[go: up one dir, main page]
More Web Proxy on the site http://driver.im/

JP2009004579A - 半導体ウェーハノッチ端面の研磨装置及びこれに使用する研磨ヘッド - Google Patents

半導体ウェーハノッチ端面の研磨装置及びこれに使用する研磨ヘッド Download PDF

Info

Publication number
JP2009004579A
JP2009004579A JP2007164256A JP2007164256A JP2009004579A JP 2009004579 A JP2009004579 A JP 2009004579A JP 2007164256 A JP2007164256 A JP 2007164256A JP 2007164256 A JP2007164256 A JP 2007164256A JP 2009004579 A JP2009004579 A JP 2009004579A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
polishing
semiconductor wafer
belt
notch
polishing head
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP2007164256A
Other languages
English (en)
Inventor
Izuru Morioka
出 森岡
Katsuhiko Hirosaki
雄彦 廣崎
Yasuo Matsumoto
康男 松本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nihon Micro Coating Co Ltd
Original Assignee
Nihon Micro Coating Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nihon Micro Coating Co Ltd filed Critical Nihon Micro Coating Co Ltd
Priority to JP2007164256A priority Critical patent/JP2009004579A/ja
Publication of JP2009004579A publication Critical patent/JP2009004579A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Grinding And Polishing Of Tertiary Curved Surfaces And Surfaces With Complex Shapes (AREA)
  • Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)
  • Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)

Abstract

【課題】 半導体ウェーハのノッチ端面の研磨を十分かつ短時間で簡単に行える技術の提供。
【解決手段】駆動装置により回転駆動する駆動ローラと、回転可能な少なくとも1以上のフリーローラと、前記駆動ローラと前記フリーローラとに掛架されて走行するエンドレスな研磨ベルト18と、研磨ベルト18を押圧して緊張させる緊張手段とを備えてなることを特徴とする研磨ヘッド17と、研磨ベルト18が鉛直面上を走行する状態におかれた研磨ヘッド17を、半導体ウェーハノッチ16と研磨ベルト18とが当接する研磨当接部分を中心に鉛直面上を回動させる研磨ヘッド揺動アーム33と、半導体ウェーハ12を水平状態に保持する半導体ウェーハ保持台13とを有してなることを特徴とする。
【選択図】図1

