JP2008180731A - X線顕微鏡 - Google Patents
X線顕微鏡 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2008180731A JP2008180731A JP2008094079A JP2008094079A JP2008180731A JP 2008180731 A JP2008180731 A JP 2008180731A JP 2008094079 A JP2008094079 A JP 2008094079A JP 2008094079 A JP2008094079 A JP 2008094079A JP 2008180731 A JP2008180731 A JP 2008180731A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ray
- channel
- lens
- radiation
- channels
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Abstract
【課題】放射線法を用いる投影顕微鏡法を提供すること。
【解決手段】X線顕微鏡は、広域X線源と、テスト物体3および記録手段を配置する手段とを備え、これらの間にX線キャピラリレンズが配置される。X線キャピラリレンズのチャネルは、記録手段に向かって発散する。テスト物体を配置する手段は、広域X線源と、X線キャピラリレンズのより小さい端面との間に配置される。デバイスは、放射を伝達するためのヤネル(14、16)の壁がコーティングを有するか、または、X線放射を吸収または散乱させる材料から製作され、ならびに、切頭円錐または角錐の側面形状、または円柱または角柱の形状を有することを特徴とする。
【選択図】図6
【解決手段】X線顕微鏡は、広域X線源と、テスト物体3および記録手段を配置する手段とを備え、これらの間にX線キャピラリレンズが配置される。X線キャピラリレンズのチャネルは、記録手段に向かって発散する。テスト物体を配置する手段は、広域X線源と、X線キャピラリレンズのより小さい端面との間に配置される。デバイスは、放射を伝達するためのヤネル(14、16)の壁がコーティングを有するか、または、X線放射を吸収または散乱させる材料から製作され、ならびに、切頭円錐または角錐の側面形状、または円柱または角柱の形状を有することを特徴とする。
【選択図】図6
Description
(発明の分野)
本発明は、放射線法を用いる投影顕微鏡法に関し、特に、X線放射を用いて内部構造を含む物体の拡大された射影を取得する手段に関する。
本発明は、放射線法を用いる投影顕微鏡法に関し、特に、X線放射を用いて内部構造を含む物体の拡大された射影を取得する手段に関する。
(発明の背景)
物体の内部構造の像を取得することを可能にするX線顕微鏡が公知である。このような顕微鏡の動作は、点光源によって発せられた発散X線ビームでの物体の射影の原理に基づく(Encyclopedia「Electronica」、Moscow、Soveskaya Entsiklopediya」publishing house、1991年、478ページ)[1]。この顕微鏡は、射影または投影顕微鏡と呼ばれている。投影顕微鏡は、通常、マイクロフォーカスX線管、調査される物体を配置するチャンバ、および記録手段を備える。投影X線顕微鏡の分解能が大きいほど、その放射源のサイズおよび物体からの距離が小さくなる。特に、直径0.1〜1μmのフォーカルスポットを有する管のこのような顕微鏡における利用が公知である[1]。光源の実効サイズをさらに低減するために絞り(diaphragming)が用いられる(Physical Encyclopedia、Moscow、「Sovetskaya Entsiklopediya」publishing house、1984年、639ページ)[2]。
物体の内部構造の像を取得することを可能にするX線顕微鏡が公知である。このような顕微鏡の動作は、点光源によって発せられた発散X線ビームでの物体の射影の原理に基づく(Encyclopedia「Electronica」、Moscow、Soveskaya Entsiklopediya」publishing house、1991年、478ページ)[1]。この顕微鏡は、射影または投影顕微鏡と呼ばれている。投影顕微鏡は、通常、マイクロフォーカスX線管、調査される物体を配置するチャンバ、および記録手段を備える。投影X線顕微鏡の分解能が大きいほど、その放射源のサイズおよび物体からの距離が小さくなる。特に、直径0.1〜1μmのフォーカルスポットを有する管のこのような顕微鏡における利用が公知である[1]。光源の実効サイズをさらに低減するために絞り(diaphragming)が用いられる(Physical Encyclopedia、Moscow、「Sovetskaya Entsiklopediya」publishing house、1984年、639ページ)[2]。
