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JP2003124410A - 多層ヒートシンクおよびその製造方法 - Google Patents

多層ヒートシンクおよびその製造方法

Info

Publication number
JP2003124410A
JP2003124410A JP2001321738A JP2001321738A JP2003124410A JP 2003124410 A JP2003124410 A JP 2003124410A JP 2001321738 A JP2001321738 A JP 2001321738A JP 2001321738 A JP2001321738 A JP 2001321738A JP 2003124410 A JP2003124410 A JP 2003124410A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
layer
thermal stress
layers
stress relaxation
heat dissipation
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP2001321738A
Other languages
English (en)
Inventor
Yoshifumi Suzuki
由文 鈴木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Yamaha Corp
Original Assignee
Yamaha Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Yamaha Corp filed Critical Yamaha Corp
Priority to JP2001321738A priority Critical patent/JP2003124410A/ja
Publication of JP2003124410A publication Critical patent/JP2003124410A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

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  • Cooling Or The Like Of Electrical Apparatus (AREA)
  • Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 多層構造にしてもクラックや剥離が生じな
く、かつ放熱性に優れたヒートシンクを提供するととも
に、製造が簡単・容易で安価なヒートシンクの製造方法
を提供する。 【解決手段】 本発明の多層ヒートシンク10は、半導
体素子10aを搭載する搭載層11と、第1熱応力緩和
層12と第2熱応力緩和層13と第3熱応力緩和層14
からなる3層構造の熱応力緩和層15と、半導体素子1
0aが発生した熱を外部に放出する放熱層16を備えて
いる。そして、これらの搭載層11と第1熱応力緩和層
12と第2熱応力緩和層13と第3熱応力緩和層14と
放熱層16は放電プラズマ焼結により一体的に形成され
ている。また、各層11〜16の熱膨張係数が、搭載層
11から放熱層16に向けて順次増大するように形成さ
れている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体素子を搭載
する搭載層と、半導体素子が発生した熱を外部に放出す
る放熱層とを備えた多層ヒートシンクに関する。
【0002】
【従来の技術】従来より、半導体パッケージや光通信モ
ジュールなどの半導体装置には、ヒートシンクと呼ばれ
る放熱部材を設けて、半導体パッケージや光通信モジュ
ール内で発生した熱を効率的に系外に放熱(排熱、放
散)させるようにしている。このようなヒートシンクに
おいては、熱伝導率が高くて熱の伝導性が良好であるこ
と、およびセラミック基板やガラス基板と接合されるた
めに、熱膨張係数がセラミックやガラスの熱膨張係数
(4〜10ppm/K)に近似することが要求されてい
る。このような熱伝導率と熱膨張係数の相反する両特性
を有する材料としては、現在のところ、タングステン−
銅(W−Cu)合金が用いられている。
【0003】このようなタングステン−銅(W−Cu)
合金からなるヒートシンクとしては、タングステン
(W)で構成された焼結体の空孔部に銅(Cu)を溶浸
(含浸)させた溶浸焼結合金から成るヒートシンクが使
用される。ところで、このような溶浸焼結合金から成る
ヒートシンクは、例えば、以下のような手順で製造され
ている。まず、タングステン(W)粉末に、有機バイン
ダーを予備配合して原料混合体とし、この原料混合体
を、金型プレスでプレスして薄板状の成形体とする。こ
の成形体を脱脂・焼結して多孔質の焼結体とした後、こ
の焼結体の空孔部に銅(Cu)を溶浸(含浸)させる。