Description

本発明は、半導体ウェーハの研磨技術に関し、特に半導体ウェーハノッチ端面の研磨装置及びこの装置に使用する研磨ヘッドに関するものである。
半導体ウェーハには、その結晶軸の方向を示すために、ウェーハの一部を結晶軸方向に切り欠いたオリエンテーションフラットや、又はウェーハの周縁部に小さいV字状の切り欠きであるノッチを設けている。特に近年の大径化したウェーハでは、上記オリエンテーションフラットを設けた場合には廃棄部分が多くなることから、小さなノッチを設ける傾向にある。このノッチは上記したように、小さなV字切り欠きであることから研磨が困難であり、従来ノッチの研磨を行っていなかった。
しかしながら半導体ウェーハは、微細な発塵であっても加工上の品質に与える影響は大きいことから高度な表面加工が要求され、ウェーハの外周部ばかりでなくノッチも鏡面加工が求められている。
このノッチの鏡面加工要求に対する、従来の半導体ウェーハノッチの端面の研磨装置は、研磨パッドを周囲に固定した円盤状の研磨板を回転させ、この研磨板の周囲の研磨パッドの表面に、垂直に又は傾斜して配置した半導体ウェーハ保持台上に載置された半導体ウェーハを押し付けて行われているものである(例えば、特許文献1、2参照)。
特開平7−68461号公報 特開平8−168947号公報
しかし、上記特許文献1、2に記載の従来の研磨装置では、半導体ウェーハが、円盤状の周囲の研磨パッドの表面に、垂直に又は傾けて配置されているので、片面側の研磨を終えた後、半導体ウェーハを半導体ウェーハ保持台に反転させて固定しなおし、同様の研磨を他方の面側でも行わねばならず、研磨作業に手間と時間を要してしまう。さらに半導体ウェーハの円弧状端面と研磨板の円盤状の研磨パッドでは接触面積が非常に小さく半導体ウェーハのノッチの研磨に時間を要してしまうという問題がある。
また、研磨パッドの交換は、研磨軸受けから研磨パッドホルダを外し、この研磨パッドホルダから研磨パッドをさらに外して新しい研磨パッドに交換し、再び装置に取り付けるという交換作業のため、上記同様手間と時間を要してしまうという問題がある。
本発明は、これら問題点を鑑みてなされたものであり、半導体ウェーハのノッチ端面の研磨を十分かつ短時間で簡単に行え、さらに研磨用具の交換も短時間で容易に行える半導体ウェーハノッチ端面の研磨装置及びこれに用いる研磨ヘッドの提供を目的とする。
前記目的を達成するために本発明が提案するものは、半導体ウェーハのノッチ端面を研磨するための研磨ヘッドであって、駆動装置により回転駆動する駆動ローラと、回転可能な少なくとも1以上のフリーローラと、前記駆動ローラと前記フリーローラとに掛架されて走行するエンドレスな研磨ベルトと、該研磨ベルトを押圧して緊張させる緊張手段と、を備えてなることを特徴とする研磨ヘッドである。
この研磨ヘッドの研磨ベルトを半導体ウェーハのノッチ端面に当接すれば、研磨ベルトを押圧により緊張させることができるので、半導体ウェーハノッチと前記研磨ベルトとが当接する研磨当接部分において研磨効果を上げ、V字形状に切り欠いた形状のノッチ端面にも研磨ベルトが進入して鏡面研磨が容易に短時間で可能となる。さらにこの研磨ヘッドは構造が簡単であり、駆動ローラとフリーローラとに掛架されて走行するエンドレスな研磨ベルトの交換も容易にできる。
前記緊張手段が、スライド移動により前記研磨ベルトを押圧する緊張加圧ローラと、該緊張加圧ローラをスライド移動させる加圧駆動部とを備えたものとすることができる。研磨ベルトの押圧による緊張は、スライド移動可能な緊張加圧ローラによるもので、さらにこの緊張加圧ローラを加圧駆動部による加圧で移動させることができるものである。
加圧駆動部は、例えば、精密レギュレータ等で微圧調整された空気圧により駆動するエアーシリンダを用いたものである。一般的に使用されているボールネジ付きモータアクチュエータが例示できる。
また前記緊張手段は、さらに圧力センサを含めてなることが好ましい。予めノッチの鏡面研磨に最適な圧力値を求め、圧力センサによりその圧力値を観測して維持するようにすれば、高品質の研磨が可能となる。
圧力センサは、例えば、圧電素子を使用した小型ロードセルである。圧力センサとして、共和電業製のPS方(圧力範囲:0〜1.0MPa)を例示できる。
前記研磨ヘッドには、さらに該研磨ヘッドを揺動させる研磨ヘッド揺動手段が接続されてなり、該研磨ヘッド揺動手段により前記研磨ヘッドが前記研磨ベルトの研磨当接部分を中心に鉛直面上を回動することが好ましい。
さらに本発明が提案するものは、前記研磨ヘッドと、前記研磨ベルトが鉛直面上を走行する状態におかれた前記研磨ヘッドを、半導体ウェーハノッチと前記研磨ベルトとが当接する研磨当接部分を中心に鉛直面上を回動させる研磨ヘッド揺動手段と、前記半導体ウェーハを水平状態に保持する半導体ウェーハ保持台とを有してなることを特徴とする半導体ウェーハノッチ端面研磨装置である。
研磨ヘッド揺動手段により研磨ベルトの研磨当接部分を中心に鉛直面上を研磨ヘッドが回動すれば、ノッチの上端面、下端面にも十分鏡面研磨が可能となるものである。この結果、短時間でノッチ全体の鏡面研磨ができることになる。
前記半導体ウェーハノッチ端面研磨装置は、前記保持台を水平方向に揺動させる半導体ウェーハ揺動手段とを更に有してなり、該半導体ウェーハ揺動手段により前記半導体ウェーハ保持台が前記半導体ウェーハノッチと前記研磨ベルトとが当接する研磨当接部分を中心にして水平面上を回動することが好ましい。
上記したように半導体ウェーハ保持台が、半導体ウェーハ揺動手段により前記半導体ウェーハの前記研磨ベルトとの研磨当接部分を中心にして水平面上を回動するので、小さなV字状の切り欠きであるノッチの左右の端面部分も、短時間で容易に十分鏡面研磨することができることになる。
