ＧＷＵ，ＧＷＬ（図９および図１０参照）の他に、ＩＧＢＴチップＱＵＵａ，ＱＵＵｂ，ＱＵＵｃ，ＱＵＵｄ（図４参照）のコレクタ電位を取り出すためのコレクタ電位信号端子ＣＵＵ（図９（Ａ）、図９（Ｄ）、図１０（Ａ）および図１２（Ｄ）参照）、ＩＧＢＴチップＱＵＵａ，ＱＵＵｂ，ＱＵＵｃ，ＱＵＵｄ（図４参照）のエミッタ電位を取り出すためのエミッタ電位信号端子ＥＵＵ（図９（Ａ）、図１０（Ａ）および図１２（Ｆ）参照）、ＩＧＢＴチップＱＵＬａ，ＱＵＬｂ，ＱＵＬｃ，ＱＵＬｄ（図４参照）のコレクタ電位を取り出すためのコレクタ電位信号端子ＣＵＬ（図９（Ａ）、図９（Ｂ）、図１０（Ａ）および図１２（Ｃ）参照）、ＩＧＢＴチップＱＵＬａ，ＱＵＬｂ，ＱＵＬｃ，ＱＵＬｄ（図４参照）のエミッタ電位を取り出すためのエミッタ電位信号端子ＥＵＬ（図９（Ａ）、図９（Ｄ）、図１０（Ａ）および図１２（Ａ）参照）、Ｖ相ＰＶ（図２（Ｃ）および図４（Ａ）参照）の上アームＰＶＵ（図２（Ｃ）および図４（Ａ）参照）のコレクタ電位信号端子ＣＶＵ（図９（Ａ）、図９（Ｄ）、図１０（Ａ）および図１３（Ｄ）参照）、Ｖ相ＰＶ（図２（Ｃ）および図４（Ａ）参照）の上アームＰＶＵ（図２（Ｃ）および図４（Ａ）参照）のエミッタ電位信号端子ＥＶＵ（図９（Ａ）、図１０（Ａ）および図１３（Ｆ）参照）、Ｖ相ＰＶ（図２（Ｃ）および図４（Ａ）参照）の下アームＰＶＬ（図２（Ｃ）および図４（Ａ）参照）のコレクタ電位信号端子ＣＶＬ（図９（Ａ）、図９（Ｂ）、図１０（Ａ）および図１３（Ｃ）参照）、Ｖ相ＰＶ（図２（Ｃ）および図４（Ａ）参照）の下アームＰＶＬ（図２（Ｃ）および図４（Ａ）参照）のエミッタ電位信号端子ＥＶＬ（図９（Ａ）、図９（Ｄ）、図１０（Ａ）および図１３（Ａ）参照）、Ｗ相ＰＷ（図２（Ｃ）および図４（Ａ）参照）の上アームＰＷＵ（図２（Ｃ）および図４（Ａ）参照）のコレクタ電位信号端子ＣＷＵ（図９（Ａ）、図９（Ｄ）、図１０（Ａ）および図１４（Ｄ）参照）、Ｗ相ＰＷ（図２（Ｃ）および図４（Ａ）参照）の上アームＰＷＵ（図２（Ｃ）および図４（Ａ）参照）のエミッタ電位信号端子ＥＷＵ（図９（Ａ）、図１０（Ａ）および図１４（Ｆ）参照）、Ｗ相ＰＷ（図２（Ｃ）および図４（Ａ）参照）の下アームＰＷＬ（図２（Ｃ）および図４（Ａ）参照）のコレクタ電位信号端子ＣＷＬ（図９（Ａ）、図９（Ｂ）、図１０（Ａ）および図１４（Ｃ）参照）、Ｗ相ＰＷ（図２（Ｃ）および図４（Ａ）参照）の下アームＰＷＬ（図２（Ｃ）および図４（Ａ）参照）のエミッタ電位信号端子ＥＷＬ（図９（Ａ）、図９（Ｄ）、図１０（Ａ）および図１４（Ａ）参照）、Ｕ相ＰＵ（図２（Ｃ）および図４（Ａ）参照）のサーミスタＴＭＵ（図４参照）に電流を供給するための給電端子ＴＵ１，ＴＵ２（図９（Ａ）、図１０（Ａ）、図１２（Ｇ）および図１２（Ｈ）参照）、Ｖ相ＰＶ（図２（Ｃ）および図４（Ａ）参照）のサーミスタＴＭＶ（図４（Ａ）参照）に電流を供給するための給電端子ＴＶ１，ＴＶ２（図９（Ａ）、図１０（Ａ）、図１３（Ｇ）および図１３（Ｈ）参照）およびＷ相ＰＷ（図２（Ｃ）および図４（Ａ）参照）のサーミスタＴＭＷ（図４（Ａ）参照）に電流を供給するための給電端子ＴＷ１，ＴＷ２（図９（Ａ）、図１０（Ａ）、図１４（Ｇ）および図１４（Ｈ）参照）がインサートされて外囲ケース５が成形されている。

図１５および図１６は図７および図８に示す組立体の放熱部材１に対して、図９〜図１４に示す外囲ケース５を接合した状態を示した図である。詳細には、図１５（Ａ）は図７および図８に示す組立体の放熱部材１に対して外囲ケース５が接合された状態の組立体の平面図、図１５（Ｂ）は図７および図８に示す組立体の放熱部材１に対して外囲ケース５が接合された状態の組立体の正面図、図１５（Ｃ）は図７および図８に示す組立体の放熱部材１に対して外囲ケース５が接合された状態の組立体の左側面図、図１６は図７および図８に示す組立体の放熱部材１に対して外囲ケース５が接合された状態の組立体の斜視図である。

第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００の製造時には、図７および図８に示す組立体の放熱部材１に対して、図９〜図１４に示す外囲ケース５が接合され、その結果、図１５および図１６に示す状態になる。

第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００の製造時には、図１５および図１６に示す段階で、３相インバータ回路のＵ相ＰＵ（図２（Ｃ）参照）の上アームＰＵＵ（図２（Ｃ）参照）の一部を構成する正極端子Ｐ１（図２（Ｃ）、図１５（Ａ）、図１５（Ｃ）および図１６参照）と導体パターン２Ｕａ（図３参照）の部分２Ｕａ１（図３参照）とが電気的に接続される。また、３相インバータ回路のＵ相ＰＵの一部を構成する交流端子Ｕ（図２（Ｃ）、図１５および図１６参照）と導体パターン２Ｕｂ（図３参照）の部分２Ｕｂ１（図３参照）とが電気的に接続される。更に、３相インバータ回路のＵ相ＰＵ（図２（Ｃ）参照）の下アームＰＵＬ（図２（Ｃ）参照）の一部を構成する負極端子Ｎ１（図２（Ｃ）、図１５（Ａ）および図１６参照）と導体パターン２Ｕｃ（図３参照）の部分２Ｕｃ１（図３参照）とが電気的に接続される。また、Ｕ相ＰＵ（図２（Ｃ）参照）の上アームＰＵＵ（図２（Ｃ）参照）の一部を構成するゲート電極端子ＧＵＵ（図２（Ｃ）、図９（Ａ）、図１０（Ａ）、図１２（Ｅ）および図１６参照）の下側水平部分ＧＵＵＨ（図１１（Ａ）および図１２（Ｅ）参照）と導体パターン２Ｕｄ（図３参照）とが太線ワイヤ３ＧＵＵ（図１５（Ａ）参照）を介して電気的に接続される。更に、Ｕ相ＰＵ（図２（Ｃ）参照）の上アームＰＵＵ（図２（Ｃ）参照）のコレクタ電位信号端子ＣＵＵ（図９（Ａ）、図１０（Ａ）および図１２（Ｄ）参照）の下側水平部分ＣＵＵＨ（図１１（Ａ）および図１２（Ｄ）参照）と導体パターン２Ｕａ（図３参照）とが太線ワイヤ３ＣＵＵ（図１５（Ａ）参照）を介して電気的に接続される。また、Ｕ相ＰＵ（図２（Ｃ）参照）の上アームＰＵＵ（図２（Ｃ）参照）のエミッタ電位信号端子ＥＵＵ（図９（Ａ）、図１０（Ａ）および図１２（Ｆ）参照）の下側水平部分ＥＵＵＨ（図１１（Ａ）および図１２（Ｆ）参照）と導体パターン２Ｕｆ（図３参照）とが太線ワイヤ３ＥＵＵ（図１５（Ａ）参照）を介して電気的に接続される。更に、Ｕ相ＰＵ（図２（Ｃ）参照）の下アームＰＵＬ（図２（Ｃ）参照）の一部を構成するゲート電極端子ＧＵＬ（図２（Ｃ）、図９（Ａ）、図１０（Ａ）、図１２（Ｂ）および図１６参照）の下側水平部分ＧＵＬＨ（図１１（Ａ）および図１２（Ｂ）参照）と導体パターン２Ｕｅ（図３参照）とが太線ワイヤ３ＧＵＬ（図１５（Ａ）参照）を介して電気的に接続される。また、Ｕ相ＰＵ（図２（Ｃ）参照）の下アームＰＵＬ（図２（Ｃ）参照）のコレクタ電位信号端子ＣＵＬ（図９（Ａ）、図１０（Ａ）および図１２（Ｃ）参照）の下側水平部分ＣＵＬＨ（図１１（Ａ）および図１２（Ｃ）参照）と導体パターン２Ｕｂ（図３参照）とが太線ワイヤ３ＣＵＬ（図１５（Ａ）参照）を介して電気的に接続される。更に、Ｕ相ＰＵ（図２（Ｃ）参照）の下アームＰＵＬ（図２（Ｃ）参照）のエミッタ電位信号端子ＥＵＬ（図９（Ａ）、図１０（Ａ）および図１２（Ａ）参照）の下側水平部分ＥＵＬＨ（図１１（Ａ）および図１２（Ａ）参照）と導体パターン２Ｕｃ（図３参照）とが太線ワイヤ３ＥＵＬ（図１５（Ａ）参照）を介して電気的に接続される。また、Ｕ相ＰＵ（図２（Ｃ）参照）の給電端子ＴＵ１（図９（Ａ）、図１０（Ａ）および図１２（Ｇ）参照）の下側水平部分ＴＵ１Ｈ（図１１（Ａ）および図１２（Ｇ）参照）とＵ相ＰＵ（図２（Ｃ）参照）のサーミスタＴＭＵ（図４参照）とが太線ワイヤ３ＴＵ１（図１５（Ａ）参照）を介して電気的に接続される。更に、Ｕ相ＰＵ（図２（Ｃ）参照）の給電端子ＴＵ２（図９（Ａ）、図１０（Ａ）および図１２（Ｈ）参照）の下側水平部分ＴＵ２Ｈ（図１１（Ａ）および図１２（Ｈ）参照）とＵ相ＰＵ（図２（Ｃ）参照）のサーミスタＴＭＵ（図４参照）とが太線ワイヤ３ＴＵ２（図１５（Ａ）参照）を介して電気的に接続される。

詳細には、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、リボンワイヤ３ＵＵ２ａ（図７および図８参照）の上面の一部と正極端子Ｐ１（図１５（Ａ）および図１６参照）の中間水平部分Ｐ１ａ４（図９（Ｃ）および図１０（Ｂ）参照）の下面の一部とが対向せしめられている。更に、リボンワイヤ３ＵＵ２ｂ（図７および図８参照）の上面の一部と交流端子Ｕ（図１５（Ａ）および図１６参照）の中間水平部分Ｕａ４（図９（Ａ）、図９（Ｃ）および図１０参照）の下面の一部とが対向せしめられている。また、リボンワイヤ３ＵＵ２ｃ（図７および図８参照）の上面の一部と正極端子Ｐ１（図１５（Ａ）および図１６参照）の中間水平部分Ｐ１ａ４（図９（Ｃ）および図１０（Ｂ）参照）の下面の一部とが対向せしめられている。更に、リボンワイヤ３ＵＵ２ｄ（図７および図８参照）の上面の一部と交流端子Ｕ（図１５（Ａ）および図１６参照）の中間水平部分Ｕａ４（図９（Ａ）、図９（Ｃ）および図１０参照）の下面の一部とが対向せしめられている。

更に、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、リボンワイヤ３ＵＬ２ａ（図７および図８参照）の上面の一部と正極端子Ｐ１（図１５（Ａ）および図１６参照）の中間水平部分Ｐ１ａ４（図９（Ｃ）および図１０（Ｂ）参照）の下面の一部とが対向せしめられている。更に、リボンワイヤ３ＵＬ２ｂ（図７および図８参照）の上面の一部と交流端子Ｕ（図１５（Ａ）および図１６参照）の中間水平部分Ｕａ４（図９（Ａ）、図９（Ｃ）および図１０参照）の下面の一部とが対向せしめられている。また、リボンワイヤ３ＵＬ２ｃ（図７および図８参照）の上面の一部と正極端子Ｐ１（図１５（Ａ）および図１６参照）の中間水平部分Ｐ１ａ４（図９（Ｃ）および図１０（Ｂ）参照）の下面の一部とが対向せしめられている。更に、リボンワイヤ３ＵＬ２ｄ（図７および図８参照）の上面の一部と交流端子Ｕ（図１５（Ａ）および図１６参照）の中間水平部分Ｕａ４（図９（Ａ）、図９（Ｃ）および図１０参照）の下面の一部とが対向せしめられている。

また、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００の製造時には、図１５および図１６に示す段階で、Ｖ相ＰＶ（図２（Ｃ）参照）およびＷ相ＰＷ（図２（Ｃ）参照）がＵ相ＰＵ（図２（Ｃ）参照）と同様に構成される。

詳細には、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００の製造時には、図１５および図１６に示す段階で、３相インバータ回路のＶ相ＰＶ（図２（Ｃ）参照）の上アームＰＶＵ（図２（Ｃ）参照）の一部を構成する正極端子Ｐ２（図２（Ｃ）、図１５（Ａ）および図１６参照）と絶縁基板２Ｖ（図３（Ａ）参照）とが電気的に接続される。また、３相インバータ回路のＶ相ＰＶ（図２（Ｃ）参照）の一部を構成する交流端子Ｖ（図２（Ｃ）、図１５（Ａ）および図１６参照）と絶縁基板２Ｖ（図３（Ａ）参照）とが電気的に接続される。更に、３相インバータ回路のＶ相ＰＶ（図２（Ｃ）参照）の下アームＰＶＬ（図２（Ｃ）参照）の一部を構成する負極端子Ｎ２（図２（Ｃ）、図１５（Ａ）および図１６参照）と絶縁基板２Ｖ（図３（Ａ）参照）とが電気的に接続される。また、Ｖ相ＰＶ（図２（Ｃ）参照）の上アームＰＶＵ（図２（Ｃ）参照）の一部を構成するゲート電極端子ＧＶＵ（図２（Ｃ）、図９（Ａ）、図１０（Ａ）、図１３（Ｅ）および図１６参照）の下側水平部分ＧＶＵＨ（図１１（Ｂ）および図１３（Ｅ）参照）と絶縁基板２Ｖ（図３（Ａ）参照）とが太線ワイヤ３ＧＶＵ（図１５（Ａ）参照）を介して電気的に接続される。更に、Ｖ相ＰＶ（図２（Ｃ）参照）の上アームＰＶＵ（図２（Ｃ）参照）のコレクタ電位信号端子ＣＶＵ（図９（Ａ）、図１０（Ａ）および図１３（Ｄ）参照）の下側水平部分ＣＶＵＨ（図１１（Ｂ）および図１３（Ｄ）参照）と絶縁基板２Ｖ（図３（Ａ）参照）とが太線ワイヤ３ＣＶＵ（図１５（Ａ）参照）を介して電気的に接続される。また、Ｖ相ＰＶ（図２（Ｃ）参照）の上アームＰＶＵ（図２（Ｃ）参照）のエミッタ電位信号端子ＥＶＵ（図９（Ａ）、図１０（Ａ）および図１３（Ｆ）参照）の下側水平部分ＥＶＵＨ（図１１（Ｂ）および図１３（Ｆ）参照）と絶縁基板２Ｖ（図３（Ａ）参照）とが太線ワイヤ３ＥＶＵ（図１５（Ａ）参照）を介して電気的に接続される。更に、Ｖ相ＰＶ（図２（Ｃ）参照）の下アームＰＶＬ（図２（Ｃ）参照）の一部を構成するゲート電極端子ＧＶＬ（図２（Ｃ）、図９（Ａ）、図１０（Ａ）、図１３（Ｂ）および図１６参照）の下側水平部分ＧＶＬＨ（図１１（Ａ）および図１３（Ｂ）参照）と絶縁基板２Ｖ（図３（Ａ）参照）とが太線ワイヤ３ＧＶＬ（図１５（Ａ）参照）を介して電気的に接続される。また、Ｖ相ＰＶ（図２（Ｃ）参照）の下アームＰＶＬ（図２（Ｃ）参照）のコレクタ電位信号端子ＣＶＬ（図９（Ａ）、図１０（Ａ）および図１３（Ｃ）参照）の下側水平部分ＣＶＬＨ（図１１（Ａ）および図１３（Ｃ）参照）と絶縁基板２Ｖ（図３（Ａ）参照）とが太線ワイヤ３ＣＶＬ（図１５（Ａ）参照）を介して電気的に接続される。更に、Ｖ相ＰＶ（図２（Ｃ）参照）の下アームＰＶＬ（図２（Ｃ）参照）のエミッタ電位信号端子ＥＶＬ（図９（Ａ）、図１０（Ａ）および図１３（Ａ）参照）の下側水平部分ＥＶＬＨ（図１１（Ａ）および図１３（Ａ）参照）と絶縁基板２Ｖ（図３（Ａ）参照）とが太線ワイヤ３ＥＶＬ（図１５（Ａ）参照）を介して電気的に接続される。また、Ｖ相ＰＶ（図２（Ｃ）参照）の給電端子ＴＶ１（図９（Ａ）、図１０（Ａ）および図１３（Ｇ）参照）の下側水平部分ＴＶ１Ｈ（図１１（Ｂ）および図１３（Ｇ）参照）とＶ相ＰＶ（図２（Ｃ）参照）のサーミスタＴＭＶ（図４（Ａ）参照）とが太線ワイヤ３ＴＶ１（図１５（Ａ）参照）を介して電気的に接続される。更に、Ｖ相ＰＶ（図２（Ｃ）参照）の給電端子ＴＶ２（図９（Ａ）、図１０（Ａ）および図１３（Ｈ）参照）の下側水平部分ＴＶ２Ｈ（図１１（Ｂ）および図１３（Ｈ）参照）とＶ相ＰＶ（図２（Ｃ）参照）のサーミスタＴＭＶ（図４（Ａ）参照）とが太線ワイヤ３ＴＶ２（図１５（Ａ）参照）を介して電気的に接続される。

更に、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００の製造時には、図１５および図１６に示す段階で、３相インバータ回路のＷ相ＰＷ（図２（Ｃ）参照）の上アームＰＷＵ（図２（Ｃ）参照）の一部を構成する正極端子Ｐ３（図２（Ｃ）、図１５（Ａ）および図１６参照）と絶縁基板２Ｗ（図３（Ａ）参照）とが電気的に接続される。また、３相インバータ回路のＷ相ＰＷの一部を構成する交流端子Ｗ（図２（Ｃ）、図１５（Ａ）および図１６参照）と絶縁基板２Ｗ（図３（Ａ）参照）とが電気的に接続される。更に、３相インバータ回路のＷ相ＰＷ（図２（Ｃ）参照）の下アームＰＷＬ（図２（Ｃ）参照）の一部を構成する負極端子Ｎ３（図２（Ｃ）、図１５（Ａ）および図１６参照）と絶縁基板２Ｗ（図３（Ａ）参照）とが電気的に接続される。また、Ｗ相ＰＷ（図２（Ｃ）参照）の上アームＰＷＵ（図２（Ｃ）参照）の一部を構成するゲート電極端子ＧＷＵ（図２（Ｃ）、図９（Ａ）、図１０（Ａ）、図１４（Ｅ）および図１６参照）の下側水平部分ＧＷＵＨ（図１１（Ｂ）および図１４（Ｅ）参照）と絶縁基板２Ｗ（図３（Ａ）参照）とが太線ワイヤ３ＧＷＵ（図１５（Ａ）参照）を介して電気的に接続される。更に、Ｗ相ＰＷ（図２（Ｃ）参照）の上アームＰＷＵ（図２（Ｃ）参照）のコレクタ電位信号端子ＣＷＵ（図９（Ａ）、図１０（Ａ）および図１４（Ｄ）参照）の下側水平部分ＣＷＵＨ（図１１（Ｂ）および図１４（Ｄ）参照）と絶縁基板２Ｗ（図３（Ａ）参照）とが太線ワイヤ３ＣＷＵ（図１５（Ａ）参照）を介して電気的に接続される。また、Ｗ相ＰＷ（図２（Ｃ）参照）の上アームＰＷＵ（図２（Ｃ）参照）のエミッタ電位信号端子ＥＷＵ（図９（Ａ）、図１０（Ａ）および図１４（Ｆ）参照）の下側水平部分ＥＷＵＨ（図１１（Ｂ）および図１４（Ｆ）参照）と絶縁基板２Ｗ（図３（Ａ）参照）とが太線ワイヤ３ＥＷＵ（図１５（Ａ）参照）を介して電気的に接続される。更に、Ｗ相ＰＷ（図２（Ｃ）参照）の下アームＰＷＬ（図２（Ｃ）参照）の一部を構成するゲート電極端子ＧＷＬ（図２（Ｃ）、図９（Ａ）、図１０（Ａ）、図１４（Ｂ）および図１６参照）の下側水平部分ＧＷＬＨ（図１１（Ｂ）および図１４（Ｂ）参照）と絶縁基板２Ｗ（図３（Ａ）参照）とが太線ワイヤ３ＧＷＬ（図１５（Ａ）参照）を介して電気的に接続される。また、Ｗ相ＰＷ（図２（Ｃ）参照）の下アームＰＷＬ（図２（Ｃ）参照）のコレクタ電位信号端子ＣＷＬ（図９（Ａ）、図１０（Ａ）および図１４（Ｃ）参照）の下側水平部分ＣＷＬＨ（図１１（Ｂ）および図１４（Ｃ）参照）と絶縁基板２Ｗ（図３（Ａ）参照）とが太線ワイヤ３ＣＷＬ（図１５（Ａ）参照）を介して電気的に接続される。更に、Ｗ相ＰＷ（図２（Ｃ）参照）の下アームＰＷＬ（図２（Ｃ）参照）のエミッタ電位信号端子ＥＷＬ（図９（Ａ）、図１０（Ａ）および図１４（Ａ）参照）の下側水平部分ＥＷＬＨ（図１１（Ｂ）および図１４（Ａ）参照）と絶縁基板２Ｗ（図３（Ａ）参照）とが太線ワイヤ３ＥＷＬ（図１５（Ａ）参照）を介して電気的に接続される。また、Ｗ相ＰＷ（図２（Ｃ）参照）の給電端子ＴＷ１（図９（Ａ）、図１０（Ａ）および図１４（Ｇ）参照）の下側水平部分ＴＷ１Ｈ（図１１（Ｂ）および図１４（Ｇ）参照）とＷ相ＰＷ（図２（Ｃ）参照）のサーミスタＴＭＷ（図４（Ａ）参照）とが太線ワイヤ３ＴＷ１（図１５（Ａ）参照）を介して電気的に接続される。更に、Ｗ相ＰＷ（図２（Ｃ）参照）の給電端子ＴＷ２（図９（Ａ）、図１０（Ａ）および図１４（Ｈ）参照）の下側水平部分ＴＷ２Ｈ（図１１（Ｂ）および図１４（Ｈ）参照）とＷ相ＰＷ（図２（Ｃ）参照）のサーミスタＴＭＷ（図４（Ａ）参照）とが太線ワイヤ３ＴＷ２（図１５（Ａ）参照）を介して電気的に接続される。

