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EP0951711B1 - Procede de commande d'adressage d'un panneau a plasma de type alternatif - Google Patents

Procede de commande d'adressage d'un panneau a plasma de type alternatif Download PDF

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Publication number
EP0951711B1
EP0951711B1 EP98902028A EP98902028A EP0951711B1 EP 0951711 B1 EP0951711 B1 EP 0951711B1 EP 98902028 A EP98902028 A EP 98902028A EP 98902028 A EP98902028 A EP 98902028A EP 0951711 B1 EP0951711 B1 EP 0951711B1
Authority
EP
European Patent Office
Prior art keywords
addressing
voltage
line
pulse
process according
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
EP98902028A
Other languages
German (de)
English (en)
Other versions
EP0951711A1 (fr
Inventor
Serge-Thomson-CSF S.C.P.I. SALAVIN
Philippe-Thomson-CSF S.C.P.I. ZORZAN
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Vantiva SA
Original Assignee
Thomson Multimedia SA
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Thomson Multimedia SA filed Critical Thomson Multimedia SA
Publication of EP0951711A1 publication Critical patent/EP0951711A1/fr
Application granted granted Critical
Publication of EP0951711B1 publication Critical patent/EP0951711B1/fr
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

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Definitions

  • the present invention relates to a control method addressing of an alternative type plasma panel. Its implementation allows in particular, for components used in operations addressing, reduce the performance required for these components and therefore reduce their cost.
  • the invention also relates to a panel with plasma operating according to this process.
  • Plasma panels or plasma screens are flat display screens, using radiation emission in the visible or ultraviolet spectrum from a gas discharge.
  • the PAP are mainly made up of two large families, PAP of the so-called continuous type and PAP of the so-called alternative type.
  • PAPs of the type because of their particular structure, benefit in their functioning of an effect called "memory effect" which makes them particularly suitable for constituting large screens with a large number of elementary cells, both for professional and large applications audience, such as high definition color television.
  • FIG. 1 the diagram shown in Figure 1 is that of a PAP with two crossed electrodes for define a cell.
  • the PAP includes a screen 1 formed using a network electrodes Y1 to Y6 called “line electrodes"; crossed with a second array of electrodes X1 to X6 called column electrodes. Every intersection of row and column electrodes corresponds to a cell C1 to C36. These cells are thus arranged along lines L1 to L6 and columns CL1 to CL6. In the example in Figure 1, only 6 electrodes each type is represented, but a PAP can have 1000 or more row electrodes and as many column electrodes defining 1 million or more cells.
  • Each line electrode Y1 to Y6 is connected to an output stage line SY1 to SY6 of a line 2 management device, and each electrode column X1 to X6 is connected to a column SX1 to SX6 output stage of a column 3 management system.
  • the functioning of these two systems 2, 3 are controlled by an image management device 4.
  • Each line control circuit 6, 7 is connected to one of the amplifiers A1, A2 from which it receives the maintenance signals SE, and it has for function in particular: on the one hand, to transmit these SE signals so that they are applied simultaneously to all the line electrodes Y1 to Y6 let him command; it has the other function, for the electrode (s) selected for an addressing operation, to superimpose on the signals SE either a so-called IS registration pulse or a so-called pulse erase lE, depending on the type of addressing to be performed.
  • the function of the column management device 3 is in particular to to apply to the column electrodes X1 to X6 a reference potential, by ratio at which so-called masking IM pulses are applied to some of these electrodes during addressing operations.
  • a column control circuit 8 similar for example to line control circuits 6, 7, and comprising in the example, 6 stages of switching M7 to M12 each connected to a column output stage SX1 to SX6, and who are responsible for developing and switching the pulses of masking.
  • each cell has a space filled with gas.
  • ignition voltage VA between the two electrodes that define a given cell
  • the electrodes are covered with a dielectric material.
  • electrical charges accumulate on the dielectric at the level of electrodes that define a cell in which the discharge occurs.
  • These electrical charges remain after discharge and constitute a electric fields called “internal memory fields” specific to each cell, and allow, for the cell which has it, to cause a discharge with the application of a voltage lower than the ignition voltage.
  • This effect constitutes the "memory effect" already mentioned.
  • Cells that have such charges are said to be “registered” or “lit”.
  • the other cells require a voltage equal to the voltage to produce a discharge they are said to be in the "erased” or "off” state.
  • the application of the SE maintenance signals has the effect of activating the cells C1 to C36 which are in the "registered” state, ie to cause discharges into these cells, without changing their state or the state of the cells which are in the "deleted” state.
  • the cells are put in the "registered” state or the "erased” state according to an image to be displayed, by addressing operations performed often line by line, i.e. for all cells C1 to C36 belonging to the same line L1 to L6 (or in other words, for all cells defined along the same line electrode Y1 to Y6), then next for all cells in another row.
  • FIG. 2a represents maintenance signals SE of a type current, intended to be applied to all line electrodes Y1 to Y6. They consist of negative 9 and positive 10 voltage slots established on either side of a reference potential V0 (which is often the potential of the mass), and which follow one another with opposite polarities. They vary between a negative potential V1 where they have a so-called negative plateau p-, and a positive potential V2 where they have a so-called positive level p +. These potentials negative and positive V1, V2 have for example a value of 150 volts, which is added at the voltage produced by the internal memory field, to reach substantially the value of ignition voltage VA.
  • the voltage transition following the end of a slot 9; 10 may drive directly to the start of the next slot, or as in the example shown: on the one hand the negative slots 9 are separated from the positive slot 10 which follows by a wide intermediate bearing 5, formed at level of the reference potential V0 and intended to serve as the basis for a addressing pulse; and on the other hand, each positive niche 10 is separated of the negative slot which follows by a narrow intermediate bearing 11, formed on the reference potential V0.
  • the reference potential V0 is applied to the electrodes columns X1 to X6, so that the application of each of the slots positive and negative of the maintenance signals SE at the electrodes lines Y1 to Y6, develops at the terminals of the cells voltages alternately of signs opposite, which generate so-called maintenance discharges in all cells that are in the "registered" state.
  • Figure 2b shows the phase relationship between the discharges maintenance Id in cells C1 to C36, and the establishment of slots 9, 10.
  • the slots 9, 10 of the maintenance signal SE follow one another with a period P1, P2, P3, P4 (commonly of the order of 20 microseconds), during which the addressing of all the cells defined by a selected line electrode (or by several in some cases).
  • the addressing operations are executed by line control circuits and column 6,7, which for this purpose deliver specific signals. Addressing consists, for the line control circuit 6, 7 and using in particular of that of the switching stages M1 to M6 corresponding to the line electrode selected, to be superimposed on the maintenance signal SE applied to this electrode, an erase pulse lE followed by a write pulse IS.
  • Figures 2c, 2d and 2e respectively illustrate operations addressing carried out on the cells of the line electrodes Y1, Y2 and Y3, which electrodes are controlled by the first control circuit line 6.
  • This IE erase pulse may have a relatively slow rise time Tm, and its amplitude V4 is such that its vertex reaches a value V3 called “erase voltage”, slightly lower for example at the voltage V2 of the positive slots 10.
  • V4 a value V3 called "erase voltage”
  • V3 slightly lower for example at the voltage V2 of the positive slots 10.
  • Erasure can also be accomplished, using an impulse erase IE '(shown in dotted lines) superimposed at time t0 during the establishment of the negative niche 9, and the shape of which allows give this establishment time a long time without modifying its amplitude. It should be noted that this addressing is accomplished under the action of the first switching stage M1, to be applied only to the first line electrode Y1.
  • the next phase consists of putting in the "registered” state "only the selected cells.