その後に、溶浸焼結体の表面を、フライス盤やラップ盤
などにより表面加工して、最終的にヒートシンクとする
製法が一般的に採用されている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】ところが、このような
溶浸焼結合金から成るヒートシンクにおいては、放熱性
を向上させる(熱伝導率を大きくする)ために、銅(C
u)の含有率を増加させると熱膨張係数が大きくなる。
熱膨張係数が大きくなると、半導体パッケージや光通信
モジュールに使用されるセラミック基板やガラス基板等
との熱膨張係数差が大きくなる。このため、ヒートシン
クと半導体パッケージや光通信モジュールに使用される
セラミック基板やガラス基板等との接合性が低下し、気
密性が保持できなくなるという問題を生じた。
【0005】また、タングステン(W)粉末の焼結体は
スポンジ状の構造体であるため、この構造体を構成する
空孔の大きさや空孔密度が不均一である。このため、空
孔内に溶浸される銅の充填密度は不均一になって、熱膨
張係数や熱伝導率が部位により異なることとなる。この
結果、このような溶浸焼結体から成るヒートシンクにあ
っては、熱特性が安定せず、信頼性に欠けるという問題
を生じた。また、銅が溶浸された焼結体は、銅(Cu)
が存在する部分に沿って熱伝導がなされるが、銅の充填
密度が不均一であると、熱の伝導方向はランダムな方向
となる。このため、発生した熱を系外に素早く放熱する
ことが困難になって、放熱効率が低下するという問題も
生じた。
【0006】そこで、平均粒径が異なるタングステン
(W)粉末を用いて、平均粒径が大きいタングステン
(W)粉末層から平均粒径が小さいタングステン(W)
粉末層となるように順次積層してプレスして積層体とす
る。この積層体を焼結することにより、タングステン
(W)の充填密度が積層方向に変化したタングステン焼
結体を形成する。ついで、このタングステン焼結体にオ
ープンHIP処理を施して、焼結体の閉気孔を潰して開
気孔のみを残すようにした後、開気孔中に銅(Cu)を
溶浸させる溶浸焼結法が提案されるようになった。
【0007】このような溶浸焼結法においては、開気孔
中に銅(Cu)を溶浸した後、銅(Cu)の凝固過程に
おいて熱収縮を生じる。ところが、タングステン(W)
の密度が高い層においては、銅(Cu)の溶浸量が少な
いか、あるいは全く銅(Cu)が溶浸されない部位もあ
るため、タングステン(W)の密度が高い層の熱伝導性
が低下する。熱伝導性が低下すると放熱性も低下するた
め、熱応力に耐えることが困難になって、タングステン
(W)の密度が高い層にクラックが発生するという問題
を生じた。
【0008】このため、銅(Cu)の配合割合を変化さ
せたタングステン(W)と銅(Cu)の混合粉末を用い
て、銅(Cu)の配合割合が多い層から少ない層になる
ように順次積層してプレスして積層体とした後、この積
層体を焼結して形成するタングステン−銅(W−Cu)
積層焼結体が提案されるようになった。ところが、この
ようなタングステン−銅(W−Cu)積層焼結体におい
ては、銅(Cu)の配合割合によって焼結温度が異なる
ため、銅(Cu)の配合割合が少ない層では焼結温度が
低すぎて充分に焼結せず、また、銅(Cu)の配合割合
が多い層では焼結温度が高すぎて銅が流出するという問
題を生じた。また、各層の焼結過程での収縮率も異なる
ため、変形あるいはクラックが発生するという問題も生
じた。
【0009】そこで、本発明は上記の如き問題点を解消
するためになされたものであり、多層構造にしてもクラ
ックや変形や層間での剥離が生じなく、かつ放熱性に優
れたヒートシンクを提供するとともに、簡単・容易で安
価なヒートシンクの製造方法を提供することを目的とす
る。
【0010】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明の多層ヒートシンクは、半導体素子を搭載す
る搭載層と、半導体素子が発生した熱を外部に放出する
放熱層とを備え、搭載層から放熱層に向けて順次熱膨張
係数が増大するように搭載層と放熱層との間に熱膨張係
数が異なる複数の熱応力緩和層を備えるようにしてい
る。このように、搭載層から放熱層に向けて順次熱膨張
係数が増大するように搭載層と放熱層との間に熱膨張係
数が異なる複数の熱応力緩和層を設けるようにすると、
各層間で熱応力を吸収することが可能になる。このた
め、各層内にクラックが発生したり、あるいは層間剥離
が発生することが防止できるようになる。
【0011】この場合、搭載層から放熱層までの互いに
隣接する各層間の熱膨張係数差の比率が30%よりも大
きくなると、各層間での熱応力を効率よく吸収すること
ができなくなるので、搭載層から放熱層までの互いに隣
接する各層間の熱膨張係数差の比率は30%以内になる
ように各層を配置するのが望ましい。なお、搭載層およ
び複数の熱応力緩和層は、銅の含有割合を変えることに
より、容易に熱膨張係数を変化させることができるタン
グステン−銅合金あるいはモリブデン−銅合金から形成
し、かつ放熱層は熱膨張係数が大きい銅あるいは銅合金
で形成するのが好ましい。
