JP2642929B2 - 位置センサの調整方法 - Google Patents
位置センサの調整方法Info
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Description
【発明の詳細な説明】 以下の順序で本発明を説明する。
Ａ産業上の利用分野 Ｂ発明の概要 Ｃ従来の技術（第６図〜第８図） Ｄ発明が解決しようとする問題点（第６図及び第８図） Ｅ問題点を解決するための手段（第１図〜第６図及び第
８図） Ｆ作用（第１図、第２図、第４図〜第５図及び第８図） Ｇ実施例 （G1）実施例の構成（第３図及び第６図〜第８図） （G2）速度調整方法（第１図、第３図、第４図及び第
６図〜第８図） （G3）位相差調整方法（第２図、第３図及び第５図〜
第８図） （G4）他の実施例 Ｈ発明の効果 Ａ産業上の利用分野 本発明は位置センサの調整方法に関し、例えばハード
デイスク装置においてヘツドの位置を光学的手段によつ
て検出するようになされた位置センサの調整方法に適用
し得るものである。
８図） Ｆ作用（第１図、第２図、第４図〜第５図及び第８図） Ｇ実施例 （G1）実施例の構成（第３図及び第６図〜第８図） （G2）速度調整方法（第１図、第３図、第４図及び第
６図〜第８図） （G3）位相差調整方法（第２図、第３図及び第５図〜
第８図） （G4）他の実施例 Ｈ発明の効果 Ａ産業上の利用分野 本発明は位置センサの調整方法に関し、例えばハード
デイスク装置においてヘツドの位置を光学的手段によつ
て検出するようになされた位置センサの調整方法に適用
し得るものである。
Ｂ発明の概要 本発明はスケール及びセンサの相対的移動によつて、
位相の異なる複数の三角波形状の検出出力を得るように
なされた位置センサの調整方法において、各検出出力の
微分値を所定の値に調整することによつて、速度検出誤
差を調整し得、また各検出出力の電圧レベルを各別に調
整することによつて、各検出出力間の位相ずれを調整し
得る。
位相の異なる複数の三角波形状の検出出力を得るように
なされた位置センサの調整方法において、各検出出力の
微分値を所定の値に調整することによつて、速度検出誤
差を調整し得、また各検出出力の電圧レベルを各別に調
整することによつて、各検出出力間の位相ずれを調整し
得る。
Ｃ従来の技術 この種のハードデイスク装置においては、円板状磁気
デイスクの半径方向に、ヘツドアームに装着されたヘツ
ドを移動させることにより、磁気デイスク上に同心円状
に形成される多数の記録トラツクをトラツキングできる
ようになされている。
デイスクの半径方向に、ヘツドアームに装着されたヘツ
ドを移動させることにより、磁気デイスク上に同心円状
に形成される多数の記録トラツクをトラツキングできる
ようになされている。
このようなハードデイスク装置１は第６図に示すよう
に、Ｙ字状のヘツドアーム４の一方の先端部に装着され
たヘツド３が、例えばボイスコイルモータ６でなる駆動
装置によつて回動軸５を中心にして回動することによ
り、磁気デイスク２の半径方向に移動し、かくして磁気
デイスク２上に同心円状に形成された多数の記録トラツ
ク上にトラツキングし得るようになされている。
に、Ｙ字状のヘツドアーム４の一方の先端部に装着され
たヘツド３が、例えばボイスコイルモータ６でなる駆動
装置によつて回動軸５を中心にして回動することによ
り、磁気デイスク２の半径方向に移動し、かくして磁気
デイスク２上に同心円状に形成された多数の記録トラツ
ク上にトラツキングし得るようになされている。
ヘツドアーム４の他方の先端部には光センサ方式でな
る位置センサ９が設けられている。位置センサ９はセン
サ８及びスケール７で構成され、例えばLED等でなる発
光部、透明ガラス部材等に50〔μｍ〕幅のスリツトが10
0〔μｍ〕のピツチで蒸着された構成を有するレチクル
及びフオトダイオード等でなる受光部を上下に配設した
センサ８がモールド等でなる一体構造でヘツドアーム４
に装着されている。これに加えてシヤーシに取り付けら
れ例えば透明ガラス部材等にレチクルと同じパターンの
スリツトが蒸着されたスケール７を発光部及びレチクル
間の空隙を挟んだ状態でヘツドアーム４が移動すること
によつてこれに伴つてスケール及びレチクルのスリツト
の重なり合つた部分の開口が変動し、かくして受光部よ
り三角波形でなる検出出力を得るようになされている。
る位置センサ９が設けられている。位置センサ９はセン
サ８及びスケール７で構成され、例えばLED等でなる発
光部、透明ガラス部材等に50〔μｍ〕幅のスリツトが10
0〔μｍ〕のピツチで蒸着された構成を有するレチクル
及びフオトダイオード等でなる受光部を上下に配設した
センサ８がモールド等でなる一体構造でヘツドアーム４
に装着されている。これに加えてシヤーシに取り付けら
れ例えば透明ガラス部材等にレチクルと同じパターンの
スリツトが蒸着されたスケール７を発光部及びレチクル
間の空隙を挟んだ状態でヘツドアーム４が移動すること
によつてこれに伴つてスケール及びレチクルのスリツト
の重なり合つた部分の開口が変動し、かくして受光部よ
り三角波形でなる検出出力を得るようになされている。
ここで特に高密度記録にし得るようになされたハード