  • an IS registration pulse is superimposed on the maintenance signal SE at an instant t2, on the positive bearing p +.
  • the pulse IS has an amplitude V5 such that with this superposition, the resulting voltage V2 + V5 reaches a so-called registration voltage value of value comparable to the ignition voltage VA. If at this time, the potential delivered by all column output stages SX1 to SX6, i.e.
  • the potential applied to all column electrodes X1 to X6, is that of reference potential V0
  • the potential difference across the cells C1 to C6 formed with the line electrode Y1 has the value of the voltage ignition system: consequently discharges occur in all cells which consequently benefit from an internal memory field, and are therefore in the "registered" state.
  • the management device column 3 electrode produces, at each IS recording pulse, a "masking" sequence which consists in applying to those of the electrodes columns X1 to X6 which define a cell which must remain in the "erased” state, a masking pulse IM in phase with the registration pulse IS, and whose function is to prevent the potential difference across these cells does not reach the ignition value VA, and thus inhibit the action of the IS registration impulse.
  • FIG. 2f represents an IM masking pulse delivered on the second column electrode X2, at time t2, ie in phase with the IS recording pulse applied to the first line electrode Y1.
  • the IM masking pulse is positive, and its presence at this time makes that, at the end of the addressing cycle on the first line electrode Y1, the cell C2 maintains an "erased" state.
  • Figure 2d illustrates the addressing performed on the second line electrode Y2 (using the second switching stage M2), during a second period P2 which follows the first period P1.
  • addressing begins with erasing all cells (C7 to C12 in this case) using an erase pulse lE, superimposed on a wide intermediate bearing 5 at an instant t3, and this only for the second line electrode Y2.
  • an IS recording pulse is superimposed on positive level 10 and produces putting all the cells of this line for which "registered" no IM masking pulse is applied to the column electrode X1 to X6 corresponding.
  • no masking pulse ( Figure 2f) not being applied to the second column electrode X2 at the time t4, cell C8 is put in the "registered" state.
  • Figure 2e shows the addresses made on the third line electrode Y3 (using the third switching stage M3), during a third period P3 which follows the second P2.
  • a erase impulse IE is superimposed on the large intermediate level pl.
  • a registration pulse IS is superimposed on the positive level p +.
  • Addressing (not shown) on line electrodes Y4, Y5, Y6 is then carried out in the same way, starting with that of the electrode Y4 which takes place during the period P4.
  • the lines 6, 7 control circuits have much more technical features efficient for delivering the IS, lE addressing pulses, than for issue the SE maintenance signals. Indeed, these are applied in permanence to all electrodes Y1 to Y6, they do not have to be nor selected or switched, they are produced by amplifiers A1, A2 and only go through the switching stages M1 to M6.
  • the impulses addressing on the contrary use different electronic circuits complex to be built, selected, switched and superimposed on maintenance signals with the correct timing and speed, as well only with sufficient power to possibly generate discharges simultaneously in a large number of cells.
  • One of the aims of the present invention is to allow the use in alternative PAPs of line command circuits and / or lowest cost column control.
  • Another object of the invention is to reduce the so-called consumption capacitive alternative PAPs.
  • the capacities presented by the different elements such as for example, the tracks which constitute the electrodes, the different connections, and the capacities specific to electronic circuits, form a relatively large overall capacity, consuming alternating currents.
  • the capacitive power PC dissipated by a pulse addressing is expressed by the relation:
  • PC C. Vi 2 . F; where C is the capacity seen by the pulse, Vi is the value of the voltage of the addressing pulse, F is the addressing frequency. This relationship shows in particular that this capacitive power varies with the square of the amplitude of the pulse.
  • the invention proposes make selective and / or semi-selective addressing in a way that allows reduce the amplitude of the addressing pulses distributed by the circuits 6, 7, 8.
  • the invention relates to a method for controlling the addressing of a alternating plasma panel comprising at least one network of electrodes said "lines", crossed with at least one network of electrodes called columns, cells being formed at the intersections of the line electrodes and columns, said method consisting in applying to all row electrodes maintenance signals formed by a succession of slots having a given period and established in relation to an applied reference potential at the column electrodes, each period possibly constituting a cycle addressing comprising at least one addressing of the semi-selective type and at minus a selective type of addressing, each type of addressing consisting of apply to at least one selected line electrodes, a so-called pulse addressing whose voltage is added to a so-called line voltage already present on this electrode, in order to apply to the cell terminals formed by this selected electrode a so-called addressing voltage of given value corresponding to the addressing to be performed, the method being characterized in that for at least one of the two types of addressing, the addressing pulse has an amplitude lower than that suitable for obtain the required
  • the method according to the invention consists in superimposing on the signals maintenance during a period of these, at least one level of tension called additional bearing so as to constitute a base of voltage called addressing base on which is superimposed at least one addressing pulse.
  • the method according to the invention consists in forming a base of addressing voltage registration with a niche and overlay on that addressing base an addressing pulse consisting of a so-called registration pulse.
  • the method consists in establishing between two consecutive slots, a intermediate bearing having a tension lower than the tension of the slots and to add to said intermediate level an additional level in order to constitute an erasing addressing base then to be superimposed on this erase base, an addressing pulse consisting of a pulse of erasure.
  • the intermediate bearing is at the same voltage as the potential of reference.
  • the additional landings formed on slots are substantially removed at the end of these slots.
  • Additional landings formed on slots include the whole of one or more addressing pulses of a line electrode selected.
  • the additional landings used to form a base have an amplitude equal to or greater than the difference between a so-called erasing voltage and the amplitude of the erasing impulses.
  • the additional landings used to form a base of registration have an amplitude equal to or greater than the difference between a so-called registration voltage and a voltage value formed by the sum the voltage of a positive window and the amplitude of a pulse of registration.
  • the invention also relates to the plasma panel The alternative type of claim 23.
  • FIG. 3 represents a PAP similar to that shown in FIG. Figure 1 except for its maintenance amplifiers A1 ', A2', which include means allowing the implementation of the method of the invention.
  • Each amplifier A1 ′, A2 ′ comprises a maintenance generator 12, 14 in itself conventional, producing the maintenance signals SE, and by compared to the amplifiers A1, A2 of FIG. 1, they additionally include a so-called “superposition” circuit 15 cooperating with the maintenance generator to superimpose on the maintenance signals SE, at given instants, voltage signals called “additional steps" PS.
  • a generator 12, 14 may include for example a first and a second voltage source 25, 16 respectively negative and positive, of which a polarity is at the reference potential V0 or mass in the example, and whose other polarity delivers the negative voltage V1 (voltage of the slots negative 9) for source 25, and delivers the positive voltage V2 (voltage of psitive slots 10) for source 16.
  • the superposition circuit 15 includes a third and fourth voltage sources 18, 26 having polarity connected to ground; the other polarity of the third and fourth sources respectively deliver a positive voltage V7 and a positive voltage V6 which corresponds to the amplitude of at least one of the additional steps.
  • the voltage V7 is equal to the sum of the positive voltage V2 and the voltage positive V6 of the additional bearings.
  • the voltages V6, V7 can be applied to output 17 of amplifier A1 ', A2' using respectively a fourth and fifth switching elements or switches I4, 15.
  • a diode 19 disposed between the output 17 and the fourth source of voltage 16 avoids any current flow therein due to the application of voltage V7.
  • a similar operation realized with negative voltage sources 18, 26 in particular, would allow additional layers of negative polarity to be superimposed.
  • Figures 4a and 4g to 4j show signals intended to be applied to the line electrodes Y1 to Y6 of the PAP shown in FIG. 3, in order to operate the latter in accordance with the invention.