次いで、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００の製造時には、例えばシリコーンゲルなどのようなゲル状樹脂（図示せず）が外囲ケース５（図１５（Ａ）および図１６参照）内に充填される。

その結果、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、放熱部材１（図３参照）の中央部１ａ（図３参照）がゲル状樹脂によって封止されている。また、３相インバータ回路のＵ相ＰＵ（図２（Ｃ）参照）の構成要素のうち、絶縁基板２Ｕ（図３参照）、ＩＧＢＴチップＱＵＵａ，ＱＵＵｂ，ＱＵＵｃ，ＱＵＵｄ，ＱＵＬａ，ＱＵＬｂ，ＱＵＬｃ，ＱＵＬｄ（図４参照）、ダイオードチップＦＷＤＵＵａ，ＦＷＤＵＵｂ，ＦＷＤＵＵｃ，ＦＷＤＵＵｄ，ＦＷＤＵＬａ，ＦＷＤＵＬｂ，ＦＷＤＵＬｃ，ＦＷＤＵＬｄ（図４参照）、リボンワイヤ３ＵＵ１ａ，３ＵＵ１ｂ，３ＵＵ１ｃ，３ＵＵ１ｄ，３ＵＬ１ａ，３ＵＬ１ｂ，３ＵＬ１ｃ，３ＵＬ１ｄ，３ＵＵ２ａ，３ＵＵ２ｂ，３ＵＵ２ｃ，３ＵＵ２ｄ，３ＵＬ２ａ，３ＵＬ２ｂ，３ＵＬ２ｃ，３ＵＬ２ｄ（図５および図７参照）、太線ワイヤ３ＵＵ３ａ，３ＵＵ３ｂ，３ＵＵ３ｃ，３ＵＵ３ｄ，３ＵＬ３ａ，３ＵＬ３ｂ，３ＵＬ３ｃ，３ＵＬ３ｄ（図７参照）、リボンワイヤ３ＵＵ４ａ，３ＵＵ４ｂ，３ＵＵ４ｃ，３ＵＵ４ｄ（図７参照）および太線ワイヤ３ＧＵＵ，３ＣＵＵ，３ＥＵＵ，３ＧＵＬ，３ＣＵＬ，３ＥＵＬ，３ＴＵ１，３ＴＵ２（図１５（Ａ）参照）がゲル状樹脂によって封止されている。更に、３相インバータ回路のＵ相ＰＵ（図２（Ｃ）参照）の構成要素のうち、正極端子Ｐ１（図１５（Ａ）参照）の一部と、負極端子Ｎ１（図１５（Ａ）参照）の一部と、交流端子Ｕ（図１５（Ａ）参照）の一部と、ゲート電極端子ＧＵＵ，ＧＵＬ（図１５（Ａ）参照）の下側水平部分ＧＵＵＨ，ＧＵＬＨ（図１１（Ａ）、図１２（Ｂ）および図１２（Ｅ）参照）と、コレクタ電位信号端子ＣＵＵ，ＣＵＬ（図１５（Ａ）参照）の下側水平部分ＣＵＵＨ，ＣＵＬＨ（図１１（Ａ）、図１２（Ｃ）および図１２（Ｄ）参照）と、エミッタ電位信号端子ＥＵＵ，ＥＵＬ（図１５（Ａ）参照）の下側水平部分ＥＵＵＨ，ＥＵＬＨ（図１１（Ａ）、図１２（Ａ）および図１２（Ｆ）参照）とが、ゲル状樹脂によって封止されている。また、Ｖ相ＰＶ（図２（Ｃ）参照）およびＷ相ＰＷ（図２（Ｃ）参照）がＵ相ＰＵ（図２（Ｃ）参照）と同様に構成されている。

次いで、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００の製造時には、カバー６ａ，６ｂ，６ｃ（図１（Ａ）および図２（Ｂ）参照）によって、外囲ケース５（図１５（Ａ）および図１６参照）の内部が覆われる。その結果、図１および図２に示すような第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００が形成される。

詳細には、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、図４（Ｂ）に示すように、間隔Ｗ１，Ｗ２が、間隔Ｗ３，Ｗ４，Ｗ５，Ｗ６よりも大きい値に設定されている。また、図３（Ｂ）に示すように、導体パターン２Ｕａのうちの正極端子Ｐ１（図９〜図１１参照）が電気的に接続される接続部分２Ｕａ１の少なくとも一部分が、ＩＧＢＴチップＱＵＵａ（図４（Ｂ）参照）およびダイオードチップＦＷＤＵＵａ（図４（Ｂ）参照）の前端部（図４（Ｂ）の下側の端部）と、ＩＧＢＴチップＱＵＵｂ（図４（Ｂ）参照）およびダイオードチップＦＷＤＵＵｂ（図４（Ｂ）参照）の後端部（図４（Ｂ）の上側の端部）との間の位置であって、ＩＧＢＴチップＱＵＵａ，ＱＵＵｂ（図４（Ｂ）参照）の右端部（図４（Ｂ）の右側の端部）と、ダイオードチップＦＷＤＵＵａ，ＦＷＤＵＵｂ（図４（Ｂ）参照）の左端部（図４（Ｂ）の左側の端部）との間の位置に配置されている。

そのため、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００によれば、導体パターン２Ｕａ（図３（Ｂ）参照）のうちの正極端子Ｐ１（図９〜図１１参照）が電気的に接続される接続部分２Ｕａ１（図３（Ｂ）参照）が、ＩＧＢＴチップＱＵＵａ，ＱＵＵｂ（図４（Ｂ）参照）の右端部（図４（Ｂ）の右側の端部）と、ダイオードチップＦＷＤＵＵａ，ＦＷＤＵＵｂ（図４（Ｂ）参照）の左端部（図４（Ｂ）の左側の端部）との間の位置に配置されない場合よりも、Ｕ相ＰＵ（図４（Ａ）参照）のモジュール長手方向（図４（Ａ）の左右方向）寸法を小型化することができ、それにより、パワー半導体モジュール１００の全体のモジュール長手方向（図１（Ａ）の左右方向）寸法を小型化することができる。

更に、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、図４（Ｂ）に示すように、間隔Ｗ７が間隔Ｗ９，Ｗ１１よりも大きい値に設定されている。また、図３（Ｂ）に示すように、導体パターン２Ｕｂのうちの交流端子Ｕ（図９〜図１１参照）が電気的に接続される接続部分２Ｕｂ１の少なくとも一部分が、ＩＧＢＴチップＱＵＬａ（図４（Ｂ）参照）の前端部（図４（Ｂ）の下側の端部）と、ＩＧＢＴチップＱＵＬｂ（図４（Ｂ）参照）の後端部（図４（Ｂ）の上側の端部）との間の位置であって、ＩＧＢＴチップＱＵＬａ，ＱＵＬｂの右端部（図４（Ｂ）の右側の端部）と、ＩＧＢＴチップＱＵＬａ，ＱＵＬｂの左端部（図４（Ｂ）の左側の端部）との間の位置に配置されている。

そのため、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００によれば、導体パターン２Ｕｂ（図３（Ｂ）参照）のうちの交流端子Ｕ（図９〜図１１参照）が電気的に接続される接続部分２Ｕｂ１（図３（Ｂ）参照）が、ＩＧＢＴチップＱＵＬａ，ＱＵＬｂの右端部（図４（Ｂ）の右側の端部）と、ＩＧＢＴチップＱＵＬａ，ＱＵＬｂ（図４（Ｂ）参照）の左端部（図４（Ｂ）の左側の端部）との間の位置に配置されない場合よりも、Ｕ相ＰＵ（図４（Ａ）参照）のモジュール長手方向（図４（Ａ）の左右方向）寸法を小型化することができ、それにより、パワー半導体モジュール１００の全体のモジュール長手方向（図１（Ａ）の左右方向）寸法を小型化することができる。

また、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、図４（Ｂ）に示すように、間隔Ｗ８が間隔Ｗ１０，Ｗ１２よりも大きい値に設定されている。更に、図３（Ｂ）に示すように、導体パターン２Ｕｃのうちの負極端子Ｎ１（図９〜図１１参照）が電気的に接続される接続部分２Ｕｃ１の少なくとも一部分が、ダイオードチップＦＷＤＵＬａ（図４（Ｂ）参照）の前端部（図４（Ｂ）の下側の端部）と、ダイオードチップＦＷＤＵＬｂ（図４（Ｂ）参照）の後端部（図４（Ｂ）の上側の端部）との間の位置であって、ダイオードチップＦＷＤＵＬａ，ＦＷＤＵＬｂ（図４（Ｂ）参照）の右端部（図４（Ｂ）の右側の端部）と、ダイオードチップＦＷＤＵＬａ，ＦＷＤＵＬｂ（図４（Ｂ）参照）の左端部（図４（Ｂ）の左側の端部）との間の位置に配置されている。

そのため、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００によれば、導体パターン２Ｕｃ（図３（Ｂ）参照）のうちの負極端子Ｎ１（図９〜図１１参照）が電気的に接続される接続部分２Ｕｃ１（図３（Ｂ）参照）が、ダイオードチップＦＷＤＵＬａ，ＦＷＤＵＬｂ（図４（Ｂ）参照）の右端部（図４（Ｂ）の右側の端部）と、ダイオードチップＦＷＤＵＬａ，ＦＷＤＵＬｂ（図４（Ｂ）参照）の左端部（図４（Ｂ）の左側の端部）との間の位置に配置されない場合よりも、Ｕ相ＰＵ（図４（Ａ）参照）のモジュール長手方向（図４（Ａ）の左右方向）寸法を小型化することができ、それにより、パワー半導体モジュール１００の全体のモジュール長手方向（図１（Ａ）の左右方向）寸法を小型化することができる。

更に、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、導体パターン２Ｕａ（図３（Ｂ）参照）の接続部分２Ｕａ１（図３（Ｂ）参照）が、ＩＧＢＴチップＱＵＵａ（図４（Ｂ）参照）とＩＧＢＴチップＱＵＵｂ（図４（Ｂ）参照）との線対称中心線ＣＬ１（図３（Ｂ）および図４（Ｂ）参照）上であって、ＩＧＢＴチップＱＵＵｃ（図４（Ｂ）参照）とＩＧＢＴチップＱＵＵｄ（図４（Ｂ）参照）との線対称中心線ＣＬ１（図３（Ｂ）および図４（Ｂ）参照）上であって、ダイオードチップＦＷＤＵＵａ（図４（Ｂ）参照）とダイオードチップＦＷＤＵＵｂ（図４（Ｂ）参照）との線対称中心線ＣＬ１（図３（Ｂ）および図４（Ｂ）参照）上であって、ダイオードチップＦＷＤＵＵｃ（図４（Ｂ）参照）とダイオードチップＦＷＤＵＵｄ（図４（Ｂ）参照）との線対称中心線ＣＬ１（図３（Ｂ）および図４（Ｂ）参照）上に配置されている。また、導体パターン２Ｕｂ（図３（Ｂ）参照）の接続部分２Ｕｂ１（図３（Ｂ）参照）が、ＩＧＢＴチップＱＵＵａ（図４（Ｂ）参照）とＩＧＢＴチップＱＵＵｂ（図４（Ｂ）参照）との線対称中心線ＣＬ１（図３（Ｂ）および図４（Ｂ）参照）上であって、ＩＧＢＴチップＱＵＵｃ（図４（Ｂ）参照）とＩＧＢＴチップＱＵＵｄ（図４（Ｂ）参照）との線対称中心線ＣＬ１（図３（Ｂ）および図４（Ｂ）参照）上であって、ダイオードチップＦＷＤＵＵａ（図４（Ｂ）参照）とダイオードチップＦＷＤＵＵｂ（図４（Ｂ）参照）との線対称中心線ＣＬ１（図３（Ｂ）および図４（Ｂ）参照）上であって、ダイオードチップＦＷＤＵＵｃ（図４（Ｂ）参照）とダイオードチップＦＷＤＵＵｄ（図４（Ｂ）参照）との線対称中心線ＣＬ１（図３（Ｂ）および図４（Ｂ）参照）上に配置されている。

そのため、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００によれば、ＩＧＢＴチップＱＵＵａ（図４（Ｂ）参照）とＩＧＢＴチップＱＵＵｂ（図４（Ｂ）参照）とのスイッチングタイミングのばらつきを抑制することができ、ＩＧＢＴチップＱＵＵｃ（図４（Ｂ）参照）とＩＧＢＴチップＱＵＵｄ（図４（Ｂ）参照）とのスイッチングタイミングのばらつきを抑制することができる。

また、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、導体パターン２Ｕｂ（図３（Ｂ）参照）の接続部分２Ｕｂ１（図３（Ｂ）参照）が、ＩＧＢＴチップＱＵＬａ（図４（Ｂ）参照）とＩＧＢＴチップＱＵＬｂ（図４（Ｂ）参照）との線対称中心線ＣＬ２（図３（Ｂ）および図４（Ｂ）参照）上であって、ＩＧＢＴチップＱＵＬｃ（図４（Ｂ）参照）とＩＧＢＴチップＱＵＬｄ（図４（Ｂ）参照）との線対称中心線ＣＬ２（図３（Ｂ）および図４（Ｂ）参照）上であって、ダイオードチップＦＷＤＵＬａ（図４（Ｂ）参照）とダイオードチップＦＷＤＵＬｂ（図４（Ｂ）参照）との線対称中心線ＣＬ３（図３（Ｂ）および図４（Ｂ）参照）上であって、ダイオードチップＦＷＤＵＬｃ（図４（Ｂ）参照）とダイオードチップＦＷＤＵＬｄ（図４（Ｂ）参照）との線対称中心線ＣＬ３（図３（Ｂ）および図４（Ｂ）参照）上に配置されている。更に、導体パターン２Ｕｃ（図３（Ｂ）参照）の接続部分２Ｕｃ１（図３（Ｂ）参照）が、ＩＧＢＴチップＱＵＬａ（図４（Ｂ）参照）とＩＧＢＴチップＱＵＬｂ（図４（Ｂ）参照）との線対称中心線ＣＬ２（図３（Ｂ）および図４（Ｂ）参照）上であって、ＩＧＢＴチップＱＵＬｃ（図４（Ｂ）参照）とＩＧＢＴチップＱＵＬｄ（図４（Ｂ）参照）との線対称中心線ＣＬ２（図３（Ｂ）および図４（Ｂ）参照）上であって、ダイオードチップＦＷＤＵＬａ（図４（Ｂ）参照）とダイオードチップＦＷＤＵＬｂ（図４（Ｂ）参照）との線対称中心線ＣＬ３（図３（Ｂ）および図４（Ｂ）参照）上であって、ダイオードチップＦＷＤＵＬｃ（図４（Ｂ）参照）とダイオードチップＦＷＤＵＬｄ（図４（Ｂ）参照）との線対称中心線ＣＬ３（図３（Ｂ）および図４（Ｂ）参照）上に配置されている。

そのため、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００によれば、ＩＧＢＴチップＱＵＬａ（図４（Ｂ）参照）とＩＧＢＴチップＱＵＬｂ（図４（Ｂ）参照）とのスイッチングタイミングのばらつきを抑制することができ、ＩＧＢＴチップＱＵＬｃ（図４（Ｂ）参照）とＩＧＢＴチップＱＵＬｄ（図４（Ｂ）参照）とのスイッチングタイミングのばらつきを抑制することができる。

更に、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、図９（Ａ）に示すように、後側壁５ｃと前側壁５ｄとの間に延びており、かつ、３相インバータ回路のＵ相ＰＵ（図２（Ｃ）参照）とＶ相ＰＶ（図２（Ｃ）参照）とを仕切る仕切り壁５ｅが、外囲ケース５に形成されている。また、後側壁５ｃと前側壁５ｄとの間に延びており、かつ、３相インバータ回路のＶ相ＰＶ（図２（Ｃ）参照）とＷ相ＰＷ（図２（Ｃ）参照）とを仕切る仕切り壁５ｆが、外囲ケース５に形成されている。

また、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、図９（Ａ）に示すように、Ｕ相ＰＵ（図２（Ｃ）参照）の正極端子Ｐ１と、Ｕ相ＰＵ（図２（Ｃ）参照）の負極端子Ｎ１と、Ｖ相ＰＶ（図２（Ｃ）参照）の正極端子Ｐ２と、Ｖ相ＰＶ（図２（Ｃ）参照）の負極端子Ｎ２と、Ｗ相ＰＷ（図２（Ｃ）参照）の正極端子Ｐ３と、Ｗ相ＰＷ（図２（Ｃ）参照）の負極端子Ｎ３とが、外囲ケース５の後側壁５ｃにインサート成形されている。更に、Ｕ相ＰＵ（図２（Ｃ）参照）の交流端子Ｕと、Ｖ相ＰＶ（図２（Ｃ）参照）の交流端子Ｖと、Ｗ相ＰＷ（図２（Ｃ）参照）の交流端子Ｗとが、外囲ケース５の前側壁５ｄにインサート成形されている。

更に、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、図９（Ａ）に示すように、Ｕ相ＰＵ（図２（Ｃ）参照）の上アームＰＵＵ（図２（Ｃ）参照）のゲート電極端子ＧＵＵと、Ｕ相ＰＵ（図２（Ｃ）参照）の上アームＰＵＵ（図２（Ｃ）参照）のコレクタ電位信号端子ＣＵＵと、Ｕ相ＰＵ（図２（Ｃ）参照）の上アームＰＵＵ（図２（Ｃ）参照）のエミッタ電位信号端子ＥＵＵとが、外囲ケース５の仕切り壁５ｅのうちの後側（図９（Ａ）の上側）の部分５ｅ１（図１１（Ａ）参照）にインサート成形されている。また、図１２（Ｅ）に示すように、Ｕ相ＰＵ（図２（Ｃ）参照）の上アームＰＵＵ（図２（Ｃ）参照）のゲート電極端子ＧＵＵの鉛直断面形状がＬ字状になるように、上側鉛直部分ＧＵＵＶと下側水平部分ＧＵＵＨとがＵ相ＰＵ（図２（Ｃ）参照）の上アームＰＵＵ（図２（Ｃ）参照）のゲート電極端子ＧＵＵに形成されている。

また、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、図１２（Ｄ）に示すように、Ｕ相ＰＵ（図２（Ｃ）参照）の上アームＰＵＵ（図２（Ｃ）参照）のコレクタ電位信号端子ＣＵＵの鉛直断面形状がＬ字状になるように、上側鉛直部分ＣＵＵＶと下側水平部分ＣＵＵＨとがＵ相ＰＵ（図２（Ｃ）参照）の上アームＰＵＵ（図２（Ｃ）参照）のコレクタ電位信号端子ＣＵＵに形成されている。更に、図１２（Ｆ）に示すように、Ｕ相ＰＵ（図２（Ｃ）参照）の上アームＰＵＵ（図２（Ｃ）参照）のエミッタ電位信号端子ＥＵＵの鉛直断面形状がＬ字状になるように、上側鉛直部分ＥＵＵＶと下側水平部分ＥＵＵＨとがＵ相ＰＵ（図２（Ｃ）参照）の上アームＰＵＵのエミッタ電位信号端子ＥＵＵ（図２（Ｃ）参照）に形成されている。

更に、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、図９（Ａ）に示すように、Ｕ相ＰＵ（図２（Ｃ）参照）の下アームＰＵＬ（図２（Ｃ）参照）のゲート電極端子ＧＵＬと、Ｕ相ＰＵ（図２（Ｃ）参照）の下アームＰＵＬ（図２（Ｃ）参照）のコレクタ電位信号端子ＣＵＬと、Ｕ相ＰＵ（図２（Ｃ）参照）の下アームＰＵＬ（図２（Ｃ）参照）のエミッタ電位信号端子ＥＵＬとが、外囲ケース５の左側壁５ｂのうちの前側（図９（Ａ）の下側）の部分５ｂ２（図１１（Ａ）参照）にインサート成形されている。また、図１２（Ｂ）に示すように、Ｕ相ＰＵ（図２（Ｃ）参照）の下アームＰＵＬ（図２（Ｃ）参照）のゲート電極端子ＧＵＬの鉛直断面形状がＬ字状になるように、上側鉛直部分ＧＵＬＶと下側水平部分ＧＵＬＨとがＵ相ＰＵ（図２（Ｃ）参照）の下アームＰＵＬ（図２（Ｃ）参照）のゲート電極端子ＧＵＬに形成されている。

また、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、図１２（Ｃ）に示すように、Ｕ相ＰＵ（図２（Ｃ）参照）の下アームＰＵＬ（図２（Ｃ）参照）のコレクタ電位信号端子ＣＵＬの鉛直断面形状がＬ字状になるように、上側鉛直部分ＣＵＬＶと下側水平部分ＣＵＬＨとがＵ相ＰＵ（図２（Ｃ）参照）の下アームＰＵＬ（図２（Ｃ）参照）のコレクタ電位信号端子ＣＵＬに形成されている。更に、図１２（Ａ）に示すように、Ｕ相ＰＵ（図２（Ｃ）参照）の下アームＰＵＬ（図２（Ｃ）参照）のエミッタ電位信号端子ＥＵＬの鉛直断面形状がＬ字状になるように、上側鉛直部分ＥＵＬＶと下側水平部分ＥＵＬＨとがＵ相ＰＵ（図２（Ｃ）参照）の下アームＰＵＬ（図２（Ｃ）参照）のエミッタ電位信号端子ＥＵＬに形成されている。

更に、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、図９（Ａ）に示すように、Ｖ相ＰＶ（図２（Ｃ）参照）の上アームＰＶＵ（図２（Ｃ）参照）のゲート電極端子ＧＶＵと、Ｖ相ＰＶ（図２（Ｃ）参照）の上アームＰＶＵ（図２（Ｃ）参照）のコレクタ電位信号端子ＣＶＵと、Ｖ相ＰＶ（図２（Ｃ）参照）の上アームＰＶＵ（図２（Ｃ）参照）のエミッタ電位信号端子ＥＶＵとが、外囲ケース５の仕切り壁５ｆのうちの後側（図９（Ａ）の上側）の部分５ｆ１（図１１（Ｂ）参照）にインサート成形されている。また、図１３（Ｅ）に示すように、Ｖ相ＰＶ（図２（Ｃ）参照）の上アームＰＶＵ（図２（Ｃ）参照）のゲート電極端子ＧＶＵの鉛直断面形状がＬ字状になるように、上側鉛直部分ＧＶＵＶと下側水平部分ＧＶＵＨとがＶ相ＰＶ（図２（Ｃ）参照）の上アームＰＶＵ（図２（Ｃ）参照）のゲート電極端子ＧＶＵに形成されている。