【0012】そして、半導体素子の熱膨張係数は、通
常、5〜6ppm/Kであるので、搭載層は熱膨張係数
が5〜6ppm/Kの金属または合金から形成するのが
望ましい。また、放熱層は、通常、熱膨張係数が大きい
銅あるいは銅合金が使用されるので、放熱層の熱膨張係
数は17ppm/Kとなる。そして、これらの間に熱膨
張係数が5〜6ppm/K以上で17ppm/K以下の
金属または合金から熱応力緩和層を少なくとも3層以上
備えるようにすると、半導体素子が発生した熱の放熱方
向は、搭載層から放熱層に向けての一方向になる。これ
により、半導体素子が発生した熱は放熱方向に沿って効
率よく放熱されるようになる。
【0013】この場合、各層の厚みが2.0mmを越え
る厚さになると、各層間での熱膨張係数差の比率が20
%以下になっても、熱応力を十分に吸収できなくなる。
このため、各層の厚みは2.0mm以下、好ましくは
1.0mm以下になるように形成するのが望ましい。ま
た、搭載層から放熱層までの各層の表面積は等しいか、
あるいは搭載層から放熱層に向けて順次各層の表面積が
増大するように形成すると、効率よく放熱できるように
なるので望ましい。
【0014】上述の構造の多層ヒートシンクを製造する
場合には、搭載層から放熱層までの各層を焼結体により
形成する焼結工程と、各焼結体を搭載層から放熱層に向
けて順次熱膨張係数が増大するように積層して積層体と
する積層工程と、積層体をプラズマ放電焼結して各層を
密に接合する接合工程とを備えるようにすればよい。こ
の場合、焼結工程において、金属粉末を直接焼結した
り、あるいは金属粉末の射出成形により成形された成形
体を焼結するようにすればよい。
【0015】また、搭載層から放熱層までの各層を焼結
体により形成する焼結工程と、焼結体よりなる各層の片
面に銅膜のコーティング層を形成するコーティング工程
と、銅膜のコーティング層が形成された面が下面になる
ように各焼結体を搭載層から放熱層に向けて順次熱膨張
係数が増大するように積層して積層体とする積層工程
と、積層体をホットプレスして銅膜を介して各層を密に
接合する接合工程とを備えるようにしても、容易に上述
の構造の多層ヒートシンクを製造することができる。
【0016】
【発明の実施の形態】ついで、本発明の多層ヒートシン
クの実施の形態を図に基づいて説明する。なお、図1
は、実施例1の多層ヒートシンクを模式的に示す断面図
であり、図2は実施例2の多層ヒートシンクを模式的に
示す断面図であり、図3は実施例3の多層ヒートシンク
を模式的に示す断面図である。また、本発明の効果を明
瞭にするために比較例の多層ヒートシンクも作製し、図
4および図5に示した。なお、図4は比較例1の多層ヒ
ートシンクを模式的に示す断面図であり、図5は比較例
2の多層ヒートシンクを模式的に示す断面図である。
【0017】1.実施例1 本実施例1の多層ヒートシンク10は、図1に示すよう
に、半導体素子(例えば、半導体レーザ)10aを搭載
する搭載層11と、第1熱応力緩和層12と第2熱応力
緩和層13と第3熱応力緩和層14からなる3層構造の
熱応力緩和層15と、半導体素子10aが発生した熱を
外部に放出する放熱層16を備えている。そして、これ
らの搭載層11と第1熱応力緩和層12と第2熱応力緩
和層13と第3熱応力緩和層14は、それぞれ銅の配合
割合が異なるタングステン−銅(W−Cu)からなる焼
結体により形成されている。また、放熱層16は純銅ま
たは銅合金からなる銅板により形成されている。これら
の各層は放電プラズマ焼結により一体的に形成されてい
る。なお、各層11〜16の表面積が搭載層11から放
熱層16に向けて順次増大するように形成されていると
ともに、各層11〜16の厚みが2.0mm以下になる
ように形成されている。
【0018】ついで、上述のような構成となる多層ヒー
トシンク10の作製方法について、以下に説明する。ま
ず、平均粒径が2.0μmのW粉末と平均粒径が2.5
μmのCu粉末とを用いて、Wの割合が90質量%でC
uの割合が10質量%の配合割合になるように調整した
後、ヘンシェルミキサーを用いて混合して混合粉末を作
製した。この混合粉末の圧縮率(この場合は15%とな
る)を考慮し、20MPaの圧力を付加して、厚みが
1.2mmで表面積が35m2の板状の搭載部成形体を
圧縮成形した。得られた搭載部成形体を焼結炉内に配置
した後、1300℃の温度で2時間焼結して搭載層11
を作製した。なお、得られた搭載層11の熱膨張係数は
6ppm/Kで、熱伝導率は175W/m・Kであり、
厚みは約1mmで、表面積は30m2であった。
【0019】また、同様な平均粒径のW粉末とCu粉末
とを用いて、Wの割合が70質量%でCuの割合が30
質量%の配合割合になるように調整した後、ヘンシェル
ミキサーを用いて混合して混合粉末を作製した。この混
合粉末の圧縮率(この場合は25%となる)を考慮し、
20MPaの圧力を付加して、厚みが1.3mmで表面
積が64m2の板状の第1熱応力緩和層成形体を圧縮成
形した。得られた第1熱応力緩和層成形体を焼結炉内に
配置した後、1100℃の温度で2時間焼結して第1熱