しかしながら、光源サイズを低減するか、または、光源を絞るにつれて、拡大した像の許容できるコントラスト比を保証するための光源の強度が不十分になる。この不利な点を克服するために、露出時間を延長する必要がある。実効強度を強化するために光源サイズを大きくすることによって、取得された像がぼけ、かつ、分解能が低下する。
外部全反射のX線キャピラリ光学素子の生成に伴って、(調査される物体と比較して)X線源が広域X線顕微鏡を利用する可能性が生じてきた。このような顕微鏡において、調査される物体を有するチャンバは、広域X線源とX線レンズの入口端面との間に配置され、チャネルは、像記録手段に向かって発散する(国際出願PCT/RU第94/00189号、国際公開WO第96/01991号、1996年1月25日[3])。特にこの参考文献は、円錐X線レンズおよびベルタイプレンズの使用を開示し、ベルタイプレンズは、より効率的であることが示される。なぜなら、このレンズは、X線キャピラリレンズの分離チャネルの視野内に運ばれる物体のフラグメントの大きさに対応するからである。この設計のX線顕微鏡は、提示される顕微鏡に最も近い。
しかしながら、モノリシック、特に、インテグラルレンズにおいて、従来技術で達成されたレベルにまで分離チャネルの直径を縮小することによって(米国特許第6,271,534号、2001年8月7日公開[4])、X線レンズにおける分離チャネルの入口サイズは、決定因子でなくなる。これは、上述のレンズの分離チャネルの視野のサイズΔが
Δ=d+2Lθc (1)
であるという事実によって説明され、ここで、dは分離チャネルの入口径を示し、
Lは、調査される物体とX線チャネルの入口との間の距離であり、
θcは、チャネル壁材料の外部全反射の臨界角である。
Δ=d+2Lθc (1)
であるという事実によって説明され、ここで、dは分離チャネルの入口径を示し、
Lは、調査される物体とX線チャネルの入口との間の距離であり、
θcは、チャネル壁材料の外部全反射の臨界角である。
小さい直径dおよび低い放射エネルギーが、特に、生物学的物体の調査において用いられた場合、角度θcが10−2ラジアンに達し得るときに、上述の式(1)における第2の項が支配的になる。従って、例えば、L=1mmおよびd=0.1ミクロンである場合
、
d=0.1ミクロン=10−7m<<2・10−5m=2・1・10−3m・10−2=2Lθc
が取得される。
、
d=0.1ミクロン=10−7m<<2・10−5m=2・1・10−3m・10−2=2Lθc
が取得される。
従って、X線レンズの製造技術の発達によって、広域光源を利用する公知の設計のX線顕微鏡の精密な特性は強化され得ない。
提示される本発明は、用いられるキャピラリレンズのチャネルの直径を縮小する一方で、広域(調査される物体を超えるサイズを有するものを含む)光源を利用するという可能性を維持することによって、X線放射を用いる投影顕微鏡の分解能を高くし、同時に、用いられる放射のエネルギーへの分解能の依存を解消するという技術的成果を生成することを目的とする。上述の技術的成果のタイプは、短い露出時間と組み合わされる。
この技術的成果を達成するために、提示されるX線顕微鏡は、特許[3]から知られるものに最も近いものと類似であり、広域X線源と、調査される物体および記録手段を配置する手段とを備え、X線キャピラリレンズがこれらの間に配置され、放射の伝達が記録手段に向かって発散されるチャネルを有する。従って、調査される物体を配置する手段は、広域X線源と、X線キャピラリレンズの入口(より小さい)端面との間に位置する。
最も近い公知のデバイスと異なって、提示されたX線顕微鏡において、X線キャピラリレンズチャネルの壁が内側コーティングを有するか、または、X線放射を吸収または散乱させる材料で製作され、かつ、切頭円錐または角錐形、あるいは円柱または角柱形の側面として形成される。
放射伝達チャネルの壁の表面形状の上述の最初の2つのタイプについて、これらの断面は、入口から出口まで均等に大きくなるが、後の2つのタイプについては、断面がチャネル長さにわたって一定の状態である。これらのすべての場合、チャネルの光軸は、直線であることが重要である。X線放射を吸収または散乱させる材料から放射伝達チャネルの壁を製作するか、または、このような材料でこれらを内側からコーティングすることによって、放射がチャネルを通過する間の放射の反射をなくす。その結果、チャネルがコリメータの原理によって機能し、かつ、このコリメータによって、さらなる伝播の際に壁に衝突する放射を捕獲することが可能になる。その結果、各チャネルは、このチャネルの正確に対向側の入口に位置する調査される物体のフラグメントを通って来る放射のみを捕獲し得る。従って、分離チャネルの視野のサイズは、右側の第2項を用いずに、式(1)によって決定される。
提示される本発明は、図面と共に説明される。
(発明の実施形態)
提示されたX線顕微鏡は、テスト物体3のサイズ以上のサイズを有する拡張アパーチャ2を有するX線源を備える(図1)。テスト物体は、このテスト物体を配置する手段(チャンバ4)に位置する。この手段から最も近くには、X線キャピラリレンズ6の入口(より小さい)端面5が配置される。出口(より大きい)端面7の近傍には、X線放射を感知し得る記録手段8が配置される。テスト物体3を通過し、レンズ6によってその入口5から出口7の端面に伝達され、この手段によって記録されるX線放射の密度分布の像9がモ