また、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、図１３（Ｄ）に示すように、Ｖ相ＰＶ（図２（Ｃ）参照）の上アームＰＶＵ（図２（Ｃ）参照）のコレクタ電位信号端子ＣＶＵの鉛直断面形状がＬ字状になるように、上側鉛直部分ＣＶＵＶと下側水平部分ＣＶＵＨとがＶ相ＰＶ（図２（Ｃ）参照）の上アームＰＶＵ（図２（Ｃ）参照）のコレクタ電位信号端子ＣＶＵに形成されている。更に、図１３（Ｆ）に示すように、Ｖ相ＰＶ（図２（Ｃ）参照）の上アームＰＶＵ（図２（Ｃ）参照）のエミッタ電位信号端子ＥＶＵの鉛直断面形状がＬ字状になるように、上側鉛直部分ＥＶＵＶと下側水平部分ＥＶＵＨとがＶ相ＰＶ（図２（Ｃ）参照）の上アームＰＶＵ（図２（Ｃ）参照）のエミッタ電位信号端子ＥＶＵに形成されている。

更に、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、図９（Ａ）に示すように、Ｖ相ＰＶ（図２（Ｃ）参照）の下アームＰＶＬ（図２（Ｃ）参照）のゲート電極端子ＧＶＬと、Ｖ相ＰＶ（図２（Ｃ）参照）の下アームＰＶＬ（図２（Ｃ）参照）のコレクタ電位信号端子ＣＶＬと、Ｖ相ＰＶ（図２（Ｃ）参照）の下アームＰＶＬ（図２（Ｃ）参照）のエミッタ電位信号端子ＥＶＬとが、外囲ケース５の仕切り壁５ｅのうちの前側（図９（Ａ）の下側）の部分５ｅ２（図１１（Ａ）参照）にインサート成形されている。また、図１３（Ｂ）に示すように、Ｖ相ＰＶ（図２（Ｃ）参照）の下アームＰＶＬ（図２（Ｃ）参照）のゲート電極端子ＧＶＬの鉛直断面形状がＬ字状になるように、上側鉛直部分ＧＶＬＶと下側水平部分ＧＶＬＨとがＶ相ＰＶ（図２（Ｃ）参照）の下アームＰＶＬ（図２（Ｃ）参照）のゲート電極端子ＧＶＬに形成されている。

また、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、図１３（Ｃ）に示すように、Ｖ相ＰＶ（図２（Ｃ）参照）の下アームＰＶＬ（図２（Ｃ）参照）のコレクタ電位信号端子ＣＶＬの鉛直断面形状がＬ字状になるように、上側鉛直部分ＣＶＬＶと下側水平部分ＣＶＬＨとがＶ相ＰＶ（図２（Ｃ）参照）の下アームＰＶＬのコレクタ電位信号端子ＣＶＬに形成されている。更に、図１３（Ａ）に示すように、Ｖ相ＰＶ（図２（Ｃ）参照）の下アームＰＶＬ（図２（Ｃ）参照）のエミッタ電位信号端子ＥＶＬの鉛直断面形状がＬ字状になるように、上側鉛直部分ＥＶＬＶと下側水平部分ＥＶＬＨとがＶ相ＰＶ（図２（Ｃ）参照）の下アームＰＶＬ（図２（Ｃ）参照）のエミッタ電位信号端子ＥＶＬに形成されている。

更に、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、図９（Ａ）に示すように、Ｗ相ＰＷ（図２（Ｃ）参照）の上アームＰＷＵ（図２（Ｃ）参照）のゲート電極端子ＧＷＵと、Ｗ相ＰＷ（図２（Ｃ）参照）の上アームＰＷＵ（図２（Ｃ）参照）のコレクタ電位信号端子ＣＷＵと、Ｗ相ＰＷ（図２（Ｃ）参照）の上アームＰＷＵ（図２（Ｃ）参照）のエミッタ電位信号端子ＥＷＵとが、外囲ケース５の右側壁５ａのうちの後側（図９（Ａ）の上側）の部分５ａ１（図１１（Ｂ）参照）にインサート成形されている。また、図１４（Ｅ）に示すように、Ｗ相ＰＷ（図２（Ｃ）参照）の上アームＰＷＵ（図２（Ｃ）参照）のゲート電極端子ＧＷＵの鉛直断面形状がＬ字状になるように、上側鉛直部分ＧＷＵＶと下側水平部分ＧＷＵＨとがＷ相ＰＷ（図２（Ｃ）参照）の上アームＰＷＵ（図２（Ｃ）参照）のゲート電極端子ＧＷＵに形成されている。

また、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、図１４（Ｄ）に示すように、Ｗ相ＰＷ（図２（Ｃ）参照）の上アームＰＷＵ（図２（Ｃ）参照）のコレクタ電位信号端子ＣＷＵの鉛直断面形状がＬ字状になるように、上側鉛直部分ＣＷＵＶと下側水平部分ＣＷＵＨとがＷ相ＰＷ（図２（Ｃ）参照）の上アームＰＷＵ（図２（Ｃ）参照）のコレクタ電位信号端子ＣＷＵに形成されている。更に、図１４（Ｆ）に示すように、Ｗ相ＰＷ（図２（Ｃ）参照）の上アームＰＷＵ（図２（Ｃ）参照）のエミッタ電位信号端子ＥＷＵの鉛直断面形状がＬ字状になるように、上側鉛直部分ＥＷＵＶと下側水平部分ＥＷＵＨとがＷ相ＰＷ（図２（Ｃ）参照）の上アームＰＷＵ（図２（Ｃ）参照）のエミッタ電位信号端子ＥＷＵに形成されている。

更に、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、図９（Ａ）に示すように、Ｗ相ＰＷ（図２（Ｃ）参照）の下アームＰＷＬ（図２（Ｃ）参照）のゲート電極端子ＧＷＬと、Ｗ相ＰＷ（図２（Ｃ）参照）の下アームＰＷＬ（図２（Ｃ）参照）のコレクタ電位信号端子ＣＷＬと、Ｗ相ＰＶ（図２（Ｃ）参照）の下アームＰＷＬ（図２（Ｃ）参照）のエミッタ電位信号端子ＥＷＬとが、外囲ケース５の仕切り壁５ｆのうちの前側（図９（Ａ）の下側）の部分５ｆ２（図１１（Ｂ）参照）にインサート成形されている。また、図１４（Ｂ）に示すように、Ｗ相ＰＷ（図２（Ｃ）参照）の下アームＰＷＬ（図２（Ｃ）参照）のゲート電極端子ＧＷＬの鉛直断面形状がＬ字状になるように、上側鉛直部分ＧＷＬＶと下側水平部分ＧＷＬＨとがＷ相ＰＷ（図２（Ｃ）参照）の下アームＰＷＬ（図２（Ｃ）参照）のゲート電極端子ＧＷＬに形成されている。

また、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、図１４（Ｃ）に示すように、Ｗ相ＰＷ（図２（Ｃ）参照）の下アームＰＷＬ（図２（Ｃ）参照）のコレクタ電位信号端子ＣＷＬの鉛直断面形状がＬ字状になるように、上側鉛直部分ＣＷＬＶと下側水平部分ＣＷＬＨとがＷ相ＰＷ（図２（Ｃ）参照）の下アームＰＷＬ（図２（Ｃ）参照）のコレクタ電位信号端子ＣＷＬに形成されている。更に、図１４（Ａ）に示すように、Ｗ相ＰＷ（図２（Ｃ）参照）の下アームＰＷＬ（図２（Ｃ）参照）のエミッタ電位信号端子ＥＷＬの鉛直断面形状がＬ字状になるように、上側鉛直部分ＥＷＬＶと下側水平部分ＥＷＬＨとがＷ相ＰＷ（図２（Ｃ）参照）の下アームＰＷＬ（図２（Ｃ）参照）のエミッタ電位信号端子ＥＷＬに形成されている。

詳細には、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、外囲ケース５（図９（Ａ）、図１１、図１２および図１３参照）の仕切り壁５ｅ（図９（Ａ）、図１１（Ａ）、図１２（Ｄ）、図１２（Ｅ）、図１２（Ｆ）、図１３（Ａ）、図１３（Ｂ）および図１３（Ｃ）参照）の後側（図９（Ａ）および図１１（Ａ）の上側）の部分５ｅ１（図１１（Ａ）、図１２（Ｄ）、図１２（Ｅ）および図１２（Ｆ）参照）の下側部分５ｅ１ａ（図１１（Ａ）、図１２（Ｄ）、図１２（Ｅ）および図１２（Ｆ）参照）と、外囲ケース５の仕切り壁５ｅの前側（図９（Ａ）および図１１（Ａ）の下側）の部分５ｅ２（図１１（Ａ）、図１３（Ａ）、図１３（Ｂ）および図１３（Ｃ）参照）の下側部分５ｅ２ａ（図１１（Ａ）、図１３（Ａ）、図１３（Ｂ）および図１３（Ｃ）参照）とが、モジュール短手方向（図９（Ａ）および図１１（Ａ）の上下方向）に延びている鉛直面Ｓ５ｅ１（図１１（Ａ）、図１２（Ｄ）、図１２（Ｅ）、図１２（Ｆ）、図１３（Ａ）、図１３（Ｂ）および図１３（Ｃ）参照）上に位置するように、かつ、外囲ケース５の仕切り壁５ｅの後側の部分５ｅ１の上側部分５ｅ１ｂ（図１１（Ａ）、図１２（Ｄ）、図１２（Ｅ）および図１２（Ｆ）参照）が、外囲ケース５の仕切り壁５ｅの後側の部分５ｅ１の下側部分５ｅ１ａ（図１１（Ａ）、図１２（Ｄ）、図１２（Ｅ）および図１２（Ｆ）参照）よりも右側（図１１（Ａ）、図１２（Ｄ）、図１２（Ｅ）および図１２（Ｆ）の右側）に位置するように、かつ、外囲ケース５の仕切り壁５ｅの前側の部分５ｅ２の上側部分５ｅ２ｂ（図１１（Ａ）、図１３（Ａ）、図１３（Ｂ）および図１３（Ｃ）参照）が、外囲ケース５の仕切り壁５ｅの前側の部分５ｅ２の下側部分５ｅ２ａ（図１１（Ａ）、図１３（Ａ）、図１３（Ｂ）および図１３（Ｃ）参照）よりも左側（図１１（Ａ）、図１３（Ａ）、図１３（Ｂ）および図１３（Ｃ）の左側）に位置するように、外囲ケース５の仕切り壁５ｅが形成されている。

更に、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、Ｕ相ＰＵ（図２（Ｃ）参照）の上アームＰＵＵ（図２（Ｃ）参照）のゲート電極端子ＧＵＵ（図１２（Ｅ）参照）の上側鉛直部分ＧＵＵＶ（図１２（Ｅ）参照）の上端部と、Ｕ相ＰＵ（図２（Ｃ）参照）の上アームＰＵＵ（図２（Ｃ）参照）のコレクタ電位信号端子ＣＵＵ（図１２（Ｄ）参照）の上側鉛直部分ＣＵＵＶ（図１２（Ｄ）参照）の上端部と、Ｕ相ＰＵ（図２（Ｃ）参照）の上アームＰＵＵ（図２（Ｃ）参照）のエミッタ電位信号端子ＥＵＵ（図１２（Ｆ）参照）の上側鉛直部分ＥＵＵＶ（図１２（Ｆ）参照）とが、外囲ケース５（図１１（Ａ）、図１２（Ｄ）、図１２（Ｅ）および図１２（Ｆ）参照）の仕切り壁５ｅ（図１１（Ａ）、図１２（Ｄ）、図１２（Ｅ）および図１２（Ｆ）参照）の後側（図１１（Ａ）の上側）の部分５ｅ１（図１１（Ａ）、図１２（Ｄ）、図１２（Ｅ）および図１２（Ｆ）参照）の上側部分５ｅ１ｂ（図１１（Ａ）、図１２（Ｄ）、図１２（Ｅ）および図１２（Ｆ）参照）から上側（図１２（Ｄ）、図１２（Ｅ）および図１２（Ｆ）の上側）に突出せしめられると共に、鉛直面Ｓ５ｅ１（図１１（Ａ）、図１２（Ｄ）、図１２（Ｅ）および図１２（Ｆ）参照）よりも右側（図１１（Ａ）、図１２（Ｄ）、図１２（Ｅ）および図１２（Ｆ）の右側）に位置しかつ鉛直面Ｓ５ｅ１に平行な鉛直面Ｓ５ｅ２（図１１（Ａ）、図１２（Ｄ）、図１２（Ｅ）および図１２（Ｆ）参照）上に配置されている。

また、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、Ｕ相ＰＵ（図２（Ｃ）参照）の上アームＰＵＵ（図２（Ｃ）参照）のゲート電極端子ＧＵＵ（図１２（Ｅ）参照）の下端水平部分ＧＵＵＨ（図１１（Ａ）および図１２（Ｅ）参照）と、Ｕ相ＰＵ（図２（Ｃ）参照）の上アームＰＵＵ（図２（Ｃ）参照）のコレクタ電位信号端子ＣＵＵ（図１２（Ｄ）参照）の下側水平部分ＣＵＵＨ（図１１（Ａ）および図１２（Ｄ）参照）と、Ｕ相ＰＵ（図２（Ｃ）参照）の上アームＰＵＵ（図２（Ｃ）参照）のエミッタ電位信号端子ＥＵＵ（図１２（Ｆ）参照）の下側水平部分ＥＵＵＨ（図１１（Ａ）および図１２（Ｆ）参照）とが、鉛直面Ｓ５ｅ１（図１１（Ａ）、図１２（Ｄ）、図１２（Ｅ）および図１２（Ｆ）参照）上に配置されると共に、外囲ケース５（図１１（Ａ）、図１２（Ｄ）、図１２（Ｅ）および図１２（Ｆ）参照）の仕切り壁５ｅ（図１１（Ａ）、図１２（Ｄ）、図１２（Ｅ）および図１２（Ｆ）参照）の後側（図１１（Ａ）の上側）の部分５ｅ１（図１１（Ａ）、図１２（Ｄ）、図１２（Ｅ）および図１２（Ｆ）参照）の下側部分５ｅ１ａ（図１１（Ａ）、図１２（Ｄ）、図１２（Ｅ）および図１２（Ｆ）参照）の上面に露出せしめられている。

更に、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、Ｖ相ＰＶ（図２（Ｃ）参照）の下アームＰＶＬ（図２（Ｃ）参照）のゲート電極端子ＧＶＬ（図１３（Ｂ）参照）の上側鉛直部分ＧＶＬＶ（図１３（Ｂ）参照）の上端部と、Ｖ相ＰＶ（図２（Ｃ）参照）の下アームＰＶＬ（図２（Ｃ）参照）のコレクタ電位信号端子ＣＶＬ（図１３（Ｃ）参照）の上側鉛直部分ＣＶＬＶ（図１３（Ｃ）参照）の上端部と、Ｖ相ＰＶ（図２（Ｃ）参照）の下アームＰＶＬ（図２（Ｃ）参照）のエミッタ電位信号端子ＥＶＬ（図１３（Ａ）参照）の上側鉛直部分ＥＶＬＶ（図１３（Ａ）参照）とが、外囲ケース５（図１１（Ａ）、図１３（Ａ）、図１３（Ｂ）および図１３（Ｃ）参照）の仕切り壁５ｅ（図１１（Ａ）、図１３（Ａ）、図１３（Ｂ）および図１３（Ｃ）参照）の前側（図１１（Ａ）の下側）の部分５ｅ２（図１１（Ａ）、図１３（Ａ）、図１３（Ｂ）および図１３（Ｃ）参照）の上側部分５ｅ２ｂ（図１１（Ａ）、図１３（Ａ）、図１３（Ｂ）および図１３（Ｃ）参照）から上側（図１３（Ａ）、図１３（Ｂ）および図１３（Ｃ）の上側）に突出せしめられると共に、鉛直面Ｓ５ｅ１（図１１（Ａ）、図１３（Ａ）、図１３（Ｂ）および図１３（Ｃ）参照）よりも左側（図１１（Ａ）、図１３（Ａ）、図１３（Ｂ）および図１３（Ｃ）の左側）に位置しかつ鉛直面Ｓ５ｅ１に平行な鉛直面Ｓ５ｅ３（図１１（Ａ）、図１３（Ａ）、図１３（Ｂ）および図１３（Ｃ）参照）上に配置されている。

また、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、Ｖ相ＰＶ（図２（Ｃ）参照）の下アームＰＶＬ（図２（Ｃ）参照）のゲート電極端子ＧＶＬ（図１３（Ｂ）参照）の下端水平部分ＧＶＬＨ（図１１（Ａ）および図１３（Ｂ）参照）と、Ｖ相ＰＶ（図２（Ｃ）参照）の下アームＰＶＬ（図２（Ｃ）参照）のコレクタ電位信号端子ＣＶＬ（図１３（Ｃ）参照）の下側水平部分ＣＶＬＨ（図１１（Ａ）および図１３（Ｃ）参照）と、Ｖ相ＰＶ（図２（Ｃ）参照）の下アームＰＶＬ（図２（Ｃ）参照）のエミッタ電位信号端子ＥＶＬ（図１３（Ａ）参照）の下側水平部分ＥＶＬＨ（図１１（Ａ）および図１３（Ａ）参照）とが、鉛直面Ｓ５ｅ１（図１１（Ａ）、図１３（Ａ）、図１３（Ｂ）および図１３（Ｃ）参照）上に配置されると共に、外囲ケース５（図１１（Ａ）、図１３（Ａ）、図１３（Ｂ）および図１３（Ｃ）参照）の仕切り壁５ｅ（図１１（Ａ）、図１３（Ａ）、図１３（Ｂ）および図１３（Ｃ）参照）の前側（図１１（Ａ）の下側）の部分５ｅ２（図１１（Ａ）、図１３（Ａ）、図１３（Ｂ）および図１３（Ｃ）参照）の下側部分５ｅ２ａ（図１１（Ａ）、図１３（Ａ）、図１３（Ｂ）および図１３（Ｃ）参照）の上面に露出せしめられている。

そのため、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００によれば、Ｕ相ＰＵ（図２（Ｃ）参照）の上アームＰＵＵ（図２（Ｃ）参照）のゲート電極端子ＧＵＵ（図１２（Ｅ）参照）の上側鉛直部分ＧＵＵＶ（図１１（Ａ）参照）の上端部と、Ｕ相ＰＵ（図２（Ｃ）参照）の上アームＰＵＵ（図２（Ｃ）参照）のコレクタ電位信号端子ＣＵＵ（図１２（Ｄ）参照）の上側鉛直部分ＣＵＵＶ（図１１（Ａ）参照）の上端部と、Ｕ相ＰＵ（図２（Ｃ）参照）の上アームＰＵＵ（図２（Ｃ）参照）のエミッタ電位信号端子ＥＵＵ（図１２（Ｆ）参照）の上側鉛直部分ＥＵＵＶ（図１１（Ａ）参照）と、Ｖ相ＰＶ（図２（Ｃ）参照）の下アームＰＶＬ（図２（Ｃ）参照）のゲート電極端子ＧＶＬ（図１３（Ｂ）参照）の上側鉛直部分ＧＶＬＶ（図１１（Ａ）参照）の上端部と、Ｖ相ＰＶ（図２（Ｃ）参照）の下アームＰＶＬ（図２（Ｃ）参照）のコレクタ電位信号端子ＣＶＬ（図１３（Ｃ）参照）の上側鉛直部分ＣＶＬＶ（図１１（Ａ）参照）の上端部と、Ｖ相ＰＶ（図２（Ｃ）参照）の下アームＰＶＬ（図２（Ｃ）参照）のエミッタ電位信号端子ＥＶＬ（図１３（Ａ）参照）の上側鉛直部分ＥＶＬＶ（図１１（Ａ）参照）とが、モジュール短手方向（図１１（Ａ）の上下方向）に延びている単一の鉛直面（例えば図１１（Ａ）中の鉛直面Ｓ５ｅ２）上に配置されている場合よりも、Ｕ相ＰＵ（図２（Ｃ）参照）の絶縁基板２Ｕ（図３（Ａ）参照）とＶ相ＰＶ（図２（Ｃ）参照）の絶縁基板２Ｖ（図３（Ａ）参照）との間隔を小さくすることができ、それにより、パワー半導体モジュール１００の全体のモジュール長手方向（図１（Ａ）および図３（Ａ）の左右方向）寸法を小型化することができる。

更に、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、外囲ケース５（図９（Ａ）、図１１、図１３および図１４参照）の仕切り壁５ｆ（図９（Ａ）、図１１（Ｂ）、図１３（Ｄ）、図１３（Ｅ）、図１３（Ｆ）、図１４（Ａ）、図１４（Ｂ）および図１４（Ｃ）参照）の後側（図９（Ａ）および図１１（Ａ）の上側）の部分５ｆ１（図１１（Ｂ）、図１３（Ｄ）、図１３（Ｅ）および図１３（Ｆ）参照）の下側部分５ｆ１ａ（図１１（Ｂ）、図１３（Ｄ）、図１３（Ｅ）および図１３（Ｆ）参照）と、外囲ケース５の仕切り壁５ｆの前側（図９（Ａ）および図１１（Ａ）の下側）の部分５ｆ２（図１１（Ｂ）、図１４（Ａ）、図１４（Ｂ）および図１４（Ｃ）参照）の下側部分５ｆ２ａ（図１１（Ｂ）、図１４（Ａ）、図１４（Ｂ）および図１４（Ｃ）参照）とが、モジュール短手方向（図９（Ａ）および図１１（Ａ）の上下方向）に延びている鉛直面Ｓ５ｆ１（図１１（Ｂ）、図１３（Ｄ）、図１３（Ｅ）、図１３（Ｆ）、図１４（Ａ）、図１４（Ｂ）および図１４（Ｃ）参照）上に位置するように、かつ、外囲ケース５の仕切り壁５ｆの後側の部分５ｆ１の上側部分５ｆ１ｂ（図１１（Ｂ）、図１３（Ｄ）、図１３（Ｅ）および図１３（Ｆ）参照）が、外囲ケース５の仕切り壁５ｆの後側の部分５ｆ１の下側部分５ｆ１ａ（図１１（Ｂ）、図１３（Ｄ）、図１３（Ｅ）および図１３（Ｆ）参照）よりも右側（図１１（Ｂ）、図１３（Ｄ）、図１３（Ｅ）および図１３（Ｆ）の右側）に位置するように、かつ、外囲ケース５の仕切り壁５ｆの前側の部分５ｆ２の上側部分５ｆ２ｂ（図１１（Ｂ）、図１４（Ａ）、図１４（Ｂ）および図１４（Ｃ）参照）が、外囲ケース５の仕切り壁５ｆの前側の部分５ｆ２の下側部分５ｆ２ａ（図１１（Ｂ）、図１４（Ａ）、図１４（Ｂ）および図１４（Ｃ）参照）よりも左側（図１１（Ｂ）、図１４（Ａ）、図１４（Ｂ）および図１４（Ｃ）の左側）に位置するように、外囲ケース５の仕切り壁５ｆが形成されている。