応力緩和層12を作製した。なお、得られた第1熱応力
緩和層12の熱膨張係数は8ppm/Kで、熱伝導率は
225W/m・Kであり、厚みは約1mmで、表面積は
48m2であった。
【0020】また、同様な平均粒径のW粉末とCu粉末
とを用いて、Wの割合が50質量%でCuの割合が50
質量%の配合割合になるように調整した後、ヘンシェル
ミキサーを用いて混合して混合粉末を作製した。この混
合粉末の圧縮率(この場合は35%となる)を考慮し、
20MPaの圧力を付加して、厚みが1.5mmで表面
積が122m2の板状の第2熱応力緩和層成形体を圧縮
成形した。得られた第2熱応力緩和層成形体を焼結炉内
に配置した後、1000℃の温度で4時間焼結して第2
熱応力緩和層13を作製した。なお、得られた第2熱応
力緩和層13の熱膨張係数は10ppm/Kで、熱伝導
率は275W/m・Kであり、厚みは約1mmで、表面
積は80m2であった。
【0021】また、同様な平均粒径のW粉末とCu粉末
とを用いて、Wの割合が20質量%でCuの割合が80
質量%の配合割合になるように調整した後、ヘンシェル
ミキサーを用いて混合して混合粉末を作製した。この混
合粉末の圧縮率(この場合は50%となる)を考慮し、
20MPaの圧力を付加して、厚みが2.0mmで表面
積が240m2の板状の第3熱応力緩和層成形体を圧縮
成形した。得られた第3熱応力緩和層成形体を焼結炉内
に配置した後、1000℃の温度で2時間焼結して第3
熱応力緩和層14を作製した。なお、得られた第3熱応
力緩和層14の熱膨張係数は13ppm/Kで、熱伝導
率は350W/m・Kであり、厚みは約1mmで、表面
積は120m2であった。
【0022】ついで、純銅あるいは銅合金からなる銅板
(熱膨張係数が17ppm/Kで、熱伝導率は400W
/m・Kのもの)を用意し、これを厚みが1.0mmで
表面積が192m2になるように切断して放熱層16を
作製した。この放熱層16の上に、第3熱応力緩和層1
4と第2熱応力緩和層13と第1熱応力緩和層12と搭
載層11を順次配置して、積層体を形成した。この後、
この積層体をプラズマ焼結炉内に配置した。ついで、プ
ラズマ焼結炉内を真空にした後、積層体に30MPaの
加圧力を付与しながら、950℃の温度で15分間プラ
ズマ焼結を行って、多層ヒートシンク10を作製した。
【0023】得られた多層ヒートシンク10の各層1
1,12,13,14,16の層間の界面は密に結合し
ており、各層11,12,13,14,16内にはクラ
ックの発生は認められなかった。また、各層11,1
2,13,14,16の層間には剥離も認められなかっ
た。これを室温から1000℃まで30分で昇温した
後、この温度を5分間維持し、ついで室温まで30分で
冷却するという加熱冷却試験を10回だけ繰り返して行
った。このような加熱冷却サイクル試験を行った後であ
っても、各層11,12,13,14,16の層間には
剥離が認められなかった。
【0024】これは、搭載層11から放熱層16に向け
て熱伝導度が、175W/m・K→225W/m・K→
275W/m・K→350W/m・K→400W/m・
Kと順次高くなるように配置されているとともに、その
表面積も順次広くなるように形成されている。このた
め、熱容量が順次増大して効率的に放熱できるようにな
る。また、搭載層11と第1熱応力緩和層12との熱膨
張係数差の比率は25%で、第1熱応力緩和層12と第
2熱応力緩和層13との熱膨張係数差の比率は20%
で、第2熱応力緩和層13と第3熱応力緩和層14との
熱膨張係数差の比率は23%で、第3熱応力緩和層14
と放熱層16との熱膨張係数差の比率は24%で、各層
間の熱膨張係数差の比率が小さい。また、各層11,1
2,13,14,16の厚みは、1mm程度に薄く形成
されている。このため、各層間での熱応力が緩和できる
ようになって、クラックの発生が抑制できるようにな
り、各層間での剥離の発生も防止できたためと考えられ
る。
【0025】2.実施例2 本実施例2の多層ヒートシンク20は、図2に示すよう
に、半導体素子(例えば、半導体レーザ)20aを搭載
する搭載層21と、第1熱応力緩和層22と第2熱応力
緩和層23と第3熱応力緩和層24からなる3層構造の
熱応力緩和層25と、半導体素子20aが発生した熱を
外部に放出する放熱層26を備えている。搭載層21の
下面にはCuのコーティング層21aが形成されてお
り、第1熱応力緩和層22の下面にはCuのコーティン
グ層22aが形成されている。また、第2熱応力緩和層
23の下面にはCuのコーティング層23aが形成され
ており、第3熱応力緩和層24の下面にはCuのコーテ
ィング層24aが形成されている。
【0026】これらの搭載層21と第1熱応力緩和層2
2と第2熱応力緩和層23と第3熱応力緩和層24は、
それぞれCuの配合割合が異なるW−Cuからなる焼結
体により形成されている。また、放熱層26は純銅また
は銅合金からなる銅板により形成されている。そして、
これらの各層はホットプレスにより一体化されているた
め、搭載層21と第1熱応力緩和層22はコーティング