ニタ10に表示される。従って、物体3の像の直線寸法の拡大は、レンズ6の出口7端面と入口5の端面との直線寸法比に比例して生じる。
提示されたX線顕微鏡は、テスト物体3のサイズ以上のサイズを有する拡張アパーチャ2を有するX線源を備える(図1)。テスト物体は、このテスト物体を配置する手段(チャンバ4)に位置する。この手段から最も近くには、X線キャピラリレンズ6の入口(より小さい)端面5が配置される。出口(より大きい)端面7の近傍には、X線放射を感知し得る記録手段8が配置される。テスト物体3を通過し、レンズ6によってその入口5から出口7の端面に伝達され、この手段によって記録されるX線放射の密度分布の像9がモ
ニタ10に表示される。従って、物体3の像の直線寸法の拡大は、レンズ6の出口7端面と入口5の端面との直線寸法比に比例して生じる。
記録手段8の出力信号は、パーソナルコンピュータ、または、制御ユニット11aを備える専用コンピュータ計算手段11において処理され得る。従って、例えば、手段11は、テスト物体3がない場合に像を記録し得、アパーチャ2における放射強度の非均一性、チャンバ4およびチャンバ6の壁を通過する際の損失の非均一性、ならびに、像9を記録する手段8の領域にわたる素子の感度の不規則性を示す。その後、テスト物体を観測する間、この記録された画像は、取得された像を補正するために用いられ得、これにより、テスト物体の密度の固有の非均一性のみが反映される。このために、モニタ10スクリーン上の像9は、物体3の内部構造の非均一性13の真のパターン12を提供する。
実際、レンズ6の機能は、レンズ6の入口端面における物体3のシャドー像をレンズチャネルの数によって分割すること、および、このような要素の各々を(物体3の1つまたは別のフラグメントを通過するX線放射の強度に対応するように)記録手段8の対応する検出素子に伝送することである。レンズチャネルの入口径と等しい分解能は、他のチャネルからの出力信号と「混合」されることなく、レンズチャネルの各1つの出力信号が別々に記録され得る場合に実現され得る。しかしながら、上述の拡大率は、記録手段8の分解能要素(別個の検出要素)の大きさに対応する。
このような対応関係の提供は、入口サイズと比較した、レンズ7出力における像要素の実際の拡大を必ずしも必要としない。像要素の各々に対応する信号を別々に受信する可能性を実現することで十分である。この条件は、図2および図3に示されるレンズ設計のいずれかで満たされ得る。
これらのうちの最初の図(図2)において、チャネル14は、実際に、すべてのレンズ体積を占有し、これらのチャネルの断面は、全体として、レンズの断面と同じ規則で、長さと共に変化する。図2のレンズ設計におけるチャネルは、特に、円錐または6面体角錐の形状を有し得る。断面は、図4に示される。このような形状は、技術的に最も実現可能である。出口Dと入口dの直径との比(断面が円形の場合)は、拡大の程度を決定する。潜在的に可能な分解能を実現するために、手段8の感度のよい検出素子は、レンズチャネルの対向側のアウトレットに配置されている間、サイズがDよりも大きくなるべきでない。図2は、このような要素15のいくつかを示す。チャネル16の断面が、長さにわたって一定であり、出口径が入口径dと等しいという同じ条件が図3に示されるレンズの場合に満たされるべきである。この条件に従う検出素子17のいくつかがさらに図3に示される。図3によるレンズ設計における、技術的に最も実現可能なチャネル形状は、円柱および六面体角柱である。これらの断面は、図5に示される。
放射伝達チャネル間の空間は、X線放射(そうでない場合、これらは、「チャネル」とも考えられる)に対して不透明である。
図2の設計は、ある程度、エネルギー的により有利である。図3の設計におけるサイズと同じサイズの物体のフラグメントからの放射を受け取り、かつ、ほぼ同じ分解能が提供される間、チャネルの発散的性質に基づいて、このフラグメントの放射のより大きい部分をキャプチャすることが可能になる。
両方の設計において、放射は、チャネルの延長線で限定されるゾーンにきっちりと配置される物体フラグメントの点からのみキャプチャされ得る。チャネル壁材料の選択が提案されるか、または、チャネルをコーティングする材料の選択が提案されるかに応じて、チャネルに対するある角度でチャネルに入射する放射が吸収または散乱し、出口へと伝達さ
れない。図6aおよび図6bにおいて、点線は、チャネルの出口へと通過するX線放射量の伝播経路を示し、これは、直線経路にすぎない。対照的に、外部全反射の原理を利用する公知のデバイス[3]において、放射は、図6aおよび図6bに示されるゾーンの外側に配置された物体のフラグメントからチャネル入口に来る放射は、チャネルを通って伝達され得る(図6c)。これは、チャネルへの入口における放射伝播の方向が、臨界θcよりも小さい角度でその壁を形成した場合に生じ得る。従って、図6cに示されるように、チャネル出口へと来る量は、直線(点線で示される)経路および破線(実線で示される)経路の両方によって伝播される。