また前記半導体ウェーハ揺動手段が、前記半導体ウェーハ保持台を支持する支持脚と、該支持脚の下端部に一端が接続されて水平方向に延在する保持台揺動アームと、該保持台揺動アームの他端に接続される回動軸と、該回動軸を回動させる回動軸駆動装置とで構成すれば、装置構成を簡素化することができる。
さらにまた前記半導体ウェーハ揺動手段を載置するレールと、該レール上を前記半導体ウェーハ揺動手段が前記研磨ベルトに当接する方向に水平面上を接離移動するスライダーとを更に有してなることが好ましい。
半導体ウェーハ揺動手段が研磨ベルトに対して接離移動、すなわち接近、離反の移動ができるので、半導体ウェーハのセッティングに使用するほか、研磨ベルトに対しての半導体ウェーハの当接を調節できるので、研磨の程度を調整可能とすることができる。
なお本発明に係る半導体ウェーハノッチ端面研磨装置では、半導体ウェーハを水平面上に載置し、研磨ベルトを鉛直面上を走行するようにしてノッチ端面の研磨を行うが、このような位置関係に限定するものでなく、例えば半導体ウェーハを鉛直面に平行に載置して研磨してもよい。要はノッチ端面に研磨ベルトが十分に当接し、研磨効率を上昇させるものであればよい。
本発明によれば、走行する研磨ベルトを緊張させて当接させるので、微小な部分である、半導体ウェーハノッチの端面についても、研磨当接部分を広くとれるので、十分な鏡面研磨が可能となるものである。
また研磨ヘッド揺動手段によりノッチ端面の上端面、下端面にも研磨を十分に行うことがでる。
さらに半導体ウェーハ揺動手段により、ノッチ端面の左右部分にも研磨を十分に行うことができる。
以下、添付図面を参照して本発明の好ましい実施形態について説明する。
図1は本発明に係る半導体ウェーハノッチ端面研磨装置の正面図、図2は同半導体ウェーハノッチ端面研磨装置の平面図、図3は本発明に係る研磨ヘッドの正面図、図4は同研磨ヘッドの平面図、図5は同研磨ヘッドの動作状態(水平位置)を示す正面図、図6は同研磨ヘッドの動作状態(研磨当接部分を下にした傾斜位置)を示す正面図、図7は同研磨ヘッドの動作状態(研磨当接部分を上にした傾斜位置)を示す正面図、図8は半導体ウェーハの揺動(回動)状態を示す平面図、図9は半導体ウェーハノッチ端面の模式的拡大斜視図である。
図1、図2に示すように、本発明に係る半導体ウェーハノッチ端面研磨装置は、主として、中空状の容器であるハウジング11の内部に設けられた、半導体ウェーハ12を水平状態に載置するウェーハ保持台13と、このウェーハ保持台13を揺動させるウェーハ揺動部15(半導体ウェーハ揺動手段)と、半導体ウェーハノッチ16の端面を研磨するための研磨ヘッド17とを備えてなるものである。
ウェーハ保持台13は、円盤状の半導体ウェーハを水平方向に載置して保持する皿形状もので、台上に図示しない吸引孔を有しており、ハウジング11の外部に位置する吸引ポンプ(図示せず)に連通している。
また研磨中の半導体ウェーハに研磨液、冷却液、洗浄液の供給ノズル(図示せず)と、使用済み液の装置外部への廃出のための収液容器等(図示せず)が、ウェーハ保持台13とその周辺に設けられている。
ウェーハ保持台13は棒状の支持脚21の上部端面部に同軸に載置されており、支持脚21の下部端面部は水平方向に揺動する保持台揺動アーム22の一端側に載置されている。
保持台揺動アーム22の他端側には回動軸体23が取付けられており、この回動軸体23の回動軸の延長方向が半導体ウェーハーノッチ端面16と研磨ベルト18との当接部分となっている。そのため回動軸を中心に回動する揺動状態にすると、半導体ウェーハ12は上記当接部分を中心に回動するようになっている(回動した半導体ウェーハの位置を図2上、鎖線で示す)。
また回動軸体23は、モータ25とベルト26により連結されて回転するようになっており、回動軸体23、モータ25及びベルト26は、保持台29上のスライダー27内に収容され、このスライダー27はハウジング11内に水平に取付けられたスライドフレーム28上を水平に往復移動可能となっている。この往復移動によりウェーハ12のノッチ16が研磨ベルト18に接近して当接したり、離反したりできるようになっている。
なお、支持脚21、保持台揺動アーム22、回動軸体23、モータ25、ベルト26及びスライダー27によりウェーハ揺動部15を構成する。
一方、研磨ヘッド17は、エンドレスな研磨用ベルト18と、この研磨用ベルトを両側から挟み込む位置に設けられた内プレート31aと外プレート31bとで箱体形状となっており、内プレート31aの外側には研磨ベルト18を走行させる研磨ベルト走行用モータ32が設置されている。この研磨ベルト走行用モータ32は、研磨ベルト18の研磨当接部分とは内プレート面31aの左右反対側に配置されている。
また内プレート31a上の研磨ベルト走行用モータ32隣には、水平方向に延在するL字上の揺動アーム33の一端が接続されており、この揺動アーム33の他端はハウジング11に設置されている揺動機構フレーム35に取り付けた研磨ヘッド揺動モータ36の回転軸体に接続されている。
この揺動モータ36の回動軸体の回動軸は水平面上に位置し、その延長方向に半導体ウェーハノッチと前記研磨ベルトとが当接する研磨当接部分が位置するようになっている。そのため揺動モータ36が回動すると、結果研磨当接部分を中心に研磨ヘッドが回動する揺動運動が生じるようになっている。
次に、図3および図4を参照して研磨ヘッド17の概要を説明する。
研磨ヘッド17は、内プレート31aと外プレート31bとを所定間隔を設けて形成された薄板状の箱体である。内プレート31aと外プレート31bとの間には、内プレート31aに回転可能に取り付けた研磨ベルト駆動用ローラ51と、一対のフリーローラである、上部ローラ52aと、下部ローラ52bとが同様に内プレート31aに回転可能に取り付けられている。
