[go: up one dir, main page]
More Web Proxy on the site http://driver.im/

JP2021132178A - Processing device - Google Patents

Processing device Download PDF

Info

Publication number
JP2021132178A
JP2021132178A JP2020028104A JP2020028104A JP2021132178A JP 2021132178 A JP2021132178 A JP 2021132178A JP 2020028104 A JP2020028104 A JP 2020028104A JP 2020028104 A JP2020028104 A JP 2020028104A JP 2021132178 A JP2021132178 A JP 2021132178A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
water
holding
work piece
workpiece
holding surface
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2020028104A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP7444633B2 (en
Inventor
敦 中塚
Atsushi Nakatsuka
敦 中塚
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Disco Corp
Original Assignee
Disco Abrasive Systems Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Disco Abrasive Systems Ltd filed Critical Disco Abrasive Systems Ltd
Priority to JP2020028104A priority Critical patent/JP7444633B2/en
Publication of JP2021132178A publication Critical patent/JP2021132178A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP7444633B2 publication Critical patent/JP7444633B2/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)
  • Constituent Portions Of Griding Lathes, Driving, Sensing And Control (AREA)
  • Grinding Of Cylindrical And Plane Surfaces (AREA)
  • Grinding-Machine Dressing And Accessory Apparatuses (AREA)
  • Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)

Abstract

To quickly wash the upper surface of a wafer.SOLUTION: A processing device 1 includes a chuck table 2 that holds a workpiece 15 on a holding surface 200, processing means 3 that processes the workpiece 15 held on the holding surface 200, and a first conveyance pad 608 that conveys the workpiece 15. In the processing device, by using the first conveyance pad 608 including water layer forming means 9 and an ultrasonic vibrator 50 provided on the first conveyance pad 608, water 51 is supplied to an upper surface 150 of the workpiece 15 from a water supply source 90 provided in the water layer forming means 9, and a water layer 52 is formed on the upper surface 150 of the workpiece 15; then, power is supplied to the ultrasonic vibrator 50 from a high frequency power source unit 5 to vibrate the ultrasonic vibrator 50 to propagate ultrasonic vibration, caused by the ultrasonic vibrator 50, to the water layer 52. Thus, the upper surface 150 of the workpiece 15 is washed by the water 51 of the water layer 52.SELECTED DRAWING: Figure 2

Description

本発明は、加工装置に関する。 The present invention relates to a processing apparatus.

研削砥石を用いてウェーハの上面を研削する研削装置は、研削後、搬送手段を用いてウェーハをスピンナテーブルに搬送して、ウェーハを保持するスピンナテーブルを高速回転させると共に、ウェーハの上面に洗浄水を供給して、遠心力を受けた洗浄水の移動によってウェーハの上面に付着した加工屑を除去している。
しかし、ウェーハの上面には、研削砥石を用いた研削により、凸凹面が形成されている。したがって、凹部に加工屑が進入していて、遠心力を受けた洗浄水の移動だけでは上面の加工屑を除去できない場合がある。
そのため、特許文献1に開示のように、超音波振動を伝播した洗浄水をノズルから噴出させウェーハの上面を洗浄するという発明がある。
A grinding device that grinds the upper surface of a wafer using a grinding wheel transfers the wafer to a spinner table using a transfer means after grinding, rotates the spinner table that holds the wafer at high speed, and cleans water on the upper surface of the wafer. Is supplied to remove the processing debris adhering to the upper surface of the wafer by the movement of the washing water subjected to the centrifugal force.
However, an uneven surface is formed on the upper surface of the wafer by grinding with a grinding wheel. Therefore, there is a case where the processing debris has entered the recess and the processing debris on the upper surface cannot be removed only by moving the washing water subjected to the centrifugal force.
Therefore, as disclosed in Patent Document 1, there is an invention in which cleaning water propagating ultrasonic vibration is ejected from a nozzle to clean the upper surface of a wafer.

さらには、加工後のウェーハをスピン洗浄する装置に備えたスピンナテーブルは、ウェーハを保持するスピンナ保持面を有している。このスピンナ保持面にもウェーハの下面に付着した加工屑が付着する場合がある。そこで、特許文献2に開示のように、加工後のウェーハの下面に付着した汚れを除去するためのウェーハ下面洗浄手段を備えた加工装置の発明がある。
加えて、ウェーハを研削するためにウェーハを保持するチャックテーブルの保持面には、研削において発生した加工屑が付着することがある。そのため、特許文献3に開示のように保持面に洗浄水を供給して保持面を洗浄するという発明がある。
Further, the spinner table provided in the apparatus for spin-cleaning the processed wafer has a spinner holding surface for holding the wafer. The work chips adhering to the lower surface of the wafer may also adhere to the spinner holding surface. Therefore, as disclosed in Patent Document 2, there is an invention of a processing apparatus provided with a wafer bottom surface cleaning means for removing stains adhering to the bottom surface of the wafer after processing.
In addition, work chips generated during grinding may adhere to the holding surface of the chuck table that holds the wafer for grinding the wafer. Therefore, as disclosed in Patent Document 3, there is an invention in which cleaning water is supplied to the holding surface to clean the holding surface.

特開1999−031643号公報JP-A-1999-031643 特開2016−051872号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 2016-051872 特開2011−200785号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 2011-200785

しかし、洗浄水の噴出による洗浄では、ウェーハを部分的に洗浄するため、ウェーハの上面から離反した加工屑がウェーハの上面に再付着するという問題や洗浄に時間がかかるという問題がある。また、ウェーハの上面にゴミが付着していることによって、ウェーハの上面を吸引保持する吸引面を有する搬送パッドがウェーハを吸引保持する際に、ウェーハの上面と吸引面との間に挟まるゴミによってウェーハを破損させる場合がある。従って、ウェーハをチャックテーブルの保持面に搬入する前のウェーハの上面全面や、加工後のウェーハの上面全面を、すばやく洗浄するという解決すべき課題がある。
また、下面洗浄手段を用いてウェーハの下面を洗浄しても、ウェーハの下面にゴミが残っていて、ウェーハの下面とスピンナ保持面との間にゴミが挟まり、加工後のウェーハを破損させるという問題がある。したがって、スピンナ保持面をすばやく洗浄するという解決すべき課題がある。
さらには、洗浄が部分的に実施されると、洗浄水を供給したことにより保持面から離反した加工屑が保持面に再付着するという問題がある。保持面全面を素早く洗浄するという解決すべき課題がある。
However, in cleaning by ejecting cleaning water, since the wafer is partially cleaned, there is a problem that work chips separated from the upper surface of the wafer reattach to the upper surface of the wafer and that cleaning takes time. Further, due to dust adhering to the upper surface of the wafer, dust caught between the upper surface of the wafer and the suction surface when the transport pad having a suction surface for sucking and holding the upper surface of the wafer sucks and holds the wafer. The wafer may be damaged. Therefore, there is a problem to be solved that the entire upper surface of the wafer before the wafer is carried into the holding surface of the chuck table and the entire upper surface of the wafer after processing are quickly cleaned.
Further, even if the lower surface of the wafer is cleaned by using the bottom surface cleaning means, dust remains on the lower surface of the wafer, and dust is caught between the lower surface of the wafer and the spinner holding surface, damaging the processed wafer. There's a problem. Therefore, there is a problem to be solved that the spinner holding surface is quickly cleaned.
Further, when the cleaning is partially carried out, there is a problem that the work debris separated from the holding surface due to the supply of the cleaning water reattaches to the holding surface. There is a problem to be solved that the entire surface of the holding surface is quickly cleaned.

本発明は、保持面によって被加工物を保持するチャックテーブルと、該保持面に保持された該被加工物を加工する加工手段と、該被加工物を保持して搬送する搬送パッドと、を少なくとも備える加工装置であって、該搬送パッドは、該被加工物に水を供給して該被加工物の上面に水層を形成する水層形成手段と、該被加工物の上面に対面して配置され該水層に着水する超音波振動子と、を備え、該水層に該超音波振動子から発振される超音波振動を伝播させて該被加工物の上面を洗浄する、加工装置である。
本発明は、保持面によって被加工物を保持するチャックテーブルと、該保持面に保持された該被加工物を加工する加工手段と、該被加工物を保持して搬送する搬送パッドと、スピンナ保持面によって該被加工物を保持すると共に該スピンナ保持面を回転させ該被加工物を洗浄するスピンナテーブルと、を少なくとも備える加工装置であって、該搬送パッドは、該被加工物に水を供給して該被加工物の上面に水層を形成する水層形成手段と、該スピンナ保持面に対面して配置され該水層に着水する超音波振動子と、を備え、
該水層に該超音波振動子から発振される超音波振動を伝播させて該スピンナ保持面を洗浄する、加工装置である。
本発明は、保持面によって被加工物を保持するチャックテーブルと、該保持面に保持された被加工物を加工する加工手段と、被加工物を保持して搬送する搬送パッドと、を少なくとも備える加工装置であって、該搬送パッドは、該保持面に水を供給して該保持面に水層を形成する水層形成手段と、該保持面に対面する内部に配置され該水層の水に着水する超音波振動子と、を備え、該水層に該超音波振動子から発振される超音波振動を伝播させて該保持面を洗浄する、加工装置である。
上記の加工装置は、被加工物は、開口を有するリングフレームの該開口を塞ぐように該リングフレームに貼着されたテープに貼着されることにより該テープを介して該リングフレームによって支持されており、該搬送パッドは、該リングフレームを保持する保持部と、該保持部が配置されるプレートと、該プレートの下面から水を供給して該水層を形成する該水層形成手段と、該プレートの内部に配置され該プレートの下面に露出して該水層の水に着水する超音波振動と、を備えるものであることが望ましい。
上記の加工装置は、該搬送パッドは、被加工物の上面を吸引する吸引面を有し、該吸引面から水を供給して該水層を形成する該水層形成手段と、内部に配置され該吸引面に露出して該水層の水に着水する該超音波振動子と、を備えるものであることが望ましい。
The present invention comprises a chuck table that holds a work piece by a holding surface, a processing means that processes the work piece held on the holding surface, and a transport pad that holds and conveys the work piece. At least, the transport pad faces the water layer forming means for supplying water to the work piece to form a water layer on the upper surface of the work piece and the upper surface of the work piece. The upper surface of the work piece is cleaned by propagating the ultrasonic vibration oscillated from the ultrasonic vibrator to the water layer. It is a device.
In the present invention, a chuck table that holds a work piece by a holding surface, a processing means for processing the work piece held on the holding surface, a transport pad that holds and conveys the work piece, and a spinner. A processing device including at least a spinner table that holds the work piece by a holding surface and rotates the spinner holding surface to clean the work piece, and the transport pad provides water to the work piece. It is provided with an aqueous layer forming means for supplying and forming an aqueous layer on the upper surface of the workpiece, and an ultrasonic transducer arranged facing the spinner holding surface and landing on the aqueous layer.
This is a processing device that cleans the spinner holding surface by propagating ultrasonic vibrations oscillated from the ultrasonic vibrator to the aqueous layer.
The present invention includes at least a chuck table for holding a work piece by a holding surface, a processing means for processing the work piece held on the holding surface, and a transport pad for holding and transporting the work piece. In the processing device, the transport pad is a water layer forming means for supplying water to the holding surface to form a water layer on the holding surface, and water of the water layer arranged inside facing the holding surface. It is a processing apparatus including an ultrasonic vibrator that lands on water, and propagates the ultrasonic vibration oscillated from the ultrasonic vibrator to the water layer to clean the holding surface.
In the above-mentioned processing apparatus, the workpiece is supported by the ring frame via the tape by being attached to a tape attached to the ring frame so as to close the opening of the ring frame having an opening. The transport pad includes a holding portion for holding the ring frame, a plate on which the holding portion is arranged, and a water layer forming means for forming the water layer by supplying water from the lower surface of the plate. It is desirable that the plate is provided with ultrasonic vibrations that are arranged inside the plate, are exposed on the lower surface of the plate, and land on the water of the aqueous layer.
In the above-mentioned processing apparatus, the transport pad has a suction surface for sucking the upper surface of the work piece, and is arranged inside the water layer forming means for supplying water from the suction surface to form the water layer. It is desirable that the ultrasonic vibrator is provided so as to be exposed to the suction surface and land on the water of the aqueous layer.

CMP研磨などを行う際に研磨部材と被加工物との間に供給されるスラリーが被加工物の上面に付着するなどによって、ひどく汚れた状態の被加工物であっても、超音波による洗浄を行って汚れを除去することが可能になる。
また、チャックテーブルの保持面を超音波洗浄することができ、さらにはスピンナ保持面を超音波洗浄できる。
Even if the workpiece is extremely dirty due to the slurry supplied between the polishing member and the workpiece adhering to the upper surface of the workpiece during CMP polishing, ultrasonic cleaning is performed. It becomes possible to remove dirt by performing.
Further, the holding surface of the chuck table can be ultrasonically cleaned, and the spinner holding surface can be ultrasonically cleaned.

加工装置全体を表す斜視図である。It is a perspective view which shows the whole processing apparatus. リングフレームに支持された被加工物の上面を洗浄する様子を表す断面図である。It is sectional drawing which shows the state of cleaning the upper surface of the workpiece supported by a ring frame. 保持面に保持された被加工物の上面に第1搬送パッドの下面が接触している様子を表す断面図である。FIG. 5 is a cross-sectional view showing a state in which the lower surface of the first transport pad is in contact with the upper surface of the work piece held by the holding surface. 保持面に保持された被加工物の上面を洗浄する様子を表す断面図である。It is sectional drawing which shows the state of cleaning the upper surface of the workpiece held on the holding surface.

(第1実施形態)
1 加工装置の構成
図1に示す加工装置1は、研削砥石340を用いて被加工物15を研削加工する加工装置である。以下、加工装置1について説明する。
被加工物15は、開口171を有するリングフレーム17の開口171を塞ぐようにリングフレーム17に貼着されているテープ16に貼着されており、テープ16を介してリングフレーム17に支持されている。
(First Embodiment)
1 Configuration of processing device The processing device 1 shown in FIG. 1 is a processing device that grinds a workpiece 15 using a grinding wheel 340. Hereinafter, the processing apparatus 1 will be described.
The workpiece 15 is attached to a tape 16 attached to the ring frame 17 so as to close the opening 171 of the ring frame 17 having the opening 171 and is supported by the ring frame 17 via the tape 16. There is.

加工装置1は、図1に示すように、Y軸方向に延設されたベース10とベース10の+Y方向側に立設されたコラム11とを備えている。 As shown in FIG. 1, the processing apparatus 1 includes a base 10 extending in the Y-axis direction and a column 11 erected on the + Y direction side of the base 10.

ベース10の上には、チャックテーブル2が配設されている。チャックテーブル2は、保持手段20と保持手段20を支持する枠体21とを備えている。保持手段20の上面は被加工物15が保持される保持面200となっている。枠体21の上面210は、保持面200に面一に形成されている。
保持面200には図示しない吸引手段等が接続されている。保持面200に被加工物15が載置されている状態で、図示しない吸引手段等を用いて吸引力を発揮させることにより、生み出された吸引力が保持面200に伝達されて、保持面200に被加工物15が吸引保持されることとなる。
A chuck table 2 is arranged on the base 10. The chuck table 2 includes a holding means 20 and a frame body 21 that supports the holding means 20. The upper surface of the holding means 20 is a holding surface 200 on which the workpiece 15 is held. The upper surface 210 of the frame 21 is formed flush with the holding surface 200.
A suction means or the like (not shown) is connected to the holding surface 200. When the workpiece 15 is placed on the holding surface 200, the generated suction force is transmitted to the holding surface 200 by exerting the suction force by using a suction means (not shown) or the like, and the holding surface 200 The work piece 15 is sucked and held.

また、チャックテーブル2の周囲にはカバー27及びカバー27に伸縮自在に連結された蛇腹28が配設されている。例えば、チャックテーブル2がY軸方向に移動すると、カバー27がチャックテーブル2とともにY軸方向に移動して蛇腹28が伸縮することとなる。 Further, a cover 27 and a bellows 28 stretchably connected to the cover 27 are arranged around the chuck table 2. For example, when the chuck table 2 moves in the Y-axis direction, the cover 27 moves together with the chuck table 2 in the Y-axis direction, and the bellows 28 expands and contracts.

コラム11の−Y方向側の側面には、加工手段3を昇降可能に支持する上下移動手段4が配設されている。加工手段3は、Z軸方向の回転軸35を有するスピンドル30と、スピンドル30を回転可能に支持するハウジング31と、回転軸35を軸にしてスピンドル30を回転駆動するスピンドルモータ32と、スピンドル30の下端に接続された円環状のマウント33と、マウント33の下面に着脱可能に装着された研削ホイール34とを備えている。
研削ホイール34は、ホイール基台341と、ホイール基台341の下面に環状に配列された略直方体形状の複数の研削砥石340とを備えており、研削砥石340の下面は被加工物15を研削する研削面342となっている。
A vertical moving means 4 for supporting the processing means 3 so as to be able to move up and down is arranged on the side surface of the column 11 on the −Y direction side. The processing means 3 includes a spindle 30 having a rotating shaft 35 in the Z-axis direction, a housing 31 that rotatably supports the spindle 30, a spindle motor 32 that rotationally drives the spindle 30 around the rotating shaft 35, and a spindle 30. An annular mount 33 connected to the lower end of the mount 33 and a grinding wheel 34 detachably attached to the lower surface of the mount 33 are provided.
The grinding wheel 34 includes a wheel base 341 and a plurality of substantially rectangular grinding wheels 340 arranged in an annular shape on the lower surface of the wheel base 341, and the lower surface of the grinding wheel 340 grinds the workpiece 15. The grinding surface is 342.

上下移動手段4は、Z軸方向の回転軸45を有するボールネジ40と、ボールネジ40に対して平行に配設された一対のガイドレール41と、回転軸45を軸にしてボールネジ40を回転させるZ軸モータ42と、内部のナットがボールネジ40に螺合して側部がガイドレール41に摺接する昇降板43と、昇降板43に連結され加工手段3を支持するホルダ44とを備えている。 The vertical moving means 4 rotates the ball screw 40 having the rotating shaft 45 in the Z-axis direction, the pair of guide rails 41 arranged parallel to the ball screw 40, and the ball screw 40 around the rotating shaft 45. It includes a shaft motor 42, an elevating plate 43 in which an internal nut is screwed into a ball screw 40 and a side portion is in sliding contact with a guide rail 41, and a holder 44 which is connected to the elevating plate 43 and supports the processing means 3.

Z軸モータ42によってボールネジ40が駆動されて、ボールネジ40が回転軸45を軸にして回転すると、これに伴って、昇降板43がガイドレール41に案内されてZ軸方向に昇降移動するとともに、ホルダ44に保持されている加工手段3がZ軸方向に移動することとなる。 When the ball screw 40 is driven by the Z-axis motor 42 and the ball screw 40 rotates about the rotation shaft 45, the elevating plate 43 is guided by the guide rail 41 and moves up and down in the Z-axis direction. The processing means 3 held in the holder 44 moves in the Z-axis direction.

ベース10の上には、例えば厚み測定手段100が配設されている。厚み測定手段100は、例えば加工装置1のベース10の上の−X方向側に配設された筐体103を備えている。筐体103の側面には、上面ハイトゲージ101と、保持面ハイトゲージ102とが配設されている。
例えば保持面200に被加工物15が保持されている状態で、上面ハイトゲージ101のプローブを被加工物15の上面150に接触させることにより、被加工物15の上面150の高さを測定することができる。
また、例えば、保持面ハイトゲージ102のプローブを枠体21の上面210に接触させることにより、枠体21の上面210に面一に形成されている保持面200の高さを測定することができる。
筐体103の内部には、例えば、図示しないCPU、メモリ等を有する厚み算出手段が設けられている。該厚み算出手段は、測定された被加工物15の上面150の高さの値と、保持面200の高さの値とに基づいて、被加工物15の厚みを算出する機能を有している。
For example, a thickness measuring means 100 is arranged on the base 10. The thickness measuring means 100 includes, for example, a housing 103 arranged on the −X direction side of the base 10 of the processing apparatus 1. An upper surface height gauge 101 and a holding surface height gauge 102 are arranged on the side surface of the housing 103.
For example, the height of the upper surface 150 of the workpiece 15 is measured by bringing the probe of the upper surface height gauge 101 into contact with the upper surface 150 of the workpiece 15 while the workpiece 15 is held on the holding surface 200. Can be done.
Further, for example, by bringing the probe of the holding surface height gauge 102 into contact with the upper surface 210 of the frame body 21, the height of the holding surface 200 formed flush with the upper surface 210 of the frame body 21 can be measured.
Inside the housing 103, for example, a thickness calculating means having a CPU, a memory, etc. (not shown) is provided. The thickness calculating means has a function of calculating the thickness of the workpiece 15 based on the measured height value of the upper surface 150 of the workpiece 15 and the height value of the holding surface 200. There is.

ベース10の−Y方向側には、カセット載置部12が設けられている。
カセット載置部12には、カセット70が載置されている。カセット70には、研削加工前の被加工物15が収容されている。また、カセット70には、研削加工後の被加工物15を収容することができる。
A cassette mounting portion 12 is provided on the −Y direction side of the base 10.
A cassette 70 is mounted on the cassette mounting portion 12. The cassette 70 contains the workpiece 15 before grinding. Further, the cassette 70 can accommodate the workpiece 15 after the grinding process.

カセット70の+Y方向側には、ロボット71が配設されている。ロボット71は、保持手段710と保持手段710を旋回可能に支持する軸部711とを備えている。保持手段710の上面は、被加工物15が保持される保持面712となっている。保持手段710を用いてカセット70に収容されている被加工物15をカセット70から取り出して、軸部711を軸にして保持手段710を旋回させることにより、被加工物15を搬送することができる。 A robot 71 is arranged on the + Y direction side of the cassette 70. The robot 71 includes a holding means 710 and a shaft portion 711 that rotatably supports the holding means 710. The upper surface of the holding means 710 is a holding surface 712 on which the workpiece 15 is held. The workpiece 15 can be conveyed by taking out the workpiece 15 housed in the cassette 70 from the cassette 70 by using the holding means 710 and rotating the holding means 710 around the shaft portion 711. ..

保持手段710の可動域における+X方向側には、研削加工前の被加工物15が仮置きされる仮置き領域13が配設されており、保持手段710の可動域における−X方向側には、研削加工後の被加工物15を洗浄する洗浄領域14が設けられている。 A temporary placement area 13 in which the workpiece 15 before grinding is temporarily placed is arranged on the + X direction side in the range of motion of the holding means 710, and on the −X direction side in the range of motion of the holding means 710. A cleaning region 14 for cleaning the workpiece 15 after grinding is provided.

仮置き領域13には、位置合わせ手段72が配設されている。カセット70から搬出されて仮置き領域13に載置された被加工物15は、位置合わせ手段72によって所定の位置に位置合わせされることとなる。 Alignment means 72 is arranged in the temporary storage area 13. The workpiece 15 carried out from the cassette 70 and placed on the temporary storage area 13 is aligned at a predetermined position by the alignment means 72.

洗浄領域14には、スピンナ洗浄手段73が配設されている。スピンナ洗浄手段73は、被加工物15が保持されるスピンナテーブル730と、スピンナテーブル730に保持された被加工物15に向けて洗浄水を噴出する洗浄水供給ノズル731とを備えている。スピンナテーブル730の上面は、被加工物15が保持されるスピンナ保持面732となっている。
例えば、スピンナテーブル730のスピンナ保持面732に研削加工後の被加工物15が載置されている状態で、洗浄水供給ノズル731から洗浄水を供給することにより被加工物15を洗浄することができる。
A spinner cleaning means 73 is provided in the cleaning region 14. The spinner cleaning means 73 includes a spinner table 730 in which the workpiece 15 is held, and a cleaning water supply nozzle 731 that ejects cleaning water toward the workpiece 15 held in the spinner table 730. The upper surface of the spinner table 730 is a spinner holding surface 732 on which the workpiece 15 is held.
For example, the workpiece 15 after grinding can be placed on the spinner holding surface 732 of the spinner table 730, and the workpiece 15 can be cleaned by supplying cleaning water from the cleaning water supply nozzle 731. can.

仮置き領域13に隣接する位置には、位置合わせ手段72によって位置合わせされた被加工物15をチャックテーブル2に搬入する第1搬送パッド608が配設されている。
第1搬送パッド608は、円板状のプレート67及びプレート67を上下自在に吊持するアーム61を備えている。アーム61の端部には、Z軸方向の回転軸65を有する筒状の軸部610が連結されている。例えば、軸部610には、回転軸65を軸にして軸部610を回転させる図示しない回転手段等が接続されている。
図示しない回転手段等を用いて回転軸65を軸にして軸部610を回転させることにより、軸部610に連結されているアーム61が回転軸65を軸にして旋回する構成となっている。
At a position adjacent to the temporary placement area 13, a first transport pad 608 that carries the workpiece 15 aligned by the alignment means 72 into the chuck table 2 is arranged.
The first transport pad 608 includes a disk-shaped plate 67 and an arm 61 for vertically suspending the plate 67. A tubular shaft portion 610 having a rotation shaft 65 in the Z-axis direction is connected to the end portion of the arm 61. For example, a rotating means (not shown) for rotating the shaft portion 610 around the rotating shaft 65 is connected to the shaft portion 610.
By rotating the shaft portion 610 around the rotating shaft 65 using a rotating means (not shown) or the like, the arm 61 connected to the shaft portion 610 rotates around the rotating shaft 65.

アーム61の軸部610に連結されていない側の端部には、環状部材62が連結されている。環状部材62には、例えば3つの貫通孔620が円周上に等間隔に貫通形成されており、それぞれの貫通孔620にネジ63(図1においては1つのみが示されている)が貫通して、さらにプレート67に螺嵌している。ネジ63のツバ部は貫通孔620よりも大径に形成されており、ネジ63はその下降範囲が制限された状態でプレート67とともに環状部材62に吊持されている。 An annular member 62 is connected to the end of the arm 61 on the side not connected to the shaft portion 610. For example, three through holes 620 are formed through the annular member 62 at equal intervals on the circumference, and a screw 63 (only one is shown in FIG. 1) penetrates through each of the through holes 620. Then, it is further screwed into the plate 67. The brim portion of the screw 63 is formed to have a diameter larger than that of the through hole 620, and the screw 63 is suspended from the annular member 62 together with the plate 67 in a state where the lowering range thereof is limited.

また、第1搬送パッド608は、環状部材62の開口に貫通し、プレート67に連結された軸部64を備えている。
軸部64の内部には、図2に示すように、貫通孔640がZ軸方向に貫通形成されている。
Further, the first transport pad 608 includes a shaft portion 64 that penetrates the opening of the annular member 62 and is connected to the plate 67.
As shown in FIG. 2, a through hole 640 is formed through the shaft portion 64 in the Z-axis direction.

プレート67は、軸部64に連結された支持部材68と支持部材68の下面681に配設された中心部材69とを備えている。支持部材68及び中心部材69には、それぞれ貫通孔680及び貫通孔690がZ軸方向に貫通形成されている。
例えば貫通孔640、680、及び690は、それぞれ同径であり、Z軸方向に直線状に並べられているものとする。
The plate 67 includes a support member 68 connected to the shaft portion 64 and a central member 69 arranged on the lower surface 681 of the support member 68. Through holes 680 and through holes 690 are formed through the support member 68 and the center member 69, respectively, in the Z-axis direction.
For example, it is assumed that the through holes 640, 680, and 690 have the same diameter and are arranged linearly in the Z-axis direction.

中心部材69の内部には、複数の超音波振動子50が、それぞれの下部が中心部材69の下面691から露出するように配設されている。超音波振動子50には、高周波電源部5が接続されている。高周波電源部5から超音波振動子50に対して電力を供給することによって、超音波振動子50を振動させることができる。 Inside the central member 69, a plurality of ultrasonic vibrators 50 are arranged so that their lower portions are exposed from the lower surface 691 of the central member 69. A high frequency power supply unit 5 is connected to the ultrasonic vibrator 50. The ultrasonic vibrator 50 can be vibrated by supplying electric power from the high frequency power supply unit 5 to the ultrasonic vibrator 50.

プレート67の支持部材68の下面681には、リングフレーム17を保持する吸盤状の保持部66が配設されている。
保持部66は、吸引路82を介して吸引源80に接続されている。吸引路82には、吸引源80と保持部66との連通状態を切り替える吸引バルブ81が配設されている。
吸引バルブ81が開いている状態で吸引源80を作動させると、吸引源80が吸引力を発揮するとともに、吸引源80に生み出された吸引力が吸引路82を通じて保持部66の下面660に伝達されることとなる。
A suction cup-shaped holding portion 66 for holding the ring frame 17 is provided on the lower surface 681 of the support member 68 of the plate 67.
The holding portion 66 is connected to the suction source 80 via the suction path 82. The suction path 82 is provided with a suction valve 81 that switches the communication state between the suction source 80 and the holding portion 66.
When the suction source 80 is operated while the suction valve 81 is open, the suction source 80 exerts a suction force, and the suction force generated by the suction source 80 is transmitted to the lower surface 660 of the holding portion 66 through the suction path 82. Will be done.

例えば、保持部66にリングフレーム17の上面170が接触している状態で、吸引源80を作動させて、吸引源80に生み出された吸引力を保持部66に伝達することにより、保持部66にリングフレーム17を吸引保持することができる。
なお、例えば、保持部66の下面660がリングフレーム17の上面170に接触している状態で、さらに保持部66の下面660をリングフレーム17の上面170に押し付けることによって、吸引源80を作動させずとも、保持部66にリングフレーム17を吸着させることができる構成としてもよい。
For example, by operating the suction source 80 in a state where the upper surface 170 of the ring frame 17 is in contact with the holding portion 66 and transmitting the suction force generated by the suction source 80 to the holding portion 66, the holding portion 66 The ring frame 17 can be sucked and held.
For example, in a state where the lower surface 660 of the holding portion 66 is in contact with the upper surface 170 of the ring frame 17, the lower surface 660 of the holding portion 66 is further pressed against the upper surface 170 of the ring frame 17 to operate the suction source 80. At least, the ring frame 17 may be attracted to the holding portion 66.

第1搬送パッド608は、水層形成手段9を備えている。水層形成手段9は、水供給源90と、水供給源90と軸部64とを接続する流路92とを備えている。流路92には、水供給源90と軸部64との連通状態を切り替える水バルブ91が配設されている。
例えば、被加工物15を支持しているリングフレーム17が保持部66に保持されている状態で、水バルブ91を開いて水供給源90から水51を供給すると、水51が流路92を通って軸部64に供給され、さらに軸部64の貫通孔640、支持部材68の貫通孔680、及び中心部材69の貫通孔690を通過していき、中心部材69の貫通孔690から、中心部材69の下面691と被加工物15の上面150との間に供給される。これにより、被加工物15の上面150に水層52が形成されることとなる。
The first transport pad 608 includes an aqueous layer forming means 9. The water layer forming means 9 includes a water supply source 90 and a flow path 92 connecting the water supply source 90 and the shaft portion 64. The flow path 92 is provided with a water valve 91 that switches the communication state between the water supply source 90 and the shaft portion 64.
For example, when the water valve 91 is opened and the water 51 is supplied from the water supply source 90 while the ring frame 17 supporting the workpiece 15 is held by the holding portion 66, the water 51 passes through the flow path 92. It is supplied to the shaft portion 64 through the shaft portion 64, further passes through the through hole 640 of the shaft portion 64, the through hole 680 of the support member 68, and the through hole 690 of the central member 69, and is centered from the through hole 690 of the central member 69. It is supplied between the lower surface 691 of the member 69 and the upper surface 150 of the workpiece 15. As a result, the water layer 52 is formed on the upper surface 150 of the workpiece 15.

被加工物15の上面150に水層52が形成されているとき、中心部材69の下面691から露出している超音波振動子50が水層52の水51に着水しているものとする。 When the water layer 52 is formed on the upper surface 150 of the workpiece 15, it is assumed that the ultrasonic vibrator 50 exposed from the lower surface 691 of the central member 69 has landed on the water 51 of the water layer 52. ..

図1に示すように、第1搬送パッド608の−X方向側には、第2搬送パッド609が配設されている。第2搬送パッド609は、第1搬送パッド608と同様の構成を有しているため、同様の符号を付して、その説明を省略する。 As shown in FIG. 1, a second transport pad 609 is arranged on the −X direction side of the first transport pad 608. Since the second transport pad 609 has the same configuration as the first transport pad 608, the same reference numerals are given and the description thereof will be omitted.

なお、加工装置1は、図1に示した単軸の研削装置に限定されず、複軸研削装置、または研磨装置、若しくは切削装置であってもよい。 The processing device 1 is not limited to the single-screw grinding device shown in FIG. 1, and may be a multi-screw grinding device, a polishing device, or a cutting device.

2 加工装置の動作
上記の加工装置1を用いて被加工物15の研削加工、及び被加工物15の上面150の洗浄を行う際の加工装置1の動作について、以下に説明する。
まず、図1に示したロボット71を用いてカセット70に収容されている被加工物15のうちの一枚を引き出して、仮置き領域13に載置する。被加工物15が仮置き領域13に載置されると、位置合わせ手段72による被加工物15の位置合わせが行われる。
2 Operation of the processing device The operation of the processing device 1 when grinding the work piece 15 and cleaning the upper surface 150 of the work piece 15 using the above processing device 1 will be described below.
First, using the robot 71 shown in FIG. 1, one of the workpieces 15 housed in the cassette 70 is pulled out and placed in the temporary placement area 13. When the work piece 15 is placed on the temporary placement area 13, the work piece 15 is aligned by the positioning means 72.

位置合わせ手段72により被加工物15の位置合わせを行った後、第1搬送パッド608を用いて被加工物15をチャックテーブル2の保持面200に載置して、図示しない吸引手段等を作動させる。これにより、生み出された吸引力が保持面200に伝達されて、被加工物15が保持面200に吸引保持される。 After aligning the workpiece 15 with the alignment means 72, the workpiece 15 is placed on the holding surface 200 of the chuck table 2 using the first transport pad 608 to operate the suction means and the like (not shown). Let me. As a result, the generated suction force is transmitted to the holding surface 200, and the workpiece 15 is sucked and held on the holding surface 200.

そして、被加工物15が保持面200に吸引保持されている状態で、チャックテーブル2を+Y方向に移動させて、加工手段3の下方に位置付ける。
次いで、回転手段24を用いて回転軸25を軸にしてチャックテーブル2を回転させることにより、保持面200に保持されている被加工物15を回転させるとともに、スピンドルモータ32を用いて回転軸35を軸にして研削砥石340を回転させる。
Then, with the workpiece 15 being sucked and held by the holding surface 200, the chuck table 2 is moved in the + Y direction and positioned below the machining means 3.
Next, the chuck table 2 is rotated around the rotating shaft 25 by using the rotating means 24 to rotate the workpiece 15 held on the holding surface 200, and the rotating shaft 35 is rotated by using the spindle motor 32. The grinding wheel 340 is rotated around the axis.

被加工物15が回転軸25を軸にして回転しており、かつ、研削砥石340が回転軸35を軸にして回転している状態で、上下移動手段4を用いて研削砥石340を−Z方向に下降させて、研削砥石340の研削面342を被加工物15の上面150に接触させる。研削面342が被加工物15の上面150に接触している状態で、さらに研削砥石340を−Z方向に下降させることにより被加工物15が研削される。 In a state where the workpiece 15 is rotating about the rotation shaft 25 and the grinding wheel 340 is rotating about the rotating shaft 35, the grinding wheel 340 is moved to −Z by using the vertical moving means 4. By lowering in the direction, the grinding surface 342 of the grinding wheel 340 is brought into contact with the upper surface 150 of the workpiece 15. The workpiece 15 is ground by further lowering the grinding wheel 340 in the −Z direction while the grinding surface 342 is in contact with the upper surface 150 of the workpiece 15.

被加工物15の研削加工中には、厚み測定手段100を用いて被加工物15の厚みの測定が行われる。被加工物15が所定の厚みまで研削されたら研削加工を終了する。 During the grinding process of the workpiece 15, the thickness of the workpiece 15 is measured by using the thickness measuring means 100. When the workpiece 15 is ground to a predetermined thickness, the grinding process is completed.

研削加工後、図示しないY軸移動手段を用いてチャックテーブル2を−Y方向に移動させて、チャックテーブル2を第2搬送パッド609の可動範囲に位置付ける。 After the grinding process, the chuck table 2 is moved in the −Y direction using a Y-axis moving means (not shown) to position the chuck table 2 within the movable range of the second transport pad 609.

そして、図2に示した第2搬送パッド609を用いてリングフレーム17を吸引保持する。第2搬送パッド609によりリングフレーム17が吸引保持されている状態で、水バルブ91を開いて水供給源90から水51を供給する。これにより、水51が貫通孔640、680、及び690を通って貫通孔690から被加工物15の上面150に供給される。
被加工物15の上面150に水51が供給されることによって、被加工物15の上面150に水51が堆積されていき、被加工物15の上面150に水層52が形成される。これにより、中心部材69の下面691から−Z方向側に露出している複数の超音波振動子50が水層52に着水する。
Then, the ring frame 17 is sucked and held by using the second transport pad 609 shown in FIG. With the ring frame 17 being sucked and held by the second transport pad 609, the water valve 91 is opened to supply water 51 from the water supply source 90. As a result, water 51 is supplied from the through holes 690 to the upper surface 150 of the workpiece 15 through the through holes 640, 680, and 690.
By supplying the water 51 to the upper surface 150 of the work piece 15, the water 51 is deposited on the upper surface 150 of the work piece 15, and the water layer 52 is formed on the upper surface 150 of the work piece 15. As a result, the plurality of ultrasonic vibrators 50 exposed from the lower surface 691 of the central member 69 in the −Z direction side land on the water layer 52.

この状態で、高周波電源部5を作動して、超音波振動子50に電力を供給する。これにより、超音波振動子50から超音波振動が発振され、該超音波振動が水層52に伝播されて、水層52の水51の振動によって被加工物15の上面150が洗浄される。 In this state, the high frequency power supply unit 5 is operated to supply electric power to the ultrasonic vibrator 50. As a result, ultrasonic vibration is oscillated from the ultrasonic vibrator 50, the ultrasonic vibration is propagated to the water layer 52, and the upper surface 150 of the workpiece 15 is washed by the vibration of the water 51 of the water layer 52.

本加工装置を用いれば、例えば、CMP研磨などの際に研磨部材と被加工物15との間に供給されるスラリーが被加工物15の上面150に付着しており、被加工物15がひどく汚れた状態にあっても、超音波による洗浄を行って汚れを除去することが可能である。
また、第2搬送パッドを用いて研削加工後の被加工物15を搬送しながらその上面150を洗浄することもできるため、洗浄にかかる時間を短縮することができる。
When this processing apparatus is used, for example, the slurry supplied between the polishing member and the workpiece 15 during CMP polishing or the like adheres to the upper surface 150 of the workpiece 15, and the workpiece 15 is severely affected. Even if it is in a dirty state, it is possible to remove the dirt by cleaning with ultrasonic waves.
Further, since the upper surface 150 can be cleaned while the workpiece 15 after the grinding process is conveyed by using the second conveying pad, the time required for cleaning can be shortened.

さらには、加工装置1を同様に作動させることにより、スピンナテーブル730のスピンナ保持面732及びチャックテーブル2の保持面200を超音波洗浄することができる。 Further, by operating the processing device 1 in the same manner, the spinner holding surface 732 of the spinner table 730 and the holding surface 200 of the chuck table 2 can be ultrasonically cleaned.

加工装置1に備える第1搬送パッド608は、上記のプレート67にかえて、図3に示すように、吸引部600と吸引部600を支持する枠体601とを備えるものであってもよい。
枠体601はその上部が軸部64に連結されており、軸部64に吊持されている。吸引部600は、被加工物15の上面150を吸引する吸引面604を有している。吸引部600及び枠体601には、それぞれ貫通孔602及び貫通孔603がZ軸方向に貫通形成されている。
また、例えば、貫通孔640、602、及び603は、それぞれ同径であり、Z軸方向に一直線上に形成されているものとする。
The first transport pad 608 provided in the processing apparatus 1 may include a suction unit 600 and a frame body 601 for supporting the suction unit 600, as shown in FIG. 3, instead of the plate 67 described above.
The upper portion of the frame body 601 is connected to the shaft portion 64 and is suspended from the shaft portion 64. The suction unit 600 has a suction surface 604 that sucks the upper surface 150 of the workpiece 15. Through holes 602 and through holes 603 are formed through the suction portion 600 and the frame body 601 in the Z-axis direction, respectively.
Further, for example, it is assumed that the through holes 640, 602, and 603 have the same diameter and are formed in a straight line in the Z-axis direction.

チャックテーブル2は、基台22に支持されている。基台22の内部には回転手段24が配設されている。回転手段24は、図示しないモータ等を備えており、基台22をZ軸方向の回転軸25を軸にして回転させることができる。回転手段24により駆動されて基台22が回転軸25を軸にして回転すると、基台22に支持されているチャックテーブル2が回転軸25を軸にして回転する構成となっている。 The chuck table 2 is supported by the base 22. A rotating means 24 is arranged inside the base 22. The rotating means 24 includes a motor or the like (not shown), and the base 22 can be rotated about the rotating shaft 25 in the Z-axis direction. When the base 22 is driven by the rotating means 24 and rotates about the rotating shaft 25, the chuck table 2 supported by the base 22 rotates about the rotating shaft 25.

また、被加工物15の下面151には保護テープ18が貼着されているものとする。 Further, it is assumed that the protective tape 18 is attached to the lower surface 151 of the workpiece 15.

上記の加工装置1を用いて被加工物15の上面150を洗浄する際には、まず、図4に示すように、チャックテーブル2の保持面200に吸引保持されている被加工物15の上面150の上方に、第2搬送パッド609を位置付ける。 When cleaning the upper surface 150 of the workpiece 15 using the processing apparatus 1, first, as shown in FIG. 4, the upper surface of the workpiece 15 is suction-held by the holding surface 200 of the chuck table 2. The second transport pad 609 is positioned above the 150.

次いで、水バルブ91を開いて水供給源90から水51を供給する。水供給源90から供給された水51は、貫通孔640、603、及び602を通過して、吸引面604から被加工物15の上面150に供給される。水供給源90から被加工物15の上面150に水51が供給され、水51が被加工物15の上面150に堆積されていくことにより、被加工物15の上面150に水層52が形成される。
被加工物15の上面150に水層52が形成されると、吸引面604から出っぱらずに露出している超音波振動子50が水層52に着水している状態となる。
つまり、吸引面604に露出する超音波振動子50の露出面は、吸引面604と面一、または、吸引面604より凹んでいるため、吸引面604で被加工物15を吸引保持した際に被加工物15を傷付けるということがない。
Next, the water valve 91 is opened to supply water 51 from the water supply source 90. The water 51 supplied from the water supply source 90 passes through the through holes 640, 603, and 602, and is supplied from the suction surface 604 to the upper surface 150 of the workpiece 15. Water 51 is supplied from the water supply source 90 to the upper surface 150 of the workpiece 15, and the water 51 is deposited on the upper surface 150 of the workpiece 15, so that the water layer 52 is formed on the upper surface 150 of the workpiece 15. Will be done.
When the water layer 52 is formed on the upper surface 150 of the workpiece 15, the ultrasonic vibrator 50 exposed without protruding from the suction surface 604 is in a state of landing on the water layer 52.
That is, since the exposed surface of the ultrasonic vibrator 50 exposed on the suction surface 604 is flush with the suction surface 604 or recessed from the suction surface 604, when the workpiece 15 is sucked and held by the suction surface 604. It does not damage the workpiece 15.

被加工物15の上面150に水層52が形成されており、超音波振動子50が水層52に着水している状態で、高周波電源部5を作動して、超音波振動子50に電力を供給する。これにより、超音波振動子50から超音波振動が発振され、該超音波振動が水層52に伝播されて、水層52の水51の振動によって被加工物15の上面150が洗浄される。 A water layer 52 is formed on the upper surface 150 of the workpiece 15, and the high frequency power supply unit 5 is operated in a state where the ultrasonic vibrator 50 is landing on the water layer 52 to form the ultrasonic vibrator 50. Supply power. As a result, ultrasonic vibration is oscillated from the ultrasonic vibrator 50, the ultrasonic vibration is propagated to the water layer 52, and the upper surface 150 of the workpiece 15 is washed by the vibration of the water 51 of the water layer 52.

かかる構成を有する加工装置1を用いて、被加工物15の超音波洗浄を行うことにより被加工物15の汚れを除去することが可能になる。また、加工装置1を同様に作動させることにより、チャックテーブル2の保持面200を超音波洗浄することができ、さらにはスピンナ保持面732を超音波洗浄できる。 By using the processing device 1 having such a configuration, the work piece 15 can be cleaned by ultrasonic cleaning to remove the dirt on the work piece 15. Further, by operating the processing device 1 in the same manner, the holding surface 200 of the chuck table 2 can be ultrasonically cleaned, and further, the spinner holding surface 732 can be ultrasonically cleaned.

1:加工装置 10:ベース 11:コラム 12:カセット載置部
13:仮置き領域 14:洗浄領域
100:厚み測定手段 101:上面ハイトゲージ 102:保持面ハイトゲージ
103:筐体
2:チャックテーブル 20:吸引部 200:保持面 21:枠体
210:枠体の上面 22:基台 24:回転手段 25:回転軸
27:カバー 28:蛇腹
3:加工手段 30:スピンドル 31:ハウジング 32:スピンドルモータ
33:マウント 34:研削ホイール 340:研削砥石 342:研削面
341:ホイール基台 35:回転軸
4:上下移動手段 40:ボールネジ 41:ガイドレール 42:Z軸モータ
43:昇降板 44:ホルダ 45:回転軸 5:高周波電源部 50:超音波振動子
51:水 52:水層
608:第1搬送パッド 609:第2搬送パッド 600:吸引部
601:枠体 602:貫通孔 603:貫通孔 604:吸引面
61:アーム 610:軸部 62:環状部材 620:貫通孔 63:ネジ
64:軸部 640:貫通孔 65:回転軸 66:保持部 660:保持部の下面
67:プレート 68:支持部材 681:支持部材の下面 680:貫通孔
69:中心部材 691:中心部材の下面 690:貫通孔
70:カセット 71:ロボット 710:ロボットハンド 712:保持面
711:軸部 72:位置合わせ手段
73:スピンナ洗浄手段 730:スピンナテーブル 732:スピンナ保持面
731:洗浄水供給ノズル
80:吸引源 81:吸引バルブ 82:吸引路 9:水層形成手段 90:水供給源
91:水バルブ 92:流路
15:被加工物 150:被加工物の上面 151:被加工物の下面
18:保護テープ 16:テープ 17:リングフレーム
170:リングフレームの上面 171:リングフレームの開口
1: Processing equipment 10: Base 11: Column 12: Cassette mounting part 13: Temporary placement area 14: Cleaning area 100: Thickness measuring means 101: Top surface height gauge 102: Holding surface height gauge 103: Housing 2: Chuck table 20: Suction Part 200: Holding surface 21: Frame 210: Top surface of frame 22: Base 24: Rotating means 25: Rotating shaft 27: Cover 28: Bellows 3: Machining means 30: Spindle 31: Housing 32: Spindle motor 33: Mount 34: Grinding wheel 340: Grinding grindstone 342: Grinding surface 341: Wheel base 35: Rotating shaft 4: Vertical movement means 40: Ball screw 41: Guide rail 42: Z-axis motor 43: Elevating plate 44: Holder 45: Rotating shaft 5 : High frequency power supply unit 50: Ultrasonic transducer 51: Water 52: Water layer 608: First transfer pad 609: Second transfer pad 600: Suction unit 601: Frame 602: Through hole 603: Through hole 604: Suction surface 61 : Arm 610: Shaft 62: Ring member 620: Through hole 63: Screw 64: Shaft 640: Through hole 65: Rotating shaft 66: Holding part 660: Lower surface of holding part 67: Plate 68: Support member 681: Support member Lower surface 680: Through hole 69: Central member 691: Lower surface of central member 690: Through hole 70: Cassette 71: Robot 710: Robot hand 712: Holding surface 711: Shaft 72: Alignment means 73: Spinner cleaning means 730: Spinner table 732: Spinner holding surface 731: Washing water supply nozzle 80: Suction source 81: Suction valve 82: Suction path 9: Water layer forming means 90: Water supply source 91: Water valve 92: Flow path 15: Work piece 150 : Upper surface of the workpiece 151: Lower surface of the workpiece 18: Protective tape 16: Tape 17: Ring frame 170: Upper surface of the ring frame 171: Opening of the ring frame

Claims (5)

保持面によって被加工物を保持するチャックテーブルと、該保持面に保持された該被加工物を加工する加工手段と、該被加工物を保持して搬送する搬送パッドと、を少なくとも備える加工装置であって、
該搬送パッドは、該被加工物に水を供給して該被加工物の上面に水層を形成する水層形成手段と、該被加工物の上面に対面して配置され該水層に着水する超音波振動子と、を備え、
該水層に該超音波振動子から発振される超音波振動を伝播させて該被加工物の上面を洗浄する、加工装置。
A processing device including at least a chuck table for holding a work piece by a holding surface, a processing means for processing the work piece held on the holding surface, and a transport pad for holding and transporting the work piece. And
The transport pad is arranged to face the upper surface of the workpiece and the aqueous layer forming means for supplying water to the workpiece to form an aqueous layer on the upper surface of the workpiece and landing on the aqueous layer. Equipped with an ultrasonic vibrator that makes water
A processing device that cleans the upper surface of the work piece by propagating ultrasonic vibrations oscillated from the ultrasonic vibrator to the water layer.
保持面によって被加工物を保持するチャックテーブルと、該保持面に保持された該被加工物を加工する加工手段と、該被加工物を保持して搬送する搬送パッドと、スピンナ保持面によって該被加工物を保持すると共に該スピンナ保持面を回転させ該被加工物を洗浄するスピンナテーブルと、を少なくとも備える加工装置であって、
該搬送パッドは、該被加工物に水を供給して該被加工物の上面に水層を形成する水層形成手段と、該スピンナ保持面に対面して配置され該水層に着水する超音波振動子と、を備え、
該水層に該超音波振動子から発振される超音波振動を伝播させて該スピンナ保持面を洗浄する、加工装置。
The chuck table that holds the work piece by the holding surface, the processing means that processes the work piece held on the holding surface, the transport pad that holds and conveys the work piece, and the spinner holding surface. A processing device including at least a spinner table that holds a work piece and rotates the spinner holding surface to clean the work piece.
The transport pad is arranged to face the spinner holding surface and the water layer forming means for supplying water to the work piece to form a water layer on the upper surface of the work piece, and land on the water layer. Equipped with an ultrasonic transducer,
A processing device that cleans the spinner holding surface by propagating ultrasonic vibrations oscillated from the ultrasonic vibrator to the aqueous layer.
保持面によって被加工物を保持するチャックテーブルと、該保持面に保持された被加工物を加工する加工手段と、被加工物を保持して搬送する搬送パッドと、を少なくとも備える加工装置であって、
該搬送パッドは、該保持面に水を供給して該保持面に水層を形成する水層形成手段と、該保持面に対面する内部に配置され該水層の水に着水する超音波振動子と、を備え、
該水層に該超音波振動子から発振される超音波振動を伝播させて該保持面を洗浄する、加工装置。
A processing device including at least a chuck table for holding a work piece by a holding surface, a processing means for processing the work piece held on the holding surface, and a transport pad for holding and transporting the work piece. hand,
The transport pad is an aqueous layer forming means for supplying water to the holding surface to form an aqueous layer on the holding surface, and ultrasonic waves arranged inside facing the holding surface and landing on the water of the aqueous layer. Equipped with a vibrator,
A processing device that cleans the holding surface by propagating ultrasonic vibrations oscillated from the ultrasonic vibrator to the aqueous layer.
被加工物は、開口を有するリングフレームの該開口を塞ぐように該リングフレームに貼着されたテープに貼着されることにより該テープを介して該リングフレームによって支持されており、
該搬送パッドは、該リングフレームを保持する保持部と、該保持部が配置されるプレートと、該プレートの下面から水を供給して該水層を形成する該水層形成手段と、該プレートの内部に配置され該プレートの下面に露出して該水層の水に着水する超音波振動と、を備える、
請求項1、請求項2、請求項3のいずれか1項に記載の加工装置。
The work piece is supported by the ring frame via the tape by being attached to a tape attached to the ring frame so as to close the opening of the ring frame having an opening.
The transport pad includes a holding portion that holds the ring frame, a plate on which the holding portion is arranged, a water layer forming means that supplies water from the lower surface of the plate to form the water layer, and the plate. It is provided with ultrasonic vibration, which is arranged inside the plate and is exposed on the lower surface of the plate and landed on the water of the aqueous layer.
The processing apparatus according to any one of claims 1, 2, and 3.
該搬送パッドは、被加工物の上面を吸引する吸引面を有し、該吸引面から水を供給して該水層を形成する該水層形成手段と、内部に配置され該吸引面に露出して該水層の水に着水する該超音波振動子と、を備える、
請求項1、請求項2、請求項3のいずれか1項に記載の加工装置。
The transport pad has a suction surface that sucks the upper surface of the work piece, the water layer forming means that supplies water from the suction surface to form the water layer, and the water layer forming means that is arranged inside and exposed to the suction surface. The ultrasonic transducer, which landed on the water of the aqueous layer, is provided.
The processing apparatus according to any one of claims 1, 2, and 3.
JP2020028104A 2020-02-21 2020-02-21 processing equipment Active JP7444633B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2020028104A JP7444633B2 (en) 2020-02-21 2020-02-21 processing equipment

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2020028104A JP7444633B2 (en) 2020-02-21 2020-02-21 processing equipment

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2021132178A true JP2021132178A (en) 2021-09-09
JP7444633B2 JP7444633B2 (en) 2024-03-06

Family

ID=77551239

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2020028104A Active JP7444633B2 (en) 2020-02-21 2020-02-21 processing equipment

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP7444633B2 (en)

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001087725A (en) * 1999-09-22 2001-04-03 Dainippon Screen Mfg Co Ltd Substrate cleaning device and substrate cleaning method
JP2001326205A (en) * 2000-05-16 2001-11-22 Disco Abrasive Syst Ltd Method and device for cleaning chuck table of grinding device
JP2003059875A (en) * 2001-08-09 2003-02-28 Disco Abrasive Syst Ltd Polishing apparatus
JP2009252877A (en) * 2008-04-03 2009-10-29 Disco Abrasive Syst Ltd Conveying method and conveying device for wafer
JP2010087443A (en) * 2008-10-03 2010-04-15 Disco Abrasive Syst Ltd Transport mechanism
JP2015082570A (en) * 2013-10-22 2015-04-27 株式会社ディスコ Wafer processing system

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001087725A (en) * 1999-09-22 2001-04-03 Dainippon Screen Mfg Co Ltd Substrate cleaning device and substrate cleaning method
JP2001326205A (en) * 2000-05-16 2001-11-22 Disco Abrasive Syst Ltd Method and device for cleaning chuck table of grinding device
JP2003059875A (en) * 2001-08-09 2003-02-28 Disco Abrasive Syst Ltd Polishing apparatus
JP2009252877A (en) * 2008-04-03 2009-10-29 Disco Abrasive Syst Ltd Conveying method and conveying device for wafer
JP2010087443A (en) * 2008-10-03 2010-04-15 Disco Abrasive Syst Ltd Transport mechanism
JP2015082570A (en) * 2013-10-22 2015-04-27 株式会社ディスコ Wafer processing system

Also Published As

Publication number Publication date
JP7444633B2 (en) 2024-03-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR102515687B1 (en) Wafer producing apparatus
TWI783136B (en) grinding device
JP2001326205A (en) Method and device for cleaning chuck table of grinding device
JP2010114353A (en) Grinding device
JP2009113145A (en) Chuck table mechanism of polishing device
JP2004363368A (en) Cleaning apparatus and polishing apparatus
JP7444633B2 (en) processing equipment
KR20210056898A (en) Holding surface cleaning apparatus
JP2021019115A (en) Processing device
JP2020136500A (en) Chuck table
JP7222721B2 (en) cleaning mechanism
JP3401706B2 (en) Surface grinding equipment
JP2022157038A (en) Machining device
JP2021125581A (en) Washing device
JP2022139548A (en) Processing device
JP2022025341A (en) Processing device
JP7578399B2 (en) Cleaning method for processing equipment and connecting pipe
JPH02252238A (en) Cleaning equipment for substrate
JP7299773B2 (en) Grinding equipment
JP2020113670A (en) Cleaning unit
JP7452960B2 (en) processing equipment
US20230321781A1 (en) Gettering layer forming device and processing apparatus
JP4909575B2 (en) Cleaning method and cleaning equipment
JP2011146568A (en) Method and device for detecting cracking of wafer
JP2024118662A (en) Gettering layer forming device

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20221216

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20230914

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20230926

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20231120

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20240130

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20240222

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 7444633

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150