れない。図6aおよび図6bにおいて、点線は、チャネルの出口へと通過するX線放射量の伝播経路を示し、これは、直線経路にすぎない。対照的に、外部全反射の原理を利用する公知のデバイス[3]において、放射は、図6aおよび図6bに示されるゾーンの外側に配置された物体のフラグメントからチャネル入口に来る放射は、チャネルを通って伝達され得る(図6c)。これは、チャネルへの入口における放射伝播の方向が、臨界θcよりも小さい角度でその壁を形成した場合に生じ得る。従って、図6cに示されるように、チャネル出口へと来る量は、直線(点線で示される)経路および破線(実線で示される)経路の両方によって伝播される。
実験段階では、物体像は、約0.1mmの直線寸法を有する光源に対して1ミクロンのオーダーの分解能で取得され、すなわち、光源アパーチャの面積は、分解能領域を約10,000倍超過する。0.1ミクロンオーダー以上のレベルの将来の分解能を取得するための、すべての前提条件が存在する。
提示された顕微鏡を実際に使用する見込みを決定する基本的なファクタは、得られる情報の比率である。実行した推定によると、これは、通常の投影X線顕微鏡法を利用するよりも10,000〜100,000倍高くなり得る。
このような利点は、用いられる光源の強度に対する制限を除去することによって達成される。これは、マイクロフォーカスのものではなく、有限寸法を有し得るため、低パワーのX線管であっても高効率の強度が達成可能である。
上述の例は、10W未満のパワー、および106のオーダーの数のチャネルを有する円錐X線レンズを有する管に関する。
(情報源)
1.Encyclopedia「Electronica」Moscow、「Sovetskaya Entsiklopediya」Publishing house、1991年。
1.Encyclopedia「Electronica」Moscow、「Sovetskaya Entsiklopediya」Publishing house、1991年。
2.Physical Encyclopedia、Moscow、「Sovetskaya Entsiklopediya」publishing house、1984年。
3.International application PCT/RU94/00189号、international publicationWO第96/01991号、1996年1月25日。
4.米国特許第6,271,534号、2001年8月7日公開。
(産業上の利用可能性)
提示されたデバイスは、記載された複数の実施形態の任意の1つにおいて実際に実現され得、製造施設および他の選好上の理由に応じてレンズ設計およびチャネルの特定の形状の両方を選択することを可能にする。
提示されたデバイスは、記載された複数の実施形態の任意の1つにおいて実際に実現され得、製造施設および他の選好上の理由に応じてレンズ設計およびチャネルの特定の形状の両方を選択することを可能にする。
実験的に確認された特性は、直接的に、特にマイクロテクノロジー等の産業分野、および、特に、生物学および医学といった学術研究分野の両方において、提示されるX線顕微鏡の幅広い使用を予測させる。
上述の関係する設計原理および達成された成果のすべては、特に、中性子、ガンマ線、紫外線および赤外線放射、可視光等の中性粒子束の形態の他の種類の放射、ならびに、例えば、イオン等の荷電粒子束の形態の放射の形態の放射を利用する顕微鏡に等しく適用可能である。
Claims (1)
- X線放射を提供するX線拡大光源と、
テスト物体を配置する手段と、
該テスト物体の影像を記録する記録手段と、
該X線放射を伝達する複数のチャネルを有するX線キャピラリレンズであって、該複数のチャネルは、該テスト物体から該記録手段に向かって発散する、X線キャピラリレンズと
を備え、
該テスト物体を配置する手段は、該X線拡大光源と該X線キャピラリレンズの狭い側の端部との間に取り付けられており、
該X線放射を伝達する複数のチャネルは、複数の壁を含み、該複数の壁は、該X線放射を吸収するまたは該X線放射を散乱させるコーティングを有する、X線顕微鏡。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008094079A JP2008180731A (ja) | 2008-03-31 | 2008-03-31 | X線顕微鏡 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008094079A JP2008180731A (ja) | 2008-03-31 | 2008-03-31 | X線顕微鏡 |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2003573652A Division JP2005519288A (ja) | 2002-03-05 | 2002-03-05 | X線顕微鏡 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008180731A true JP2008180731A (ja) | 2008-08-07 |