  • These signals include SE maintenance signals and erase pulses and IE, IS, and their form differs from that of known art signals shown in Figures 2a, 2c, 2d, 2e in that, according to a characteristic of the invention, they also include additional bearings PS1, PS2 cited above.
  • Maintenance signals SE are made up like those shown in figure 2a, by a succession of negative and positive slots 9, 10, 9 ', 10' separated by landings intermediates 5, 5 '; they are established with a period P1 to P4 and relative at a reference potential V0 itself applied to the column electrodes X1 to X6.
  • the additional stages PS1, PS2 include the whole of or addressing pulses of a selected line electrode.
  • FIG. 4a represents an addressing cycle accomplished on the cells formed by the first row electrode Y1, during a period P1.
  • the additional bearings PS1, PS2 are positive, they correspond respectively to an erase operation and to a registration operation.
  • the first additional stage PS1 is superimposed on the SE maintenance signals on a wide intermediate bearing 5. It has a lower voltage in absolute value than the voltage V1, V2 of the slots.
  • the wide intermediate bearings 5 being at the potential of reference V0, it is only the voltage V6 of the first stage additional PS1 which serves as the erasure base b1 for the pulse erase IE.
  • This voltage V6 has a value for example of 50 volts; in assuming that the erasing voltage V4 is of the order of 120 volts, or slightly lower than those V1, V2 of the negative and positive slots 9, 10 (of 150 volts), when the erase pulse lE is applied and superimposed on said base b1, it suffices that its amplitude V3 is of the order of 70 to 80 volts so that the erasing voltage V4 is obtained, and that the deletion is carried out.
  • the intermediate bearing 5 used to form the base erase b1 is established between a negative slot 9 followed by a slot positive 10.
  • the second level PS2 is superimposed on the positive slot 10.
  • Sa voltage V6 is in the example substantially the same as that of the first additional level (it is of course possible to give if necessary different values at the two additional steps) and is added to the voltage V2 of this slot, to constitute a second voltage base b2 intended to receive the IS registration pulse.
  • the potential difference or registration voltage VA required for registration cells is around 270 volts for example, and the voltage of additional stages PS1, PS2 is of the order of 50 volts
  • the IS registration pulse is superimposed on said second base of voltage b2
  • the first PS1 level As for the first PS1 level, it is widely applied after time td1 of the maintenance discharge due to the establishment of a negative stage p-, and it ends before the start of the positive stage p + which follows and therefore before the instant td2 of the following discharge.
  • V6 its amplitude V6 remains sufficiently lower than the signal voltage SE maintenance, so as not to generate a discharge itself (taking into account in particular dispersions in the characteristics presented by the cells).
  • the second level PS2 is superimposed on the positive slot 10, after the instant td2 when a maintenance discharge occurs, and its presence does not affect therefore in no way the conditions of this discharge. It should of course be its amplitude remains limited to a value such that, added to the voltage V2 of slot 10, the resulting voltage remains lower than that which is likely to cause discharges of the discharge type of registration.
  • the second level additional PS2 ends in phase with the end of slot 10: by following the voltage transition which follows and which leads to the reference potential V0 has a greater amplitude than it would have in the absence of the second additional level PS2, but which has little influence on the maintenance discharge occurring at time td4 which follows, since this discharge is caused by the potential difference generated with the establishment of the negative slot 9 belonging to the following period P2.
  • the superimposition on the maintenance signals SE of the first or second additional stage PS1, PS2 or both PS1, PS2 levels cannot significantly affect discharges maintenance.
  • the additional stages PS1, PS2 and the IS registration and IE clearing pulses can be negatives as schematically illustrated in FIG. 4j for the addressing of line electrode Y1
  • the first additional negative PS1 bearing could add to a wide intermediate bearing 5 'leading to a negative slot 9' of the maintenance signal SE.
  • a negative IE erase pulse would be added at the first additional level PS1.
  • the 5 'intermediate bearing used to forming an erasure base would be established between a positive 10 'niche, followed a negative slot 9 'of the maintenance signal SE.
  • the second level additional negative PS2 would be superimposed on a negative 9 'slot of the maintenance signal SE. It would constitute a voltage base b2 at which would be added the IS negative registration impulse.
  • Figures 4b, 4c, 4d, 4th, 4f to be read with Figure 4a show respectively the action of the first, second, third, fourth and fifth switches I1, I2, I3, I4 and I5 and illustrate the operation of a signal generator 12 cooperating with its superposition circuit 15, to produce during the first period P1, the maintenance signals SE with additional overlapping bearings.
  • the first switch I1 With the start of period P1, the first switch I1 is "closed” (the other switches are “open”) and applies the voltage negative V1 which corresponds to the negative level p-. At the end of stage p-, the first switch I1 goes to "open” state and the fourth switch I4 goes to the closed state, which determines the wide intermediate bearing 5, with first additional bearing PS1 superimposed. At the end of wide step 5, switch 14 goes to the "open” state and the second switch I2 is closed and applies the voltage V2 corresponding to the positive level p + of the positive slot 10.
  • the second switch 12 retains its "closed” state until after the instant td2 where a maintenance discharge occurs, then it is open and this is the fifth switch 15 which goes to the closed state and applies the voltage V7 corresponding to the second additional stage PS2.
  • the fifth switch 15 is open and the third switch I3 goes to the closed state and applies the potential of the mass ; this corresponds to establishing the narrow intermediate bearing 11 up to beginning of the negative slot 9 which follows and which belongs to a period P2 next.
  • the additional stages PS1, PS2 can be developed and superimposed on the maintenance signals in different ways. For example, this can be done in a simple way in each generator maintenance 12, 14 so that these additional bearings PS1, PS2 are applied simultaneously and permanently to all line electrodes Y1 to Y6 of the PAP, or even so that these additional steps are applied only to those of the line electrodes connected to a line control circuit 6, 7 performing addressing.
  • FIG. 4i represents the addressing carried out at period P4 which follows, on the fourth line electrode Y4 which it depends on the second circuit of command line 7.
  • the period P4 is the one from which the superposition of the additional stages ceases PS1, PS2 on the maintenance signals SE distributed to the electrodes Y1 to Y3, and where on the other hand this superimposition begins on the distributed SE signals to electrodes Y4 to Y6.
  • Addressing on line electrode Y4 as well as those (not shown) then performed at subsequent periods on the electrodes Y5, Y6, are carried out in the same way as explained above, by superimposing additional steps and erasing pulses and of registration IE, IS.
  • This operation also allows, by the superposition of erase and write pulses lE, IS on landings additional PS1, PS2 already established, as well as by the reduction of the amplitude of these pulses, reduce the capacitive consumption due to the application of these impulses.
  • This reduction in consumption capacitive is particularly affirmed when the frequency of addressing is very high, especially in so-called “pulse” addressing multiples ", in which we can find a large number of pulses selective addressing (most often in registration) on the same niche. Consequently, the method of the invention makes it possible to reduce the amplitude of many of these impulses by superimposing a single additional landing.
  • FIG. 5 represents the shape of the maintenance signals SE ′ for such a "multiple pulse" addressing case.
  • a period P'1 of the signals SE 'making it possible to carry out a cycle addressing starts with a negative slot 9, followed by a positive slot 10a from which it is separated by a wide intermediate bearing 5 formed at the level of the reference potential V0; this positive slot 10a is followed by a plateau narrow intermediary 11 preceding another negative niche 9 which itself is followed by a narrow step 11; there is then a narrow positive slot 10b, then finally a narrow intermediate bearing 11 which precedes a negative slot of a following period P2 '.
  • the last negative slots and positive 9, 10b having the sole function of causing discharges maintenance they are not superimposed on an additional bearing.