デイスク装置においては、磁気デイスクのトラツク間隔
が25〔μｍ〕であり、スケール７及びレチクルのスリツ
ト間隔と比較して狭いため、第７図に示すように各50
〔μｍ〕幅でかつ各100〔μｍ〕のピツチを有するスリ
ツト11A、11B、11C、11Dを配列した４つのレチクル10
A、10B、10C、10Dを各25〔μｍ〕づつずれるように位置
決めし、これにより各レチクル10A、10B、10C、10Dの下
部に設けられた４個の受光部より、第８図に示すように
互いに90°づつ位相の異なる三角波形状の４つの検出出
力SA、SB、SC、SDを得るようになされ、かくして各検出
出力SA、SB、SC、SDが右上りに所定の電圧を越える点
XA、XB、XC、XD（以下これを検出点と呼ぶ）に各記録ト
ラツクを対応させることにより、目的の記録トラツクに
応じた検出出力SA、SB、SC又はSDを用いてヘツド３をジ
ヤストトラツキング状態に位置決めし得る位置センサ９
が構成される。
デイスク装置においては、磁気デイスクのトラツク間隔
が25〔μｍ〕であり、スケール７及びレチクルのスリツ
ト間隔と比較して狭いため、第７図に示すように各50
〔μｍ〕幅でかつ各100〔μｍ〕のピツチを有するスリ
ツト11A、11B、11C、11Dを配列した４つのレチクル10
A、10B、10C、10Dを各25〔μｍ〕づつずれるように位置
決めし、これにより各レチクル10A、10B、10C、10Dの下
部に設けられた４個の受光部より、第８図に示すように
互いに90°づつ位相の異なる三角波形状の４つの検出出
力SA、SB、SC、SDを得るようになされ、かくして各検出
出力SA、SB、SC、SDが右上りに所定の電圧を越える点
XA、XB、XC、XD（以下これを検出点と呼ぶ）に各記録ト
ラツクを対応させることにより、目的の記録トラツクに
応じた検出出力SA、SB、SC又はSDを用いてヘツド３をジ
ヤストトラツキング状態に位置決めし得る位置センサ９
が構成される。
Ｄ発明が解決しようとする問題点 ところがこのような構成の位置センサ９においては、
例えばスケール７及びセンサ８がずれた状態のまま取り
付られると、検出出力SA、SB、SC、SDに波形歪が生じた
り、また各検出出力SA、SB、SC、SDの位相がずれたりす
るという問題があつた。
例えばスケール７及びセンサ８がずれた状態のまま取り
付られると、検出出力SA、SB、SC、SDに波形歪が生じた
り、また各検出出力SA、SB、SC、SDの位相がずれたりす
るという問題があつた。
このため従来は、スケール７又はセンサ８の取付精度
を高めると共に、各検出出力回路に設けられた振幅調整
回路及び電圧調整回路等を用いて、各検出出力SA、SB、
SC、SDの三角波の最大値及び最小値を所定の値に合わせ
るという調整方法が用いられていたが、このようにする
と、各検出出力SA、SB、SC、SDの最大値及び最小値の近
傍の波形のなまり具合が異なる場合には、調整後の各検
出出力SA、SB、SC、SDの直線部分の傾きが異なり、各検
出出力SA、SB、SC、SDにより得られるヘツドアーム４の
移動速度に誤差が生じたり、又は位相ずれを解消し得な
いというおそれがあり、結局ジヤストトラツキング状態
にトラツキングし得ないおそれがある。
を高めると共に、各検出出力回路に設けられた振幅調整
回路及び電圧調整回路等を用いて、各検出出力SA、SB、
SC、SDの三角波の最大値及び最小値を所定の値に合わせ
るという調整方法が用いられていたが、このようにする
と、各検出出力SA、SB、SC、SDの最大値及び最小値の近
傍の波形のなまり具合が異なる場合には、調整後の各検
出出力SA、SB、SC、SDの直線部分の傾きが異なり、各検
出出力SA、SB、SC、SDにより得られるヘツドアーム４の
移動速度に誤差が生じたり、又は位相ずれを解消し得な
いというおそれがあり、結局ジヤストトラツキング状態
にトラツキングし得ないおそれがある。
本発明は以上の点を考慮してなされたもので、従来の
位置センサの調整方法の問題点を一挙に解決することが
できる位置センサの調整方法を提案しようとするもので
ある。
位置センサの調整方法の問題点を一挙に解決することが
できる位置センサの調整方法を提案しようとするもので
ある。
Ｅ問題点を解決するための手段 かかる問題点を解決するため第１の発明においては、
スケール及びセンサの相対的移動によつて得られる互い
に位相の異なる三角波形状の各検出出力が立上がり又は
立下がる際に所定の電圧を越える点を検出点として当該
各検出点に各記録トラツクを対応させ、当該各記録トラ
ツクに対応する各検出出力に基づいてヘツドの位置を検
知する位置センサにおいて、各検出出力の最大値及び最
小値が所定の値になるように各検出出力の振幅を調整し
た後、スケール及びセンサを所定の速度で移動させ、当
該移動結果に基づいて得られる各検出出力を微分して得
た各検出点近傍の各微分値が所定の値になるように、各
検出出力の振幅を調整するようにした。
スケール及びセンサの相対的移動によつて得られる互い
に位相の異なる三角波形状の各検出出力が立上がり又は
立下がる際に所定の電圧を越える点を検出点として当該
各検出点に各記録トラツクを対応させ、当該各記録トラ