層21aを介して固層拡散接合されている。同様に、第
1熱応力緩和層22と第2熱応力緩和層23はコーティ
ング層22aを介して、第2熱応力緩和層23と第3熱
応力緩和層24はコーティング層23aを介して、第3
熱応力緩和層24と放熱層26はコーティング層24a
を介して、それぞれ固層拡散接合されている。また、各
層21〜26の表面積が搭載層21から放熱層26に向
けて順次増大するように形成されているとともに、各層
21〜26の厚みが2.0mm以下になるように形成さ
れている。
【0027】ついで、上述のような構成となる多層ヒー
トシンク20の作製方法について、以下に説明する。ま
ず、上述した実施例1と同様に、搭載層(熱膨張係数が
6ppm/Kで、熱伝導率は175W/m・Kのもの)
21、第1熱応力緩和層(熱膨張係数が8ppm/K
で、熱伝導率は225W/m・Kのもの)22、第2熱
応力緩和層(熱膨張係数が10ppm/Kで、熱伝導率
は275W/m・Kのもの)23、第3熱応力緩和層
(熱膨張係数が13ppm/Kで、熱伝導率は350W
/m・Kのもの)24および放熱層(熱膨張係数が17
ppm/Kで、熱伝導率は400W/m・Kのもの)2
6を作製した。
【0028】この後、これらの搭載層21、第1熱応力
緩和層22、第2熱応力緩和層23および第3熱応力緩
和層24の片面に、Cuのスパッタ法により厚みが10
μmになるように銅のコーティング層を形成した。これ
により、搭載層21の下面に銅のコーティング層21a
が形成され、第1熱応力緩和層22の下面に銅のコーテ
ィング層22aが形成され、第2熱応力緩和層23の下
面に銅のコーティング層23aが形成され、第3熱応力
緩和層24の下面に銅のコーティング層24aが形成さ
れた。
【0029】ついで、放熱層26の上に、第3熱応力緩
和層24と第2熱応力緩和層23と第1熱応力緩和層2
2と搭載層21を順次配置して、積層体を形成した。こ
の後、積層体に10MPaの加圧力を付与して、水素雰
囲気中で950℃の温度で1時間のホットプレスを行っ
て、多層ヒートシンク20を作製した。これにより、各
銅膜21a,22a,23a,24aは固層拡散して、
搭載層21と第1熱応力緩和層22、第1熱応力緩和層
22と第2熱応力緩和層23、第2熱応力緩和層23と
第3熱応力緩和層24および第3熱応力緩和層24と銅
板26の界面は密に結合した。
【0030】得られた各層21,22,23,24,2
6内にはクラックの発生は認められなかった。また、各
層21,22,23,24,26の層間には剥離も認め
られなかった。これを室温から1000℃まで30分で
昇温した後、この温度を5分間維持し、ついで室温まで
30分で冷却するという加熱冷却試験を10回だけ繰り
返して行った。このような加熱冷却サイクル試験を行っ
た後であっても、各層21,22,23,24,26の
層間には剥離が認められなかった。
【0031】これは、この多層ヒートシンク20は、搭
載層21から放熱層26に向けて熱伝導度が、175W
/m・K→225W/m・K→275W/m・K→35
0W/m・K→400W/m・Kと順次高くなるように
配置されているとともに、その表面積も順次広くなるよ
うに形成されている。このため、熱容量が順次増大して
効率的に放熱できるようになる。また、搭載層21と第
1熱応力緩和層22との熱膨張係数差の比率は25%
で、第1熱応力緩和層22と第2熱応力緩和層23との
熱膨張係数差の比率は20%で、第2熱応力緩和層23
と第3熱応力緩和層24との熱膨張係数差の比率は23
%で、第3熱応力緩和層24と放熱層26との熱膨張係
数差の比率は24%で、各層間の熱膨張係数の差が小さ
い。
【0032】さらに、各層21,22,23,24,2
6の厚みは、1mm程度に薄く形成されている。このた
め、各層間での熱応力が緩和できるようになって、クラ
ックの発生が抑制できるようになり、各層間での剥離の
発生も防止できたためと考えられる。また、各銅のコー
ティング層21a,22a,23a,24aが、各層間
の接合層になって、各層間での熱応力がさらに緩和でき
るようになったと考えられる。
【0033】3.実施例3 本実施例3の多層ヒートシンク30は、図3に示すよう
に、半導体素子(例えば、半導体レーザ)30aを搭載
する搭載層31と、第1熱応力緩和層32と第2熱応力
緩和層33と第3熱応力緩和層34からなる3層構造の
熱応力緩和層35と、半導体素子30aが発生した熱を
外部に放出する放熱層36を備えている。そして、これ
らの搭載層31と第1熱応力緩和層32と第2熱応力緩
和層33と第3熱応力緩和層34は、それぞれ銅の配合
割合が異なるモリブデン−銅(Mo−Cu)からなる焼
結体により形成されている。また、放熱層36は純銅ま
たは銅合金からなる銅板により形成されている。これら
の各層は放電プラズマ焼結により一体的に形成されてい
る。なお、各層31〜36の厚みが2.0mm以下にな
るように形成されている。
【0034】ついで、上述のような構成となる多層ヒー
トシンク30の作製方法について、以下に説明する。ま
ず、平均粒径が2.0μmのMo粉末と平均粒径が2.