この研磨ベルト駆動用ローラ51と、上部ローラ52aおよび下部ローラ52bとにエンドレスな研磨ベルト18が掛架されている。そして研磨ベルト駆動用ローラ51は内側プレート31aの外側に突出している同軸の駆動プーリ53に接続され、この駆動プーリ53はベルト55で研磨ベルト走行用モータ32と連動するようになっている。
なお本実施形態では、ベルト55により駆動プーリ53と研磨ベルト走行用モータ32とが連動するようになっているが、ベルト55にかえて歯車機構により連動させてもよい。
研磨ベルト走行用モータ32を作動させると、ベルト55、駆動プーリ53を通じて研磨ベルト駆動用ローラ51が回転し、研磨ベルト18が走行するようになっている。研磨ベルト18は、上部ローラ52aと下部ローラ52bの間の部分が研磨ヘッド17から外部に露出しており、この露出した部分で研磨対象物、例えば半導体ウェーハノッチ端面に当接して研磨するようになっている。
上記した研磨ベルトの外部露出部分の内側、すなわち研磨ヘッド17の内部側には、研磨ベルトを押圧して緊張させる上下に位置する2個のローラ、すなわち上部緊張加圧ローラ56aと下部緊張加圧ローラ56bとが回転可能に取付部材57に設置されている。
取付部材57は、間に圧力センサ58を挟んで緊張加圧駆動部59に接続されており、この緊張加圧駆動部59によって、取付部材57が研磨ベルト18の側に押されるようになっている。そのため取付部材57が研磨ベルト18側に押されることで、上部緊張加圧ローラ56aと下部緊張加圧ローラ56bとが研磨ベルト18側に移動して、研磨ヘッド17の内部から研磨ベルト18を押圧して緊張させるようになっている。この押圧状態においても、上部緊張加圧ローラ56aと下部緊張加圧ローラ56bとは、フリーローラであるため、研磨ベルトの走行により回転するようになっている。
加圧センサ58は上部緊張加圧ローラ56a及び下部緊張加圧ローラ56bと、緊張加圧駆動部59との間に位置し、緊張加圧駆動部59がウェーハ12の方向に移動することにより、常に一定の圧力がウェーハ12のノッチ部に加わるようになっている。
研磨ベルト18には、固定砥粒研磨又は遊離砥粒研磨に用いられる既知のエンドレス研磨用ベルトを使用することができる。固定砥粒研磨の場合、プラスチック、織布シート、不織布シート、発泡体シート、植毛シート等の表面に、ダイヤモンド、酸化アルミニウム、シリカ、酸化セリュウム等の微粒子から選択される1種又は2種以上の砥粒を固定した研磨層を形成した単粒子又は複合粒子付エンドレス研磨ベルトが使用される。また遊離砥粒研磨の場合は、プラスチック、織布シート、不織布シート、発泡体シート、植毛シート等がエンドレス研磨ベルトとして使用される。
また固定砥粒研磨の場合には、半導体ウェーハ12に冷却液を上記したノズル(図示せず)により供給するようになっており、遊離砥粒研磨の場合には、研磨用ベルトの走行による研磨時に、水又は水ベースの分散液に砥粒を懸濁した研磨液を半導体ウェーハ12に供給しながら行うようになっている。
次に本発明に係る半導体ウェーハノッチ端面研磨装置の動作について、図5から図9を参照して説明する。
図5に示すように、水平状態におかれた研磨ヘッド17対し、スライダー27をスライドフレーム28上で研磨ヘッド側に移動させ、ウェーハ保持台13上に載置されている半導体ウェーハ12のノッチ16を研磨ベルト18に当接させる。
そして研磨ベルト走行用モータ32を作動させて研磨テープ18を走行させる。このとき、研磨ヘッド17内の緊張加圧駆動部59により取付部材57が研磨ベルト側に加圧され、上部緊張加圧ローラ56aと下部緊張加圧ローラ56bとが研磨ヘッド17内部から研磨ベルト18を押圧して緊張させる。
緊張された研磨ベルト18は、図9に示すように、当接する半導体ウェーハ12のノッチ16の部分のノッチ端面61、ノッチ上端面62、ノッチ下端面63にも十分に当接するので、これら端面を鏡面加工することができる。
また図6に示すように、揺動アーム33を回動させて研磨当接部分を下側にした状態に研磨ヘッド17を傾斜させることにより、図9に示すノッチ上端面62にさらに良く当接するので、この部分の研磨がより向上する。
さらにまた図7に示すように、揺動アーム33を回動させて研磨当接部分を上側にした状態に研磨ヘッド17を傾斜させることにより、図9に示すノッチ下端面63にさらに良く当接するので、この部分の研磨がより向上する。
そして図8に示すように、ウェーハ揺動部22を作動させて、半導体ウェーハ12を水平面上、研磨当接部分を中心にして回動させることにより、図9に示すノッチ端面の左右にさらに十分当接させることができるので、ノッチ端面の研磨がより向上する。
このように本発明に係る半導体ウェーハノッチ端面研磨装置によれば、従来の研磨パッドを周囲に固定した円盤状の研磨板を回転させる研磨装置と異なり、ノッチ端面部に研磨ベルトを当接させて研磨するので、端面の研磨効果が向上し、鏡面加工の精度も向上する。
本発明に係る半導体ウェーハノッチ端面研磨装置の正面図。 同半導体ウェーハノッチ端面研磨装置の平面図。 本発明に係る研磨ヘッドの正面図。 同研磨ヘッドの平面図。 同研磨ヘッドの動作状態(水平位置)を示す正面図。 同研磨ヘッドの動作状態(研磨当接部分を下にした傾斜位置)を示す正面図。 同研磨ヘッドの動作状態(研磨当接部分を上にした傾斜位置)を示す正面図。 半導体ウェーハの揺動(回動)状態を示す平面図。 半導体ウェーハノッチ端面の模式的拡大斜視図。
符号の説明
12 半導体ウェーハ
13 半導体ウェーハ保持台
15 ウェーハ揺動部
17 研磨ヘッド
18 研磨ベルト
33 揺動アーム