ツクに対応する各検出出力に基づいてヘツドの位置を検
知する位置センサにおいて、各検出出力の最大値及び最
小値が所定の値になるように各検出出力の振幅を調整し
た後、スケール及びセンサを所定の速度で移動させ、当
該移動結果に基づいて得られる各検出出力を微分して得
た各検出点近傍の各微分値が所定の値になるように、各
検出出力の振幅を調整するようにした。
また第２の発明においては、スケール及びセンサの相
対的移動によつて得られる互いに位相の異なる三角波形
状の各検出出力が立上がり又は立下がる際に所定の電圧
を越える点を検出点として当該各検出点に各記録トラツ
クを対応させ、当該各記録トラツクに対応する各検出出
力に基づいてヘツドの位置を検知する位置センサにおい
て、各検出出力の最大値及び最小値が所定の値になるよ
うに各検出出力の振幅を調整した後、スケール及びセン
サを所定の速度で移動させ、当該移動結果に基づいて得
られる各検出出力の各検出点間における位相差が所定の
位相差となるように各検出出力の電圧を調整するように
した。
対的移動によつて得られる互いに位相の異なる三角波形
状の各検出出力が立上がり又は立下がる際に所定の電圧
を越える点を検出点として当該各検出点に各記録トラツ
クを対応させ、当該各記録トラツクに対応する各検出出
力に基づいてヘツドの位置を検知する位置センサにおい
て、各検出出力の最大値及び最小値が所定の値になるよ
うに各検出出力の振幅を調整した後、スケール及びセン
サを所定の速度で移動させ、当該移動結果に基づいて得
られる各検出出力の各検出点間における位相差が所定の
位相差となるように各検出出力の電圧を調整するように
した。
Ｆ作用 各検出出力SA、SB、SC、SDの振幅を調整すれば、各検
出出力SA、SB、SC、SDの傾きを可変し得、これに基づい
て微分値を調整し得る。ここで各検出出力SA、SB、SC、
SDを微分して得られる微分値は、スケール７及びセンサ
８の移動速度を表すので、所定の速度に応じた微分値を
得るようにすることにより、各検出出力SA、SB、SC、SD
の速度検出誤差を有効に補償し得る。
出出力SA、SB、SC、SDの傾きを可変し得、これに基づい
て微分値を調整し得る。ここで各検出出力SA、SB、SC、
SDを微分して得られる微分値は、スケール７及びセンサ
８の移動速度を表すので、所定の速度に応じた微分値を
得るようにすることにより、各検出出力SA、SB、SC、SD
の速度検出誤差を有効に補償し得る。
また、各検出出力SA、SB、SC、SDの電圧を調整すれ
ば、各検出出力SA、SB、SC、SDが所定の電圧を越す位置
XA、XB、XC、XDを調整し得る。ここで各検出出力SA、
SB、SC、SDの位相差は、立上り又は立下りの一方が所定
の電圧を越える位置XA、XB、XC、XDに基づいて検出する
ようになされていることにより、各検出出力SA、SB、
SC、SD間の位相差が所定の位相差となるように有効に調
整し得る。
ば、各検出出力SA、SB、SC、SDが所定の電圧を越す位置
XA、XB、XC、XDを調整し得る。ここで各検出出力SA、
SB、SC、SDの位相差は、立上り又は立下りの一方が所定
の電圧を越える位置XA、XB、XC、XDに基づいて検出する
ようになされていることにより、各検出出力SA、SB、
SC、SD間の位相差が所定の位相差となるように有効に調
整し得る。
Ｇ実施例 以下図面について、本発明の一実施例を詳述する。
（G1）実施例の構成 第６図〜第８図に示すハードデイスク装置１において
各レチクル10A、10B、10C、10Dの下部に配設された４つ
の受光部12A、12B、12C、12Dに得られるそれぞれの受光
出力PA、PB、PC、PDは、第３図に示すように４系列でな
るそれぞれの検出回路13A、13B、13C、13Dに与えられ
る。
各レチクル10A、10B、10C、10Dの下部に配設された４つ
の受光部12A、12B、12C、12Dに得られるそれぞれの受光
出力PA、PB、PC、PDは、第３図に示すように４系列でな
るそれぞれの検出回路13A、13B、13C、13Dに与えられ
る。
検出回路13A、13B、13C、13Dにおいて各受光出力PA、
PB、PC、PDは、負帰還用抵抗VR1A、VR1B、VR1C、VR1Dを
有する演算増幅器構成の第１の増幅回路14A、14B、14
C、14Dの反転入力端に与えられる。また各増幅回路14
A、14B、14C、14Dの非反転入力端は共通の電源VAに接続
されている。これにより各受光出力PA、PB、PC、PDを増
幅すると共に、可変抵抗VR1A、VR1B、VR1C、VR1Dにて各
受光出力PA、PB、PC、PDの振幅を調整し得るようになさ
れている。
PB、PC、PDは、負帰還用抵抗VR1A、VR1B、VR1C、VR1Dを
有する演算増幅器構成の第１の増幅回路14A、14B、14
C、14Dの反転入力端に与えられる。また各増幅回路14
A、14B、14C、14Dの非反転入力端は共通の電源VAに接続
されている。これにより各受光出力PA、PB、PC、PDを増
幅すると共に、可変抵抗VR1A、VR1B、VR1C、VR1Dにて各
受光出力PA、PB、PC、PDの振幅を調整し得るようになさ
れている。