  • the negative slot 9 has a duration T1, much less than the duration T2 of the positive slot 10a, duration T2 which corresponds at the time necessary to carry out the selective addressing of the cells formed on along several line electrodes usually controlled by a same line control circuit, as is the case for example line electrode groups Y1 to Y3 and Y4 to Y6 controlled respectively by the control circuits 6, 7.
  • circuits are commonly found control of the type of circuits 6, 7, having several outputs each connected to a line electrode.
  • Each of these control circuits can have for example 32, 40, 64 or even 128 outputs.
  • FIG. 5 This organization according to the known art is illustrated in FIG. 5 in which in addition, and according to the invention, there is at least one bearing additional used for the IE erase pulse, and / or for registration pulses IS1 to ISn.
  • a first additional bearing PS1 ' for example having the same shape and a same value as those of the first level PS1 shown in Figure 4a (in assuming that the slots of the maintenance signals SE of FIG. 4a have the same value V1, V2 as those of the signals SE 'in FIG. 5).
  • b1 "consisting of this additional bearing can therefore be superimposed erase pulse IE (symbolized in Figure 5 in dotted lines) having the same value as that of FIG. 4a, in order to achieve erasure.
  • a second additional bearing PS2 ' is superimposed on the first positive slot 10a, after the instant td where the discharge occurs maintenance produced by the establishment of this niche.
  • This second level additional PS2 'lasts until the end of the positive slot 10a, and its value voltage may be the same as that of the second additional level PS2 shown in Figure 4a.
  • Registrations can therefore be obtained in superimposing registration pulses IS1, IS2, ..., ISn, at the base of voltage b2 'resulting from the voltages of this additional bearing PS2' and the positive slot 10a, and by distributing these signals to the line electrodes as explained above.
  • Figures 6a, 6b, 6c show another way of compensate for the reduction in amplitude of the recording pulses and erase, which is to change the voltage applied to column electrodes X1 to X6, or at least to those of these electrodes which define an addressed cell.
  • FIG. 6a represents a period P'1 of maintenance signals SE 'similar to those in Figure 5 (i.e. allowing addressing "multiple addressing"), period which illustrates a sequence addressing performed according to this new version of the invention.
  • These signals include a negative slot 9 and a slot positive 10a separated by a wide intermediate bearing 5.
  • This bearing 5 and this slot 10a are intended to receive respectively, an impulse erase IE and write pulses IS1, IS2, without overlapping additional stages.
  • Figure 6b shows variations of an applied VX voltage to a column electrode, the second electrode X2 for example (example which applies to all other column electrodes X1 to X6); these variations are due to signals consisting on the one hand, by pulses of masking IM (which oppose the execution of an addressing), and on the other hand by pulses or slots known as "confirmation" 30, 31 which on the contrary promote the execution of addressing.
  • the voltage VX applied by the output SX2 to the electrode X2 has a value VX0 corresponding to the reference potential V0.
  • the erase pulse IE When the erase pulse IE is superimposed on the wide bearing 5, the resulting voltage reaches a value V3 (of 80 volts for example) lower than that of the voltage V4 (of the order of 120 volts) required for complete the erasure.
  • the difference V4 - V3 is then compensated by the voltage VX applied to electrode X2; for this purpose, a negative niche forming an erase confirmation pulse 30 having an amplitude Vce (of the order of 40 volts for example), is then applied (in phase with the erase pulse IE), passing the voltage VX to a value -VX.
  • This has the effect of increasing the potential difference applied to the cell limits to "erase" until it reaches the value of the erasing voltage V4.
  • the column voltage VX then covers the value of the reference potential V0 until the registration phase, or at less until after the instant td when a maintenance discharge occurs.
  • Confirmation pulses have equal amplitude or greater than a difference between the addressing voltage and the voltage which on the selected line electrode results from the addressing pulse
  • this registration phase includes a first and a second IS1, IS2 consecutive registration pulse (applied to different line electrodes), having an amplitude V5 as superimposed on the positive slot 10a, the resulting voltage V2 + V5 is less than the VA value required for registration; assuming other share that a cell defined by the second column electrode X2 must be put in the state registered by the first pulse IS1, a negative slot 31 constituting a registration confirmation pulse having an amplitude Vci (of the order of 40 volts, for example), is then applied to the second electrode X2 (in phase with the first IS1 registration pulse).
  • Vci of the order of 40 volts, for example
  • circuit switching and / or superimposition means column 8 are organized to allow it to deliver output SX1 to SX6 of positive and negative pulses with respect to a midpoint (mass for example).
  • FIG. 7 schematically represents such an organization, in which the closure of a first or a second or a third switching element I'1, I'2, I'3, respectively causes the application to a column electrode X1 to X6, of the mass, of the negative voltage -VX, of the positive voltage + VX.
  • the mass constitutes here the reference potential with respect to which the signal voltages are alternately positive and negative, but also constitutes the reference voltage V0'1 specific to the operation of the circuit elements column 8, and in relation to which the pulses 30, 31 and IM1.
  • Figure 6c illustrates another method for performing the same addressing sequence as that of FIG. 6b with pulses addressing IE, IS1, IS2 of reduced amplitude, which allows to use the outputs of the control circuit column 8 in a way that is more related with its most common possibilities, and in which the tension of reference V0'1 specific to the control circuit 8 is always negative by compared to pulses 30, 31, IM1 delivered.
  • the voltage VX on the electrode column X2 has the value VX0 corresponding to the reference potential V0, but which also corresponds to the first reference voltage V0'1 specific to the operation of the column 8 control circuit.
  • the slot or pulse of confirmation 30 which is formed on the voltage VX results from a change reference voltage specific to the control circuit: in fact, by the play switching (not shown, within the reach of any specialist in domain), we substitute the first reference voltage V0'1 specific to circuit 8, a second reference voltage V0'2 negative with respect to the first and which corresponds to the value of the negative voltage -VX.
  • This second reference voltage V0'2 is retained until the start of the slot positive 10a which follows, from which it is replaced by the first voltage reference V0'1, to realize the end of the confirmation pulse of deletion 30 before the instant td of a maintenance discharge and not risk modifying the conditions thereof. Confirmation of deletion is thus somehow integrated into the reference voltage.
  • the second voltage V0'2 is again substituted for the first to produce the registration confirmation pulse 31.
  • the first tension of reference V0'1 then replaces the second reference voltage V0'2 for form the end of this confirmation of registration.
  • a positive pulse is applied with respect to the value VX0 which represents the potential of reference V0 as well as the first reference voltage specific to circuit 8, positive pulse which constitutes an IM1 masking pulse and which during its duration gives the voltage VX the value + VX.
  • the compensation for differences in potential operated at the level of the voltage applied to the column electrodes X1 to X6, as described above, are particularly advantageous over the capacitive power reduction plan (due in particular that they lead to a strong reduction in the amplitude of the pulses of masking) because the capacity seen by the pulses distributed on the columns X1 to X6, is much more important than that encountered on the line electrodes Y1 to Y6.
  • the reduction in amplitude of the pulses IE, IS addressing can also be compensated by combining the amplitude of the additional steps with the amplitude of the confirmation slots.

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Description

La présente invention concerne un procédé de commande d'adressage de panneau à plasma de type alternatif. Sa mise en oeuvre permet notamment, pour des composants utilisés à des opérations d'adressage, de réduire les performances nécessaires à ces composants et donc de réduire leur coût. L'invention concerne également un panneau à plasma fonctionnant suivant ce procédé.
Les panneaux à plasma ou écrans à plasma, appelés en abrégés "PAP" dans la suite de la description, sont des écrans de visualisation plats, qui utilisent l'émission de rayonnement dans le spectre visible ou ultra-violet à partir d'une décharge dans les gaz.