また、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、Ｖ相ＰＶ（図２（Ｃ）参照）の上アームＰＶＵ（図２（Ｃ）参照）のゲート電極端子ＧＶＵ（図１３（Ｅ）参照）の上側鉛直部分ＧＶＵＶ（図１３（Ｅ）参照）の上端部と、Ｖ相ＰＶ（図２（Ｃ）参照）の上アームＰＶＵ（図２（Ｃ）参照）のコレクタ電位信号端子ＣＶＵ（図１３（Ｄ）参照）の上側鉛直部分ＣＶＵＶ（図１３（Ｄ）参照）の上端部と、Ｖ相ＰＶ（図２（Ｃ）参照）の上アームＰＶＵ（図２（Ｃ）参照）のエミッタ電位信号端子ＥＶＵ（図１３（Ｆ）参照）の上側鉛直部分ＥＶＵＶ（図１３（Ｆ）参照）とが、外囲ケース５（図１１（Ｂ）、図１３（Ｄ）、図１３（Ｅ）および図１３（Ｆ）参照）の仕切り壁５ｆ（図１１（Ｂ）、図１３（Ｄ）、図１３（Ｅ）および図１３（Ｆ）参照）の後側（図１１（Ｂ）の上側）の部分５ｆ１（図１１（Ｂ）、図１３（Ｄ）、図１３（Ｅ）および図１３（Ｆ）参照）の上側部分５ｆ１ｂ（図１１（Ｂ）、図１３（Ｄ）、図１３（Ｅ）および図１３（Ｆ）参照）から上側（図１３（Ｄ）、図１３（Ｅ）および図１３（Ｆ）の上側）に突出せしめられると共に、鉛直面Ｓ５ｆ１（図１１（Ｂ）、図１３（Ｄ）、図１３（Ｅ）および図１３（Ｆ）参照）よりも右側（図１１（Ｂ）、図１３（Ｄ）、図１３（Ｅ）および図１３（Ｆ）の右側）に位置しかつ鉛直面Ｓ５ｆ１に平行な鉛直面Ｓ５ｆ２（図１１（Ｂ）、図１３（Ｄ）、図１３（Ｅ）および図１３（Ｆ）参照）上に配置されている。

更に、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、Ｖ相ＰＶ（図２（Ｃ）参照）の上アームＰＶＵ（図２（Ｃ）参照）のゲート電極端子ＧＶＵ（図１３（Ｅ）参照）の下端水平部分ＧＶＵＨ（図１１（Ｂ）および図１３（Ｅ）参照）と、Ｖ相ＰＶ（図２（Ｃ）参照）の上アームＰＶＵ（図２（Ｃ）参照）のコレクタ電位信号端子ＣＶＵ（図１３（Ｄ）参照）の下側水平部分ＣＶＵＨ（図１１（Ｂ）および図１３（Ｄ）参照）と、Ｖ相ＰＶ（図２（Ｃ）参照）の上アームＰＶＵ（図２（Ｃ）参照）のエミッタ電位信号端子ＥＶＵ（図１３（Ｆ）参照）の下側水平部分ＥＶＵＨ（図１１（Ｂ）および図１３（Ｆ）参照）とが、鉛直面Ｓ５ｆ１（図１１（Ｂ）、図１３（Ｄ）、図１３（Ｅ）および図１３（Ｆ）参照）上に配置されると共に、外囲ケース５（図１１（Ｂ）、図１３（Ｄ）、図１３（Ｅ）および図１３（Ｆ）参照）の仕切り壁５ｆ（図１１（Ｂ）、図１３（Ｄ）、図１３（Ｅ）および図１３（Ｆ）参照）の後側（図１１（Ｂ）の上側）の部分５ｆ１（図１１（Ｂ）、図１３（Ｄ）、図１３（Ｅ）および図１３（Ｆ）参照）の下側部分５ｆ１ａ（図１１（Ｂ）、図１３（Ｄ）、図１３（Ｅ）および図１３（Ｆ）参照）の上面に露出せしめられている。

また、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、Ｗ相ＰＷ（図２（Ｃ）参照）の下アームＰＷＬ（図２（Ｃ）参照）のゲート電極端子ＧＷＬ（図１４（Ｂ）参照）の上側鉛直部分ＧＷＬＶ（図１４（Ｂ）参照）の上端部と、Ｗ相ＰＷ（図２（Ｃ）参照）の下アームＰＷＬ（図２（Ｃ）参照）のコレクタ電位信号端子ＣＷＬ（図１４（Ｃ）参照）の上側鉛直部分ＣＷＬＶ（図１４（Ｃ）参照）の上端部と、Ｗ相ＰＷ（図２（Ｃ）参照）の下アームＰＷＬ（図２（Ｃ）参照）のエミッタ電位信号端子ＥＷＬ（図１４（Ａ）参照）の上側鉛直部分ＥＷＬＶ（図１４（Ａ）参照）とが、外囲ケース５（図１１（Ｂ）、図１４（Ａ）、図１４（Ｂ）および図１４（Ｃ）参照）の仕切り壁５ｆ（図１１（Ｂ）、図１４（Ａ）、図１４（Ｂ）および図１４（Ｃ）参照）の前側（図１１（Ｂ）の下側）の部分５ｆ２（図１１（Ｂ）、図１４（Ａ）、図１４（Ｂ）および図１４（Ｃ）参照）の上側部分５ｆ２ｂ（図１１（Ｂ）、図１４（Ａ）、図１４（Ｂ）および図１４（Ｃ）参照）から上側（図１４（Ａ）、図１４（Ｂ）および図１４（Ｃ）の上側）に突出せしめられると共に、鉛直面Ｓ５ｆ１（図１１（Ｂ）、図１４（Ａ）、図１４（Ｂ）および図１４（Ｃ）参照）よりも左側（図１１（Ｂ）、図１４（Ａ）、図１４（Ｂ）および図１４（Ｃ）の左側）に位置しかつ鉛直面Ｓ５ｆ１に平行な鉛直面Ｓ５ｆ３（図１１（Ｂ）、図１４（Ａ）、図１４（Ｂ）および図１４（Ｃ）参照）上に配置されている。

更に、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、Ｗ相ＰＷ（図２（Ｃ）参照）の下アームＰＷＬ（図２（Ｃ）参照）のゲート電極端子ＧＷＬ（図１４（Ｂ）参照）の下端水平部分ＧＷＬＨ（図１１（Ｂ）および図１４（Ｂ）参照）と、Ｗ相ＰＷ（図２（Ｃ）参照）の下アームＰＷＬ（図２（Ｃ）参照）のコレクタ電位信号端子ＣＷＬ（図１４（Ｃ）参照）の下側水平部分ＣＷＬＨ（図１１（Ｂ）および図１４（Ｃ）参照）と、Ｗ相ＰＷ（図２（Ｃ）参照）の下アームＰＷＬ（図２（Ｃ）参照）のエミッタ電位信号端子ＥＷＬ（図１４（Ａ）参照）の下側水平部分ＥＷＬＨ（図１１（Ｂ）および図１４（Ａ）参照）とが、鉛直面Ｓ５ｆ１（図１１（Ｂ）、図１４（Ａ）、図１４（Ｂ）および図１４（Ｃ）参照）上に配置されると共に、外囲ケース５（図１１（Ｂ）、図１４（Ａ）、図１４（Ｂ）および図１４（Ｃ）参照）の仕切り壁５ｆ（図１１（Ｂ）、図１４（Ａ）、図１４（Ｂ）および図１４（Ｃ）参照）の前側（図１１（Ｂ）の下側）の部分５ｆ２（図１１（Ｂ）、図１４（Ａ）、図１４（Ｂ）および図１４（Ｃ）参照）の下側部分５ｆ２ａ（図１１（Ｂ）、図１４（Ａ）、図１４（Ｂ）および図１４（Ｃ）参照）の上面に露出せしめられている。

そのため、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００によれば、Ｖ相ＰＶ（図２（Ｃ）参照）の上アームＰＶＵ（図２（Ｃ）参照）のゲート電極端子ＧＶＵ（図１３（Ｅ）参照）の上側鉛直部分ＧＶＵＶ（図１１（Ｂ）参照）の上端部と、Ｖ相ＰＶ（図２（Ｃ）参照）の上アームＰＶＵ（図２（Ｃ）参照）のコレクタ電位信号端子ＣＶＵ（図１３（Ｄ）参照）の上側鉛直部分ＣＶＵＶ（図１１（Ｂ）参照）の上端部と、Ｖ相ＰＶ（図２（Ｃ）参照）の上アームＰＶＵ（図２（Ｃ）参照）のエミッタ電位信号端子ＥＶＵ（図１３（Ｆ）参照）の上側鉛直部分ＥＶＵＶ（図１１（Ｂ）参照）と、Ｗ相ＰＷ（図２（Ｃ）参照）の下アームＰＷＬ（図２（Ｃ）参照）のゲート電極端子ＧＷＬ（図１４（Ｂ）参照）の上側鉛直部分ＧＷＬＶ（図１１（Ｂ）参照）の上端部と、Ｗ相ＰＷ（図２（Ｃ）参照）の下アームＰＷＬ（図２（Ｃ）参照）のコレクタ電位信号端子ＣＷＬ（図１４（Ｃ）参照）の上側鉛直部分ＣＷＬＶ（図１１（Ｂ）参照）の上端部と、Ｗ相ＰＷ（図２（Ｃ）参照）の下アームＰＷＬ（図２（Ｃ）参照）のエミッタ電位信号端子ＥＷＬ（図１４（Ａ）参照）の上側鉛直部分ＥＷＬＶ（図１１（Ｂ）参照）とが、モジュール短手方向（図１１（Ｂ）の上下方向）に延びている単一の鉛直面（例えば図１１（Ｂ）中の鉛直面Ｓ５ｆ２）上に配置されている場合よりも、Ｖ相ＰＶ（図２（Ｃ）参照）の絶縁基板２Ｖ（図３（Ａ）参照）とＷ相ＰＷ（図２（Ｃ）参照）の絶縁基板２Ｗ（図３（Ａ）参照）との間隔を小さくすることができ、それにより、パワー半導体モジュール１００の全体のモジュール長手方向（図１（Ａ）および図３（Ａ）の左右方向）寸法を小型化することができる。

また、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、図４（Ｂ）に示すように、Ｕ相用サーミスタＴＭＵのモジュール短手方向（図４（Ｂ）の上下方向）寸法ＷＴが間隔Ｗ１より小さい値に設定されている。更に、Ｕ相用サーミスタＴＭＵの少なくとも一部分が、ＩＧＢＴチップＱＵＵａの前端部（図４（Ｂ）の下側の端部）とＩＧＢＴチップＱＵＵｂの後端部（図４（Ｂ）の上側の端部）との間に配置されている。また、Ｕ相用サーミスタＴＭＵの左端部（図４（Ｂ）の左側の端部）が、ＩＧＢＴチップＱＵＵａ，ＱＵＵｂの右端部（図４（Ｂ）の右側の端部）よりも左側（図４（Ｂ）の左側）に配置されている。

そのため、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００によれば、Ｕ相用サーミスタＴＭＵ（図４（Ｂ）参照）の左端部が、ＩＧＢＴチップＱＵＵａ，ＱＵＵｂ（図４（Ｂ）参照）の右端部よりも左側（図４（Ｂ）の左側）に配置されない場合よりも、Ｕ相ＰＵ（図４（Ａ）参照）のモジュール長手方向（図４（Ａ）の左右方向）寸法を小型化することができ、それにより、パワー半導体モジュール１００の全体のモジュール長手方向（図１（Ａ）および図４（Ａ）の左右方向）寸法を小型化することができる。

更に、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、図４（Ａ）に示すように、Ｖ相用サーミスタＴＭＶと、Ｗ相用サーミスタＴＭＷとが設けられている。また、Ｖ相ＰＶ（図４（Ａ）参照）およびＷ相ＰＷ（図４（Ａ）参照）がＵ相ＰＵ（図４（Ａ）参照）と同一形状に形成されている。更に、Ｕ相用サーミスタＴＭＵ（図４参照）に電流を供給するためのＵ相用給電端子ＴＵ１，ＴＵ２（図９（Ａ）および図１１（Ａ）参照）が、外囲ケース５（図９（Ａ）および図１１（Ａ）参照）の仕切り壁５ｅ（図９（Ａ）および図１１（Ａ）参照）のうちの後側（図９（Ａ）および図１１（Ａ）の上側）の部分５ｅ１（図１１（Ａ）参照）と前側（図９（Ａ）および図１１（Ａ）の下側）の部分５ｅ２（図１１（Ａ）参照）との中間部分５ｅ３（図１１（Ａ）参照）にインサート成形されている。

また、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、図１２（Ｇ）および図１２（Ｈ）に示すように、Ｕ相用給電端子ＴＵ１，ＴＵ２の鉛直断面形状がＬ字状になるように、上側鉛直部分ＴＵ１Ｖ，ＴＵ２Ｖと下側水平部分ＴＵ１Ｈ，ＴＵ２ＨとがＵ相用給電端子ＴＵ１，ＴＵ２に形成されている。更に、図１１（Ａ）、図１２（Ｇ）および図１２（Ｈ）に示すように、外囲ケース５の仕切り壁５ｅの中間部分５ｅ３の下側部分５ｅ３ａが鉛直面Ｓ５ｅ１上に位置するように、かつ、外囲ケース５の仕切り壁５ｅの中間部分５ｅ３の上側部分５ｅ３ｂが、外囲ケース５の仕切り壁５ｅの中間部分５ｅ３の下側部分５ｅ３ａよりも右側（図１１（Ａ）、図１２（Ｇ）および図１２（Ｈ）の右側）に位置するように、外囲ケース５の仕切り壁５ｅが形成されている。

更に、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、図１２（Ｇ）および図１２（Ｈ）に示すように、Ｕ相用給電端子ＴＵ１，ＴＵ２の上側鉛直部分ＴＵ１Ｖ，ＴＵ２Ｖが、外囲ケース５の仕切り壁５ｅの中間部分５ｅ３の上側部分５ｅ３ｂから上側（図１２（Ｇ）および図１２（Ｈ）の上側）に突出せしめられると共に、鉛直面Ｓ５ｅ２上に配置されている。また、図１１（Ａ）、図１２（Ｇ）および図１２（Ｈ）に示すように、Ｕ相用給電端子ＴＵ１，ＴＵ２の下側水平部分ＴＵ１Ｈ，ＴＵ２Ｈが、鉛直面Ｓ５ｅ１上に配置されると共に、外囲ケース５の仕切り壁５ｅの中間部分５ｅ３の下側部分５ｅ３ａの上面に露出せしめられている。

そのため、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００によれば、Ｕ相ＰＵ（図２（Ｃ）参照）の上アームＰＵＵ（図２（Ｃ）参照）のゲート電極端子ＧＵＵ（図９（Ａ）参照）の上側鉛直部分ＧＵＵＶ（図１１（Ａ）参照）の上端部と、Ｕ相ＰＵ（図２（Ｃ）参照）の上アームＰＵＵ（図２（Ｃ）参照）のコレクタ電位信号端子ＣＵＵ（図９（Ａ）参照）の上側鉛直部分ＣＵＵＶ（図１１（Ａ）参照）の上端部と、Ｕ相ＰＵ（図２（Ｃ）参照）の上アームＰＵＵ（図２（Ｃ）参照）のエミッタ電位信号端子ＥＵＵ（図９（Ａ）参照）の上側鉛直部分ＥＵＵＶ（図１１（Ａ）参照）と、Ｕ相用給電端子ＴＵ１，ＴＵ２（図９（Ａ）参照）の上側鉛直部分ＴＵ１Ｖ，ＴＵ２Ｖ（図１１（Ａ）参照）と、Ｖ相ＰＶ（図２（Ｃ）参照）の下アームＰＶＬ（図２（Ｃ）参照）のゲート電極端子ＧＶＬ（図９（Ａ）参照）の上側鉛直部分ＧＶＬＶ（図１１（Ａ）参照）の上端部と、Ｖ相ＰＶ（図２（Ｃ）参照）の下アームＰＶＬ（図２（Ｃ）参照）のコレクタ電位信号端子ＣＶＬ（図９（Ａ）参照）の上側鉛直部分ＣＶＬＶ（図１１（Ａ）参照）の上端部と、Ｖ相ＰＶ（図２（Ｃ）参照）の下アームＰＶＬ（図２（Ｃ）参照）のエミッタ電位信号端子ＥＶＬ（図９（Ａ）参照）の上側鉛直部分ＥＶＬＶ（図１１（Ａ）参照）とが、モジュール短手方向（図１１（Ａ）の上下方向）に延びている単一の鉛直面（例えば鉛直面Ｓ５ｅ２）上に配置されている場合よりも、Ｕ相ＰＵ（図４（Ａ）参照）とＶ相ＰＶ（図４（Ａ）参照）との間隔を小さくすることができ、それにより、パワー半導体モジュール１００の全体のモジュール長手方向（図１（Ａ）および図４（Ａ）の左右方向）寸法を小型化することができる。

また、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、Ｖ相用サーミスタＴＭＶ（図４（Ａ）参照）に電流を供給するためのＶ相用給電端子ＴＶ１，ＴＶ２（図９（Ａ）参照）が、外囲ケース５（図９（Ａ）および図１１（Ｂ）参照）の仕切り壁５ｆ（図９（Ａ）および図１１（Ｂ）参照）のうちの後側（図９（Ａ）および図１１（Ｂ）の上側）の部分５ｆ１（図１１（Ｂ）参照）と前側（図９（Ａ）および図１１（Ｂ）の下側）の部分５ｆ２（図１１（Ｂ）参照）との中間部分５ｆ３（図１１（Ｂ）参照）にインサート成形されている。

更に、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、図１３（Ｇ）および図１３（Ｈ）に示すように、Ｖ相用給電端子ＴＶ１，ＴＶ２の鉛直断面形状がＬ字状になるように、上側鉛直部分ＴＶ１Ｖ，ＴＶ２Ｖと下側水平部分ＴＶ１Ｈ，ＴＶ２ＨとがＶ相用給電端子ＴＶ１，ＴＶ２に形成されている。また、図１１（Ｂ）、図１３（Ｇ）および図１３（Ｈ）に示すように、外囲ケース５の仕切り壁５ｆの中間部分５ｆ３の下側部分５ｆ３ａが鉛直面Ｓ５ｆ１上に位置するように、かつ、外囲ケース５の仕切り壁５ｆの中間部分５ｆ３の上側部分５ｆ３ｂが、外囲ケース５の仕切り壁５ｆの中間部分５ｆ３の下側部分５ｆ３ａよりも右側（図１１（Ｂ）、図１３（Ｇ）および図１３（Ｈ）の右側）に位置するように、外囲ケース５の仕切り壁５ｆが形成されている。

また、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、図１３（Ｇ）および図１３（Ｈ）に示すように、Ｖ相用給電端子ＴＶ１，ＴＶ２の上側鉛直部分ＴＶ１Ｖ，ＴＶ２Ｖが、外囲ケース５の仕切り壁５ｆの中間部分５ｆ３の上側部分５ｆ３ｂから上側（図１３（Ｇ）および図１３（Ｈ）の上側）に突出せしめられると共に、鉛直面Ｓ５ｆ２上に配置されている。更に、図１１（Ｂ）、図１３（Ｇ）および図１３（Ｈ）に示すように、Ｖ相用給電端子ＴＶ１，ＴＶ２の下側水平部分ＴＶ１Ｈ，ＴＶ２Ｈが、鉛直面Ｓ５ｆ１上に配置されると共に、外囲ケース５の仕切り壁５ｆの中間部分５ｆ３の下側部分５ｆ３ａの上面に露出せしめられている。

そのため、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００によれば、Ｖ相ＰＶ（図２（Ｃ）参照）の上アームＰＶＵ（図２（Ｃ）参照）のゲート電極端子ＧＶＵ（図９（Ａ）参照）の上側鉛直部分ＧＶＵＶ（図１１（Ｂ）参照）の上端部と、Ｖ相ＰＶ（図２（Ｃ）参照）の上アームＰＶＵ（図２（Ｃ）参照）のコレクタ電位信号端子ＣＶＵ（図９（Ａ）参照）の上側鉛直部分ＣＶＵＶ（図１１（Ｂ）参照）の上端部と、Ｖ相ＰＶ（図２（Ｃ）参照）の上アームＰＶＵ（図２（Ｃ）参照）のエミッタ電位信号端子ＥＶＵ（図９（Ａ）参照）の上側鉛直部分ＥＶＵＶ（図１１（Ｂ）参照）と、Ｖ相用給電端子ＴＶ１，ＴＶ２（図９（Ａ）参照）の上側鉛直部分ＴＶ１Ｖ，ＴＶ２Ｖ（図１１（Ｂ）参照）と、Ｗ相ＰＷ（図２（Ｃ）参照）の下アームＰＷＬ（図２（Ｃ）参照）のゲート電極端子ＧＷＬ（図９（Ａ）参照）の上側鉛直部分ＧＷＬＶ（図１１（Ｂ）参照）の上端部と、Ｗ相ＰＷ（図２（Ｃ）参照）の下アームＰＷＬ（図２（Ｃ）参照）のコレクタ電位信号端子ＣＷＬ（図９（Ａ）参照）の上側鉛直部分ＣＷＬＶ（図１１（Ｂ）参照）の上端部と、Ｗ相ＰＷ（図２（Ｃ）参照）の下アームＰＷＬ（図２（Ｃ）参照）のエミッタ電位信号端子ＥＷＬ（図９（Ａ）参照）の上側鉛直部分ＥＷＬＶ（図１１（Ｂ）参照）とが、モジュール短手方向（図１１（Ｂ）の上下方向）に延びている単一の鉛直面（例えば鉛直面Ｓ５ｆ２）上に配置されている場合よりも、Ｖ相ＰＶ（図４（Ａ）参照）とＷ相ＰＷ（図４（Ａ）参照）との間隔を小さくすることができ、それにより、パワー半導体モジュール１００の全体のモジュール長手方向（図１（Ａ）および図４（Ａ）の左右方向）寸法を小型化することができる。

更に、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、図４（Ｂ）に示すように、Ｕ相用サーミスタＴＭＵの中心位置ＣＴＭＵが、ＩＧＢＴチップＱＵＵａとＩＧＢＴチップＱＵＵｂとの線対称中心線ＣＬ１よりも前側（図４（Ｂ）の下側、ＩＧＢＴチップＱＵＵｂの側）に配置されている。詳細には、Ｕ相用サーミスタＴＭＵがＩＧＢＴチップＱＵＵｂの直近に配置されている。