また増幅回路14A、14B、14C、14Dの検出出力SA、SB、
SC、SDは、それぞれ抵抗R1A、R1B、R1C、R1Dを介して、
一端が接地された可変抵抗VR2A、VR2B、VR2C、VR2Dの他
端に接続され、これにより電圧調整回路15A、15B、15
C、15Dを構成し、可変抵抗VR2A、VR2B、VR2C、VR2Dの抵
抗値を変更することにより各検出出力SA、SB、SC、SDの
位相を調整し得るようになされている。
SC、SDは、それぞれ抵抗R1A、R1B、R1C、R1Dを介して、
一端が接地された可変抵抗VR2A、VR2B、VR2C、VR2Dの他
端に接続され、これにより電圧調整回路15A、15B、15
C、15Dを構成し、可変抵抗VR2A、VR2B、VR2C、VR2Dの抵
抗値を変更することにより各検出出力SA、SB、SC、SDの
位相を調整し得るようになされている。
さらに電圧調整回路15A、15B、15C、15Dの各検出出力
SA、SB、SC、SDは、負帰還用抵抗R2A、R2B、R2C、R2Dを
有する演算増幅器構成の第２の増幅回路16A、16B、16
C、16Dの反転入力端に入力され、その非反転入力端が共
通電源VBに接続されている。第２の増幅回路16A、16B、
16C、16Dの出力端は、スイツチ回路17に接続され、各記
録トラツクに対応する検出出力SA、SB、SC又はSDを選択
することにより、当該記録トラツクの位置を検出し得る
ようになされている。
SA、SB、SC、SDは、負帰還用抵抗R2A、R2B、R2C、R2Dを
有する演算増幅器構成の第２の増幅回路16A、16B、16
C、16Dの反転入力端に入力され、その非反転入力端が共
通電源VBに接続されている。第２の増幅回路16A、16B、
16C、16Dの出力端は、スイツチ回路17に接続され、各記
録トラツクに対応する検出出力SA、SB、SC又はSDを選択
することにより、当該記録トラツクの位置を検出し得る
ようになされている。
（G2）速度調整方法 上述の構成の位置センサ９において、例えばセンサ８
やスケール７の取付け誤差等により、各検出出力SA、
SB、SC、SDに波形歪が生じれば速度誤差が生ずるおそれ
があるが、この誤差を第１図に示す処理手順に従つて速
度調整を行うことにより補正する。
やスケール７の取付け誤差等により、各検出出力SA、
SB、SC、SDに波形歪が生じれば速度誤差が生ずるおそれ
があるが、この誤差を第１図に示す処理手順に従つて速
度調整を行うことにより補正する。
すなわち調整者はステツプSP1において当該処理手順
に入り、ステツプSP2において、例えばオシロスコープ
等により出力波形を目視しながらヘツドアーム４を微動
させ、各検出回路13A、13B、13C、13Dの振幅調整用の可
変抵抗VR1A、VR1B、VR1C、VR1D及び、電圧調整用の可変
抵抗VR2A、VR2B、VR2C、VR2Dを調整することにより各検
出出力SA、SB、SC、SDの最大値及び最小値を規定値（例
えば９〔Ｖ〕及び３〔Ｖ〕）に合せる。
に入り、ステツプSP2において、例えばオシロスコープ
等により出力波形を目視しながらヘツドアーム４を微動
させ、各検出回路13A、13B、13C、13Dの振幅調整用の可
変抵抗VR1A、VR1B、VR1C、VR1D及び、電圧調整用の可変
抵抗VR2A、VR2B、VR2C、VR2Dを調整することにより各検
出出力SA、SB、SC、SDの最大値及び最小値を規定値（例
えば９〔Ｖ〕及び３〔Ｖ〕）に合せる。
続くステツプSP3においては、例えばヘツドアーム４
が、所定の速度で回動するようにボイスコイルモータ６
に制御電流を与えることによりヘツドアーム４を一定速
度で移動させる。
が、所定の速度で回動するようにボイスコイルモータ６
に制御電流を与えることによりヘツドアーム４を一定速
度で移動させる。
さらに続くステツプSP4においては、ヘツドアーム４
の移動により得られる各検出出力SA、SB、SC、SDを例え
ば微分回路等を介して微分し、その結果得られる微分波
形をオシロスコープ等で目視しながらステツプSP5にお
いて各検出出力SA、SB、SC、SDの検出点XA、XB、XC、XD
近傍の微分値が規定の値となるように振幅調整用の可変
抵抗VR1A、VR1B、VR1C、VR1Dを用いて調整する。
の移動により得られる各検出出力SA、SB、SC、SDを例え
ば微分回路等を介して微分し、その結果得られる微分波
形をオシロスコープ等で目視しながらステツプSP5にお
いて各検出出力SA、SB、SC、SDの検出点XA、XB、XC、XD
近傍の微分値が規定の値となるように振幅調整用の可変
抵抗VR1A、VR1B、VR1C、VR1Dを用いて調整する。
これは例えば第４図（Ｂ）に示すように、最大値及び
最小値近傍の波形がなまつた三角波形状でなる第１の検
出出力SA1がステツプSP2において最大値及び最小値を所
定の値すなわち最大値９〔Ｖ〕及び最小値３〔Ｖ〕の間
の振幅を有するように調整されているとすれば、検出出
力SA1の検出点XA1近傍における直線部分の傾きは、第４
図（Ａ）に示すように最大値９〔Ｖ〕及び最小値３
〔Ｖ〕を有する三角波形（以下これを理想三角波形SRと
呼ぶ）と比較して大きい値をもつようになる。