Les PAP sont constitués principalement en deux grandes familles, les PAP du type dit continu et les PAP du type dit alternatif. Les PAP du type alternatif, du fait de leur structure particulière, bénéficient dans leur fonctionnement d'un effet appelé "effet mémoire" qui les rend particulièrement aptes à constituer de grands écrans à grand nombre de cellules élémentaires, tant pour des applications professionnelles que grand public, telles par exemple que la télévision en couleurs à haute définition.
II existe différents types de PAP alternatif :
  • par exemple les PAP qui utilisent seulement deux électrodes croisées pour définir une cellule et réaliser son adressage et son activation, comme décrit dans le brevet français 2 417 848 :
  • ou encore les PAP alternatifs du type dit "à entretien coplanaire", connus notamment par le document de brevet européen EP-A-0135 382, dans lesquels chaque cellule est définie au croisement d'une paire d'électrodes dites d'entretien, avec une ou plusieurs autres électrodes utilisées plus particulièrement pour l'adressage des cellules.
Avec les PAP alternatifs, les fonctions d'adressage et celles visant à produire l'énergie lumineuse sont dissociées : la production de lumière résulte d'une application "en parallèle" à toutes les cellules, d'un signal en créneaux appelé "signal d'entretien".
Par contre, l'adressage des cellules exige de pouvoir commander chaque ligne et chaque colonne de cellules de manière individualisée. Les moyens électroniques servant à réaliser ces commandes individualisées sont relativement complexes et onéreux, ce qui est d'autant plus pénalisant que le marché des PAP s'oriente vers des panneaux de plus en plus grands.
Le fonctionnement d'un PAP alternatif est davantage expliqué ci-après en référence à la figure 1. Pour simplifier les explications, le schéma montré à la figure 1 est celui d'un PAP à deux électrodes croisées pour définir une cellule.
Le PAP comporte un écran 1 formé à l'aide d'un réseau d'électrodes Y1 à Y6 appelées "électrodes lignes"; croisé avec un second réseau d'électrodes X1 à X6 appelées électrodes colonnes. A chaque intersection d'électrodes ligne et colonne correspond une cellule C1 à C36. Ces cellules sont ainsi disposées suivant des lignes L1 à L6 et des colonnes CL1 à CL6. Dans l'exemple de la figure 1, seulement 6 électrodes de chaque type sont représentées, mais un PAP peut comporter 1000 ou plus électrodes lignes et autant d'électrodes colonnes définissant 1 million ou plus de cellules.
Chaque électrode ligne Y1 à Y6 est reliée à un étage de sortie ligne SY1 à SY6 d'un dispositif de gestion ligne 2, et chaque électrode colonne X1 à X6 est reliée à un étage de sortie colonne SX1 à SX6 d'un dispositif de gestion colonne 3. Les fonctionnements de ces deux dispositifs de gestion 2, 3 sont contrôlés par un dispositif de gestion d'image 4.
Le dispositif de gestion ligne 2 comporte :
  • au moins un circuit appelé amplificateur d'entretien A1, produisant des signaux dits "signaux d'entretien" SE servant à l'activation des cellules C1 à C36 ; compte tenu de la puissance importante sous laquelle les signaux SE doivent éventuellement être délivrés, ils peuvent être fournis à l'aide d'un premier et d'un second amplificateur A1, A2 comme dans l'exemple montré ;
  • il comporte également dans l'exemple non limitatif représenté, un premier et un second circuits de commande ligne 6, 7 (qui correspondent aux circuits appelés "driver ligne" par les spécialistes du domaine). Dans la représentation simplifiée montrée figure 1 du premier et du second circuits de commande ligne 6, 7, ces derniers comportent respectivement chacun trois étages de commutation M1 à M3 et M4 à M6 reliés chacun à l'entrée d'un étage de sortie ligne SY1 à SY3 et SY4 à SY6, de telle façon que le premier circuit 6 commande les trois premières électrodes lignes Y1 à Y3 et que le second circuit 7 commande les trois électrodes suivantes Y4 à Y6.
Chaque circuit de commande ligne 6, 7 est relié à l'un des amplificateurs A1, A2 dont il reçoit les signaux d'entretien SE, et il a pour fonction notamment : d'une part, de transmettre ces signaux SE de manière qu'ils soient appliqués simultanément à toutes les électrodes lignes Y1 à Y6 qu'il commande ; il a pour fonction d'autre part, pour la ou les électrodes sélectionnée(s) pour une opération d'adressage, de superposer aux signaux d'entretien SE soit une impulsion dite d'inscription IS soit une impulsion dite d'effacement lE, suivant le type d'adressage à réaliser.
Le dispositif de gestion colonnes 3 a notamment pour fonction d'appliquer aux électrodes colonne X1 à X6 un potentiel de référence, par rapport auquel des impulsions IM dites de masquage sont appliquées à certaines de ces électrodes au cours d'opérations d'adressage. A cette fin il dispose d'un circuit de commande colonnes 8, semblable par exemple aux circuits de commande ligne 6, 7, et comportant dans l'exemple, 6 étages de commutation M7 à M12 reliés chacun à un étage de sortie colonne SX1 à SX6, et qui sont chargés d'élaborer et de commuter les impulsions de masquage.
Dans un PAP, chaque cellule comporte un espace rempli de gaz. En appliquant une tension suffisante dite "tension d'allumage" VA entre les deux électrodes qui définissent une cellule donnée, on provoque une décharge électrique dans le gaz, et une émission de lumière par cette cellule. Dans un PAP alternatif, les électrodes sont recouvertes d'un matériau diélectrique. Par suite, à chaque décharge dans le gaz, des charges électriques s'accumulent sur le diélectrique au niveau des électrodes qui définissent une cellule dans laquelle se produit la décharge. Ces charges électriques subsistent après la décharge et constituent un champs électrique dit "champs de mémoire interne" propre à chaque cellule, et permettent, pour la cellule qui en possède, de provoquer une décharge avec l'application d'une tension inférieure à la tension d'allumage. Cet effet constitue "l'effet mémoire" déjà mentionné. Les cellules qui possèdent de telles charges sont dites à l'état "inscrit" ou "allumé". Les autres cellules exigent pour produire une décharge une tension égale à la tension d'allumage, elles sont dites à l'état "effacé" ou "éteint."
L'application des signaux d'entretien SE a pour effet d'activer les cellules C1 à C36 qui sont à l'état "inscrit" c'est à dire de provoquer des décharges dans ces cellules, sans modifier leur état ni l'état des cellules qui sont à l'état "effacé". Les cellules sont mises à l'état "inscrit" ou l'état "effacé" en fonction d'une image à afficher, par des opérations d'adressage réalisées souvent ligne par ligne, c'est à dire pour toutes les cellules C1 à C36 appartenant à une même ligne L1 à L6 (ou autrement dit, pour toutes les cellules définies le long d'une même électrode ligne Y1 à Y6), puis ensuite pour toutes les cellules d'une autre ligne.