そのため、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００によれば、Ｕ相用サーミスタＴＭＵ（図４（Ｂ）参照）の中心位置ＣＴＭＵ（図４（Ｂ）参照）がＩＧＢＴチップＱＵＵａ（図４（Ｂ）参照）とＩＧＢＴチップＱＵＵｂ（図４（Ｂ）参照）との線対称中心線ＣＬ１（図４（Ｂ）参照）上に配置されている場合よりも、ＩＧＢＴチップＱＵＵｂ（図４（Ｂ）参照）の温度を正確に測定することができる。つまり、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、ＩＧＢＴチップＱＵＵａ，ＱＵＵｂ，ＱＵＵｃ，ＱＵＵｄ，ＱＵＬａ，ＱＵＬｂ，ＱＵＬｃ，ＱＵＬｄ（図４（Ｂ）参照）の平均的な温度がＵ相用サーミスタＴＭＵ（図４（Ｂ）参照）によって測定されるのではなく、最も昇温しやすい位置のＩＧＢＴチップＱＵＵａ，ＱＵＵｂ（図４（Ｂ）参照）のうちの一方（第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、ＩＧＢＴチップＱＵＵｂ）の温度がＵ相用サーミスタＴＭＵ（図４（Ｂ）参照）によって正確に測定され、他のＩＧＢＴチップＱＵＵａ，ＱＵＵｃ，ＱＵＵｄ，ＱＵＬａ，ＱＵＬｂ，ＱＵＬｃ，ＱＵＬｄ（図４（Ｂ）参照）の温度が、ＩＧＢＴチップＱＵＵｂ（図４（Ｂ）参照）の温度と等しいか、あるいは、それ以下であると推定される。

第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、Ｕ相ＰＵ（図２（Ｃ）参照）に１個のサーミスタＴＭＵ（図４参照）が設けられているが、第２の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、代わりに、Ｕ相ＰＵ（図２（Ｃ）参照）の上アームＰＵＵ（図２（Ｃ）参照）用のサーミスタＴＭＵ（図４（Ｂ）参照）と、Ｕ相ＰＵ（図２（Ｃ）参照）の下アームＰＵＬ（図２（Ｃ）参照）用のサーミスタ（図示せず）とを別個に設けることも可能である。第２の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、例えば導体パターン２Ｕｂ（図３（Ｂ)参照）の部分２Ｕｂ１（図３（Ｂ)参照）と導体パターン２Ｕｃ（図３（Ｂ)参照）の部分２Ｕｃ１（図３（Ｂ)参照）との間の位置であって、例えばＩＧＢＴチップＱＵＬｂ（図４（Ｂ）参照）に隣接する位置に、Ｕ相ＰＵ（図２（Ｃ）参照）の下アームＰＵＬ（図２（Ｃ）参照）用のサーミスタ（図示せず）が配置される。

また、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、ダイオードチップＦＷＤＵＵａ（図４参照）が発生した熱の一部が、リボンワイヤ３ＵＵ１ａ（図５参照）に伝熱され、次いで、リボンワイヤ３ＵＵ１ａ（図５参照）とリボンワイヤ３ＵＵ２ａ（図７参照）との間に位置するゲル状樹脂に伝熱され、次いで、リボンワイヤ３ＵＵ２ａ（図７参照）に伝熱され、次いで、リボンワイヤ３ＵＵ２ａ（図７参照）と正極端子Ｐ１（図１５（Ａ）参照）との間に位置するゲル状樹脂に伝熱され、次いで、正極端子Ｐ１（図１５（Ａ）参照）に伝熱されてパワー半導体モジュール１００の外部に放熱される。

更に、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、ＩＧＢＴチップＱＵＵａ（図４参照）が発生した熱の一部が、リボンワイヤ３ＵＵ２ａ（図７参照）に伝熱され、次いで、リボンワイヤ３ＵＵ２ａ（図７参照）と正極端子Ｐ１（図１５（Ａ）参照）との間に位置するゲル状樹脂に伝熱され、次いで、正極端子Ｐ１（図１５（Ａ）参照）に伝熱されてパワー半導体モジュール１００の外部に放熱される。

また、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、ダイオードチップＦＷＤＵＵｃ（図４参照）が発生した熱の一部が、リボンワイヤ３ＵＵ１ｃ（図５参照）に伝熱され、次いで、リボンワイヤ３ＵＵ１ｃ（図５参照）とリボンワイヤ３ＵＵ２ｃ（図７参照）との間に位置するゲル状樹脂に伝熱され、次いで、リボンワイヤ３ＵＵ２ｃ（図７参照）に伝熱され、次いで、リボンワイヤ３ＵＵ２ｃ（図７参照）と正極端子Ｐ１（図１５（Ａ）参照）との間に位置するゲル状樹脂に伝熱され、次いで、正極端子Ｐ１（図１５（Ａ）参照）に伝熱されてパワー半導体モジュール１００の外部に放熱される。

更に、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、ＩＧＢＴチップＱＵＵｃ（図４参照）が発生した熱の一部が、リボンワイヤ３ＵＵ２ｃ（図７参照）に伝熱され、次いで、リボンワイヤ３ＵＵ２ｃ（図７参照）と正極端子Ｐ１（図１５（Ａ）参照）との間に位置するゲル状樹脂に伝熱され、次いで、正極端子Ｐ１（図１５（Ａ）参照）に伝熱されてパワー半導体モジュール１００の外部に放熱される。

また、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、ダイオードチップＦＷＤＵＵｂ（図４参照）が発生した熱の一部が、リボンワイヤ３ＵＵ１ｂ（図５参照）に伝熱され、次いで、リボンワイヤ３ＵＵ１ｂ（図５参照）とリボンワイヤ３ＵＵ２ｂ（図７参照）との間に位置するゲル状樹脂に伝熱され、次いで、リボンワイヤ３ＵＵ２ｂ（図７参照）に伝熱され、次いで、リボンワイヤ３ＵＵ２ｂ（図７参照）と交流端子Ｕ（図１５（Ａ）参照）との間に位置するゲル状樹脂に伝熱され、次いで、交流端子Ｕ（図１５（Ａ）参照）に伝熱されてパワー半導体モジュール１００の外部に放熱される。

更に、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、ＩＧＢＴチップＱＵＵｂ（図４参照）が発生した熱の一部が、リボンワイヤ３ＵＵ２ｂ（図７参照）に伝熱され、次いで、リボンワイヤ３ＵＵ２ｂ（図７参照）と交流端子Ｕ（図１５（Ａ）参照）との間に位置するゲル状樹脂に伝熱され、次いで、交流端子Ｕ（図１５（Ａ）参照）に伝熱されてパワー半導体モジュール１００の外部に放熱される。

また、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、ダイオードチップＦＷＤＵＵｄ（図４参照）が発生した熱の一部が、リボンワイヤ３ＵＵ１ｄ（図５参照）に伝熱され、次いで、リボンワイヤ３ＵＵ１ｄ（図５参照）とリボンワイヤ３ＵＵ２ｄ（図７参照）との間に位置するゲル状樹脂に伝熱され、次いで、リボンワイヤ３ＵＵ２ｄ（図７参照）に伝熱され、次いで、リボンワイヤ３ＵＵ２ｄ（図７参照）と交流端子Ｕ（図１５（Ａ）参照）との間に位置するゲル状樹脂に伝熱され、次いで、交流端子Ｕ（図１５（Ａ）参照）に伝熱されてパワー半導体モジュール１００の外部に放熱される。

更に、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、ＩＧＢＴチップＱＵＵｄ（図４参照）が発生した熱の一部が、リボンワイヤ３ＵＵ２ｄ（図７参照）に伝熱され、次いで、リボンワイヤ３ＵＵ２ｄ（図７参照）と交流端子Ｕ（図１５（Ａ）参照）との間に位置するゲル状樹脂に伝熱され、次いで、交流端子Ｕ（図１５（Ａ）参照）に伝熱されてパワー半導体モジュール１００の外部に放熱される。

また、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、ダイオードチップＦＷＤＵＬａ（図４参照）が発生した熱の一部が、リボンワイヤ３ＵＬ１ａ（図５参照）に伝熱され、次いで、リボンワイヤ３ＵＬ１ａ（図５参照）とリボンワイヤ３ＵＬ２ａ（図７参照）との間に位置するゲル状樹脂に伝熱され、次いで、リボンワイヤ３ＵＬ２ａ（図７参照）に伝熱され、次いで、リボンワイヤ３ＵＬ２ａ（図７参照）と正極端子Ｐ１（図１５（Ａ）参照）との間に位置するゲル状樹脂に伝熱され、次いで、正極端子Ｐ１（図１５（Ａ）参照）に伝熱されてパワー半導体モジュール１００の外部に放熱される。

更に、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、ＩＧＢＴチップＱＵＬａ（図４参照）が発生した熱の一部が、リボンワイヤ３ＵＬ２ａ（図７参照）に伝熱され、次いで、リボンワイヤ３ＵＬ２ａ（図７参照）と正極端子Ｐ１（図１５（Ａ）参照）との間に位置するゲル状樹脂に伝熱され、次いで、正極端子Ｐ１（図１５（Ａ）参照）に伝熱されてパワー半導体モジュール１００の外部に放熱される。

また、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、ダイオードチップＦＷＤＵＬｃ（図４参照）が発生した熱の一部が、リボンワイヤ３ＵＬ１ｃ（図５参照）に伝熱され、次いで、リボンワイヤ３ＵＬ１ｃ（図５参照）とリボンワイヤ３ＵＬ２ｃ（図７参照）との間に位置するゲル状樹脂に伝熱され、次いで、リボンワイヤ３ＵＬ２ｃ（図７参照）に伝熱され、次いで、リボンワイヤ３ＵＬ２ｃ（図７参照）と正極端子Ｐ１（図１５（Ａ）参照）との間に位置するゲル状樹脂に伝熱され、次いで、正極端子Ｐ１（図１５（Ａ）参照）に伝熱されてパワー半導体モジュール１００の外部に放熱される。

更に、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、ＩＧＢＴチップＱＵＬｃ（図４参照）が発生した熱の一部が、リボンワイヤ３ＵＬ２ｃ（図７参照）に伝熱され、次いで、リボンワイヤ３ＵＬ２ｃ（図７参照）と正極端子Ｐ１（図１５（Ａ）参照）との間に位置するゲル状樹脂に伝熱され、次いで、正極端子Ｐ１（図１５（Ａ）参照）に伝熱されてパワー半導体モジュール１００の外部に放熱される。

また、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、ダイオードチップＦＷＤＵＬｂ（図４参照）が発生した熱の一部が、リボンワイヤ３ＵＬ１ｂ（図５参照）に伝熱され、次いで、リボンワイヤ３ＵＬ１ｂ（図５参照）とリボンワイヤ３ＵＬ２ｂ（図７参照）との間に位置するゲル状樹脂に伝熱され、次いで、リボンワイヤ３ＵＬ２ｂ（図７参照）に伝熱され、次いで、リボンワイヤ３ＵＬ２ｂ（図７参照）と交流端子Ｕ（図１５（Ａ）参照）との間に位置するゲル状樹脂に伝熱され、次いで、交流端子Ｕ（図１５（Ａ）参照）に伝熱されてパワー半導体モジュール１００の外部に放熱される。

更に、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、ＩＧＢＴチップＱＵＬｂ（図４参照）が発生した熱の一部が、リボンワイヤ３ＵＬ２ｂ（図７参照）に伝熱され、次いで、リボンワイヤ３ＵＬ２ｂ（図７参照）と交流端子Ｕ（図１５（Ａ）参照）との間に位置するゲル状樹脂に伝熱され、次いで、交流端子Ｕ（図１５（Ａ）参照）に伝熱されてパワー半導体モジュール１００の外部に放熱される。

また、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、ダイオードチップＦＷＤＵＬｄ（図４参照）が発生した熱の一部が、リボンワイヤ３ＵＬ１ｄ（図５参照）に伝熱され、次いで、リボンワイヤ３ＵＬ１ｄ（図５参照）とリボンワイヤ３ＵＬ２ｄ（図７参照）との間に位置するゲル状樹脂に伝熱され、次いで、リボンワイヤ３ＵＬ２ｄ（図７参照）に伝熱され、次いで、リボンワイヤ３ＵＬ２ｄ（図７参照）と交流端子Ｕ（図１５（Ａ）参照）との間に位置するゲル状樹脂に伝熱され、次いで、交流端子Ｕ（図１５（Ａ）参照）に伝熱されてパワー半導体モジュール１００の外部に放熱される。

更に、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、ＩＧＢＴチップＱＵＬｄ（図４参照）が発生した熱の一部が、リボンワイヤ３ＵＬ２ｄ（図７参照）に伝熱され、次いで、リボンワイヤ３ＵＬ２ｄ（図７参照）と交流端子Ｕ（図１５（Ａ）参照）との間に位置するゲル状樹脂に伝熱され、次いで、交流端子Ｕ（図１５（Ａ）参照）に伝熱されてパワー半導体モジュール１００の外部に放熱される。

同様に、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、上述したＵ相ＰＵ（図２（Ｃ）参照）における伝熱および放熱と同様の伝熱および放熱が、Ｖ相ＰＶ（図２（Ｃ）参照）およびＷ相ＰＷ（図２（Ｃ）参照）においても行われる。

図１７は第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００の放熱部材１、正極端子Ｐ１、負極端子Ｎ１および交流端子Ｕの概略的な鉛直断面図である。詳細には、図１７（Ａ）は第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００の放熱部材１および正極端子Ｐ１の概略的な鉛直断面図、図１７（Ｂ）は第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００の放熱部材１および負極端子Ｎ１の概略的な鉛直断面図、図１７（Ｃ）は第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００の放熱部材１および交流端子Ｕの概略的な鉛直断面図である。図１８は第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００の正極端子Ｐ１の拡大部品図である。詳細には、図１８（Ａ）は正極端子Ｐ１の一部を構成する折り曲げ部Ｐ１ａの鉛直断面図、図１８（Ｂ）は正極端子Ｐ１の一部を構成する袋ナットＰ１ｂの鉛直断面図である。図１９は第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００の負極端子Ｎ１の拡大部品図である。詳細には、図１９（Ａ）は負極端子Ｎ１の一部を構成する折り曲げ部Ｎ１ａの鉛直断面図、図１９（Ｂ）は負極端子Ｎ１の一部を構成する袋ナットＮ１ｂの鉛直断面図である。図２０は第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００の交流端子Ｕの拡大部品図である。詳細には、図２０（Ａ）は交流端子Ｕの一部を構成する折り曲げ部Ｕａの鉛直断面図、図２０（Ｂ）は交流端子Ｕの一部を構成する袋ナットＵｂの鉛直断面図である。

第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、ねじ穴Ｐ１ａ１ｃ（図１８（Ａ）参照）が形成された上側水平部分Ｐ１ａ１（図１８（Ａ）参照）と、その上側水平部分Ｐ１ａ１に隣接する鉛直部分Ｐ１ａ２（図１８（Ａ）参照）と、その鉛直部分Ｐ１ａ２に隣接する中間水平部分Ｐ１ａ４（図１８（Ａ）参照）と、その中間水平部分Ｐ１ａ４に隣接する鉛直部分Ｐ１ａ２’（図１８（Ａ）参照）と、その鉛直部分Ｐ１ａ２’に隣接する下側水平部分Ｐ１ａ３（図１８（Ａ）参照）とを有するように折り曲げられた折り曲げ部Ｐ１ａ（図１８（Ａ）参照）と、下側（図１８（Ｂ）の下側）が閉じているねじ穴Ｐ１ｂ１ｃ（図１８（Ｂ）参照）を有する袋ナットＰ１ｂ（図１８（Ｂ）参照）とが正極端子Ｐ１（図９（Ａ）、図１０および図１７（Ａ）参照）に設けられている。更に、ナットとしての機能を有するナット部Ｐ１ｂ１（図１８（Ｂ）参照）と、折り曲げ部Ｐ１ａ（図１８（Ａ）参照）の上側水平部分Ｐ１ａ１（図１８（Ａ）参照）に接合するためにナット部Ｐ１ｂ１（図１８（Ｂ）参照）の上面Ｐ１ｂ１ａ（図１８（Ｂ）参照）から上側（図１８（Ｂ）の上側）に延びている概略円筒状の接合部Ｐ１ｂ２（図１８（Ｂ）参照）とが、正極端子Ｐ１（図９（Ａ）、図１０および図１７（Ａ）参照）の袋ナットＰ１ｂ（図１８（Ｂ）参照）に形成されている。

また、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、ねじ穴Ｎ１ａ１ｃ（図１９（Ａ）参照）が形成された上側水平部分Ｎ１ａ１（図１９（Ａ）参照）と、その上側水平部分Ｎ１ａ１に隣接する鉛直部分Ｎ１ａ２（図１９（Ａ）参照）と、その鉛直部分Ｎ１ａ２に隣接する中間水平部分Ｎ１ａ４（図１９（Ａ）参照）と、その中間水平部分Ｎ１ａ４に隣接する鉛直部分Ｎ１ａ２’（図１９（Ａ）参照）と、その鉛直部分Ｎ１ａ２’に隣接する下側水平部分Ｎ１ａ３（図１９（Ａ）参照）とを有するように折り曲げられた折り曲げ部Ｎ１ａ（図１９（Ａ）参照）と、下側（図１９（Ｂ）の下側）が閉じているねじ穴Ｎ１ｂ１ｃ（図１９（Ｂ）参照）を有する袋ナットＮ１ｂ（図１９（Ｂ）参照）とが負極端子Ｎ１（図９（Ａ）、図１０（Ａ）および図１７（Ｂ）参照）に設けられている。更に、ナットとしての機能を有するナット部Ｎ１ｂ１（図１９（Ｂ）参照）と、折り曲げ部Ｎ１ａ（図１９（Ａ）参照）の上側水平部分Ｎ１ａ１（図１９（Ａ）参照）に接合するためにナット部Ｎ１ｂ１（図１９（Ｂ）参照）の上面Ｎ１ｂ１ａ（図１９（Ｂ）参照）から上側（図１９（Ｂ）の上側）に延びている概略円筒状の接合部Ｎ１ｂ２（図１９（Ｂ）参照）とが、負極端子Ｎ１（図９（Ａ）、図１０（Ａ）および図１７（Ｂ）参照）の袋ナットＮ１ｂ（図１９（Ｂ）参照）に形成されている。

更に、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、ねじ穴Ｕａ１ｃ（図２０（Ａ）参照）が形成された上側水平部分Ｕａ１（図２０（Ａ）参照）と、その上側水平部分Ｕａ１に隣接する鉛直部分Ｕａ２（図２０（Ａ）参照）と、その鉛直部分Ｕａ２に隣接する中間水平部分Ｕａ４（図２０（Ａ）参照）と、その中間水平部分Ｕａ４に隣接する鉛直部分Ｕａ２’（図２０（Ａ）参照）と、その鉛直部分Ｕａ２’に隣接する下側水平部分Ｕａ３（図２０（Ａ）参照）とを有するように折り曲げられた折り曲げ部Ｕａ（図２０（Ａ）参照）と、下側（図２０（Ｂ）の下側）が閉じているねじ穴Ｕｂ１ｃ（図２０（Ｂ）参照）を有する袋ナットＵｂ（図２０（Ｂ）参照）とが交流端子Ｕ（図９（Ａ）、図１０および図１７（Ｃ）参照）に設けられている。更に、ナットとしての機能を有するナット部Ｕｂ１（図２０（Ｂ）参照）と、折り曲げ部Ｕａ（図２０（Ａ）参照）の上側水平部分Ｕａ１（図２０（Ａ）参照）に接合するためにナット部Ｕｂ１（図２０（Ｂ）参照）の上面Ｕｂ１ａ（図２０（Ｂ）参照）から上側（図２０（Ｂ）の上側）に延びている概略円筒状の接合部Ｕｂ２（図２０（Ｂ）参照）とが、交流端子Ｕ（図９（Ａ）、図１０および図１７（Ｃ）参照）の袋ナットＵｂ（図２０（Ｂ）参照）に形成されている。

また、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、正極端子Ｐ１（図９（Ａ）、図１０および図１７（Ａ）参照）の折り曲げ部Ｐ１ａ（図１８（Ａ）参照）の上側水平部分Ｐ１ａ１（図１８（Ａ）参照）のねじ穴Ｐ１ａ１ｃ（図１８（Ａ）参照）に対して正極端子Ｐ１の袋ナットＰ１ｂ（図１８（Ｂ）参照）の概略円筒状の接合部Ｐ１ｂ２（図１８（Ｂ）参照）を圧入することによって正極端子Ｐ１の折り曲げ部Ｐ１ａと袋ナットＰ１ｂとを一体化させ、かつ、負極端子Ｎ１（図９（Ａ）、図１０（Ａ）および図１７（Ｂ）参照）の折り曲げ部Ｎ１ａ（図１９（Ａ）参照）の上側水平部分Ｎ１ａ１（図１９（Ａ）参照）のねじ穴Ｎ１ａ１ｃ（図１９（Ａ）参照）に対して負極端子Ｎ１の袋ナットＮ１ｂ（図１９（Ｂ）参照）の概略円筒状の接合部Ｎ１ｂ２（図１９（Ｂ）参照）を圧入することによって負極端子Ｎ１の折り曲げ部Ｎ１ａと袋ナットＮ１ｂとを一体化させ、かつ、交流端子Ｕ（図９（Ａ）、図１０および図１７（Ｃ）参照）の折り曲げ部Ｕａ（図２０（Ａ）参照）の上側水平部分Ｕａ１（図２０（Ａ）参照）のねじ穴Ｕａ１ｃ（図２０（Ａ）参照）に対して負極端子Ｕの袋ナットＵｂ（図２０（Ｂ）参照）の概略円筒状の接合部Ｕｂ２（図２０（Ｂ）参照）を圧入することによって交流端子Ｕの折り曲げ部Ｕａと袋ナットＵｂとを一体化させた状態で、外囲ケース５（図９、図１０および図１７参照）のインサート成形が行われている。

つまり、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、正極端子Ｐ１（図９（Ａ）、図１０および図１７（Ａ）参照）の折り曲げ部Ｐ１ａ（図１８（Ａ）参照）と袋ナットＰ１ｂ（図１８（Ｂ）参照）とがインサート成形され、かつ、負極端子Ｎ１（図９（Ａ）、図１０（Ａ）および図１７（Ｂ）参照）の折り曲げ部Ｎ１ａ（図１９（Ａ）参照）と袋ナットＮ１ｂ（図１９（Ｂ）参照）とがインサート成形されると共に、交流端子Ｕ（図９（Ａ）、図１０および図１７（Ｃ）参照）の折り曲げ部Ｕａ（図２０（Ａ）参照）と袋ナットＵｂ（図２０（Ｂ）参照）とがインサート成形される時に、正極端子Ｐ１の折り曲げ部Ｐ１ａ、負極端子Ｎ１の折り曲げ部Ｎ１ａおよび交流端子Ｕの折り曲げ部Ｕａが成形用金型に対して固定されると、それに伴って、正極端子Ｐ１の袋ナットＰ１ｂ、負極端子Ｎ１の袋ナットＮ１ｂおよび交流端子Ｕの袋ナットＵｂも成形用金型に対して固定される。