5μmのCu粉末とを用いて、Moの割合が90質量%
でCuの割合が10質量%の配合割合になるように調整
した後、ヘンシェルミキサーを用いて混合して混合粉末
を作製した。この混合粉末の圧縮率(この場合は15%
となる)を考慮し、20MPaの圧力を付加して、厚み
が1.2mmで表面積が118m2の板状の搭載部成形
体を圧縮成形した。得られた搭載部成形体を焼結炉内に
配置した後、1200℃の温度で2時間焼結して搭載層
31を作製した。なお、得られた搭載層31の熱膨張係
数は6.5ppm/Kで、熱伝導率は133W/m・K
であり、厚みは約1mmで、表面積は約100m2であ
った。
【0035】また、同様な平均粒径のMo粉末とCu粉
末とを用いて、Moの割合が70質量%でCuの割合が
30質量%の配合割合になるように調整した後、ヘンシ
ェルミキサーを用いて混合して混合粉末を作製した。こ
の混合粉末の圧縮率(この場合は25%となる)を考慮
し、20MPaの圧力を付加して、厚みが1.3mmで
表面積が133m2の板状の第1熱応力緩和層成形体を
圧縮成形した。得られた第1熱応力緩和層成形体を焼結
炉内に配置した後、1100℃の温度で2時間焼結して
第1熱応力緩和層32を作製した。なお、得られた搭載
層32の熱膨張係数は8ppm/Kで、熱伝導率は20
8W/m・Kであり、厚みは約1mmで、表面積は約1
00m2であった。
【0036】また、同様な平均粒径のMo粉末とCu粉
末とを用いて、Moの割合が50質量%でCuの割合が
50質量%の配合割合になるように調整した後、ヘンシ
ェルミキサーを用いて混合して混合粉末を作製した。こ
の混合粉末の圧縮率(この場合は35%となる)を考慮
し、20MPaの圧力を付加して、厚みが1.5mmで
表面積が154m2の板状の第2熱応力緩和層成形体を
圧縮成形した。得られた第2熱応力緩和層成形体を焼結
炉内に配置した後、1000℃の温度で4時間焼結して
第2熱応力緩和層33を作製した。なお、得られた搭載
層33の熱膨張係数は10ppm/Kで、熱伝導率は3
08W/m・Kであり、厚みは約1mmで、表面積は約
100m2であった。
【0037】また、同様な平均粒径のMo粉末とCu粉
末とを用いて、Moの割合が20質量%でCuの割合が
80質量%の配合割合になるように調整した後、ヘンシ
ェルミキサーを用いて混合して混合粉末を作製した。こ
の混合粉末の圧縮率(この場合は50%となる)を考慮
し、20MPaの圧力を付加して、厚みが2.0mmで
表面積が200m2の板状の第3熱応力緩和層成形体を
圧縮成形した。得られた第3熱応力緩和層成形体を焼結
炉内に配置した後、1000℃の温度で2時間焼結して
第3熱応力緩和層34を作製した。なお、得られた搭載
層34の熱膨張係数は13ppm/Kで、熱伝導率は4
00W/m・Kであり、厚みは約1mmで、表面積は約
100m2であった。
【0038】ついで、純銅あるいは銅合金からなる銅板
(熱膨張係数が17ppm/Kで、熱伝導率は400W
/m・Kのもの)を用意し、これを厚みが1.0mmで
表面積が100m2になるように切断して放熱層36を
作製した。この放熱層36の上に、第3熱応力緩和層3
4と第2熱応力緩和層33と第1熱応力緩和層32と搭
載層31を順次配置して、積層体を形成した。この後、
この積層体をプラズマ焼結炉内に配置した。ついで、プ
ラズマ焼結炉内を真空にした後、積層体に30MPaの
加圧力を付与して、950℃の温度で15分間プラズマ
焼結を行った、多層ヒートシンク30を作製した。
【0039】得られた多層ヒートシンク30の各層3
1,32,33,34,36の層間の界面は密に結合し
ており、各層31,32,33,34,36内にはクラ
ックの発生は認められなかった。また、各層31,3
2,33,34,36の層間には剥離も認められなかっ
た。これを室温から1000℃まで30分で昇温した
後、この温度を5分間維持し、ついで室温まで30分で
冷却するという加熱冷却試験を10回だけ繰り返して行
った。このような加熱冷却サイクル試験を行った後であ
っても、各層31,32,33,34,36の層間には
剥離が認められなかった。
【0040】これは、この多層ヒートシンク30は、搭
載層31から放熱層36に向けて熱伝導度が、133W
/m・K→208W/m・K→308W/m・K→35
0W/m・K→400W/m・Kと順次高くなるように
配置されている。このため、熱容量が順次増大して効率
的に放熱できるようになる。また、搭載層31と第1熱
応力緩和層32との熱膨張係数差の比率は19%で、第
1熱応力緩和層32と第2熱応力緩和層33との熱膨張
係数差の比率は20%で、第2熱応力緩和層33と第3
熱応力緩和層34との熱膨張係数差の比率は23%で、
第3熱応力緩和層34と放熱層36との熱膨張係数差の
比率は24%で、各層間の熱膨張係数の差が小さい。さ