La figure 2a représente des signaux d'entretien SE d'un type courant, destinés à être appliqués à toutes les électrodes lignes Y1 à Y6. Ils sont constitués par des créneaux de tension négatifs 9 et positifs 10 établis de part et d'autre d'un potentiel de référence V0 (qui est souvent le potentiel de la masse), et qui se succèdent avec des polarités opposées. ils varient entre un potentiel négatif V1 où ils présentent un palier dit négatif p-, et un potentiel positif V2 où ils présentent un palier dit positif p+. Ces potentiels négatif et positif V1, V2 ont par exemple une valeur de 150 volts, qui s'ajoute à la tension produite par le champs de mémoire interne, pour atteindre sensiblement la valeur de tension d'allumage VA. Suivant une forme courante, la transition de tension qui suit la fin d'un créneau 9 ; 10 peut conduire directement au début du créneau suivant, ou bien comme dans l'exemple montré : d'une part les créneaux négatifs 9 sont séparés du créneau positif 10 qui suit par un palier intermédiaire large 5, formé au niveau du potentiel de référence V0 et destiné à servir de base à une impulsion d'adressage ; et d'autre part, chaque créneau positif 10 est séparé du créneau négatif qui suit par un palier intermédiaire étroit 11, formé sur le potentiel de référence V0.
Le potentiel de référence V0 est appliqué aux électrodes colonnes X1 à X6, de façon que l'application de chacun des créneaux positifs et négatifs des signaux d'entretien SE aux électrodes lignes Y1 à Y6, développe aux bornes des cellules des tensions alternativement de signes opposés, lesquelles engendrent des décharges dites d'entretien dans toutes les cellules qui sont à l'état "inscrit".
La figure 2b représente la relation de phase entre les décharges d'entretien Id dans les cellules C1 à C36, et l'établissement des créneaux 9, 10. On voit que ces décharges se produisent à des instants td survenant un peu après chaque début des paliers négatifs et positifs p-, p+; en fait ces décharges surviennent quelques centaines de nanosecondes après l'établissement de ces paliers.
Les créneaux 9, 10 du signal d'entretien SE se succèdent avec une période P1, P2, P3, P4 (couramment de l'ordre de 20 microsecondes), durant laquelle s'effectue l'adressage de toutes les cellules définies par une électrode ligne sélectionnée (ou par plusieurs dans certains cas). Les opérations d'adressage sont exécutées par les circuits de commande ligne et colonne 6,7, qui a cet effet délivrent des signaux spécifiques. L'adressage consiste, pour le circuit de commande ligne 6, 7 et à l'aide notamment de celui des étages de commutation M1 à M6 correspondant à l'électrode ligne sélectionnée, à superposer au signal d'entretien SE appliqué à cette électrode, une impulsion d'effacement lE suivie d'une impulsion d'inscription IS.
Les figures 2c, 2d et 2e illustrent respectivement des opérations d'adressage effectuées sur les cellules des électrodes lignes Y1, Y2 et Y3, lesquelles électrodes sont commandées par le premier circuit de commande ligne 6.
En supposant que l'adressage de l'électrode ligne Y1 s'effectue durant une période P1 débutant à un instant t0 : le signal appliqué uniquement à cette électrode a pour fonction de mettre à l'état "effacé" toutes les cellules de cette électrode. A cet effet dans la forme d'adressage montrée à titre d'exemple, une impulsion d'adressage dite d'effacement IE, de polarité positive, est superposée à un instant t1 sur le palier intermédiaire large 5 (c'est à dire que la tension correspondant à l'amplitude de l'impulsion s'additionne algébriquement à la tension à laquelle elle est superposée et qui donc lui sert de base). Cette impulsion d'effacement IE peut présenter un temps de montée Tm relativement lent, et son amplitude V4 est telle que son sommet atteint une valeur V3 dite "tension d'effacement", un peu inférieure par exemple à la tension V2 des créneaux positifs 10. Un tel signal, appliqué sur l'électrode ligne Y1 alors que le potentiel de référence V0 est appliqué à toutes les électrodes colonnes, provoque un début de décharge dans les cellules qui sont à l'état "inscrit", et a pour effet d'absorber les charges électriques accumulées et donc de supprimer les champs de mémoire interne au niveau de toutes les cellules.
L'effacement peut être accompli aussi, à l'aide d'une impulsion d'effacement IE' (représentée en traits pointillés) superposée à l'instant t0 lors de l'établissement du créneau négatif 9, et dont la forme permet de conférer à ce temps d'établissement un temps long sans modifier son amplitude. Il est à noter que cet adressage est accompli sous l'action du premier étage de commutation M1, pour être appliqué uniquement à la première électrode ligne Y1.
Toutes les cellules de l'électrode Y1 sélectionnée étant effacées, la phase suivante consiste mettre à l'état "inscrit" " seulement la ou les cellules sélectionnées. A cette fin, une impulsion d'inscription IS est superposée au signal d'entretien SE à un instant t2, sur le palier positif p+. L'impulsion IS a une amplitude V5 telle que avec cette superposition, la tension résultante V2 + V5 atteint une valeur de tension dite d'inscription de valeur comparable à la tension d'allumage VA. Si à ce moment, le potentiel délivré par tous les étages de sortie colonne SX1 à SX6, c'est-à-dire le potentiel appliqué à toutes les électrodes colonnes X1 à X6, est celui du potentiel de référence V0, la différence de potentiel aux bornes des cellules C1 à C6 formées avec l'électrode ligne Y1 possède la valeur de la tension d'allumage VA : en conséquence des décharges se produisent dans toutes les cellules qui par suite bénéficient d'un champs de mémoire interne, et sont donc à l'état "inscrit".
Pour opérer la sélection des cellules, le dispositif de gestion d'électrode colonne 3 produit, à chaque impulsion d'inscription IS, une séquence de "masquage" qui consiste à appliquer à celles des électrodes colonnes X1 à X6 qui définissent une cellule devant rester à l'état "effacé", une impulsion de masquage IM en phase avec l'impulsion d'inscription IS, et dont la fonction est d'éviter que la différence de potentiel aux bornes de ces cellules n'atteigne la valeur d'allumage VA, et ainsi d'inhiber l'action de l'impulsion d'inscription IS.
La figure 2f représente une impulsion de masquage IM délivrée sur la deuxième électrode colonne X2, à l'instant t2 c'est à dire en phase avec l'impulsion d'inscription IS appliquée à la première électrode ligne Y1. L'impulsion de masquage IM est positive, et sa présence à cet instant fait que, à la fin du cycle d'adressage sur la première électrode ligne Y1, la cellule C2 conserve un état "effacé".
La figure 2d illustre l'adressage effectué sur la deuxième électrode ligne Y2 (à l'aide du second étage de commutation M2), durant une deuxième période P2 qui suit la première période P1. Comme dans le cas précédent, l'adressage débute par un effacement de toutes les cellules (C7 à C12 dans le cas présent) à l'aide d'une impulsion d'effacement lE, superposée à un palier intermédiaire large 5 à un instant t3, et cela uniquement pour la deuxième électrode ligne Y2. Ensuite à un instant t4, une impulsion d'inscription IS est superposée au palier positif 10 et produit la mise à l'état "inscrit" de toutes les cellules de cette ligne pour lesquelles aucune impulsion de masquage IM n'est appliquée sur l'électrode colonne X1 à X6 correspondante. Il est à noter qu'aucune impulsion de masquage (figure 2f) n'étant appliqué sur la deuxième électrode colonne X2 à l'instant t4, la cellule C8 est mise à l'état "inscrit".
La figure 2e montre les adressages effectués sur la troisième électrode ligne Y3 (à l'aide du troisième étage de commutation M3), durant une troisième période P3 qui suit la deuxième P2. A un instant t5, une impulsion d'effacement IE est superposée au palier intermédiaire large pl. Ensuite à un instant t6, une impulsion d'inscription IS est superposée au palier positif p+. L'adressage (non représenté) sur les électrodes lignes Y4, Y5, Y6 s'effectue ensuite d'une même façon, en commençant par celui de l'électrode Y4 qui s'effectue durant la période P4.