Claims (7)

  1. 半導体ウェーハのノッチ端面を研磨するための研磨ヘッドであって、駆動装置により回転駆動する駆動ローラと、回転可能な少なくとも1以上のフリーローラと、前記駆動ローラと前記フリーローラとに掛架されて走行するエンドレスな研磨ベルトと、該研磨ベルトを押圧して緊張させる緊張手段とを備えてなることを特徴とする研磨ヘッド。
  2. 前記緊張手段が、スライド移動により前記研磨ベルトを押圧する緊張加圧ローラと、該緊張加圧ローラをスライド移動させる加圧駆動部とを備えてなることを特徴とする請求項1に記載の研磨ヘッド。
  3. 前記緊張手段は、さらに圧力センサを備えてなることを特徴とする請求項2に記載の研磨ヘッド。
  4. 請求項1ないし4のいずれか一項に記載の研磨ヘッドと、前記研磨ベルトが鉛直面上を走行する状態におかれた前記研磨ヘッドを、半導体ウェーハノッチと前記研磨ベルトとが当接する研磨当接部分を中心に鉛直面上を回動させる研磨ヘッド揺動手段と、前記半導体ウェーハを水平状態に保持する半導体ウェーハ保持台とを有してなることを特徴とする半導体ウェーハノッチ端面研磨装置。
  5. 更に、前記保持台を水平方向に揺動させる半導体ウェーハ揺動手段とを有してなり、該半導体ウェーハ揺動手段により前記半導体ウェーハ保持台が前記半導体ウェーハノッチと前記研磨ベルトとが当接する研磨当接部分を中心にして水平面上を回動することを特徴とする請求項4に記載の半導体ウェーハノッチ端面研磨装置。
  6. 前記半導体ウェーハ揺動手段が、前記半導体ウェーハ保持台を支持する支持脚と、該支持脚の下端部に一端が接続されて水平方向に延在する保持台揺動アームと、該保持台揺動アームの他端に接続される回動軸と、該回動軸を回動させる回動軸駆動装置とを含めてなることを特徴とする請求項5に記載の半導体ウェーハノッチ端面研磨装置。
  7. 前記半導体ウェーハ揺動手段を載置するレールと、該レール上を前記半導体ウェーハ揺動手段が前記研磨ベルトに当接する方向に水平面上を接離移動するスライダーとを更に有してなることを特徴とする請求項5又は6に記載の半導体ウェーハノッチ端面研磨装置。
JP2007164256A 2007-06-21 2007-06-21 半導体ウェーハノッチ端面の研磨装置及びこれに使用する研磨ヘッド Withdrawn JP2009004579A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007164256A JP2009004579A (ja) 2007-06-21 2007-06-21 半導体ウェーハノッチ端面の研磨装置及びこれに使用する研磨ヘッド