らに、各層31,32,33,34,36の厚みは、1
mm程度に薄く形成されている。このため、各層間での
熱応力が緩和できるようになって、クラックの発生が抑
制できるようになり、各層間での剥離の発生も防止でき
たためと考えられる。
【0041】ついで、上述した各実施例1〜3により製
造された多層ヒートシンク10,20,30の効果を明
瞭にするため、比較例1,2の多層ヒートシンク40,
50について、以下に詳細に説明する。
【0042】4.比較例1 まず、上述した実施例1の第1熱応力緩和層(熱膨張係
数が8ppm/Kで、熱伝導率は225W/m・Kのも
の)12と同様の焼結体を作製して、搭載層41とし
た。また、上述した実施例1の第3熱応力緩和層(熱膨
張係数が13ppm/Kで、熱伝導率は350W/m・
Kのもの)14と同様の焼結体を作製して、熱応力緩和
層42とした。さらに、上述した実施例1の放熱層(熱
膨張係数が17ppm/Kで、熱伝導率は400W/m
・Kのもの)16と同様な銅板を作製して、放熱層43
とした。
【0043】この後、実施例1と同様に、放熱層43の
上に、熱応力緩和層42と搭載層41を順次配置して、
積層体を形成した。この後、積層体に10MPaの加圧
力を付与して、水素雰囲気中で950℃の温度で1時間
のホットプレスを行って、多層ヒートシンク40を作製
した。ついで、この多層ヒートシンク40の加熱冷却サ
イクル試験を上述と同様に行った。この結果、搭載層4
1と熱応力緩和層42と間にクラックが発生した。これ
は、搭載層41と熱応力緩和層42との熱膨張係数差の
比率が38%と大きいために、これらの層間に熱応力歪
みが発生して、クラックが生じたものと考えられる。
【0044】5.比較例2 まず、上述した実施例1の第1熱応力緩和層(熱膨張係
数が8ppm/Kで、熱伝導率は225W/m・Kのも
の)12と同様の焼結体を作製して、搭載層51とし
た。また、上述した実施例1の第2熱応力緩和層(熱膨
張係数が10ppm/Kで、熱伝導率は275W/m・
Kのもの)13と同様の焼結体を作製して、熱応力緩和
層52とした。さらに、上述した実施例1の放熱層(熱
膨張係数が17ppm/Kで、熱伝導率は400W/m
・Kのもの)16と同様な銅板を作製して、放熱層53
とした。
【0045】この後、実施例1と同様に、放熱層53の
上に、熱応力緩和層52と搭載層51を順次配置して、
積層体を形成した。この後、積層体に10MPaの加圧
力を付与して、水素雰囲気中で950℃の温度で1時間
のホットプレスを行って、多層ヒートシンク50を作製
した。ついで、この多層ヒートシンク50の加熱冷却サ
イクル試験を上述と同様に行った。この結果、熱応力緩
和層52と放熱層53との間にクラックが発生した。こ
れは、熱応力緩和層52と放熱層53との熱膨張係数差
の比率が41%と大きいために、これらの層間に熱応力
歪みが発生して、クラックが生じたものと考えられる。
【0046】これらのことから、各層間の熱膨張係数差
の比率が30%以下になるように形成するのが好ましい
ということができる。ただし、各層の厚みが2.0mm
以上に厚くなると、各層間の熱膨張係数の差が20%以
下になっても、熱応力を十分に吸収できなくなる。この
ため、各層の厚みは2.0mm以下、好ましくは1.0
mm以下になるように形成するのが望ましいということ
ができる。
【0047】
【発明の効果】上述したように、本発明のヒートシンク
10(20,30)は、搭載層11(21,31)と放
熱層16(26,36)との間に熱膨張係数が異なる複
数の熱応力緩和層12,13,14(22,23,24
あるいは32,33,34)を設けるとともに、搭載層
11(21,31)から放熱層16(26,36)に向
けて順次熱膨張係数が増大するように設けるようにして
いるので、各層間で熱応力を吸収することが可能にな
る。このため、各層間でクラックが発生したり、層間剥
離が発生することが防止できるようになる。
【0048】なお、上述した実施の形態においては、熱
膨張係数が異なる3層の熱応力緩和層12,13,14
(22,23,24あるいは32,33,34)を設け
る例について説明したが、熱膨張係数が異なる熱応力緩
和層は3層に限らず、4層あるいは5層などの複数の熱
応力緩和層を設けるようにしてもよい。また、上述した
実施の形態においては、搭載層11(21,31)およ
び3層の熱応力緩和層12,13,14(22,23,
24あるいは32,33,34)を粉末冶金により形成
された焼結体を用いる例について説明したが、これらの
各層は、粉末冶金に限らず、金属粉末の射出成形法(い
わゆる、MIM法)により形成された焼結体を用いるよ
うにしてもよい。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の実施例1の多層ヒートシンクを模式
的に示す断面図である。