Les opérations d'adressage décrites ci-dessus sont de deux types : l'adressage qui consiste à mettre dans un même état "effacé" toutes les cellules d'une même électrode ligne sans distinction, est du type "adressage semi-sélectif", et celui qui consiste à mettre des cellules sélectionnées à l'état "Inscrit" est du type "adressage sélectif " Mais des adressages semi-sélectif et sélectif peuvent consister également, à mettre toutes les cellules d'une même ligne à l'état Inscrit" pour le "semi-sélectif" et à l'état "effacé" certaines cellules sélectionnées, pour ce qui est du "sélectif.
Ces explications sur le fonctionnement d'un PAP alternatif mettent en évidence l'importance, le grand nombre et la complexité des fonctions remplies par un circuit de commande ligne ou colonne 6, 7 ou 8. Pour assurer toutes ces fonctions , ces circuits de commande sont eux-mêmes des composants électroniques complexes. Leur fabrication fait appel à des technologies d'autant plus sophistiquées et coûteuses que les performances exigées pour ces composants sont élevées.
Parmi les caractéristiques techniques que doivent présenter ces circuits de commande, l'obtention de celles qui sont relatives à leur capacité de délivrer des impulsions de tension élevée sont d'un coût particulièrement important. Ceci est encore plus prononcé en ce qui concerne leur possibilité de délivrer, simultanément sur leurs différentes sorties, des signaux présentant de fortes différences de tensions, comme c'est le cas dans les opérations d'adressage, aussi bien pour les circuits de commande ligne 6, 7 qui délivrent des impulsions d'adressage lE, IS, que pour le circuit de commande colonne délivrant des impulsons de masquage IM.
Il est à remarquer que les circuits de commande lignes 6, 7 doivent présenter des caractéristiques techniques beaucoup plus performantes pour délivrer les impulsions d'adressage IS, lE, que pour délivrer les signaux d'entretien SE. En effet, ces derniers sont appliqués en permanence à toutes les électrodes Y1 à Y6, ils n'ont pas à être ni sélectionnés ni commutés, ils sont élaborés par les amplificateurs A1, A2 et ne font que passer par les étages de commutation M1 à M6. Les impulsions d'adressage au contraire, utilisent différents circuits électroniques complexes pour être construits, sélectionnés, commutés et superposés aux signaux d'entretien avec le synchronisme et la vitesse qui conviennent, ainsi qu'avec une puissance suffisante pour éventuellement engendrer des décharges simultanément dans un grand nombre de cellules.
L'importance du problème soulevé par le coût de ces circuits de commande tend encore à augmenter, par suite notamment des applications de plus en plus larges des PAP à l'affichage d'images de grandes dimensions en couleurs, car la production des couleurs demande des mélanges gazeux ayant des tensions d'allumage VA plus élevées.
L'un des buts de la présente invention est de permettre l'utilisation dans les PAP alternatifs, de circuits de commandes ligne et/ou de commande colonne présentant le plus faible coût.
Un autre but de l'invention est de réduire la consommation dite capacitive des PAP alternatifs. Les capacités présentées par les différents éléments tels que par exemple, les pistes qui constituent les électrodes, les différentes connexions, et les capacités propres aux circuits électroniques, forment une capacité globale relativement importante, consommatrice de courants alternatifs. La puissance capacitive PC dissipée par une impulsion d'adressage s'exprime par la relation :
PC = C. Vi2. F ; où C est la capacité vue par l'impulsion, Vi est la valeur de la tension de l'impulsion d'adressage, F est la fréquence d'adressage. Cette relation montre notamment que cette puissance capacitive varie avec le carré de l'amplitude de l'impulsion.
Pour atteindre les buts ci-dessus cités, l'invention propose de faire les adressages sélectifs et/ou semi-sélectifs d'une façon qui permet de réduire l'amplitude des impulsions d'adressage distribuées par les circuits de commande 6, 7, 8.
L'invention concerne un procédé de commande d'adressage d'un panneau à plasma alternatif comportant au moins un réseau d'électrodes dites "lignes", croisé avec au moins un réseau d'électrodes dites colonnes, des cellules étant formées aux intersections des électrodes lignes et colonnes, ledit procédé consistant à appliquer à toutes les électrodes lignes des signaux d'entretien formés d'une succession de créneaux ayant une période donnée et établis par rapport à un potentiel de référence appliqué aux électrodes colonnes, chaque période pouvant constituer un cycle d'adressage comportant au moins un adressage du type semi-sélectif et au moins un adressage du type sélectif, chaque type d'adressage consistant à appliquer à au moins une électrodes ligne sélectionnée, une impulsion dite d'adressage dont la tension s'ajoute à une tension dite de ligne déjà présente sur cette électrode, en vue d'appliquer aux bornes de cellules formées par cette électrode sélectionnée une tension dite d'adressage de valeur donnée correspondant à l'adressage à effectuer, le procédé étant caractérisé en ce que pour au moins l'un des deux types d'adressage, l'impulsion d'adressage a une amplitude inférieure à celle qui convient à obtenir la tension d'adressage requise, et en ce que pour obtenir ladite tension d'adressage, il consiste en outre soit à modifier le potentiel de référence appliqué aux électrodes colonnes, soit à modifier la tension de ligne déjà présente sur l'électrodes ligne sélectionnée quand l'impulsion d'adressage est appliquée, ou bien encore à modifier cette dernière tension de ligne ainsi que le potentiel de référence appliqué aux électrodes colonnes.
Le procédé selon l'invention consiste à superposer aux signaux d'entretien durant une période de ces derniers, au moins un palier de tension dit palier supplémentaire de manière à constituer une base de tension dite base d'adressage sur laquelle est superposée au moins une impulsion d'adressage.
Les signaux étant formés de créneaux négatifs et positifs, le procédé selon l'invention consiste à former une base de tension d'adressage d'inscription avec un créneau et de superposer sur cette base d'adressage une impulsion d'adressage consistant en une impulsion dite d'inscription.
Le procédé consiste à établir entre deux créneaux consécutifs, un palier intermédiaire ayant une tension inférieure à la tension des créneaux et à ajouter audit palier intermédiaire un palier supplémentaire afin de constituer une base d'adressage d'effacement puis à superposer à cette base d'effacement, une impulsion d'adressage consistant en une impulsion d'effacement.
Le palier intermédiaire est à la même tension que le potentiel de référence.
Les paliers supplémentaires ajoutés sur des créneaux sont superposés à ces derniers après un instant où survient une décharge dite d'entretien.
Les paliers supplémentaires formés sur des créneaux sont supprimés sensiblement à la fin de ces créneaux.
Les paliers supplémentaires formés sur des créneaux englobent la totalité d'une ou des impulsions d'adressage d'une électrode ligne de sélectionnée.
Les paliers supplémentaires servant à constituer une base d'effacement ont une amplitude égale ou supérieure à la différence entre une tension dite d'effacement et l'amplitude des impuisions d'effacement.
Les paliers supplémentaires servant à constituer une base d'inscription, ont une amplitude égale ou supérieure à la différence entre une tension dite d'inscription et une valeur de tension formée par la somme de la tension d'un créneau positif et de l'amplitude d'une impulsion d'inscription.
L'invention concerne aussi le panneau à plasma de type alternatif de la revendication 23.