最小値近傍の波形がなまつた三角波形状でなる第１の検
出出力SA1がステツプSP2において最大値及び最小値を所
定の値すなわち最大値９〔Ｖ〕及び最小値３〔Ｖ〕の間
の振幅を有するように調整されているとすれば、検出出
力SA1の検出点XA1近傍における直線部分の傾きは、第４
図（Ａ）に示すように最大値９〔Ｖ〕及び最小値３
〔Ｖ〕を有する三角波形（以下これを理想三角波形SRと
呼ぶ）と比較して大きい値をもつようになる。
従つて、この検出出力SA1の微分波形DSA1は第４図
（Ｃ）に示すように、振幅の大きい方形波形状となり、
検出出力の振幅を振幅調整用の可変抵抗VR1A、を用いて
微分波形の検出点XA1近傍の値d1が、第４図（Ｄ）に示
すように、所定の値d2となるように調整することによ
り、第４図（Ｅ）に示すように、直線部分の傾き、すな
わちこれにより得られるヘツドアーム４の移動速度が理
想三角波形SRとほぼ等しい値をもつように補正し得る。
（Ｃ）に示すように、振幅の大きい方形波形状となり、
検出出力の振幅を振幅調整用の可変抵抗VR1A、を用いて
微分波形の検出点XA1近傍の値d1が、第４図（Ｄ）に示
すように、所定の値d2となるように調整することによ
り、第４図（Ｅ）に示すように、直線部分の傾き、すな
わちこれにより得られるヘツドアーム４の移動速度が理
想三角波形SRとほぼ等しい値をもつように補正し得る。
さらにステツプSP6において、各検出出力SA、SB、
SC、SDの微分値をすべて規定値に調整し得たかを判断
し、否定結果が得られれば（すなわちこのことは未調整
の検出出力SA、SB、SC、SDが残つていることを表す。）
ステツプSP5に戻り、再度検出出力SA、SB、SC又はSDに
関しての振幅の調整を行う。
SC、SDの微分値をすべて規定値に調整し得たかを判断
し、否定結果が得られれば（すなわちこのことは未調整
の検出出力SA、SB、SC、SDが残つていることを表す。）
ステツプSP5に戻り、再度検出出力SA、SB、SC又はSDに
関しての振幅の調整を行う。
またステツプSP6において肯定結果を得るとステツプS
P7において当該処理手順を終了する。
P7において当該処理手順を終了する。
上述の速度調整方法によれば、各検出出力SA、SB、
SC、SDの振幅を微分波形を参照して、その検出点XA、
XB、XC、XD近傍の値が所定の値となるように調整するこ
とにより、各検出出力の直線部分の傾きを理想三角波形
SRとほぼ等しい値に補正し得、かくして、各検出出力
SA、SB、SC、SDの出力波形に波形歪が生じても検出点
XA、XB、XC、XD近傍における移動速度検出誤差を有効に
除去し得る。
SC、SDの振幅を微分波形を参照して、その検出点XA、
XB、XC、XD近傍の値が所定の値となるように調整するこ
とにより、各検出出力の直線部分の傾きを理想三角波形
SRとほぼ等しい値に補正し得、かくして、各検出出力
SA、SB、SC、SDの出力波形に波形歪が生じても検出点
XA、XB、XC、XD近傍における移動速度検出誤差を有効に
除去し得る。
（G3）位相差調整方法 上述の構成の位置センサ９において、例えばスケール
７又はセンサ８の取付け誤差等により、各検出出力SA、
SB、SC、SDの検出点XA、XB、XC、XDが互いに90°の位相
差になつていない時には、第２図に示す処理手順に従つ
て位相差調整を行う。
７又はセンサ８の取付け誤差等により、各検出出力SA、
SB、SC、SDの検出点XA、XB、XC、XDが互いに90°の位相
差になつていない時には、第２図に示す処理手順に従つ
て位相差調整を行う。
すなわち調整者はステツプSP10から当該処理手順に入
り、ステツプSP11及びステツプSP12において、第１図の
速度調整の場合と同様にして各検出回路13A、13B、13
C、13Dの振幅調整用の可変抵抗VR1A、VR1B、VR1C、VR1D
及び電圧調整用の可変抵抗VR2A、VR2B、VR2C、VR2Dを調
整することにより、各検出出力SA、SB、SC、SDの最大値
及び最小値を規定値に調整すると共に、ボイスコイルモ
ータ６に所定の制御電流を与えることによりヘツドアー
ム４を一定速度で移動させる。
り、ステツプSP11及びステツプSP12において、第１図の
速度調整の場合と同様にして各検出回路13A、13B、13
C、13Dの振幅調整用の可変抵抗VR1A、VR1B、VR1C、VR1D
及び電圧調整用の可変抵抗VR2A、VR2B、VR2C、VR2Dを調
整することにより、各検出出力SA、SB、SC、SDの最大値
及び最小値を規定値に調整すると共に、ボイスコイルモ
ータ６に所定の制御電流を与えることによりヘツドアー
ム４を一定速度で移動させる。
続くステツプSP13及びステツプSP14において、オシロ
スコープ等により各検出出力SA、SB、SC、SDの波形の検
出点XA、XB、XC、XDの位相差を測定し、例えば本来互い
に90°の位相差を有するようになされた第１の検出出力
SA及び第２の検出出力SB1の検出点XA及びXB1が第５図に
示すように、互いに120°の位相差を有する際には、例
えば第２の検出回路13Bの電圧調整回路15Bの可変抵抗VR
2Bを調整して第５図（Ｂ）の点線で示すように第２の検
出出力SB1の波形を全体的に持ち上げ、第１及び第２の
