JP5191221B2 - 低温受信増幅器 - Google Patents
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浜部,斉藤,大村,耳野,"極低温冷却HEMT増幅器",電子情報通信学会技術研究報告(電子デバイス),ED88-122, Jan. 1989. T. Nojima, S. Narahashi, T. Mimura, K. Satoh, Y. Suzuki, "2-GHz band cryogenic receiver front end for mobile communication base station systems", IEICE Transactions on Communications, vol. E83-B, no. 9, pp. 1834-1843, Aug. 2000. M. W. Pospieszalski, S. Weinreb, R. D. Norrod, and R. Harris, "FET’s and HEMT’s at cryogenic temperatures --- their properties and use in low-noise amplifiers--- ", IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques, vol. 36, no. 3, pp. 552-560, March 1988. K. H. G. Duh, M. W. Pospieszalski, W. F. Kopp, A. A. Jabra, P-C Chao, P. M. Smith, L .F. Lester, J. M. Ballingall, and S. Weinreb, "Ultra-low-noise cryogenic high-electron-mobility transistors", IEEE Transactions on Electron Devices, vol. 35, no. 3, pp.249-256, March 1988. 三村,楢橋,野島,"移動通信受信用2GHz帯極低温3段増幅器",1999年電子情報通信学会総合大会,B-5-31,March 1999. T. Kikkawa, and K. Joshin, "High power GaN-HEMT for wireless base station applications", IEICE Transactions on Electron., vol. E89-C, no. 5, pp. 608-615, May 2006.
図1(a)に、本発明の第1実施形態の低温受信増幅器100の構成を示す。増幅素子としてGaN HEMT110を用いる。そして、GaN HEMT110のゲートと低温受信増幅器100の入力端子T1との間で、GaN HEMT110のゲートと低温受信増幅器100の外部とのインピーダンス整合を行う入力整合回路120と、GaN HEMT110のゲートに直流電圧を印加するゲートバイアス回路130と、GaN HEMT110のドレインと低温受信増幅器100の出力端子T2との間で、GaN HEMT110のドレインと低温受信増幅器100の外部とのインピーダンス整合を行う出力整合回路140と、GaN HEMT110のドレインに直流電圧を印加するドレインバイアス回路150を備えている。
次に、GaN HEMT110の低温環境での動作について温度依存特性を明らかにするために、図2に示す冷却装置930の温度設定値を変更することで、低温受信増幅器100の入出力特性を測定した。この測定では、搬送波を2GHzの1波とし、低温受信増幅器100の入力電力を0dBm,5dBm,10dBmとした。また、GaN HEMT110のドレインバイアス電圧を50V、ドレイン電流を50mAとするゲートバイアス電圧を設定した。図10に低温受信増幅器100の利得の温度依存特性を示す。300Kから150Kまでは一次の傾き(ほぼ1.5dB/100Kの割合である。)で利得が増加している。150Kから50Kまでは冷却による利得向上効果がほとんどみられない。このことから、冷却による相互コンダクタンス(gm)の増大は150Kまでである。
図9に、本発明の低温受信増幅器100を2段目に用いた2段受信増幅器の構成を示す。初段には雑音指数の低いGaAs HEMT210を用いた低温受信増幅器200を用いる。上記非特許文献5に示されているように、初段のGaAs HEMT210は、例えば雑音指数0.3dB、利得10dBという特性を有している。例えば、2段目のGaN HEMT110の特性を、雑音指数2dB、利得26dBに設計すると、図9の構成での雑音指数は、およそ0.53dBとなる。上記非特許文献5の3段極低温受信機と比較して、段数を軽減しつつ、雑音指数0.53dBで飽和出力を1W以上かつ電力付加効率62%を達成できる。
第3実施形態は、低温環境下で生じる電流崩壊現象によるGaN HEMT110のドレイン−ソース間電流の減少を改善する。低温環境における電流崩壊現象では、電子励起状態が凍結した状態から時間とともに電子励起数が増加する。このため、ゲートバイアス電圧を設定してもドレイン電流が緩慢に増減する現象が生じる。
この第3実施形態によって、低温受信増幅器100の増幅動作が安定化するとともに、受信フロントエンドの動作も安定化する。
図21に、GaN HEMT110に青色LED500の光が照射された低温受信増幅器100の利得に関する温度依存性を示す。測定条件は低温受信増幅器100の入力電力を0dBm,5dBm,10dBmとした。また、青色LED500の順方向電流は10mAとした。冷却温度120Kでそれぞれの利得は最大となりまたは飽和した。120K以下での利得偏差は入力電力5dBmと10dBmでそれぞれ0.6dBと0.3dBである。これに対して、300Kから120Kでの利得増加量は入力電力5dBmと10dBmでそれぞれ2dBと2.3dBである。利得の温度依存性から青色LED500を用いた低温受信増幅器100は120K以下に冷却することが望ましい。なお、第1実施形態にて青色LED500を用いない低温受信増幅器100の好ましい冷却温度は150K以下であった。この冷却温度の差異は冷却環境下でのGaN HEMT110の増幅特性による。
図23に、GaN HEMT110に青色LED500の光を照射した場合の低温受信増幅器100の電流値収束特性を示す。実験条件は、冷却温度60K、測定周波数2GHz、入力電力5.5dBmとした。比較のためにGaN HEMT110に青色LED500の光を照射しない場合の測定結果も示す。青色LED500の光を照射することで、照射時間1500秒までの電流値偏移は6%である。電流値設定は50mAであることから、電流値偏移は3mAである。これに対して光を照射しないと1500秒にて電流値偏移は42%、電流値偏移は21.4mAである。このように、青色LED500の光を照射することで低温受信増幅器100の電流値を安定化できる。これは、低温受信増幅器100の動作点安定化であり、利得、効率、線形性の安定化になる。青色LED500の光を照射しない場合には、電流値が安定するまで低温受信増幅器100のアイドル運転が必要である。この場合、送信出力の変化によって電流値が不安定になる。また、電流値安定化のために、定電流回路が必要である。しかし、青色LED500の光を照射することで電流値安定化を簡易かつ高速に行うことができる。
Claims (1)
- 150K以下に冷却された環境で用いられる低温受信増幅器であって、
増幅素子としての窒化ガリウム高電子移動度トランジスタと、
窒化ガリウムのバンドギャップに相当する波長の光を照射する青色発光ダイオード、または、可視スペクトルの青色領域に相当する波長の光(青色光)を照射する青色発光ダイオード、または、前記青色光を含む光を照射する青色発光ダイオードと、
前記増幅素子のゲートと前記低温受信増幅器の入力端子の外部とのインピーダンス整合を行う入力整合回路と、
前記増幅素子のゲートに直流電圧を印加するゲートバイアス回路と、
前記増幅素子のドレインと前記低温受信増幅器の出力端子の外部とのインピーダンス整合を行う出力整合回路と、
前記増幅素子のドレインに直流電圧を印加するドレインバイアス回路と、
前記窒化ガリウム高電子移動度トランジスタのドレイン−ソース間の電流値をモニタする回路と、
前記モニタした前記電流値を積分する積分器と、
前記積分器の出力と基準電流値との差を出力する比較器と、
前記比較器の出力を0にするように前記青色発光ダイオードの順方向電流を制御する制御器と
を備えており、
前記順方向電流を制御された前記青色発光ダイオードから発せられた光を前記窒化ガリウム高電子移動度トランジスタに照射する
ことを特徴とする低温受信増幅器。
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