また、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、図１７に示すように、正極端子Ｐ１の袋ナットＰ１ｂ（図１８（Ｂ）参照）の下面Ｐ１ｂ１ｂ（図１８（Ｂ）参照）と放熱部材１の上面との間、負極端子Ｎ１の袋ナットＮ１ｂ（図１９（Ｂ）参照）の下面Ｎ１ｂ１ｂ（図１９（Ｂ）参照）と放熱部材１の上面との間、および、交流端子Ｕの袋ナットＵｂ（図２０（Ｂ）参照）の下面Ｕｂ１ｂ（図２０（Ｂ）参照）と放熱部材１の上面との間に、外囲ケース５の樹脂が配置されている。

更に、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、図１８に示すように、正極端子Ｐ１の折り曲げ部Ｐ１ａの上側水平部分Ｐ１ａ１の厚さＴＰ１ａ１が、正極端子Ｐ１の袋ナットＰ１ｂの概略円筒状の接合部Ｐ１ｂ２の長さＬＰ１ｂ２よりも大きく設定されている。更に、図１７（Ａ）および図１８に示すように、正極端子Ｐ１の折り曲げ部Ｐ１ａの上側水平部分Ｐ１ａ１のねじ穴Ｐ１ａ１ｃの内周面Ｐ１ａ１ｃ１の上側部分Ｐ１ａ１ｃ１ａと正極端子Ｐ１の袋ナットＰ１ｂの接合部Ｐ１ｂ２の外周面Ｐ１ｂ２ｃとを嵌合させることなく、正極端子Ｐ１の折り曲げ部Ｐ１ａの上側水平部分Ｐ１ａ１のねじ穴Ｐ１ａ１ｃの内周面Ｐ１ａ１ｃ１の下側部分Ｐ１ａ１ｃ１ｂと正極端子Ｐ１の袋ナットＰ１ｂの接合部Ｐ１ｂ２の外周面Ｐ１ｂ２ｃとを嵌合させることによって、正極端子Ｐ１の折り曲げ部Ｐ１ａと袋ナットＰ１ｂとが一体化せしめられている。

また、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、図１９に示すように、負極端子Ｎ１の折り曲げ部Ｎ１ａの上側水平部分Ｎ１ａ１の厚さＴＮ１ａ１が、負極端子Ｎ１の袋ナットＮ１ｂの概略円筒状の接合部Ｎ１ｂ２の長さＬＮ１ｂ２よりも大きく設定されている。更に、図１７（Ｂ）および図１９に示すように、負極端子Ｎ１の折り曲げ部Ｎ１ａの上側水平部分Ｎ１ａ１のねじ穴Ｎ１ａ１ｃの内周面Ｎ１ａ１ｃ１の上側部分Ｎ１ａ１ｃ１ａと負極端子Ｎ１の袋ナットＮ１ｂの接合部Ｎ１ｂ２の外周面Ｎ１ｂ２ｃとを嵌合させることなく、負極端子Ｎ１の折り曲げ部Ｎ１ａの上側水平部分Ｎ１ａ１のねじ穴Ｎ１ａ１ｃの内周面Ｎ１ａ１ｃ１の下側部分Ｎ１ａ１ｃ１ｂと負極端子Ｎ１の袋ナットＮ１ｂの接合部Ｎ１ｂ２の外周面Ｎ１ｂ２ｃとを嵌合させることによって、負極端子Ｎ１の折り曲げ部Ｎ１ａと袋ナットＮ１ｂとが一体化せしめられている。

同様に、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、図２０に示すように、交流端子Ｕの折り曲げ部Ｕａの上側水平部分Ｕａ１の厚さＴＵａ１が、交流端子Ｕの袋ナットＵｂの概略円筒状の接合部Ｕｂ２の長さＬＵｂ２よりも大きく設定されている。更に、図１７（Ｃ）および図２０に示すように、交流端子Ｕの折り曲げ部Ｕａの上側水平部分Ｕａ１のねじ穴Ｕａ１ｃの内周面Ｕａ１ｃ１の上側部分Ｕａ１ｃ１ａと交流端子Ｕの袋ナットＵｂの接合部Ｕｂ２の外周面Ｕｂ２ｃとを嵌合させることなく、交流端子Ｕの折り曲げ部Ｕａの上側水平部分Ｕａ１のねじ穴Ｕａ１ｃの内周面Ｕａ１ｃ１の下側部分Ｕａ１ｃ１ｂと交流端子Ｕの袋ナットＵｂの接合部Ｕｂ２の外周面Ｕｂ２ｃとを嵌合させることによって、交流端子Ｕの折り曲げ部Ｕａと袋ナットＵｂとが一体化せしめられている。

更に、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、図１８（Ｂ）に示すように、正極端子Ｐ１の袋ナットＰ１ｂの概略円筒状の接合部Ｐ１ｂ２の内周面Ｐ１ｂ２ｂにテーパ状部Ｐ１ｂ２ｂ１と円筒状部Ｐ１ｂ２ｂ２とが形成されている。また、正極端子Ｐ１の袋ナットＰ１ｂの概略円筒状の接合部Ｐ１ｂ２の内周面Ｐ１ｂ２ｂの円筒状部Ｐ１ｂ２ｂ２が、テーパ状部Ｐ１ｂ２ｂ１よりも下側（図１８（Ｂ）の下側）に配置されている。更に、正極端子Ｐ１の袋ナットＰ１ｂのナット部Ｐ１ｂ１の雌ねじ部Ｐ１ｂ１ｃ１ａに連続する雌ねじ部Ｐ１ｂ２ｂ２ａが、円筒状部Ｐ１ｂ２ｂ２に形成されている。

また、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、図１８（Ｂ）に示すように、正極端子Ｐ１の袋ナットＰ１ｂのナット部Ｐ１ｂ１の雌ねじ部Ｐ１ｂ１ｃ１ａに連続する雌ねじ部Ｐ１ｂ２ｂ２ａが、接合部Ｐ１ｂ２の内周面Ｐ１ｂ２ｂのテーパ状部Ｐ１ｂ２ｂ１に形成されていない。

更に、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、図１９（Ｂ）に示すように、負極端子Ｎ１の袋ナットＮ１ｂの概略円筒状の接合部Ｎ１ｂ２の内周面Ｎ１ｂ２ｂにテーパ状部Ｎ１ｂ２ｂ１と円筒状部Ｎ１ｂ２ｂ２とが形成されている。また、負極端子Ｎ１の袋ナットＮ１ｂの概略円筒状の接合部Ｎ１ｂ２の内周面Ｎ１ｂ２ｂの円筒状部Ｎ１ｂ２ｂ２が、テーパ状部Ｎ１ｂ２ｂ１よりも下側（図１９（Ｂ）の下側）に配置されている。更に、負極端子Ｎ１の袋ナットＮ１ｂのナット部Ｎ１ｂ１の雌ねじ部Ｎ１ｂ１ｃ１ａに連続する雌ねじ部Ｎ１ｂ２ｂ２ａが、円筒状部Ｎ１ｂ２ｂ２に形成されている。

また、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、図１９（Ｂ）に示すように、負極端子Ｎ１の袋ナットＮ１ｂのナット部Ｎ１ｂ１の雌ねじ部Ｎ１ｂ１ｃ１ａに連続する雌ねじ部Ｎ１ｂ２ｂ２ａが、接合部Ｎ１ｂ２の内周面Ｎ１ｂ２ｂのテーパ状部Ｎ１ｂ２ｂ１に形成されていない。

更に、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、図２０（Ｂ）に示すように、交流端子Ｕの袋ナットＵｂの概略円筒状の接合部Ｕｂ２の内周面Ｕｂ２ｂにテーパ状部Ｕｂ２ｂ１と円筒状部Ｕｂ２ｂ２とが形成されている。また、交流端子Ｕの袋ナットＵｂの概略円筒状の接合部Ｕｂ２の内周面Ｕｂ２ｂの円筒状部Ｕｂ２ｂ２が、テーパ状部Ｕｂ２ｂ１よりも下側（図２０（Ｂ）の下側）に配置されている。更に、交流端子Ｕの袋ナットＵｂのナット部Ｕｂ１の雌ねじ部Ｕｂ１ｃ１ａに連続する雌ねじ部Ｕｂ２ｂ２ａが、円筒状部Ｕｂ２ｂ２に形成されている。

また、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、図２０（Ｂ）に示すように、交流端子Ｕの袋ナットＵｂのナット部Ｕｂ１の雌ねじ部Ｕｂ１ｃ１ａに連続する雌ねじ部Ｕｂ２ｂ２ａが、接合部Ｕｂ２の内周面Ｕｂ２ｂのテーパ状部Ｕｂ２ｂ１に形成されていない。

更に、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、正極端子Ｐ１（図９（Ａ）、図１０および図１７（Ａ）参照）の袋ナットＰ１ｂ（図１８（Ｂ）参照）の中心軸線Ｐ１ｂ’（図１８（Ｂ）参照）に垂直な水平断面内における袋ナットＰ１ｂ（図１８（Ｂ）参照）のナット部Ｐ１ｂ１（図１８（Ｂ）参照）の外周面Ｐ１ｂ１ｄ（図１８（Ｂ）参照）の形状が円形に設定されている。

また、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、負極端子Ｎ１（図９（Ａ）、図１０（Ａ）および図１７（Ｂ）参照）の袋ナットＮ１ｂ（図１９（Ｂ）参照）の中心軸線Ｎ１ｂ’（図１９（Ｂ）参照）に垂直な水平断面内における袋ナットＮ１ｂ（図１９（Ｂ）参照）のナット部Ｎ１ｂ１（図１９（Ｂ）参照）の外周面Ｎ１ｂ１ｄ（図１９（Ｂ）参照）の形状が円形に設定されている。

更に、第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、交流端子Ｕ（図９（Ａ）、図１０および図１７（Ｃ）参照）の袋ナットＵｂ（図２０（Ｂ）参照）の中心軸線Ｕｂ’（図２０（Ｂ）参照）に垂直な水平断面内における袋ナットＵｂ（図２０（Ｂ）参照）のナット部Ｕｂ１（図２０（Ｂ）参照）の外周面Ｕｂ１ｄ（図２０（Ｂ）参照）の形状が円形に設定されている。

第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、放熱部材１（図１（Ｂ）および図３参照）として水冷タイプのものが用いられるが、第３の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、代わりに、放熱部材として、放熱フィンを有する空冷タイプのものを用いることも可能である。

第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、正極端子Ｐ１（図１（Ａ）参照）などのすべての端子が外囲ケース５（図９〜図１４参照）にインサート成形され、外囲ケース５内にゲル状樹脂が充填されているが、第４の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、代わりに、外囲ケース５およびゲル状樹脂を省略し、放熱部材１上の絶縁基板２Ｕ，２Ｖ，２Ｗに対してすべての端子を接合した後に、それらを一体的にインサート成形することも可能である。

第１の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、外囲ケース５（図９〜図１４参照）に仕切り壁５ｅ，５ｆ（図９（Ａ）参照）が設けられているが、第５の実施形態のパワー半導体モジュール１００では、代わりに、外囲ケース５の仕切り壁５ｅ，５ｆを省略し、外囲ケース５の側壁５ａ，５ｂ，５ｃ，５ｄのいずれかにすべての端子をインサート成形することも可能である。

第６の実施形態では、上述した第１から第５の実施形態を適宜組み合わせることも可能である。

本発明のパワー半導体モジュールは、例えば電気自動車、ハイブリッドカーなどに用いられる車載用パワー半導体モジュールに適用可能である。

１ 放熱部材
１ａ 中央部
１ａ１ 冷却水路
１ｂ，１ｃ 端部
１ｂ１，１ｃ１ 冷却水路
２Ｕ，２Ｖ，２Ｗ 絶縁基板
２Ｕａ，２Ｕｂ，２Ｕｃ，２Ｕｄ，２Ｕｅ，２Ｕｆ 導体パターン
２Ｕａ１，２Ｕｂ１，２Ｕｃ１ 部分
ＣＬ１，ＣＬ２，ＣＬ３ 線対称中心線
ＱＵＵａ，ＱＵＵｂ，ＱＵＵｃ，ＱＵＵｄ ＩＧＢＴチップ
ＱＵＬａ，ＱＵＬｂ，ＱＵＬｃ，ＱＵＬｄ ＩＧＢＴチップ
ＦＷＤＵＵａ，ＦＷＤＵＵｂ ダイオードチップ
ＦＷＤＵＵｃ，ＦＷＤＵＵｄ ダイオードチップ
ＦＷＤＵＬａ，ＦＷＤＵＬｂ ダイオードチップ
ＦＷＤＵＬｃ，ＦＷＤＵＬｄ ダイオードチップ
ＴＭＵ，ＴＭＶ，ＴＭＷ サーミスタ
ＣＴＭＵ 中心位置
Ｗ１，Ｗ２，Ｗ３，Ｗ４，Ｗ５，Ｗ６，Ｗ７，Ｗ８ 間隔
Ｗ９，Ｗ１０，Ｗ１１，Ｗ１２，ＷＴ 間隔
３ＵＵ１ａ，３ＵＵ１ｂ，３ＵＵ１ｃ，３ＵＵ１ｄ ワイヤ
３ＵＬ１ａ，３ＵＬ１ｂ，３ＵＬ１ｃ，３ＵＬ１ｄ ワイヤ
３ＵＵ２ａ，３ＵＵ２ｂ，３ＵＵ２ｃ，３ＵＵ２ｄ ワイヤ
３ＵＬ２ａ，３ＵＬ２ｂ，３ＵＬ２ｃ，３ＵＬ２ｄ ワイヤ
３ＵＵ３ａ，３ＵＵ３ｂ，３ＵＵ３ｃ，３ＵＵ３ｄ ワイヤ
３ＵＬ３ａ，３ＵＬ３ｂ，３ＵＬ３ｃ，３ＵＬ３ｄ ワイヤ
３ＵＵ４ａ，３ＵＵ４ｂ，３ＵＵ４ｃ，３ＵＵ４ｄ ワイヤ
５ 外囲ケース
５ａ 左側壁
５ａ１ 部分
５ｂ 左側壁
５ｂ２ 部分
５ｃ 後側壁
５ｄ 前側壁
５ｅ，５ｆ 仕切り壁
５ｅ１，５ｅ２，５ｅ３ 部分
５ｅ１ａ，５ｅ１ｂ，５ｅ２ａ，５ｅ２ｂ 部分
５ｅ３ａ，５ｅ３ｂ 部分
５ｆ１，５ｆ２，５ｆ３ 部分
５ｆ１ａ，５ｆ１ｂ，５ｆ２ａ，５ｆ２ｂ 部分
５ｆ３ａ，５ｆ３ｂ 部分
Ｐ１，Ｐ２，Ｐ３，Ｎ１，Ｎ２，Ｎ３ 端子
Ｓ５ｅ１，Ｓ５ｅ２，Ｓ５ｅ３ 鉛直面
Ｓ５ｆ１，Ｓ５ｆ２，Ｓ５ｆ３ 鉛直面
Ｐ１ａ，Ｎ１ａ 折り曲げ部
Ｐ１ａ１，Ｐ１ａ２，Ｐ１ａ２’，Ｐ１ａ３ 部分
Ｐ１ａ４ 部分
Ｐ１ａ１ａ，Ｐ１ａ１ｂ 表面
Ｐ１ａ１ｃ ねじ穴
Ｐ１ａ１ｃ’ 中心軸線
Ｐ１ａ１ｃ１ 内周面
Ｐ１ａ１ｃ１ａ，Ｐ１ａ１ｃ１ｂ 部分
Ｐ１ｂ 袋ナット
Ｐ１ｂ’ 中心軸線
Ｐ１ｂ１ ナット部
Ｐ１ｂ１ａ，Ｐ１ｂ１ｂ 面
Ｐ１ｂ１ｃ ねじ穴
Ｐ１ｂ１ｃ１ 内側表面
Ｐ１ｂ１ｃ１ａ 雌ねじ部
Ｐ１ｂ１ｄ 外周面
Ｐ１ｂ２ 接合部
Ｐ１ｂ２ｂ 内周面
Ｐ１ｂ２ｂ１ テーパ状部
Ｐ１ｂ２ｂ２ 円筒状部
Ｐ１ｂ２ｂ２ａ 雌ねじ部
Ｐ１ｂ２ｃ 外周面
Ｎ１ａ１，Ｎ１ａ２，Ｎ１ａ２’，Ｎ１ａ３ 部分
Ｎ１ａ４ 部分
Ｎ１ａ１ａ，Ｎ１ａ１ｂ 表面
Ｎ１ａ１ｃ ねじ穴
Ｎ１ａ１ｃ’ 中心軸線
Ｎ１ａ１ｃ１ 内周面
Ｎ１ａ１ｃ１ａ，Ｎ１ａ１ｃ１ｂ 部分
Ｎ１ｂ 袋ナット
Ｎ１ｂ’ 中心軸線
Ｎ１ｂ１ ナット部
Ｎ１ｂ１ａ，Ｐ１ｂ１ｂ 面
Ｎ１ｂ１ｃ ねじ穴
Ｎ１ｂ１ｃ１ 内側表面
Ｎ１ｂ１ｃ１ａ 雌ねじ部
Ｎ１ｂ１ｄ 外周面
Ｎ１ｂ２ 接合部
Ｎ１ｂ２ｂ 内周面
Ｎ１ｂ２ｂ１ テーパ状部
Ｎ１ｂ２ｂ２ 円筒状部
Ｎ１ｂ２ｂ２ａ 雌ねじ部
Ｎ１ｂ２ｃ 外周面
Ｕ，Ｖ，Ｗ 端子
Ｕａ 折り曲げ部
Ｕａ１，Ｕａ２，Ｕａ２’，Ｕａ３ 部分
Ｕａ４ 部分
Ｕａ１ａ，Ｕａ１ｂ 表面
Ｕａ１ｃ ねじ穴
Ｕａ１ｃ’ 中心軸線
Ｕａ１ｃ１ 内周面
Ｕａ１ｃ１ａ，Ｕａ１ｃ１ｂ 部分
Ｕｂ 袋ナット
Ｕｂ’ 中心軸線
Ｕｂ１ ナット部
Ｕｂ１ａ，Ｕｂ１ｂ 面
Ｕｂ１ｃ ねじ穴
Ｕｂ１ｃ１ 内側表面
Ｕｂ１ｃ１ａ 雌ねじ部
Ｕｂ１ｄ 外周面
Ｕｂ２ 接合部
Ｕｂ２ｂ 内周面
Ｕｂ２ｂ１ テーパ状部
Ｕｂ２ｂ２ 円筒状部
Ｕｂ２ｂ２ａ 雌ねじ部
Ｕｂ２ｃ 外周面
ＧＵＵ，ＣＵＵ，ＥＵＵ 端子
ＧＵＵＶ，ＧＵＵＨ，ＣＵＵＶ，ＣＵＵＨ 部分
ＥＵＵＶ，ＥＵＵＨ 部分
ＧＵＬ，ＣＵＬ，ＥＵＬ 端子
ＧＵＬＶ，ＧＵＬＨ，ＣＵＬＶ，ＣＵＬＨ 部分
ＥＵＬＶ，ＥＵＬＨ 部分
ＴＵ１，ＴＵ２ 端子
ＴＵ１Ｖ，ＴＵ１Ｈ，ＴＵ２Ｖ，ＴＵ２Ｈ 部分
ＧＶＵ，ＣＶＵ，ＥＶＵ 端子
ＧＶＵＶ，ＧＶＵＨ，ＣＶＵＶ，ＣＶＵＨ 部分
ＥＶＵＶ，ＥＶＵＨ 部分
ＧＶＬ，ＣＶＬ，ＥＶＬ 端子
ＧＶＬＶ，ＧＶＬＨ，ＣＶＬＶ，ＣＶＬＨ 部分
ＥＶＬＶ，ＥＶＬＨ 部分
ＴＶ１，ＴＶ２ 端子
ＴＶ１Ｖ，ＴＶ１Ｈ，ＴＶ２Ｖ，ＴＶ２Ｈ 部分
ＧＷＵ，ＣＷＵ，ＥＷＵ 端子
ＧＷＵＶ，ＧＷＵＨ，ＣＷＵＶ，ＣＷＵＨ 部分
ＥＷＵＶ，ＥＷＵＨ 部分
ＧＷＬ，ＣＷＬ，ＥＷＬ 端子
ＧＷＬＶ，ＧＷＬＨ，ＣＷＬＶ，ＣＷＬＨ 部分
ＥＷＬＶ，ＥＷＬＨ 部分
ＴＷ１，ＴＷ２ 端子
ＴＷ１Ｖ，ＴＷ１Ｈ，ＴＷ２Ｖ，ＴＷ２Ｈ 部分
６ａ，６ｂ，６ｃ カバー
１００ パワー半導体モジュール
ＰＵ Ｕ相
ＰＶ Ｖ相
ＰＷ Ｗ相
ＰＵＵ，ＰＶＵ，ＰＷＵ 上アーム
ＰＵＬ，ＰＶＬ，ＰＷＬ 下アーム
ＱＵＵ，ＱＶＵ，ＱＷＵ ＩＧＢＴ
ＱＵＬ，ＱＶＬ，ＱＷＬ ＩＧＢＴ
ＦＷＤＵＵ，ＦＷＤＶＵ，ＦＷＤＷＵ ダイオード
ＦＷＤＵＬ，ＦＷＤＶＬ，ＦＷＤＷＬ ダイオード

Claims (5)