検出出力のSA及びSB2のそれぞれの検出点XA及びXB2の位
相差が90°になるように調整する。
スコープ等により各検出出力SA、SB、SC、SDの波形の検
出点XA、XB、XC、XDの位相差を測定し、例えば本来互い
に90°の位相差を有するようになされた第１の検出出力
SA及び第２の検出出力SB1の検出点XA及びXB1が第５図に
示すように、互いに120°の位相差を有する際には、例
えば第２の検出回路13Bの電圧調整回路15Bの可変抵抗VR
2Bを調整して第５図（Ｂ）の点線で示すように第２の検
出出力SB1の波形を全体的に持ち上げ、第１及び第２の
検出出力のSA及びSB2のそれぞれの検出点XA及びXB2の位
相差が90°になるように調整する。
これは、位置検出に際して各検出出力SA、SB、SC、SD
の波形において検出点XA、XB、XC、XDを用いていること
及び検出出力SA、SB、SC、SDに波形歪が生じても、検出
出力SA、SB、SC、SDの右上り部分の直線部自体が約80％
程度の直線性を保障し得るように予め条件を選定してお
くことにより、電圧レベルを変化させても速度検出系に
対して悪影響を及ぼさずに位相差調整をなし得る。
の波形において検出点XA、XB、XC、XDを用いていること
及び検出出力SA、SB、SC、SDに波形歪が生じても、検出
出力SA、SB、SC、SDの右上り部分の直線部自体が約80％
程度の直線性を保障し得るように予め条件を選定してお
くことにより、電圧レベルを変化させても速度検出系に
対して悪影響を及ぼさずに位相差調整をなし得る。
続いてステツプSP15においては、各検出出力SA、SB、
SC、SDの検出点XA、XB、XC、XDの位相差が互いに90°と
なし得たか否かを判断し、否定結果が得られると、ステ
ツプSP13及びステツプSP14を再度実行して上述の場合と
同様にして各検出出力SA、SB、SC、SDの検出点XA、XB、
XC、XDの位相差が互いに90°となるように調整する。
SC、SDの検出点XA、XB、XC、XDの位相差が互いに90°と
なし得たか否かを判断し、否定結果が得られると、ステ
ツプSP13及びステツプSP14を再度実行して上述の場合と
同様にして各検出出力SA、SB、SC、SDの検出点XA、XB、
XC、XDの位相差が互いに90°となるように調整する。
またステツプSP15において、肯定結果が得られると、
続くステツプSP16において当該処理手順を終了する。
続くステツプSP16において当該処理手順を終了する。
上述の位相差調整方法によれば、各検出出力SA、SB、
SC、SDの検出点XA、XB、XC、XDに注目し、各検出出力
SA、SB、SC、SDの電圧を調整することにより、各検出結
果の位相差を互いに90°となし得、かくして良好に位相
ずれを補正し得ると共にトラツクマージンを最大にする
ことができる。
SC、SDの検出点XA、XB、XC、XDに注目し、各検出出力
SA、SB、SC、SDの電圧を調整することにより、各検出結
果の位相差を互いに90°となし得、かくして良好に位相
ずれを補正し得ると共にトラツクマージンを最大にする
ことができる。
（G4）他の実施例 （１）上述の実施例においては、各検出出力の最大値及
び最小値の調整及び微分値の調整にオシロスコープを用
いたが、これに代え、例えば電圧計等の他の測定機器を
用いても同様の効果を得ることができる。
び最小値の調整及び微分値の調整にオシロスコープを用
いたが、これに代え、例えば電圧計等の他の測定機器を
用いても同様の効果を得ることができる。
（２）上述の実施例においては、第１及び第２の本発明
を４相の検出出力を有する位置センサの調整方法に用い
たが、これに代え、６相、８相等他の複数の検出出力を
得るようになされた位置センサの調整方法にも適用し得
る。
を４相の検出出力を有する位置センサの調整方法に用い
たが、これに代え、６相、８相等他の複数の検出出力を
得るようになされた位置センサの調整方法にも適用し得
る。
特に第１の発明による速度調整方法は、単相の検出出
力のみでなる位置センサの速度誤差の調整方法にも適用
し得る。
力のみでなる位置センサの速度誤差の調整方法にも適用
し得る。
（３）上述の実施例においては、ボイスコイルモータに
所定の制御電流を与えこれによりヘツドアームを一定速
度で移動するようにしたが、これに代え例えば外部より
の機械動作等によりヘッドアームを一定速度で移動する
ようにしても同様の効果を得ることができる。
所定の制御電流を与えこれによりヘツドアームを一定速
度で移動するようにしたが、これに代え例えば外部より
の機械動作等によりヘッドアームを一定速度で移動する
ようにしても同様の効果を得ることができる。
（４）上述の実施例においては、６〔Ｖ〕を中心として
±３〔Ｖ〕の振幅を有する各検出出力を出力する位置セ
ンサに第１及び第２の発明による調整方法を適用した
が、第１及び第２の発明はこれに限らず、要は三角波形
状の検出出力の右上がり部又は右下がり部が所定の電圧
を越す点を検出点とし、これを用いて位置検出し、さら
にその近傍における微分値を用いて速度検出するように
なされた位置センサに適用して好適なものである。
±３〔Ｖ〕の振幅を有する各検出出力を出力する位置セ