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007164256A JP2009004579A (ja) 2007-06-21 2007-06-21 半導体ウェーハノッチ端面の研磨装置及びこれに使用する研磨ヘッド

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2009004579A true JP2009004579A (ja) 2009-01-08

Family

ID=40320637

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2007164256A Withdrawn JP2009004579A (ja) 2007-06-21 2007-06-21 半導体ウェーハノッチ端面の研磨装置及びこれに使用する研磨ヘッド

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2009004579A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102259300A (zh) * 2011-08-04 2011-11-30 西北工业大学 一种用于叶片进/排气边的抛光机构
JP2012231191A (ja) * 2007-12-03 2012-11-22 Ebara Corp 研磨装置および研磨方法
KR101857771B1 (ko) * 2016-06-16 2018-05-15 (주)극동기계 자동화시스템용 벨트형 버핑 공구

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012231191A (ja) * 2007-12-03 2012-11-22 Ebara Corp 研磨装置および研磨方法
CN102259300A (zh) * 2011-08-04 2011-11-30 西北工业大学 一种用于叶片进/排气边的抛光机构
CN102259300B (zh) * 2011-08-04 2013-06-05 西北工业大学 一种用于叶片进/排气边的抛光机构
KR101857771B1 (ko) * 2016-06-16 2018-05-15 (주)극동기계 자동화시스템용 벨트형 버핑 공구

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR960002336B1 (ko) 유리판의 평면연마기계
CN102284910B (zh) 研磨垫的修整方法和修整装置
JP2005305586A (ja) 研磨装置
JP2007075943A (ja) 角形状基板の両面研磨装置および両面研磨方法
JP2000015557A (ja) 研磨装置
JP2003151935A (ja) 化学機械的研磨装置の研磨パッドコンディショニング装置および方法
JP2009016759A (ja) 半導体ウェーハ端面研磨装置およびこれに用いる研磨ヘッド
US6736710B2 (en) Polisher for polishing end surface of semiconductor wafer
JP4143763B2 (ja) 研磨装置
US8814635B2 (en) Substrate polishing method and device
JP5456550B2 (ja) レンズ加工装置
TW201938320A (zh) 研磨裝置
JP2009004579A (ja) 半導体ウェーハノッチ端面の研磨装置及びこれに使用する研磨ヘッド
JPH05329759A (ja) ウエハー材縁端面研磨装置
JP2004050345A (ja) 薄板状ワーク外周部加工装置
KR100926025B1 (ko) 직사각형 기판의 양면 연마 장치 및 양면 연마 방법
JP4416958B2 (ja) 半導体ウエハの外周研磨装置及び研磨方法
JP2013255961A (ja) 基板の研磨装置
JP5257729B2 (ja) 研磨装置
JPH0724720A (ja) 両端軸状部研磨装置
JPH10291147A (ja) 板ガラスの研磨方法及び装置
JP5115839B2 (ja) 研磨装置
JP3584058B2 (ja) ウェーハノッチ部の鏡面研摩方法およびその装置
JP2006082145A (ja) オスカータイプ両面研磨機
KR101588981B1 (ko) 연마용 정반 재가공장치

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Withdrawal of application because of no request for examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 20100907