JP2008180731A5 JP2008180731A5 (ja) | 2009-05-07 |
Family
ID=39724709
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008094079A Pending JP2008180731A (ja) | 2008-03-31 | 2008-03-31 | X線顕微鏡 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2008180731A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014527629A (ja) * | 2011-08-06 | 2014-10-16 | リガク イノベイティブ テクノロジーズ インコーポレイテッド | X線光子及び中性子を導くナノチューブ素材の装置 |
Citations (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5071285A (ja) * | 1973-07-21 | 1975-06-13 | ||
JPS5245385A (en) * | 1975-09-27 | 1977-04-09 | Fujitetsuku:Kk | Process for production of tube bundle |
JPS57501599A (ja) * | 1980-09-10 | 1982-09-02 | ||
JPS6114362U (ja) * | 1984-06-30 | 1986-01-28 | 株式会社東芝 | 放射線コリメ−タ機構 |
JPH07167994A (ja) * | 1993-12-13 | 1995-07-04 | Nikon Corp | X線光学系 |
JPH0875676A (ja) * | 1994-09-02 | 1996-03-22 | Hamamatsu Photonics Kk | 放射線拡大観察装置 |
JPH1020099A (ja) * | 1996-07-05 | 1998-01-23 | Nikon Corp | 走査型共焦点x線顕微鏡 |
US5744813A (en) * | 1994-07-08 | 1998-04-28 | Kumakhov; Muradin Abubekirovich | Method and device for controlling beams of neutral and charged particles |
WO2000073772A1 (fr) * | 1999-05-28 | 2000-12-07 | Zakrytoe Aktsionernoe Obschestvo 'novaya Optika' | Canevas a rayons x anti-diffusion |
JP2001194462A (ja) * | 1999-11-24 | 2001-07-19 | Xerox Corp | 微細加工されたx線画像コントラストグリッド |
-
2008
- 2008-03-31 JP JP2008094079A patent/JP2008180731A/ja active Pending
Patent Citations (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5071285A (ja) * | 1973-07-21 | 1975-06-13 | ||
JPS5245385A (en) * | 1975-09-27 | 1977-04-09 | Fujitetsuku:Kk | Process for production of tube bundle |
JPS57501599A (ja) * | 1980-09-10 | 1982-09-02 | ||
JPS6114362U (ja) * | 1984-06-30 | 1986-01-28 | 株式会社東芝 | 放射線コリメ−タ機構 |
JPH07167994A (ja) * | 1993-12-13 | 1995-07-04 | Nikon Corp | X線光学系 |
US5744813A (en) * | 1994-07-08 | 1998-04-28 | Kumakhov; Muradin Abubekirovich | Method and device for controlling beams of neutral and charged particles |
JPH0875676A (ja) * | 1994-09-02 | 1996-03-22 | Hamamatsu Photonics Kk | 放射線拡大観察装置 |
JPH1020099A (ja) * | 1996-07-05 | 1998-01-23 | Nikon Corp | 走査型共焦点x線顕微鏡 |