1. ３相インバータ回路のＵ相（ＰＵ）の一部を構成するＵ相用絶縁基板（２Ｕ）を設け、
   第１導体パターン（２Ｕａ）と第２導体パターン（２Ｕｂ）と第３導体パターン（２Ｕｃ）と第４導体パターン（２Ｕｄ）と第５導体パターン（２Ｕｅ）とをモジュール長手方向に並べてＵ相用絶縁基板（２Ｕ）の上面に形成し、
   第１導体パターン（２Ｕａ）を、第２導体パターン（２Ｕｂ）に対し、モジュール長手方向の第１の側に隣接させて配置し、
   第３導体パターン（２Ｕｃ）を、第２導体パターン（２Ｕｂ）に対し、モジュール長手方向の第１の側の反対側である、モジュール長手方向の第２の側に隣接させて配置し、
   第４導体パターン（２Ｕｄ）を、第１導体パターン（２Ｕａ）に対し、モジュール長手方向の第１の側に隣接させて配置し、
   第５導体パターン（２Ｕｅ）を、第３導体パターン（２Ｕｃ）に対し、モジュール長手方向の第２の側に隣接させて配置し、
   Ｕ相用絶縁基板（２Ｕ）の下面と放熱部材（１）の上面とを接合し、
   第１ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵａ）が、第１ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵａ）に対し、モジュール長手方向の第１の側に位置するように、第１ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵａ）および第１ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵａ）を、モジュール長手方向に隣接させて第１導体パターン（２Ｕａ）に搭載し、かつ、第１ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵａ）のコレクタ電極と第１導体パターン（２Ｕａ）とを接続すると共に、第１ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵａ）のカソード電極と第１導体パターン（２Ｕａ）とを接続し、
   第２ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｂ）が、第２ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵｂ）に対し、モジュール長手方向の第１の側に位置するように、第２ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｂ）および第２ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵｂ）を、モジュール長手方向に隣接させて第１導体パターン（２Ｕａ）に搭載し、かつ、第２ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｂ）のコレクタ電極と第１導体パターン（２Ｕａ）とを接続すると共に、第２ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵｂ）のカソード電極と第１導体パターン（２Ｕａ）とを接続し、
   第１ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵａ）が、第２ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｂ）に対し、モジュール長手方向に直交するモジュール短手方向の第１の側に位置するように、かつ、第１ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵａ）と第２ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｂ）との間に第１の間隔（Ｗ１）を有するように、第１ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵａ）および第２ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｂ）をモジュール短手方向に配列し、
   第１ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵａ）が、第２ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵｂ）に対し、モジュール短手方向の第１の側に位置するように、かつ、第１ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵａ）と第２ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵｂ）との間に第２の間隔（Ｗ２）を有するように、第１ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵａ）および第２ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵｂ）をモジュール短手方向に配列し、
   第３ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｃ）が、第３ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵｃ）に対し、モジュール長手方向の第１の側に位置するように、第３ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｃ）および第３ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵｃ）を、モジュール長手方向に隣接させて第１導体パターン（２Ｕａ）に搭載し、かつ、第３ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｃ）のコレクタ電極と第１導体パターン（２Ｕａ）とを接続すると共に、第３ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵｃ）のカソード電極と第１導体パターン（２Ｕａ）とを接続し、
   第３ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｃ）が、第１ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵａ）に対し、モジュール短手方向の第１の側に位置するように、かつ、第３ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｃ）と第１ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵａ）との間に第３の間隔（Ｗ３）を有するように、第３ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｃ）および第１ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵａ）をモジュール短手方向に配列し、
   第３ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵｃ）が、第１ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵａ）に対し、モジュール短手方向の第１の側に位置するように、かつ、第３ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵｃ）と第１ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵａ）との間に第４の間隔（Ｗ４）を有するように、第３ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵｃ）および第１ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵａ）をモジュール短手方向に配列し、
   第４ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｄ）が、第４ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵｄ）に対し、モジュール長手方向の第１の側に位置するように、第４ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｄ）および第４ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵｄ）を、モジュール長手方向に隣接させて第１導体パターン（２Ｕａ）に搭載し、かつ、第４ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｄ）のコレクタ電極と第１導体パターン（２Ｕａ）とを接続すると共に、第４ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵｄ）のカソード電極と第１導体パターン（２Ｕａ）とを接続し、
   第４ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｄ）が、第２ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｂ）に対し、モジュール短手方向の第１の側の反対側である、モジュール短手方向の第２の側に位置するように、かつ、第４ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｄ）と第２ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｂ）との間に第５の間隔（Ｗ５）を有するように、第４ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｄ）および第２ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｂ）をモジュール短手方向に配列し、
   第４ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵｄ）が、第２ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵｂ）に対し、モジュール短手方向の第２の側に位置するように、かつ、第４ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵｄ）と第２ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵｂ）との間に第６の間隔（Ｗ６）を有するように、第４ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵｄ）および第２ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵｂ）をモジュール短手方向に配列し、
   第５ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬａ）が、第５ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬａ）に対し、モジュール長手方向の第１の側に位置するように、第５ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬａ）および第５ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬａ）を、モジュール長手方向に隣接させて第２導体パターン（２Ｕｂ）に搭載し、かつ、第５ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬａ）のコレクタ電極と第２導体パターン（２Ｕｂ）とを接続すると共に、第５ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬａ）のカソード電極と第２導体パターン（２Ｕｂ）とを接続し、
   第６ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｂ）が、第６ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬｂ）に対し、モジュール長手方向の第１の側に位置するように、第６ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｂ）および第６ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬｂ）を、モジュール長手方向に隣接させて第２導体パターン（２Ｕｂ）に搭載し、かつ、第６ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｂ）のコレクタ電極と第２導体パターン（２Ｕｂ）とを接続すると共に、第６ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬｂ）のカソード電極と第２導体パターン（２Ｕｂ）とを接続し、
   第５ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬａ）が、第６ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｂ）に対し、モジュール短手方向の第１の側に位置するように、かつ、第５ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬａ）と第６ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｂ）との間に第７の間隔（Ｗ７）を有するように、第５ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬａ）および第６ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｂ）をモジュール短手方向に配列し、
   第５ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬａ）が、第６ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬｂ）に対し、モジュール短手方向の第１の側に位置するように、かつ、第５ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬａ）と第６ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬｂ）との間に第８の間隔（Ｗ８）を有するように、第５ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬａ）および第６ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬｂ）をモジュール短手方向に配列し、
   第７ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｃ）が、第７ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬｃ）に対し、モジュール長手方向の第１の側に位置するように、第７ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｃ）および第７ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬｃ）を、モジュール長手方向に隣接させて第２導体パターン（２Ｕｂ）に搭載し、かつ、第７ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｃ）のコレクタ電極と第２導体パターン（２Ｕｂ）とを接続すると共に、第７ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬｃ）のカソード電極と第２導体パターン（２Ｕｂ）とを接続し、
   第７ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｃ）が、第５ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬａ）に対し、モジュール短手方向の第１の側に位置するように、かつ、第７ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｃ）と第５ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬａ）との間に第９の間隔（Ｗ９）を有するように、第７ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｃ）および第５ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬａ）をモジュール短手方向に配列し、
   第７ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬｃ）が、第５ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬａ）に対し、モジュール短手方向の第１の側に位置するように、かつ、第７ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬｃ）と第５ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬａ）との間に第１０の間隔（Ｗ１０）を有するように、第７ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬｃ）および第５ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬａ）をモジュール短手方向に配列し、
   第８ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｄ）が、第８ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬｄ）に対し、モジュール長手方向の第１の側に位置するように、第８ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｄ）および第８ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬｄ）を、モジュール長手方向に隣接させて第２導体パターン（２Ｕｂ）に搭載し、かつ、第８ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｄ）のコレクタ電極と第２導体パターン（２Ｕｂ）とを接続すると共に、第８ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬｄ）のカソード電極と第２導体パターン（２Ｕｂ）とを接続し、
   第８ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｄ）が、第６ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｂ）に対し、モジュール短手方向の第２の側に位置するように、かつ、第８ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｄ）と第６ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｂ）との間に第１１の間隔（Ｗ１１）を有するように、第８ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｄ）および第６ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｂ）をモジュール短手方向に配列し、
   第８ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬｄ）が、第６ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬｂ）に対し、モジュール短手方向の第２の側に位置するように、かつ、第８ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬｄ）と第６ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬｂ）との間に第１２の間隔（Ｗ１２）を有するように、第８ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬｄ）および第６ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬｂ）をモジュール短手方向に配列し、
   モジュール長手方向に延びている第１ワイヤ（３ＵＵ１ａ）によって、第１ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵａ）のアノード電極と第２導体パターン（２Ｕｂ）とを接続し、
   モジュール長手方向に延びている第２ワイヤ（３ＵＵ１ｂ）によって、第２ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵｂ）のアノード電極と第２導体パターン（２Ｕｂ）とを接続し、
   モジュール長手方向に延びている第３ワイヤ（３ＵＵ１ｃ）によって、第３ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵｃ）のアノード電極と第２導体パターン（２Ｕｂ）とを接続し、
   モジュール長手方向に延びている第４ワイヤ（３ＵＵ１ｄ）によって、第４ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵｄ）のアノード電極と第２導体パターン（２Ｕｂ）とを接続し、
   モジュール長手方向に延びている第５ワイヤ（３ＵＬ１ａ）によって、第５ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬａ）のアノード電極と第３導体パターン（２Ｕｃ）とを接続し、
   モジュール長手方向に延びている第６ワイヤ（３ＵＬ１ｂ）によって、第６ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬｂ）のアノード電極と第３導体パターン（２Ｕｃ）とを接続し、
   モジュール長手方向に延びている第７ワイヤ（３ＵＬ１ｃ）によって、第７ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬｃ）のアノード電極と第３導体パターン（２Ｕｃ）とを接続し、
   モジュール長手方向に延びている第８ワイヤ（３ＵＬ１ｄ）によって、第８ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬｄ）のアノード電極と第３導体パターン（２Ｕｃ）とを接続し、
   モジュール長手方向に延びている第９ワイヤ（３ＵＵ２ａ）によって、第１ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵａ）のエミッタ電極と第２導体パターン（２Ｕｂ）とを接続し、
   モジュール長手方向に延びている第１０ワイヤ（３ＵＵ２ｂ）によって、第２ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｂ）のエミッタ電極と第２導体パターン（２Ｕｂ）とを接続し、
   モジュール長手方向に延びている第１１ワイヤ（３ＵＵ２ｃ）によって、第３ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｃ）のエミッタ電極と第２導体パターン（２Ｕｂ）とを接続し、
   モジュール長手方向に延びている第１２ワイヤ（３ＵＵ２ｄ）によって、第４ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｄ）のエミッタ電極と第２導体パターン（２Ｕｂ）とを接続し、
   モジュール長手方向に延びている第１３ワイヤ（３ＵＬ２ａ）によって、第５ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬａ）のエミッタ電極と第３導体パターン（２Ｕｃ）とを接続し、
   モジュール長手方向に延びている第１４ワイヤ（３ＵＬ２ｂ）によって、第６ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｂ）のエミッタ電極と第３導体パターン（２Ｕｃ）とを接続し、
   モジュール長手方向に延びている第１５ワイヤ（３ＵＬ２ｃ）によって、第７ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｃ）のエミッタ電極と第３導体パターン（２Ｕｃ）とを接続し、
   モジュール長手方向に延びている第１６ワイヤ（３ＵＬ２ｄ）によって、第８ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｄ）のエミッタ電極と第３導体パターン（２Ｕｃ）とを接続し、
   モジュール長手方向に延びている第１７ワイヤ（３ＵＵ３ａ）によって、第１ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵａ）のゲート電極と第４導体パターン（２Ｕｄ）とを接続し、
   モジュール長手方向に延びている第１８ワイヤ（３ＵＵ３ｂ）によって、第２ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｂ）のゲート電極と第４導体パターン（２Ｕｄ）とを接続し、
   モジュール長手方向に延びている第１９ワイヤ（３ＵＵ３ｃ）によって、第３ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｃ）のゲート電極と第４導体パターン（２Ｕｄ）とを接続し、
   モジュール長手方向に延びている第２０ワイヤ（３ＵＵ３ｄ）によって、第４ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｄ）のゲート電極と第４導体パターン（２Ｕｄ）とを接続し、
   モジュール長手方向に延びている第２１ワイヤ（３ＵＬ３ａ）によって、第５ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬａ）のゲート電極と第５導体パターン（２Ｕｅ）とを接続し、
   モジュール長手方向に延びている第２２ワイヤ（３ＵＬ３ｂ）によって、第６ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｂ）のゲート電極と第５導体パターン（２Ｕｅ）とを接続し、
   モジュール長手方向に延びている第２３ワイヤ（３ＵＬ３ｃ）によって、第７ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｃ）のゲート電極と第５導体パターン（２Ｕｅ）とを接続し、
   モジュール長手方向に延びている第２４ワイヤ（３ＵＬ３ｄ）によって、第８ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｄ）のゲート電極と第５導体パターン（２Ｕｅ）とを接続し、
   ３相インバータ回路のＵ相（ＰＵ）の上アーム（ＰＵＵ）の一部を構成する正極端子（Ｐ１）と、３相インバータ回路のＵ相（ＰＵ）の一部を構成する交流端子（Ｕ）と、３相インバータ回路のＵ相（ＰＵ）の下アーム（ＰＵＬ）の一部を構成する負極端子（Ｎ１）と、３相インバータ回路のＵ相（ＰＵ）の上アーム（ＰＵＵ）の一部を構成する第１ゲート電極端子（ＧＵＵ）と、３相インバータ回路のＵ相（ＰＵ）の下アーム（ＰＵＬ）の一部を構成する第２ゲート電極端子（ＧＵＬ）とを設け、
   正極端子（Ｐ１）と第１導体パターン（２Ｕａ）とを電気的に接続し、
   交流端子（Ｕ）と第２導体パターン（２Ｕｂ）とを電気的に接続し、
   負極端子（Ｎ１）と第３導体パターン（２Ｕｃ）とを電気的に接続し、
   第１ゲート電極端子（ＧＵＵ）と第４導体パターン（２Ｕｄ）とを電気的に接続し、
   第２ゲート電極端子（ＧＵＬ）と第５導体パターン（２Ｕｅ）とを電気的に接続し、
   それにより、３相インバータ回路のＵ相（ＰＵ）を構成し、
   ３相インバータ回路のＶ相（ＰＶ）をＵ相（ＰＵ）と同一形状に形成すると共に、Ｖ相（ＰＶ）を、Ｕ相（ＰＵ）に対し、モジュール長手方向の第１の側に隣接させて配置し、
   ３相インバータ回路のＷ相（ＰＷ）をＵ相（ＰＵ）と同一形状に形成すると共に、Ｗ相（ＰＷ）を、Ｖ相（ＰＶ）に対し、モジュール長手方向の第１の側に隣接させて配置したパワー半導体モジュール（１００）において、
   第１の間隔（Ｗ１）および第２の間隔（Ｗ２）を、第３の間隔（Ｗ３）、第４の間隔（Ｗ４）、第５の間隔（Ｗ５）および第６の間隔（Ｗ６）よりも大きい値に設定し、