ンサに第１及び第２の発明による調整方法を適用した
が、第１及び第２の発明はこれに限らず、要は三角波形
状の検出出力の右上がり部又は右下がり部が所定の電圧
を越す点を検出点とし、これを用いて位置検出し、さら
にその近傍における微分値を用いて速度検出するように
なされた位置センサに適用して好適なものである。
（５）上述の実施例においては、第１及び第２の発明を
ハードデイスク装置の位置センサの調整方法に適用した
一実施例について述べたが、これに限らず例えばモータ
を使つた工作機械等、他の位置センサの調整方法に広く
適用し得るものである。
ハードデイスク装置の位置センサの調整方法に適用した
一実施例について述べたが、これに限らず例えばモータ
を使つた工作機械等、他の位置センサの調整方法に広く
適用し得るものである。
Ｈ発明の効果 上述のように本発明によれば、スケール及びセンサの
相対的移動によつて得られる互いに位相の異なる三角波
形状の各検出出力が立上がり又は立下がる際に所定の電
圧を越える点を検出点として当該各検出点に各記録トラ
ツクを対応させ、当該各記録トラツクに対応する各検出
出力に基づいてヘツドの位置を検知する位置センサにお
いて、各検出出力の最大値及び最小値が所定の値になる
ように各検出出力の振幅を調整した後、スケール及びセ
ンサを所定の速度で移動させ、当該移動結果に基づいて
得られる各検出出力を微分して得た各検出点近傍の各微
分値が所定の値になるように、各検出出力の振幅を調整
するようにしたことにより、各検出出力の検出点におけ
る傾きを一定に調整し得るので速度誤差を有効に補正し
得、かくしてヘツドをジヤストトラツキング状態にする
ことができる位置センサの調整方法を実現し得る。
相対的移動によつて得られる互いに位相の異なる三角波
形状の各検出出力が立上がり又は立下がる際に所定の電
圧を越える点を検出点として当該各検出点に各記録トラ
ツクを対応させ、当該各記録トラツクに対応する各検出
出力に基づいてヘツドの位置を検知する位置センサにお
いて、各検出出力の最大値及び最小値が所定の値になる
ように各検出出力の振幅を調整した後、スケール及びセ
ンサを所定の速度で移動させ、当該移動結果に基づいて
得られる各検出出力を微分して得た各検出点近傍の各微
分値が所定の値になるように、各検出出力の振幅を調整
するようにしたことにより、各検出出力の検出点におけ
る傾きを一定に調整し得るので速度誤差を有効に補正し
得、かくしてヘツドをジヤストトラツキング状態にする
ことができる位置センサの調整方法を実現し得る。
また、スケール及びセンサの相対的移動によつて得ら
れる互いに位相の異なる三角波形状の各検出出力が立上
がり又は立下がる際に所定の電圧を越える点を検出点と
して当該各検出点に各記録トラツクを対応させ、当該各
記録トラツクに対応する各検出出力に基づいてヘツドの
位置を検知する位置センサにおいて、各検出出力の最大
値及び最小値が所定の値になるように各検出出力の振幅
を調整した後、スケール及びセンサを所定の速度で移動
させ、当該移動結果に基づいて得られる各検出出力の検
出点間における位相差が所定の位相差となるように、各
検出出力の電圧を調整するようにしたことにより、各検
出出力の各検出点における位相差を調整し得るので位相
ずれを有効に補正し得、かくしてヘツドをジヤストトラ
ツキング状態にすることができる位置センサの調整方法
を実現し得る。
れる互いに位相の異なる三角波形状の各検出出力が立上
がり又は立下がる際に所定の電圧を越える点を検出点と
して当該各検出点に各記録トラツクを対応させ、当該各
記録トラツクに対応する各検出出力に基づいてヘツドの
位置を検知する位置センサにおいて、各検出出力の最大
値及び最小値が所定の値になるように各検出出力の振幅
を調整した後、スケール及びセンサを所定の速度で移動
させ、当該移動結果に基づいて得られる各検出出力の検
出点間における位相差が所定の位相差となるように、各
検出出力の電圧を調整するようにしたことにより、各検
出出力の各検出点における位相差を調整し得るので位相
ずれを有効に補正し得、かくしてヘツドをジヤストトラ
ツキング状態にすることができる位置センサの調整方法
を実現し得る。
第１図は第１の発明の速度調整方法の一実施例を示すフ
ローチヤート、第２図は第２の発明の位置差調整方法の
一実施例を示すフローチヤート、第３図は位置センサの
検出回路を示す接続図、第４図は第１の発明の速度調整
方法の説明に供する信号波形図、第５図は第２の発明の
位相差調整方法の説明に供する信号波形図、第６図は本
発明による位置センサの調整方法を適用したハードデイ
スク装置の略線的平面図、第７図はその位置センサのス
ケール及びレチクルの関係の説明に供する略線図、第８
図は検出出力を示す信号波形図である。 １……ハードデイスク装置、２……デイスク、３……ヘ
ツド、４……ヘツドアーム、５……回転軸、６……ボイ
スコイルモータ、７……スケール、８……センサ、９…
…位置センサ。
ローチヤート、第２図は第２の発明の位置差調整方法の
一実施例を示すフローチヤート、第３図は位置センサの
検出回路を示す接続図、第４図は第１の発明の速度調整
方法の説明に供する信号波形図、第５図は第２の発明の