【図2】 本発明の実施例2の多層ヒートシンクを模式
的に示す断面図である。
【図3】 本発明の実施例3の多層ヒートシンクを模式
的に示す断面図である。
【図4】 本発明の比較例1の多層ヒートシンクを模式
的に示す断面図である。
【図5】 本発明の比較例2の多層ヒートシンクを模式
的に示す断面図である。
【符号の説明】
10…多層ヒートシンク、10a…半導体素子、11…
搭載層、12…第1熱応力緩和層、13…第2熱応力緩
和層、14…第3熱応力緩和層、16…放熱層、20…
多層ヒートシンク、20a…半導体素子、21…搭載
層、21a…銅膜、22…第1熱応力緩和層、22a…
銅膜、23…第2熱応力緩和層、23a…銅膜、24…
第3熱応力緩和層、24a…銅膜、26…放熱層、30
…多層ヒートシンク、30a…半導体素子、31…搭載
層、32…第1熱応力緩和層、33…第2熱応力緩和
層、34…第3熱応力緩和層、36…放熱層

Claims (9)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 半導体素子を搭載する搭載層と、半導体
    素子が発生した熱を外部に放出する放熱層とを備えた多
    層ヒートシンクであって、 前記搭載層から前記放熱層に向けて順次熱膨張係数が増
    大するように前記搭載層と前記放熱層との間に熱膨張係
    数が異なる複数の熱応力緩和層を備えるようにしたこと
    を特徴とする多層ヒートシンク。
  2. 【請求項2】 前記搭載層から前記放熱層までの互いに
    隣接する前記各層間の熱膨張係数差の比率が30%以内
    になるようにしたことを特徴とする請求項1に記載の多
    層ヒートシンク。
  3. 【請求項3】 前記搭載層は熱膨張係数が5〜6ppm
    /Kの金属または合金から形成され、前記放熱層は熱膨
    張係数が17ppm/Kの金属または合金から形成さ
    れ、これらの間に熱膨張係数が5〜6ppm/K以上で
    17ppm/K以下の金属または合金からなる熱応力緩
    和層を少なくとも3層以上備えるようにしたことを特徴
    とする請求項1または請求項2に記載の多層ヒートシン
    ク。
  4. 【請求項4】 前記搭載層および前記複数の熱応力緩和
    層はタングステン−銅合金あるいはモリブデン−銅合金
    から形成され、前記放熱層は銅あるいは銅合金で形成さ
    れ、前記タングステン−銅合金あるいはモリブデン−銅
    合金の銅の配合割合を増加させることにより前記熱膨張
    係数を増大させるようにしたことを特徴とする請求項1
    から請求項3のいずれかに記載の多層ヒートシンク。
  5. 【請求項5】 前記搭載層から前記放熱層までの前記各
    層の厚みが0.2〜2.0mmになるようにしたことを
    特徴とする請求項1から請求項4のいずれかに記載の多
    層ヒートシンク。
  6. 【請求項6】 前記搭載層から前記放熱層までの前記各
    層の表面積が等しくなるか、あるいは前記搭載層から前
    記放熱層に向けて前記各層の表面積が順次増大するよう
    に形成されていることを特徴とする請求項1から請求項
    5のいずれかに記載の多層ヒートシンク。
  7. 【請求項7】 請求項1から請求項6のいずれかに記載
    の多層ヒートシンクの製造方法であって、 前記搭載層から前記放熱層までの前記各層を焼結体によ
    り形成する焼結工程と、 前記各焼結体を前記搭載層から前記放熱層に向けて順次
    熱膨張係数が増大するように積層配置して積層体とする
    積層工程と、 前記積層体をプラズマ放電焼結して前記各層を密に接合
    する接合工程とを備えたことを特徴とする多層ヒートシ
    ンクの製造方法。
  8. 【請求項8】 前記焼結工程において、金属粉末あるい
    は金属粉末の射出成形により成形された成形体を焼結す
    るようにしたことを特徴とする請求項7に記載の多層ヒ
    ートシンクの製造方法。
  9. 【請求項9】 請求項1から請求項6のいずれかに記載
    の多層ヒートシンクの製造方法であって、 前記搭載層から前記放熱層までの前記各層を焼結体によ
    り形成する焼結工程と、 前記焼結体よりなる前記各層の片面に銅のコーティング
    層を形成するコーティング工程と、 前記銅のコーティング層が形成された面が下面になるよ
    うに前記各焼結体を前記搭載層から前記放熱層に向けて
    順次熱膨張係数が増大するように積層配置して積層体と
    する積層工程と、 前記積層体をホットプレスして前記銅を介して前記各層
    を密に接合する接合工程とを備えたことを特徴とする多
    層ヒートシンクの製造方法。
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