   第１導体パターン（２Ｕａ）のうちの正極端子（Ｐ１）が電気的に接続される接続部分（２Ｕａ１）の少なくとも一部分を、第１ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵａ）および第１ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵａ）のモジュール短手方向の第２の側の端部と、第２ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｂ）および第２ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵｂ）のモジュール短手方向の第１の側の端部との間の位置であって、第１ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵａ）および第２ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｂ）のモジュール長手方向の第１の側の端部と、第１ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵａ）および第２ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵｂ）のモジュール長手方向の第２の側の端部との間の位置に配置し、
   第７の間隔（Ｗ７）を、第９の間隔（Ｗ９）および第１１の間隔（Ｗ１１）よりも大きい値に設定し、 第２導体パターン（２Ｕｂ）のうちの交流端子（Ｕ）が電気的に接続される接続部分（２Ｕｂ１）の少なくとも一部分を、第５ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬａ）のモジュール短手方向の第２の側の端部と、第６ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｂ）のモジュール短手方向の第１の側の端部との間の位置であって、第５ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬａ）および第６ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｂ）のモジュール長手方向の第１の側の端部と、第５ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬａ）および第６ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｂ）のモジュール長手方向の第２の側の端部との間の位置に配置し、
   第８の間隔（Ｗ８）を、第１０の間隔（Ｗ１０）および第１２の間隔（Ｗ１２）よりも大きい値に設定し、
   第３導体パターン（２Ｕｃ）のうちの負極端子（Ｎ１）が電気的に接続される接続部分（２Ｕｃ１）の少なくとも一部分を、第５ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬａ）のモジュール短手方向の第２の側の端部と、第６ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬｂ）のモジュール短手方向の第１の側の端部との間の位置であって、第５ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬａ）および第６ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬｂ）のモジュール長手方向の第１の側の端部と、第５ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬａ）および第６ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬｂ）のモジュール長手方向の第２の側の端部との間の位置に配置し、
   第１導体パターン（２Ｕａ）の接続部分（２Ｕａ１）を、第１ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵａ）と第２ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｂ）との線対称中心線（ＣＬ１）上であって、第３ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｃ）と第４ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｄ）との線対称中心線（ＣＬ１）上であって、第１ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵａ）と第２ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵｂ）との線対称中心線（ＣＬ１）上であって、第３ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵｃ）と第４ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵｄ）との線対称中心線（ＣＬ１）上に配置し、
   第２導体パターン（２Ｕｂ）の接続部分（２Ｕｂ１）を、第１ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵａ）と第２ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｂ）との線対称中心線（ＣＬ１）上であって、第３ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｃ）と第４ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｄ）との線対称中心線（ＣＬ１）上であって、第１ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵａ）と第２ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵｂ）との線対称中心線（ＣＬ１）上であって、第３ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵｃ）と第４ダイオードチップ（ＦＷＤＵＵｄ）との線対称中心線（ＣＬ１）上であって、第５ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬａ）と第６ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｂ）との線対称中心線（ＣＬ２）上であって、第７ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｃ）と第８ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｄ）との線対称中心線（ＣＬ２）上であって、第５ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬａ）と第６ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬｂ）との線対称中心線（ＣＬ３）上であって、第７ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬｃ）と第８ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬｄ）との線対称中心線（ＣＬ３）上に配置し、
   第３導体パターン（２Ｕｃ）の接続部分（２Ｕｃ１）を、第５ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬａ）と第６ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｂ）との線対称中心線（ＣＬ２）上であって、第７ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｃ）と第８ＩＧＢＴチップ（ＱＵＬｄ）との線対称中心線（ＣＬ２）上であって、第５ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬａ）と第６ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬｂ）との線対称中心線（ＣＬ３）上であって、第７ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬｃ）と第８ダイオードチップ（ＦＷＤＵＬｄ）との線対称中心線（ＣＬ３）上に配置したことを特徴とするパワー半導体モジュール（１００）。
2. 第６導体パターン（２Ｕｆ）をＵ相用絶縁基板（２Ｕ）の上面に形成し、
   第６導体パターン（２Ｕｆ）を、第４導体パターン（２Ｕｄ）に対し、モジュール長手方向の第１の側に隣接させて配置し、
   モジュール長手方向に延びている第２５ワイヤ（３ＵＵ４ａ）によって、第１ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵａ）のエミッタ電極と第６導体パターン（２Ｕｆ）とを接続し、
   モジュール長手方向に延びている第２６ワイヤ（３ＵＵ４ｂ）によって、第２ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｂ）のエミッタ電極と第６導体パターン（２Ｕｆ）とを接続し、
   モジュール長手方向に延びている第２７ワイヤ（３ＵＵ４ｃ）によって、第３ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｃ）のエミッタ電極と第６導体パターン（２Ｕｆ）とを接続し、
   モジュール長手方向に延びている第２８ワイヤ（３ＵＵ４ｄ）によって、第４ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｄ）のエミッタ電極と第６導体パターン（２Ｕｆ）とを接続し、
   Ｖ相（ＰＶ）およびＷ相（ＰＷ）をＵ相（ＰＵ）と同一形状に形成し、
   モジュール長手方向の第１の側に位置する第１側壁（５ａ）と、モジュール長手方向の第２の側に位置する第２側壁（５ｂ）と、モジュール短手方向の第１の側に位置する第３側壁（５ｃ）と、モジュール短手方向の第２の側に位置する第４側壁（５ｄ）とを有する外囲ケース（５）を設け、
   第３側壁（５ｃ）と第４側壁（５ｄ）との間に延びており、かつ、３相インバータ回路のＵ相（ＰＵ）とＶ相（ＰＶ）とを仕切る第１仕切り壁（５ｅ）を外囲ケース（５）に形成し、
   第３側壁（５ｃ）と第４側壁（５ｄ）との間に延びており、かつ、３相インバータ回路のＶ相（ＰＶ）とＷ相（ＰＷ）とを仕切る第２仕切り壁（５ｆ）を外囲ケース（５）に形成し、
   Ｕ相（ＰＵ）の正極端子（Ｐ１）と、Ｕ相（ＰＵ）の負極端子（Ｎ１）と、Ｖ相（ＰＶ）の正極端子（Ｐ２）と、Ｖ相（ＰＶ）の負極端子（Ｎ２）と、Ｗ相（ＰＷ）の正極端子（Ｐ３）と、Ｗ相（ＰＷ）の負極端子（Ｎ３）とを、外囲ケース（５）の第３側壁（５ｃ）に形成し、
   Ｕ相（ＰＵ）の交流端子（Ｕ）と、Ｖ相（ＰＶ）の交流端子（Ｖ）と、Ｗ相（ＰＷ）の交流端子（Ｗ）とを、外囲ケース（５）の第４側壁（５ｄ）に形成し、
   Ｕ相（ＰＵ）の上アーム（ＰＵＵ）のゲート電極端子（ＧＵＵ）と、Ｕ相（ＰＵ）の上アーム（ＰＵＵ）のコレクタ電位信号端子（ＣＵＵ）と、Ｕ相（ＰＵ）の上アーム（ＰＵＵ）のエミッタ電位信号端子（ＥＵＵ）とを、外囲ケース（５）の第１仕切り壁（５ｅ）のうちのモジュール短手方向の第１の側の部分（５ｅ１）に形成し、
   Ｕ相（ＰＵ）の上アーム（ＰＵＵ）のゲート電極端子（ＧＵＵ）の鉛直断面形状がＬ字状になるように、上側鉛直部分（ＧＵＵＶ）と下側水平部分（ＧＵＵＨ）とをＵ相（ＰＵ）の上アーム（ＰＵＵ）のゲート電極端子（ＧＵＵ）に形成し、
   Ｕ相（ＰＵ）の上アーム（ＰＵＵ）のコレクタ電位信号端子（ＣＵＵ）の鉛直断面形状がＬ字状になるように、上側鉛直部分（ＣＵＵＶ）と下側水平部分（ＣＵＵＨ）とをＵ相（ＰＵ）の上アーム（ＰＵＵ）のコレクタ電位信号端子（ＣＵＵ）に形成し、
   Ｕ相（ＰＵ）の上アーム（ＰＵＵ）のエミッタ電位信号端子（ＥＵＵ）の鉛直断面形状がＬ字状になるように、上側鉛直部分（ＥＵＵＶ）と下側水平部分（ＥＵＵＨ）とをＵ相（ＰＵ）の上アーム（ＰＵＵ）のエミッタ電位信号端子（ＥＵＵ）に形成し、
   Ｕ相（ＰＵ）の下アーム（ＰＵＬ）のゲート電極端子（ＧＵＬ）と、Ｕ相（ＰＵ）の下アーム（ＰＵＬ）のコレクタ電位信号端子（ＣＵＬ）と、Ｕ相（ＰＵ）の下アーム（ＰＵＬ）のエミッタ電位信号端子（ＥＵＬ）とを、外囲ケース（５）の第２側壁（５ｂ）のうちのモジュール短手方向の第２の側の部分（５ｂ２）に形成し、
   Ｕ相（ＰＵ）の下アーム（ＰＵＬ）のゲート電極端子（ＧＵＬ）の鉛直断面形状がＬ字状になるように、上側鉛直部分（ＧＵＬＶ）と下側水平部分（ＧＵＬＨ）とをＵ相（ＰＵ）の下アーム（ＰＵＬ）のゲート電極端子（ＧＵＬ）に形成し、
   Ｕ相（ＰＵ）の下アーム（ＰＵＬ）のコレクタ電位信号端子（ＣＵＬ）の鉛直断面形状がＬ字状になるように、上側鉛直部分（ＣＵＬＶ）と下側水平部分（ＣＵＬＨ）とをＵ相（ＰＵ）の下アーム（ＰＵＬ）のコレクタ電位信号端子（ＣＵＬ）に形成し、
   Ｕ相（ＰＵ）の下アーム（ＰＵＬ）のエミッタ電位信号端子（ＥＵＬ）の鉛直断面形状がＬ字状になるように、上側鉛直部分（ＥＵＬＶ）と下側水平部分（ＥＵＬＨ）とをＵ相（ＰＵ）の下アーム（ＰＵＬ）のエミッタ電位信号端子（ＥＵＬ）に形成し、
   Ｖ相（ＰＶ）の上アーム（ＰＶＵ）のゲート電極端子（ＧＶＵ）と、Ｖ相（ＰＶ）の上アーム（ＰＶＵ）のコレクタ電位信号端子（ＣＶＵ）と、Ｖ相（ＰＶ）の上アーム（ＰＶＵ）のエミッタ電位信号端子（ＥＶＵ）とを、外囲ケース（５）の第２仕切り壁（５ｆ）のうちのモジュール短手方向の第１の側の部分（５ｆ１）に形成し、 Ｖ相（ＰＶ）の上アーム（ＰＶＵ）のゲート電極端子（ＧＶＵ）の鉛直断面形状がＬ字状になるように、上側鉛直部分（ＧＶＵＶ）と下側水平部分（ＧＶＵＨ）とをＶ相（ＰＶ）の上アーム（ＰＶＵ）のゲート電極端子（ＧＶＵ）に形成し、
   Ｖ相（ＰＶ）の上アーム（ＰＶＵ）のコレクタ電位信号端子（ＣＶＵ）の鉛直断面形状がＬ字状になるように、上側鉛直部分（ＣＶＵＶ）と下側水平部分（ＣＶＵＨ）とをＶ相（ＰＶ）の上アーム（ＰＶＵ）のコレクタ電位信号端子（ＣＶＵ）に形成し、
   Ｖ相（ＰＶ）の上アーム（ＰＶＵ）のエミッタ電位信号端子（ＥＶＵ）の鉛直断面形状がＬ字状になるように、上側鉛直部分（ＥＶＵＶ）と下側水平部分（ＥＶＵＨ）とをＶ相（ＰＶ）の上アーム（ＰＶＵ）のエミッタ電位信号端子（ＥＶＵ）に形成し、
   Ｖ相（ＰＶ）の下アーム（ＰＶＬ）のゲート電極端子（ＧＶＬ）と、Ｖ相（ＰＶ）の下アーム（ＰＶＬ）のコレクタ電位信号端子（ＣＶＬ）と、Ｖ相（ＰＶ）の下アーム（ＰＶＬ）のエミッタ電位信号端子（ＥＶＬ）とを、外囲ケース（５）の第１仕切り壁（５ｅ）のうちのモジュール短手方向の第２の側の部分（５ｅ２）に形成し、
   Ｖ相（ＰＶ）の下アーム（ＰＶＬ）のゲート電極端子（ＧＶＬ）の鉛直断面形状がＬ字状になるように、上側鉛直部分（ＧＶＬＶ）と下側水平部分（ＧＶＬＨ）とをＶ相（ＰＶ）の下アーム（ＰＶＬ）のゲート電極端子（ＧＶＬ）に形成し、
   Ｖ相（ＰＶ）の下アーム（ＰＶＬ）のコレクタ電位信号端子（ＣＶＬ）の鉛直断面形状がＬ字状になるように、上側鉛直部分（ＣＶＬＶ）と下側水平部分（ＣＶＬＨ）とをＶ相（ＰＶ）の下アーム（ＰＶＬ）のコレクタ電位信号端子（ＣＶＬ）に形成し、
   Ｖ相（ＰＶ）の下アーム（ＰＶＬ）のエミッタ電位信号端子（ＥＶＬ）の鉛直断面形状がＬ字状になるように、上側鉛直部分（ＥＶＬＶ）と下側水平部分（ＥＶＬＨ）とをＶ相（ＰＶ）の下アーム（ＰＶＬ）のエミッタ電位信号端子（ＥＶＬ）に形成し、
   Ｗ相（ＰＷ）の上アーム（ＰＷＵ）のゲート電極端子（ＧＷＵ）と、Ｗ相（ＰＷ）の上アーム（ＰＷＵ）のコレクタ電位信号端子（ＣＷＵ）と、Ｗ相（ＰＷ）の上アーム（ＰＷＵ）のエミッタ電位信号端子（ＥＷＵ）とを、外囲ケース（５）の第１側壁（５ａ）のうちのモジュール短手方向の第１の側の部分（５ａ１）に形成し、
   Ｗ相（ＰＷ）の上アーム（ＰＷＵ）のゲート電極端子（ＧＷＵ）の鉛直断面形状がＬ字状になるように、上側鉛直部分（ＧＷＵＶ）と下側水平部分（ＧＷＵＨ）とをＷ相（ＰＷ）の上アーム（ＰＷＵ）のゲート電極端子（ＧＷＵ）に形成し、
   Ｗ相（ＰＷ）の上アーム（ＰＷＵ）のコレクタ電位信号端子（ＣＷＵ）の鉛直断面形状がＬ字状になるように、上側鉛直部分（ＣＷＵＶ）と下側水平部分（ＣＷＵＨ）とをＷ相（ＰＷ）の上アーム（ＰＷＵ）のコレクタ電位信号端子（ＣＷＵ）に形成し、
   Ｗ相（ＰＷ）の上アーム（ＰＷＵ）のエミッタ電位信号端子（ＥＷＵ）の鉛直断面形状がＬ字状になるように、上側鉛直部分（ＥＷＵＶ）と下側水平部分（ＥＷＵＨ）とをＷ相（ＰＷ）の上アーム（ＰＷＵ）のエミッタ電位信号端子（ＥＷＵ）に形成し、
   Ｗ相（ＰＷ）の下アーム（ＰＷＬ）のゲート電極端子（ＧＷＬ）と、Ｗ相（ＰＷ）の下アーム（ＰＷＬ）のコレクタ電位信号端子（ＣＷＬ）と、Ｗ相（ＰＶ）の下アーム（ＰＷＬ）のエミッタ電位信号端子（ＥＷＬ）とを、外囲ケース（５）の第２仕切り壁（５ｆ）のうちのモジュール短手方向の第２の側の部分（５ｆ２）に形成し、
   Ｗ相（ＰＷ）の下アーム（ＰＷＬ）のゲート電極端子（ＧＷＬ）の鉛直断面形状がＬ字状になるように、上側鉛直部分（ＧＷＬＶ）と下側水平部分（ＧＷＬＨ）とをＷ相（ＰＷ）の下アーム（ＰＷＬ）のゲート電極端子（ＧＷＬ）に形成し、
   Ｗ相（ＰＷ）の下アーム（ＰＷＬ）のコレクタ電位信号端子（ＣＷＬ）の鉛直断面形状がＬ字状になるように、上側鉛直部分（ＣＷＬＶ）と下側水平部分（ＣＷＬＨ）とをＷ相（ＰＷ）の下アーム（ＰＷＬ）のコレクタ電位信号端子（ＣＷＬ）に形成し、
   Ｗ相（ＰＷ）の下アーム（ＰＷＬ）のエミッタ電位信号端子（ＥＷＬ）の鉛直断面形状がＬ字状になるように、上側鉛直部分（ＥＷＬＶ）と下側水平部分（ＥＷＬＨ）とをＷ相（ＰＷ）の下アーム（ＰＷＬ）のエミッタ電位信号端子（ＥＷＬ）に形成し、
   外囲ケース（５）の第１仕切り壁（５ｅ）のモジュール短手方向の第１の側の部分（５ｅ１）の下側部分（５ｅ１ａ）と、外囲ケース（５）の第１仕切り壁（５ｅ）のモジュール短手方向の第２の側の部分（５ｅ２）の下側部分（５ｅ２ａ）とが、モジュール短手方向に延びている第１鉛直面（Ｓ５ｅ１）上に位置するように、かつ、外囲ケース（５）の第１仕切り壁（５ｅ）のモジュール短手方向の第１の側の部分（５ｅ１）の上側部分（５ｅ１ｂ）が、外囲ケース（５）の第１仕切り壁（５ｅ）のモジュール短手方向の第１の側の部分（５ｅ１）の下側部分（５ｅ１ａ）よりも、モジュール長手方向の第１の側に位置するように、かつ、外囲ケース（５）の第１仕切り壁（５ｅ）のモジュール短手方向の第２の側の部分（５ｅ２）の上側部分（５ｅ２ｂ）が、外囲ケース（５）の第１仕切り壁（５ｅ）のモジュール短手方向の第２の側の部分（５ｅ２）の下側部分（５ｅ２ａ）よりも、モジュール長手方向の第２の側に位置するように、外囲ケース（５）の第１仕切り壁（５ｅ）を形成し、
   Ｕ相（ＰＵ）の上アーム（ＰＵＵ）のゲート電極端子（ＧＵＵ）の上側鉛直部分（ＧＵＵＶ）の上端部と、Ｕ相（ＰＵ）の上アーム（ＰＵＵ）のコレクタ電位信号端子（ＣＵＵ）の上側鉛直部分（ＣＵＵＶ）の上端部と、Ｕ相（ＰＵ）の上アーム（ＰＵＵ）のエミッタ電位信号端子（ＥＵＵ）の上側鉛直部分（ＥＵＵＶ）とを、外囲ケース（５）の第１仕切り壁（５ｅ）のモジュール短手方向の第１の側の部分（５ｅ１）の上側部分（５ｅ１ｂ）から上側に突出させると共に、第１鉛直面（Ｓ５ｅ１）よりもモジュール長手方向の第１の側に位置しかつ第１鉛直面（Ｓ５ｅ１）に平行な第２鉛直面（Ｓ５ｅ２）上に配置し、
   Ｕ相（ＰＵ）の上アーム（ＰＵＵ）のゲート電極端子（ＧＵＵ）の下端水平部分（ＧＵＵＨ）と、Ｕ相（ＰＵ）の上アーム（ＰＵＵ）のコレクタ電位信号端子（ＣＵＵ）の下側水平部分（ＣＵＵＨ）と、Ｕ相（ＰＵ）の上アーム（ＰＵＵ）のエミッタ電位信号端子（ＥＵＵ）の下側水平部分（ＥＵＵＨ）とを、第１鉛直面（Ｓ５ｅ１）上に配置すると共に、外囲ケース（５）の第１仕切り壁（５ｅ）のモジュール短手方向の第１の側の部分（５ｅ１）の下側部分（５ｅ１ａ）の上面に露出させ、
   Ｖ相（ＰＶ）の下アーム（ＰＶＬ）のゲート電極端子（ＧＶＬ）の上側鉛直部分（ＧＶＬＶ）の上端部と、Ｖ相（ＰＶ）の下アーム（ＰＶＬ）のコレクタ電位信号端子（ＣＶＬ）の上側鉛直部分（ＣＶＬＶ）の上端部と、Ｖ相（ＰＶ）の下アーム（ＰＶＬ）のエミッタ電位信号端子（ＥＶＬ）の上側鉛直部分（ＥＶＬＶ）とを、外囲ケース（５）の第１仕切り壁（５ｅ）のモジュール短手方向の第２の側の部分（５ｅ２）の上側部分（５ｅ２ｂ）から上側に突出させると共に、第１鉛直面（Ｓ５ｅ１）よりもモジュール長手方向の第２の側に位置しかつ第１鉛直面（Ｓ５ｅ１）に平行な第３鉛直面（Ｓ５ｅ３）上に配置し、
   Ｖ相（ＰＶ）の下アーム（ＰＶＬ）のゲート電極端子（ＧＶＬ）の下端水平部分（ＧＶＬＨ）と、Ｖ相（ＰＶ）の下アーム（ＰＶＬ）のコレクタ電位信号端子（ＣＶＬ）の下側水平部分（ＣＶＬＨ）と、Ｖ相（ＰＶ）の下アーム（ＰＶＬ）のエミッタ電位信号端子（ＥＶＬ）の下側水平部分（ＥＶＬＨ）とを、第１鉛直面（Ｓ５ｅ１）上に配置すると共に、外囲ケース（５）の第１仕切り壁（５ｅ）のモジュール短手方向の第２の側の部分（５ｅ２）の下側部分（５ｅ２ａ）の上面に露出させ、
   外囲ケース（５）の第２仕切り壁（５ｆ）のモジュール短手方向の第１の側の部分（５ｆ１）の下側部分（５ｆ１ａ）と、外囲ケース（５）の第２仕切り壁（５ｆ）のモジュール短手方向の第２の側の部分（５ｆ２）の下側部分（５ｆ２ａ）とが、モジュール短手方向に延びている第４鉛直面（Ｓ５ｆ１）上に位置するように、かつ、外囲ケース（５）の第２仕切り壁（５ｆ）のモジュール短手方向の第１の側の部分（５ｆ１）の上側部分（５ｆ１ｂ）が、外囲ケース（５）の第２仕切り壁（５ｆ）のモジュール短手方向の第１の側の部分（５ｆ１）の下側部分（５ｆ１ａ）よりも、モジュール長手方向の第１の側に位置するように、かつ、外囲ケース（５）の第２仕切り壁（５ｆ）のモジュール短手方向の第２の側の部分（５ｆ２）の上側部分（５ｆ２ｂ）が、外囲ケース（５）の第２仕切り壁（５ｆ）のモジュール短手方向の第２の側の部分（５ｆ２）の下側部分（５ｆ２ａ）よりも、モジュール長手方向の第２の側に位置するように、外囲ケース（５）の第２仕切り壁（５ｆ）を形成し、 Ｖ相（ＰＶ）の上アーム（ＰＶＵ）のゲート電極端子（ＧＶＵ）の上側鉛直部分（ＧＶＵＶ）の上端部と、Ｖ相（ＰＶ）の上アーム（ＰＶＵ）のコレクタ電位信号端子（ＣＶＵ）の上側鉛直部分（ＣＶＵＶ）の上端部と、Ｖ相（ＰＶ）の上アーム（ＰＶＵ）のエミッタ電位信号端子（ＥＶＵ）の上側鉛直部分（ＥＶＵＶ）とを、外囲ケース（５）の第２仕切り壁（５ｆ）のモジュール短手方向の第１の側の部分（５ｆ１）の上側部分（５ｆ１ｂ）から上側に突出させると共に、第４鉛直面（Ｓ５ｆ１）よりもモジュール長手方向の第１の側に位置しかつ第４鉛直面（Ｓ５ｆ１）に平行な第５鉛直面（Ｓ５ｆ２）上に配置し、
   Ｖ相（ＰＶ）の上アーム（ＰＶＵ）のゲート電極端子（ＧＶＵ）の下端水平部分（ＧＶＵＨ）と、Ｖ相（ＰＶ）の上アーム（ＰＶＵ）のコレクタ電位信号端子（ＣＶＵ）の下側水平部分（ＣＶＵＨ）と、Ｖ相（ＰＶ）の上アーム（ＰＶＵ）のエミッタ電位信号端子（ＥＶＵ）の下側水平部分（ＥＶＵＨ）とを、第４鉛直面（Ｓ５ｆ１）上に配置すると共に、外囲ケース（５）の第２仕切り壁（５ｆ）のモジュール短手方向の第１の側の部分（５ｆ１）の下側部分（５ｆ１ａ）の上面に露出させ、
   Ｗ相（ＰＷ）の下アーム（ＰＷＬ）のゲート電極端子（ＧＷＬ）の上側鉛直部分（ＧＷＬＶ）の上端部と、Ｗ相（ＰＷ）の下アーム（ＰＷＬ）のコレクタ電位信号端子（ＣＷＬ）の上側鉛直部分（ＣＷＬＶ）の上端部と、Ｗ相（ＰＷ）の下アーム（ＰＷＬ）のエミッタ電位信号端子（ＥＷＬ）の上側鉛直部分（ＥＷＬＶ）とを、外囲ケース（５）の第２仕切り壁（５ｆ）のモジュール短手方向の第２の側の部分（５ｆ２）の上側部分（５ｆ２ｂ）から上側に突出させると共に、第４鉛直面（Ｓ５ｆ１）よりもモジュール長手方向の第２の側に位置しかつ第４鉛直面（Ｓ５ｆ１）に平行な第６鉛直面（Ｓ５ｆ３）上に配置し、
   Ｗ相（ＰＷ）の下アーム（ＰＷＬ）のゲート電極端子（ＧＷＬ）の下端水平部分（ＧＷＬＨ）と、Ｗ相（ＰＷ）の下アーム（ＰＷＬ）のコレクタ電位信号端子（ＣＷＬ）の下側水平部分（ＣＷＬＨ）と、Ｗ相（ＰＷ）の下アーム（ＰＷＬ）のエミッタ電位信号端子（ＥＷＬ）の下側水平部分（ＥＷＬＨ）とを、第４鉛直面（Ｓ５ｆ１）上に配置すると共に、外囲ケース（５）の第２仕切り壁（５ｆ）のモジュール短手方向の第２の側の部分（５ｆ２）の下側部分（５ｆ２ａ）の上面に露出させたことを特徴とする請求項１に記載のパワー半導体モジュール（１００）。
3. Ｕ相用サーミスタ（ＴＭＵ）を設け、
   Ｕ相用サーミスタ（ＴＭＵ）のモジュール短手方向寸法（ＷＴ）を第１の間隔（Ｗ１）より小さい値に設定し、
   Ｕ相用サーミスタ（ＴＭＵ）の少なくとも一部分を、第１ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵａ）のモジュール短手方向の第２の側の端部と第２ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｂ）のモジュール短手方向の第１の側の端部との間に配置すると共に、Ｕ相用サーミスタ（ＴＭＵ）のモジュール長手方向の第２の側の端部を、第１ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵａ）および第２ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｂ）のモジュール長手方向の第１の側の端部よりもモジュール長手方向の第２の側に配置したことを特徴とする請求項２に記載のパワー半導体モジュール（１００）。
4. Ｖ相用サーミスタ（ＴＭＶ）と、Ｗ相用サーミスタ（ＴＭＷ）とを設け、
   Ｖ相（ＰＶ）およびＷ相（ＰＷ）をＵ相（ＰＵ）と同一形状に形成し、
   Ｕ相用サーミスタ（ＴＭＵ）に電流を供給するためのＵ相用給電端子（ＴＵ１，ＴＵ２）を、外囲ケース（５）の第１仕切り壁（５ｅ）のうちのモジュール短手方向の第１の側の部分（５ｅ１）とモジュール短手方向の第２の側の部分（５ｅ２）との中間部分（５ｅ３）に形成し、
   Ｕ相用給電端子（ＴＵ１，ＴＵ２）の鉛直断面形状がＬ字状になるように、上側鉛直部分（ＴＵ１Ｖ，ＴＵ２Ｖ）と下側水平部分（ＴＵ１Ｈ，ＴＵ２Ｈ）とをＵ相用給電端子（ＴＵ１，ＴＵ２）に形成し、 外囲ケース（５）の第１仕切り壁（５ｅ）の中間部分（５ｅ３）の下側部分（５ｅ３ａ）が第１鉛直面（Ｓ５ｅ１）上に位置するように、かつ、外囲ケース（５）の第１仕切り壁（５ｅ）の中間部分（５ｅ３）の上側部分（５ｅ３ｂ）が、外囲ケース（５）の第１仕切り壁（５ｅ）の中間部分（５ｅ３）の下側部分（５ｅ３ａ）よりも、モジュール長手方向の第１の側に位置するように、外囲ケース（５）の第１仕切り壁（５ｅ）を形成し、
   Ｕ相用給電端子（ＴＵ１，ＴＵ２）の上側鉛直部分（ＴＵ１Ｖ，ＴＵ２Ｖ）を、外囲ケース（５）の第１仕切り壁（５ｅ）の中間部分（５ｅ３）の上側部分（５ｅ３ｂ）から上側に突出させると共に、第２鉛直面（Ｓ５ｅ２）上に配置し、
   Ｕ相用給電端子（ＴＵ１，ＴＵ２）の下側水平部分（ＴＵ１Ｈ，ＴＵ２Ｈ）を、第１鉛直面（Ｓ５ｅ１）上に配置すると共に、外囲ケース（５）の第１仕切り壁（５ｅ）の中間部分（５ｅ３）の下側部分（５ｅ３ａ）の上面に露出させ、
   Ｖ相用サーミスタ（ＴＭＶ）に電流を供給するためのＶ相用給電端子（ＴＶ１，ＴＶ２）を、外囲ケース（５）の第２仕切り壁（５ｆ）のうちのモジュール短手方向の第１の側の部分（５ｆ１）とモジュール短手方向の第２の側の部分（５ｆ２）との中間部分（５ｆ３）に形成し、
   Ｖ相用給電端子（ＴＶ１，ＴＶ２）の鉛直断面形状がＬ字状になるように、上側鉛直部分（ＴＶ１Ｖ，ＴＶ２Ｖ）と下側水平部分（ＴＶ１Ｈ，ＴＶ２Ｈ）とをＶ相用給電端子（ＴＶ１，ＴＶ２）に形成し、
   外囲ケース（５）の第２仕切り壁（５ｆ）の中間部分（５ｆ３）の下側部分（５ｆ３ａ）が第４鉛直面（Ｓ５ｆ１）上に位置するように、かつ、外囲ケース（５）の第２仕切り壁（５ｆ）の中間部分（５ｆ３）の上側部分（５ｆ３ｂ）が、外囲ケース（５）の第２仕切り壁（５ｆ）の中間部分（５ｆ３）の下側部分（５ｆ３ａ）よりも、モジュール長手方向の第１の側に位置するように、外囲ケース（５）の第２仕切り壁（５ｆ）を形成し、
   Ｖ相用給電端子（ＴＶ１，ＴＶ２）の上側鉛直部分（ＴＶ１Ｖ，ＴＶ２Ｖ）を、外囲ケース（５）の第２仕切り壁（５ｆ）の中間部分（５ｆ３）の上側部分（５ｆ３ｂ）から上側に突出させると共に、第５鉛直面（Ｓ５ｆ２）上に配置し、
   Ｖ相用給電端子（ＴＶ１，ＴＶ２）の下側水平部分（ＴＶ１Ｈ，ＴＶ２Ｈ）を、第４鉛直面（Ｓ５ｆ１）上に配置すると共に、外囲ケース（５）の第２仕切り壁（５ｆ）の中間部分（５ｆ３）の下側部分（５ｆ３ａ）の上面に露出させたことを特徴とする請求項３に記載のパワー半導体モジュール（１００）。
5. Ｕ相用サーミスタ（ＴＭＵ）の中心位置（ＣＴＭＵ）を、第１ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵａ）と第２ＩＧＢＴチップ（ＱＵＵｂ）との線対称中心線（ＣＬ１）よりもモジュール短手方向の第２の側に配置したことを特徴とする請求項４に記載のパワー半導体モジュール（１００）。
   
   

Images