WO2000073772A1 (fr) * | 1999-05-28 | 2000-12-07 | Zakrytoe Aktsionernoe Obschestvo 'novaya Optika' | Canevas a rayons x anti-diffusion |
JP2001194462A (ja) * | 1999-11-24 | 2001-07-19 | Xerox Corp | 微細加工されたx線画像コントラストグリッド |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014527629A (ja) * | 2011-08-06 | 2014-10-16 | リガク イノベイティブ テクノロジーズ インコーポレイテッド | X線光子及び中性子を導くナノチューブ素材の装置 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6389101B1 (en) | Parallel x-ray nanotomography | |
JP4555084B2 (ja) | 平行光線照射および試験片後光学拡大を使用する小物体の光学トモグラフィ | |
US7006741B1 (en) | Contact-field optical microscope | |
US20150055745A1 (en) | Phase Contrast Imaging Using Patterned Illumination/Detector and Phase Mask | |
JP2014515179A (ja) | 光ガイドピクセル | |
JP3996821B2 (ja) | X線分析装置 | |
JP2016206212A (ja) | シート照明顕微鏡 | |
JP4843543B2 (ja) | 蛍光検出装置及び方法 | |
JP2005519288A (ja) | X線顕微鏡 | |
US8416921B2 (en) | X-ray convergence element and X-ray irradiation device | |
JP2008180731A (ja) | X線顕微鏡 | |
US20130243156A1 (en) | Radiation imaging apparatus | |
Den Hartog et al. | Telecentric viewing system for light collection from a Z-pinch plasma | |
RU2239822C2 (ru) | Рентгеновский микроскоп | |
JP6430208B2 (ja) | X線照射装置 | |
JP2007093315A (ja) | X線集束装置 | |
Kantsyrev et al. | New optical methods for short wavelength hot plasma diagnostics | |
Tomie | The birth of the X-ray refractive lens | |
Nikitin | X-ray imaging systems with micron resolution based on Kumakhov optics | |
WO2024210202A1 (ja) | 機械学習用データ作成装置、機械学習用データの作成方法、学習モデル、観察装置、及びエネルギービームの照射パターンの推定装置 | |
JP2010197187A (ja) | X線分析装置 | |
Kantsyrev et al. | Extreme ultraviolet spectroscopy diagnostics of low-temperature plasmas based on a sliced multilayer grating and glass capillary optics | |
Nikitin et al. | Scattered radiation suppression by means of X-ray capillary systems | |
JP2024088618A (ja) | 電子顕微鏡撮像における改善された位相コントラストのための光キャビティを組み込んだ磁極片 | |
Shi et al. | Study of X‐Ray Imaging with Toroidally Bent Crystal |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20090324 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20100401 |
|
A02 | Decision of refusal |
Effective date: 20100915 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 |