位相差調整方法の説明に供する信号波形図、第６図は本
発明による位置センサの調整方法を適用したハードデイ
スク装置の略線的平面図、第７図はその位置センサのス
ケール及びレチクルの関係の説明に供する略線図、第８
図は検出出力を示す信号波形図である。 １……ハードデイスク装置、２……デイスク、３……ヘ
ツド、４……ヘツドアーム、５……回転軸、６……ボイ
スコイルモータ、７……スケール、８……センサ、９…
…位置センサ。
Claims (2)
- 【請求項１】スケール及びセンサの相対的移動によつて
得られる互いに位相の異なる三角波形状の各検出出力が
立上がり又は立下がる際に所定の電圧を越える点を検出
点として当該各検出点に各記録トラツクを対応させ、当
該各記録トラツクに対応する上記各検出出力に基づいて
ヘツドの位置を検知する位置センサにおいて、 上記各検出出力の最大値及び最小値が所定の値になるよ
うに上記各検出出力の振幅及び電圧を調整した後、上記
スケール及びセンサを所定の速度で移動させ、当該移動
結果に基づいて得られる各検出出力を微分して得た上記
各検出点近傍の各微分値が所定の値になるように、上記
各検出出力の振幅を調整するようにした ことを特徴とする位置センサの調整方法。 - 【請求項２】スケール及びセンサの相対的移動によつて
得られる互いに位相の異なる三角波形状の各検出出力が
立上がり又は立下がる際に所定の電圧を越える点を検出
点として当該各検出点に各記録トラツクを対応させ、当
該各記録トラツクに対応する上記各検出出力に基づいて
ヘツドの位置を検知する位置センサにおいて、 上記各検出出力の最大値及び最小値が所定の値になるよ
うに上記各検出出力の振幅及び電圧を調整した後、上記
スケール及びセンサを所定の速度で移動させ、当該移動
結果に基づいて得られる上記各検出出力の上記各検出点
間における位相差が所定の位相差となるように上記各検
出出力の電圧を調整するようにした ことを特徴とする位置センサの調整方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61302925A JP2642929B2 (ja) | 1986-12-19 | 1986-12-19 | 位置センサの調整方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61302925A JP2642929B2 (ja) | 1986-12-19 | 1986-12-19 | 位置センサの調整方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63154916A JPS63154916A (ja) | 1988-06-28 |
| JP2642929B2 true JP2642929B2 (ja) | 1997-08-20 |
Family
ID=17914775
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61302925A Expired - Fee Related JP2642929B2 (ja) | 1986-12-19 | 1986-12-19 | 位置センサの調整方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2642929B2 (ja) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02226012A (ja) * | 1989-02-27 | 1990-09-07 | Sony Corp | 光学的位置検出装置 |
| JP3024184B2 (ja) * | 1990-08-14 | 2000-03-21 | ソニー株式会社 | サーボ信号記録方法 |
| EP0484907A2 (en) * | 1990-11-09 | 1992-05-13 | Brier Technology | Magnetic head positioning scheme using a capacitive transducer |
| JP4693213B2 (ja) * | 2000-08-28 | 2011-06-01 | ハイデンハイン株式会社 | リニヤスケールにおける原点信号のピークレべルの調整装置及び調整方法 |
| JP6235505B2 (ja) | 2015-02-27 | 2017-11-22 | ファナック株式会社 | 自動調整機能を有するエンコーダの信号処理装置 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6120868A (ja) * | 1984-07-09 | 1986-01-29 | Ricoh Co Ltd | 速度信号検出装置 |
-
1986
- 1986-12-19 JP JP61302925A patent/JP2642929B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS63154916A (ja) | 1988-06-28 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |