JP2018028446A - 導電性異物検出装置、及び、導電性異物検出方法 - Google Patents

Abstract

【課題】金属製のブラケットに付着した導電性異物を検出すること。【解決手段】導電性異物検出装置は、治具４１を備える。治具４１は、突条５９によって区画された複数の凹条６０を備える。凹条６０には、第１配線電極４２及び第２配線電極４３が交互に配置されている。突条５９によって、第１配線電極４２及び第２配線電極４３と、ブラケット１６，１７とが接触することが抑止されている。ブラケット１６，１７に導電性異物が付着している場合には、複数の凹条６０に跨った導電性異物によって第１配線電極４２と第２配線電極４３とが短絡する。抵抗検出器は、導電性異物によって第１配線電極４２と第２配線電極４３とが短絡したときの抵抗値を測定する。【選択図】図６

Description

本発明は、導電性異物検出装置、及び、導電性異物検出方法に関する。

複数の蓄電装置をモジュール化した蓄電装置モジュールは、複数の蓄電装置を拘束するための金属製のブラケットを備える。蓄電装置モジュールにおいて、金属製のブラケットには、その製造のための金属加工などによって生じた導電性異物が付着しているおそれがある。ブラケットに付着した導電性異物がブラケットから離脱し、蓄電装置に付着すると、短絡の原因となる。このため、ブラケットに付着した導電性異物を検出することが望まれている。

導電性異物を検出する導電性異物検出装置としては、例えば、特許文献１に記載されている。特許文献１に記載の導電性異物検出装置は、床に落下した針状の導電性異物を検出し、回収する。導電性異物検出装置は、永久磁石積層体と、絶縁性を有する保持部と、保持部上に配置された第１配線電極及び第２配線電極とを備える。第１配線電極と第２配線電極には、電位差が生じている。永久磁石積層体の磁力によって、導電性異物が保持部に引き寄せられると、導電性異物によって第１配線電極と第２配線電極とが短絡する。短絡による電流変化によって導電性異物を検出することができる。

特開２０１３−２３０４５６号公報

ところで、金属製のブラケットに保持部を接触させると、第１配線電極と第２配線電極とはブラケットによって短絡する。導電性異物の有無に関わらず第１配線電極と第２配線電極とが短絡するため、導電性異物を検出することができない。

本発明の目的は、金属製のブラケットに付着した導電性異物を検出することができる導電性異物検出装置、及び、導電性異物検出方法を提供することにある。

上記課題を解決する導電性異物検出装置は、並設された複数の蓄電装置を並設方向の両側から挟んで拘束する金属製のブラケットに付着した導電性異物を検出可能とする導電性異物検出装置であって、前記ブラケットに押し付けられる治具と、前記導電性異物を検出する検出部とを備え、前記治具は、基板と、前記基板の１つの面に沿う方向に互いに平行に配列された複数のゴム製の突条と、前記面に沿う方向に隣り合う前記突条の間に区画された凹条と、前記面に沿う方向に隣り合う前記凹条内において、極性が異なるように交互に配置された第１配線電極及び第２配線電極と、を備え、前記第１配線電極及び前記第２配線電極より前記突条が突出し、前記検出部は、前記第１配線電極及び前記第２配線電極に接続された電源と、前記突条を前記ブラケットに押し付けた際に、前記第１配線電極と前記第２配線電極とが導電性異物を介して短絡したときの電気的な数値を測定する計測器と、を備える。

これによれば、ゴム製の突条の先端をブラケットに当てただけでは、第１配線電極及び第２配線電極とブラケットとが接触しない。治具をブラケットに向けて押し付けていくと、突条が潰れ、ブラケットに第１配線電極及び第２配線電極が近付いていく。導電性異物がブラケットに付着していない場合には、第１配線電極と第２配線電極とが短絡しない。一方で、ブラケットに導電性異物が付着している場合には、導電性異物によって隣り合う凹条に跨って第１電極配線と第２電極配線が接続され、第１配線電極と第２配線電極が短絡する。第１配線電極と第２配線電極が短絡すると、計測器によって測定される電気的な数値が変化する。これにより、導電性異物を検出することができる。突条によって、第１配線電極と第２配線電極とがブラケットによって短絡することを抑止しながら金属製のブラケットに付着した導電性異物を検出できる。

上記導電性異物検出装置について、前記第１配線電極と前記第２配線電極との配線間距離は、１０μｍ以上、１００μｍ未満であり、前記基板は、ゴム板であり、前記第１配線電極及び前記第２配線電極は、ワイヤ状であってもよい。

これによれば、１０μｍ以上の導電性異物に押し付けられても第１配線電極及び第２配線電極が断線しにくい。
上記導電性異物検出装置について、前記第１配線電極と前記第２配線電極との配線間距離は、１μｍ以上、１０μｍ未満であり、前記基板は、絶縁基板であり、前記第１配線電極及び前記第２配線電極は、めっき配線である。

これによれば、１０μｍ未満の導電性異物に押し付けられても第１配線電極及び第２配線電極が断線しにくい。
上記課題を解決する導電性異物検出方法は、並設された複数の蓄電装置を並設方向の両側から挟んで拘束する金属製のブラケットに付着した導電性異物を検出可能とする導電性異物検出方法であって、前記請求項２に記載の導電性異物検出装置を用いた検査を実施後に、前記請求項３に記載の導電性異物検出装置を用いた検査を実施する。

これによれば、まず、第１配線電極と第２配線電極との配線間距離が１０μｍ以上、１００μｍ未満の治具を用いて検査を実施することで、例えば、１０μｍ以上の大きな導電性異物を検出することができる。次に、第１配線電極と第２配線電極との配線間距離が、１μｍ以上、１０μｍ未満の治具を用いて検査を実施することで、例えば、１０μｍ未満の小さな導電性異物を検出することができる。大きな導電性異物がブラケットに付着していないことを確認した後に、第１配線電極と第２配線電極との配線間距離が１μｍ以上、１０μｍ未満の治具を用いて検査を行うことで、その第１配線電極及び第２配線電極は、断線しにくい。このため、導電性異物の平均的なサイズがわかっていない場合においても、配線間距離が１μｍ以上、１０μｍ未満の第１配線電極及び第２配線電極が断線することを抑制しつつ、検査を行うことができる。

本発明によれば、金属製のブラケットに付着した導電性異物を検出することができる。

電池モジュールを示す斜視図。 第１実施形態における導電性異物検出装置の概略構成図。 第１実施形態における治具、及び、ブラケットを示す斜視図。 第１実施形態における治具をブラケットに重ねた状態を示す平面図。 （ａ）は第１実施形態における治具を示す断面図、（ｂ）は導電性異物が付着していないブラケットに押し付けられた治具を示す断面図。 （ａ）は導電性異物が付着したブラケットに押し付けられる前の治具を示す断面図、（ｂ）は導電性異物が付着したブラケットに押し付けられた治具を示す断面図。 第２実施形態における治具を示す断面図。

（第１実施形態）
以下、導電性異物検出装置の第１実施形態について説明する。
図１に示すように、電池モジュール１０は、複数の電池セル１１と、各電池セル１１を保持する個別の電池ホルダ１２とを備える。各電池セル１１は、電池ホルダ１２に保持された状態で並設されている。本実施形態の電池セル１１は、角型電池であり、二次電池である。なお、本実施形態では、蓄電装置として電池セル１１を用いているが、蓄電装置はキャパシタでもよい。

電池セル１１は、正極端子１３と負極端子１４とを備える。電池セル１１の並設方向に隣り合う電池セル１１同士は、正極端子１３と負極端子１４とが隣り合うように配置されている。電池モジュール１０は、正極端子１３と負極端子１４とを接続するバスバー１５を備える。本実施形態では、バスバー１５によって複数の電池セル１１が直列接続されている。なお、正極端子１３同士、負極端子１４同士を接続するバスバーを用いることで、複数の電池セル１１が並列接続されるようにしてもよい。

電池モジュール１０は、２つのブラケット１６，１７を備える。ブラケット１６，１７は、電池セル１１の並設方向の両側に設けられている。２つのブラケット１６，１７により、全ての電池セル１１は並設方向の両側から挟まれている。各ブラケット１６，１７は金属製である。

２つのブラケット１６，１７のうち、一方を第１ブラケット１６とし、他方を第２ブラケット１７とする。第１ブラケット１６は、矩形板状の本体２１を備える。本体２１の板厚方向の面における短辺２２，２３に沿う方向を本体２１の短手方向、長辺２４，２５に沿う方向を本体２１の長手方向とする。

図１及び図３に示すように、第１ブラケット１６は、本体２１と直角に交わる矩形板状の固定部２６を本体２１の長手方向の一端に備える。固定部２６は、複数の固定孔２７を有する。

第１ブラケット１６は、本体２１に溶接された複数（本実施形態では３つ）のリブ３１を備える。リブ３１は、本体２１の板厚方向の面のうち、固定部２６が延びる方向と同一方向に位置する面２１ａに設けられている。リブ３１は、本体２１の短手方向に並んでいる。各リブ３１は、本体２１の長手方向に延びている。リブ３１は、一方の短辺２２から、他方の短辺２３に向かう途中位置まで延びている。リブ３１は、板状であり、リブ３１の板厚方向が本体２１の短手方向と一致している。リブ３１は、電池セル１１の充放電に伴う電池セル１１の膨張によって第１ブラケット１６に加わる力に対する強度を向上させている。

第１ブラケット１６は、本体２１の各長辺２４，２５から２つずつ突出する突出部３２を備える。各突出部３２は、貫通孔３３を備える。
第２ブラケット１７の固定部２６は、本体２１の板厚方向のうち、第１ブラケット１６とは逆向きに延びている。第２ブラケット１７は、固定部２６が延びる方向が第１ブラケット１６と異なる点を除いて、第１ブラケット１６と同様な構造である。このため、第２ブラケット１７の詳細な説明は省略する。

電池モジュール１０は、各ブラケット１６，１７に拘束荷重を付与させる拘束ボルト３４を備える。拘束ボルト３４は、第１ブラケット１６の各貫通孔３３から第２ブラケット１７の各貫通孔３３に挿入されている。拘束ボルト３４には、ナット３５が螺合されている。各ブラケット１６，１７には、拘束ボルト３４の頭部及びナット３５から互いに近付く方向に向けた拘束力が作用する。これにより、複数の電池セル１１が並設方向に拘束され、モジュール化されている。したがって、各ブラケット１６，１７は、電池セル１１を拘束してモジュール化する機能を備える。

固定孔２７には、図示しないボルトが挿通される。このボルトは、例えば電池モジュール１０が複数搭載される電池パックのケースの壁部など、電池モジュール１０が搭載される搭載対象に螺合される。これにより、電池モジュール１０が搭載対象に固定される。したがって、各ブラケット１６，１７は、電池モジュール１０を搭載対象に固定する機能を備える。

上記した電池モジュール１０のブラケット１６，１７には、ブラケット１６，１７の製造段階で生じた導電性異物が付着している場合がある。導電性異物としては、例えば、リブ３１を溶接するときに生じたスパッタ、固定孔２７及び貫通孔３３を形成するときに生じたバリ、及び、このバリが脱落したものが挙げられる。導電性異物がブラケット１６，１７から離れ、電池セル１１に付着すると、電池セル１１が短絡する原因となる。このため、以下の導電性異物検出装置を用いて、ブラケット１６，１７に付着した導電性異物の検出を行っている。

図２に示すように、導電性異物検出装置４０は、治具４１と、検出部７１とを備える。治具４１は、互いに極性の異なる第１配線電極４２及び第２配線電極４３と、第１配線電極４２同士を接続する第１接続線４４と、第２配線電極４３同士を接続する第２接続線４５と、第１配線電極４２及び第２配線電極４３を保持する保持具５０とを備える。検出部７１は、電源７２と、抵抗検出器７３とを備える。検出部７１は、互いに非接触で保持具５０に配置された第１配線電極４２と第２配線電極４３とが、導電性異物により短絡したことを検出する。なお、図２においては、第１配線電極４２と第２配線電極４３との間隔をデフォルメし、判りやすく拡大して記載しており、実際の間隔は、後述するように極めて狭い。

図３及び図４に示すように、保持具５０は、基板としてのゴム板５１を備える。ゴム板５１の板厚方向の面５１ａに沿う方向のうち一方向を第１方向とし、第１方向に直交する方向を第２方向とする。ゴム板５１は、第１方向に延びる切欠５３を第２方向に並んで複数備える。ゴム板５１は、切欠５３を挟んだ両側に並設部５７を備える。切欠５３の第２方向の寸法は、リブ３１の厚みよりも長い。例えば、切欠５３の第２方向の寸法は、リブ３１の厚みに、リブ３１を溶接することで生じたビードの幅（本体２１の短手方向の寸法）を加えた寸法よりも僅かに大きい。切欠５３は、リブ３１と同数設けられている。本実施形態では、切欠５３は、３つ設けられている。

図５（ａ）に示すように、保持具５０は、ゴム板５１の板厚方向の面のうちの一方の面５１ａに、複数の突条５９を備える。各突条５９は、ゴム板５１の１つの面５１ａに沿う方向に互いに平行に配列されている。本実施形態において、各突条５９は、第２方向に互いに平行に配列され、ゴム板５１の全体に亘って第１方向に延びている。なお、説明の便宜上、図２では突条５９を省略している。

ゴム板５１と突条５９とは一体であり、ともにゴム製である。ゴム板５１と突条５９（保持具５０）を構成するゴムとしては、例えば、ニトリルゴムなどの硬質ゴムが用いられる。ニトリルゴム以外であっても、新ＪＩＳ規格（ＪＩＳ Ｋ６２５３−３：２０１２ 加硫ゴム及び熱可塑性ゴム−硬さの求め方−第３部：デュロメータ硬さ）に基づく「デュロメータ」を計測器に用いた方法で計測されるゴム硬度がデュロメータ硬さ６０〜９０のものであれば使用できる。デュロメータ硬さが６０未満であると、繰り返して行われる導電性異物の検出とともに突条５９が摩耗してしまい、導電性異物がなくてもワイヤ状の第１配線電極４２及び第２配線電極４３がブラケット１６，１７と直接接触してしまい誤検出してしまうおそれがある。デュロメータ硬さが９０を超えると、治具４１をブラケット１６，１７に押し付けても、突条５９が治具４１に加わる加圧力によって潰れずに、導電性異物を検出できないおそれがある。ゴム硬度は、デュロメータ硬さ８０〜９０のものを用いるのがより好ましい。ニトリルゴム以外のゴムとしては、例えば、スチレンブタジレンゴムや、シリコンゴムが挙げられる。

保持具５０は、隣り合う突条５９同士の間に区画された凹条６０を備える。各凹条６０には、ワイヤ状の第１配線電極４２及びワイヤ状の第２配線電極４３のうちいずれか１つが配置されている。第１配線電極４２及び第２配線電極４３は、例えば、銅線である。第１配線電極４２及び第２配線電極４３は、例えば、各凹条６０の内底面に圧入されることで保持具５０に保持される。

第２方向に隣り合う凹条６０内において、極性が異なるように、第１配線電極４２と第２配線電極４３とは、交互に配置されている。これにより、第１配線電極４２と第２配線電極４３とは隣り合っている。第１配線電極４２と、第２配線電極４３とは非接触で配置されることで、電気的に絶縁されている。第１配線電極４２及び第２配線電極４３より、突条５９は突出している。

第１配線電極４２と、第２配線電極４３との間隔（第１配線電極４２と第２配線電極４３との間の寸法）である配線間距離は、検出したい導電性異物の大きさ（粒径）に応じて適宜設定される。本実施形態のように、ワイヤ状の第１配線電極４２及び第２配線電極４３を用いる場合、配線間距離は、１０μｍ以上、１００μｍ未満に設定される。検出したい導電性異物の大きさは、電池セル１１の短絡の原因となり得る導電性異物の大きさである。本実施形態の導電性異物検出装置４０は、１０μｍ以上、１００μｍ未満の導電性異物を検出可能とする。なお、ここでの短絡は、電池セル１１の外側における、電池セル１１の正極端子１３又は負極端子１４とケースとの短絡、又は、電池セル１１とバスバー間の短絡などを意味する。

図２に示すように、複数の第１配線電極４２は、第１接続線４４によって接続されている。複数の第２配線電極４３は、第２接続線４５によって接続されている。なお、第１接続線４４と、第２接続線４５は、保持具５０に保持されていてもよいし、保持されていなくてもよい。

第１接続線４４と第２接続線４５は、それぞれ計測器としての抵抗検出器７３及び電源７２に電気的に接続されている。電源７２は、第１配線電極４２及び第２配線電極４３にそれぞれ導通し、これにより第１配線電極４２と第２配線電極４３と抵抗検出器７３を含む測定用回路を構成する。そして、電源７２は、第１配線電極４２と第２配線電極４３との間に、予め設定された一定電圧を印加可能である。抵抗検出器７３は、計測された抵抗値を、制御装置８０に出力する。

次に、本実施形態の導電性異物検出装置４０の作用について、導電性異物検出方法とともに説明する。
図４に示すように、ブラケット１６，１７に導電性異物が付着しているかを検出する際には、まず、治具４１の位置決めを行う。治具４１は、突条５９がブラケット１６，１７の面２１ａに接触するように配置される。治具４１は、切欠５３内にリブ３１が位置するように位置決めされる。これにより、本体２１のリブ３１が設けられた面２１ａは、リブ３１の周囲の一部、及び、固定部２６の周囲の一部を除いて、治具４１に覆われる。

次に、治具４１をブラケット１６，１７に押し付ける。突条５９は、治具４１に加わる加圧力によって潰れていく。なお、治具４１の加圧は、加圧装置によって自動で行われてもよいし、手動で行われてもよい。

図５（ｂ）に示すように、突条５９が潰れても、第１配線電極４２及び第２配線電極４３は、凹条６０内にあり、突条５９より突出しない。突条５９のゴム硬度、第１配線電極４２及び第２配線電極４３の太さ、凹条６０の深さ（突条５９の高さ）、及び、治具４１に対する加圧力の少なくとも１つは、治具４１をブラケット１６，１７に押し付けたときに、第１配線電極４２及び第２配線電極４３が凹条６０から突出しないように設定されている。

第１配線電極４２及び第２配線電極４３は、突条５９によってブラケット１６，１７に接触しない。このため、ブラケット１６，１７に導電性異物が付着していない場合、第１配線電極４２と第２配線電極４３とは絶縁された状態に維持される。第１配線電極４２と第２配線電極４３とが絶縁されている場合、抵抗検出器７３で検出される抵抗値は無限大となる。

図６（ａ）に示すように、ブラケット１６，１７に導電性異物（図中Ｆ）が付着している場合、導電性異物は、隣り合う凹条６０に跨る。この状態で、ブラケット１６，１７に治具４１を押し付けると、図６（ｂ）に示すように、第１配線電極４２と第２配線電極４３とが導電性異物によって短絡する。導電性異物により第１配線電極４２と第２配線電極４３とが短絡すると、抵抗検出器７３で検出される抵抗値は低下する。

制御装置８０は、抵抗値の低下を検出すると、ブラケット１６，１７に導電性異物が付着していると判断する。これにより、導電性異物が検出される。
したがって、上記実施形態によれば、以下のような効果を得ることができる。

（１）治具４１は、突条５９によって区画された複数の凹条６０を備える。各凹条６０には、第１配線電極４２又は第２配線電極４３が配置されている。ブラケット１６，１７に治具４１を当てただけでは、突条５９によって、第１配線電極４２及び第２配線電極４３と、ブラケット１６，１７とが接触することが抑止されている。ブラケット１６，１７に導電性異物が付着している場合には、複数の凹条６０に跨った導電性異物によって第１配線電極４２と第２配線電極４３とが短絡するため、金属製のブラケット１６，１７の導電性異物を検出することができる。

（２）第１配線電極４２及び第２配線電極４３として、めっきによって形成されためっき配線を用いることも考えられる。しかしながら、めっき配線は、１０μｍ以上の導電性異物に押し付けられると、ワイヤ状の第１配線電極４２及び第２配線電極４３に比べて断線しやすい。このため、１０μｍ以上の導電性異物を検出する場合、ワイヤ状の第１配線電極４２及び第２配線電極４３を用いることで、第１配線電極４２及び第２配線電極４３の断線を抑制しつつ、導電性異物を検出することができる。

（３）突条５９は、金属製の導電性異物に接触するため、突条５９を軟質ゴム製とした場合、突条５９が摩耗しやすい。また、導電性異物が突条５９にめり込むおそれがある。結果として、治具４１を長期間使用することができない。突条５９を硬質ゴム製とすることで、治具４１を長期間に亘って使用することができる。

（４）ブラケット１６，１７に付着した導電性異物を検出するための装置として、ＣＣＤカメラなどの撮像装置を用いるものが知られている。撮像装置を用いて導電性異物を検出する場合、撮像装置によって撮像された画像から導電性異物の有無を検査する。撮像装置では、バリが検出できるような倍率で撮影を行った場合、一度に狭い範囲の画像しか取得することができないため、撮像装置を移動させて、複数箇所で画像を取得する必要がある。また、リブ３１の近傍では、撮像装置をリブ３１から離れるように移動させる必要があり、撮像装置の焦点深度の調整が、その都度必要になる。結果として、導電性異物の検出に長時間を要する。

本実施形態のように、治具４１をブラケット１６，１７の面２１ａに押し付けることで、治具４１と接触する部分については、一括で導電性異物の有無を検査することができる。したがって、撮像装置によって撮像した画像から導電性異物を検出する場合に比べて、短時間で導電性異物の有無を検査することができる。

（第２実施形態）
次に、導電性異物検出装置の第２実施形態について説明する。なお、第１実施形態に記載した導電性異物検出装置と同様な構成については、同一の符号を付すことで説明を省略する。

図７に示すように、治具８１は、基板としての絶縁基板８２を備える。絶縁基板８２は、例えば、ガラスエポキシ基板が用いられる。また、絶縁基板８２としては、熱可塑性樹脂と熱硬化性樹脂との混合物からなるものを用いることもできる。熱硬化性樹脂としては、エポキシ樹脂、フェノール樹脂、メラミン樹脂、尿素樹脂、不飽和ポリエステル樹脂などが挙げられる。熱可塑性樹脂としてはポリエチレン樹脂、ポリプロピレン、ポリスチレン、ＡＢＳ、ＡＳ、ポリアセタール樹脂、ポリエステル樹脂、ポリエーテル樹脂、ポリイミド樹脂、ポリアミドイミド樹脂、ポリエーテルイミド樹脂、ポリスルホン樹脂、ポリエーテルスルホン樹脂、ポリフェニレンエーテル樹脂、ポリカーボネート樹脂、ポリエーテルエーテルケトン樹脂、ポリエステル樹脂などが挙げられる。

絶縁基板８２には、無機充填材を添加されていてもよい。無機充填材としては、シリカ、アルミナ、硫酸バリウム、タルク、クレー、雲母粉、水酸化アルミニウム、水酸化マグネシウム、炭酸カルシウム、炭酸マグネシウム、酸化マグネシウム、窒化ホウ素、ホウ酸アルミニウム、チタン酸バリウム、チタン酸ストロンチウム、チタン酸カルシウム、チタン酸マグネシウム、チタン酸ビスマス、酸化チタン、ジルコン酸バリウム、ジルコン酸カルシウムなどが挙げられる。

更に絶縁基板８２には上記成分の他に、本発明の効果を阻害しない範囲で必要に応じて各種添加剤が含まれていてもよい。
絶縁基板８２の面８２ａには、突条５９が設けられている。治具８１は、隣り合う突条５９同士の間に区画された凹条６０内に第１配線電極８３及び第２配線電極８４を備える。本実施形態の第１配線電極８３及び第２配線電極８４は、めっき配線（例えば、銅箔）である。めっき配線は、例えば、アディティブ法などのめっき処理により形成されている。第１配線電極８３及び第２配線電極８４は、絶縁基板８２に密着している。本実施形態の治具８１は、絶縁基板８２に第１配線電極８３及び第２配線電極８４をパターニングした回路基板ともいえる。

第２実施形態の導電性異物検出装置は、第１実施形態の導電性異物検出装置４０に比べて、微細な導電性異物を検出する。第２実施形態では、例えば、１μｍ以上、１０μｍ未満の導電性異物を検出する。

第１配線電極８３と第２配線電極８４の配線間距離は、検出したい導電性異物の大きさに応じて、第１実施形態と同様に設定される。具体的にいえば、第１配線電極８３と第２配線電極８４との配線間距離は、１μｍ以上、１０μｍ未満に設定される。第２実施形態の導電性異物検出装置についても、第１実施形態と同様に、治具８１をブラケット１６，１７に押し付けることで、導電性異物を検出する。

したがって、上記実施形態によれば、以下のような効果を得ることができる。
（５）１０μｍ未満の導電性異物をワイヤ状の第１配線電極及び第２配線電極によって検出しようとすると、配線間距離を短くするために、第１配線電極及び第２配線電極を細くする必要がある。すると、導電性異物に押し付けたられたときに第１配線電極及び第２配線電極が断線しやすい。第１配線電極８３及び第２配線電極８４としてめっき配線を用いることで、第１配線電極８３及び第２配線電極８４の幅を、ワイヤ状の配線電極に比べて広くすることができる。このため、１０μｍ未満の導電性異物に押し付けられても第１配線電極及び第２配線電極が断線しにくい。第１配線電極４２及び第２配線電極４３の断線を抑制しつつ、導電性異物を検出することができる。

なお、実施形態は、以下のように変更してもよい。
○各実施形態では、ブラケット１６，１７の複数の面のうち、リブ３１が設けられた本体２１の面２１ａについて導電性異物の検出を行ったが、治具４１の形状を変更することで、本体２１の板厚方向の面のうち、リブ３１が設けられていない面などについても導電性異物の検出を行うことができる。

○各実施形態において、各突条５９は、基板の板厚方向の面に沿う方向であれば、どのような方向に配列されていてもよい。例えば、各突条５９は、第１方向に互いに平行に配列されていてもよい。

○各実施形態において、計測器として、電気的な数値として電流値を計測する電流計を用いてもよい。計測器として、電気的な数値として電圧を計測する電圧計を用いてもよい。

○各実施形態において、ブラケット１６，１７は、電池セル１１を拘束してモジュール化する機能を備えたものであれば、どのような形状であってもよい。例えば、ブラケット１６，１７は、リブ３１を備えていない形状であってもよいし、固定部２６を備えていない形状であってもよい。治具４１の形状は、ブラケット１６，１７の形状に合わせて適宜変更される。

○各実施形態において、ゴムとして、ゴム硬度がデュロメータ硬さ６０〜９０以外のものを用いてもよい。
○各実施形態において、基板の板厚方向の面のうち、突条５９が設けられた面の反対面には、台座が設けられてもよい。

○導電性異物検出方法は、第１実施形態の導電性異物検出装置４０を用いたブラケット１６，１７の検査を実施した後に、第２実施形態の導電性異物検出装置を用いたブラケット１６，１７の検査を実施することで行われてもよい。まず、第１配線電極４２と第２配線電極４３との配線間距離が１０μｍ以上、１００μｍ未満の治具４１を用いて検査を実施することで、大きな導電性異物（例えば、１０μｍ以上の導電性異物）を検出することができる。次に、第１配線電極８３と前記第２配線電極８４との配線間距離が、１μｍ以上、１０μｍ未満の治具８１を用いて検査を実施することで、小さな導電性異物（例えば、１０μｍ未満の導電性異物）を検出することができる。第２実施形態の治具８１の第１配線電極８３及び第２配線電極８４は、配線間距離が短いことで、大きな導電性異物に押し付けられると断線するおそれがある。治具４１を用いて、大きな導電性異物がブラケット１６，１７に付着していないことを確認した後に、治具８１を用いてブラケット１６，１７の検査を行うことで、導電性異物の平均的なサイズがわかっていない場合においても、第１配線電極８３及び第２配線電極８４が断線しにくい。

１１…電池セル（蓄電装置）、１６，１７…ブラケット、４０…導電性異物検出装置、４１，８１…治具、４２，８３…第１配線電極、４３，８４…第２配線電極、５１…ゴム板、５９…突条、６０…凹条、７１…検出部、７２…電源、７３…抵抗検出器（計測器）、８２…絶縁基板。

Claims (4)

1. 並設された複数の蓄電装置を並設方向の両側から挟んで拘束する金属製のブラケットに付着した導電性異物を検出可能とする導電性異物検出装置であって、
   前記ブラケットに押し付けられる治具と、前記導電性異物を検出する検出部とを備え、
   前記治具は、
   基板と、
   前記基板の１つの面に沿う方向に互いに平行に配列された複数のゴム製の突条と、
   前記面に沿う方向に隣り合う前記突条の間に区画された凹条と、
   前記面に沿う方向に隣り合う前記凹条内において、極性が異なるように交互に配置された第１配線電極及び第２配線電極と、を備え、前記第１配線電極及び前記第２配線電極より前記突条が突出し、
   前記検出部は、
   前記第１配線電極及び前記第２配線電極に接続された電源と、
   前記突条を前記ブラケットに押し付けた際に、前記第１配線電極と前記第２配線電極とが導電性異物を介して短絡したときの電気的な数値を測定する計測器と、を備える導電性異物検出装置。
2. 前記第１配線電極と前記第２配線電極との配線間距離は、１０μｍ以上、１００μｍ未満であり、
   前記基板は、ゴム板であり、
   前記第１配線電極及び前記第２配線電極は、ワイヤ状である請求項１に記載の導電性異物検出装置。
3. 前記第１配線電極と前記第２配線電極との配線間距離は、１μｍ以上、１０μｍ未満であり、
   前記基板は、絶縁基板であり、
   前記第１配線電極及び前記第２配線電極は、めっき配線である請求項１に記載の導電性異物検出装置。
4. 並設された複数の蓄電装置を並設方向の両側から挟んで拘束する金属製のブラケットに付着した導電性異物を検出可能とする導電性異物検出方法であって、
   前記請求項２に記載の導電性異物検出装置を用いた検査を実施後に、前記請求項３に記載の導電性異物検出装置を用いた検査を実施する導電性異物検出方法。

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