L'invention sera mieux comprise et d'autre avantages qu'elle procure apparaítrons à la lecture de la description qui suit de certains de ses modes de réalisation, description faite à titre d'exemple non limitatif en référence aux figures annexées, parmi lesquelles:
  • la figure 1 déjà décrite, montre schématiquement un PAP auquel peut s'appliquer le procédé de l'invention ;
  • les figures 2a à 2f déjà décrite, représentent des signaux appliqués suivant un procédé connu, à des électrodes du PAP de la figure 1;
  • la figure 3 représente un PAP alternatif mettant en oeuvre le procédé;
  • les figures 4a à 4j représentent des signaux appliqués aux électrodes du PAP de la figure 3 conformément au procédé de l'invention;
  • la figure 5 représente des signaux d'entretien dans le cas d'un adressage du type dit multiple ;
  • les figures 6a, 6b, 6c illustrent une version de l'invention consistant à modifier un potentiel appliqué à des électrodes colonnes ;
  • la figure 7 illustre le fonctionnement d'un circuit de commande.
La figure 3 représente un PAP semblable à celui montré à la figure 1 sauf en ce qui concerne ses amplificateurs d'entretien A1', A2', qui comportent des moyens permettant la mise en oeuvre du procédé de l'invention.
Chaque amplificateur A1', A2' comporte un générateur d'entretien 12, 14 en lui-même classique, produisant les signaux d'entretien SE, et par rapport aux amplificateurs A1, A2 de la figure 1, ils comportent en plus un circuit dit "de superposition" 15 coopérant avec le générateur d'entretien pour superposer aux signaux d'entretien SE, à des instants donnés, des signaux de tension appelés "paliers supplémentaires" PS. Un générateur d'entretien 12, 14 peut comporter par exemple une première et une deuxième source de tension 25, 16 respectivement négative et positive, dont une polarité est au potentiel de référence V0 ou masse dans l'exemple, et dont l'autre polarité délivre la tension négative V1 (tension des créneaux négatifs 9) pour la source 25, et délivre la tension positive V2 (tension des créneaux psitifs 10) pour la source 16. Le signal d'entretien SE délivré en sortie 17 d'un amplificateur A1', A2', résuite d'une commutation d'un de ces trois potentiel sur cette sortie 17 ; cette commutation est accomplie à l'aide de trois éléments de commutation symbolisés sur la figure par des interrupteurs I1, I2, I3 commutant respectivement le potentiel négatif V1, le potentiel positif V2, et celui de la masse.
Dans l'exemple non limitatif décrit où les paliers supplémentaires ci-dessus cités sont positifs, le circuit de superposition 15 comporte une troisième et une quatrième sources de tension 18, 26 ayant une polarité reliée à la masse ; l'autre polarité de la troisième et de la quatrième source délivrent respectivement une tension positive V7 et une tension positive V6 qui correspond à l'amplitude d'au moins un des paliers supplémentaires. La tension V7 est égale à la somme de la tension positive V2 et de la tension positive V6 des paliers supplémentaire. Les tensions V6, V7 peuvent être appliquées à la sortie 17 de l'amplificateur A1', A2' à l'aide respectivement d'un quatrième et cinquième éléments de commutation ou interrupteurs I4, 15. Une diode 19 disposée entre la sortie 17 et la quatrième source de tension 16, évite toute circulation de courant dans cette dernière due à l'application de la tension V7. Bien entendu un fonctionnement semblable réalisé avec notamment des sources de tension 18, 26 négatives, permettrait de superposer des paliers supplémentaires de polarité négative.
Les figures 4a et 4g à 4j montrent des signaux destinés à être appliqués aux électrodes lignes Y1 à Y6 du PAP représenté à la figure 3, afin de faire fonctionner ce dernier conformément à l'invention. Ces signaux comprennent des signaux d'entretien SE et des impulsions d'effacement et d'inscription IE, IS, et leur forme diffère de celle des signaux de l'art connu montrés aux figures 2a, 2c, 2d, 2e en ce que, suivant une caractéristique de l'invention, ils comportent en plus les paliers supplémentaires PS1, PS2 cités plus haut.
Les paliers supplémentaires sont superposés aux signaux d'entretien SE, et la tension qui résulte de cette première superposition forme une base de tension dite base d'adressage sur laquelle les impulsions d'adressage IE, IS sont elles-mêmes superposées. Les signaux d'entretien SE sont constitués comme ceux montrés figure 2a, par une succession de créneaux négatifs et positifs 9, 10, 9', 10' séparés par des paliers intermédiaires 5, 5' ; ils sont établis avec une période P1 à P4 et par rapport à un potentiel de référence V0 lui-même appliqué aux électrodes colonnes X1 à X6. Les paliers supplémentaires PS1, PS2 englobent la totalité de ou des impulsions d'adressage d'une électrode ligne sélectionnée.
La figure 4a représente un cycle d'adressage accompli sur les cellules formées par la première électrode ligne Y1, durant une période P1. Dans l'exemple non limitatif décrit, les paliers supplémentaire PS1, PS2 sont positifs, ils correspondent respectivement à une opération d'effacement et à une opération d'inscription. Le premier palier supplémentaire PS1 est superposé aux signaux d'entretien SE sur un palier intermédiaire large 5. Il a une tension inférieure en valeur absolue à la tension V1, V2 des créneaux. Dans l'exemple décrit, les paliers intermédiaires larges 5 étant au potentiel de référence V0, c'est uniquement la- tension V6 du premier palier supplémentaire PS1 qui sert de base d'effacement b1 à l'impulsion d'effacement IE. Cette tension V6 a une valeur par exemple de 50 volts ; en supposant que la tension V4 d'effacement soit de l'ordre de 120 volts, soit un peu inférieure à celles V1, V2 des créneaux négatifs et positifs 9, 10 (de l'ordre de 150 volts), quand l'impulsion d'effacement lE est appliquée et superposée à ladite base b1, il suffit que son amplitude V3 soit de l'ordre de 70 à 80 volts pour que la tension d'effacement V4 soit obtenue, et que l'effacement soit réalisé. Le palier intermédiaire 5 servant à former la base d'effacement b1 est établi entre un créneau négatif 9 suivi d'un créneau positif 10.
Le second palier PS2 est superposé sur le créneau positif 10. Sa tension V6 est dans l'exemple sensiblement la même que celle du premier palier supplémentaire (il est possible bien entendu de donner si nécessaire des valeurs différentes aux deux paliers supplémentaires) et s'ajoute à la tension V2 de ce créneau, pour constituer une deuxième base de tension b2 destinée à recevoir l'impulsion d'inscription IS. En supposant que la différence de potentiel ou tension d'inscription VA nécessaire à l'inscription des cellules soit de l'ordre par exemple 270 volts, et que la tension des paliers supplémentaires PS1, PS2 soit de l'ordre de 50 volts, quand l'impulsion d'inscription IS est superposée à ladite deuxième base de tension b2, il suffit qu'elle ait une amplitude V5 de l'ordre de 70 volts pour que soit obtenue la tension VA d'inscription c'est à dire d'allumage.
Pour ce qui est du premier palier PS1, il est appliqué largement après l'instant td1 de la décharge d'entretien due à l'établissement d'un palier négatif p-, et il s'achève avant le début du palier positif p+ qui suit et donc avant l'instant td2 de la décharge qui suit. Bien entendu, il convient que son amplitude V6 reste suffisamment inférieure à la tension des signaux d'entretien SE, pour ne pas engendrer elle-même de décharge (compte tenu notamment des dispersions dans les caractéristiques présentées par les cellules).
Le second palier PS2 est superposé au créneau positif 10, après l'instant td2 où se produit une décharge d'entretien, et sa présence n'affecte donc en rien les conditions de cette décharge. Il convient bien entendu que son amplitude reste limitée à une valeur telle que , ajoutée à la tension V2 du créneau 10, la tension résultante reste inférieure à celle qui est susceptible de provoquer des décharges du type des décharges d'inscription. Dans l'exemple non limitatif représenté, le second palier supplémentaire PS2 se termine en phase avec la fin du créneau 10 : par suite la transition de tension qui suit et qui conduit au potentiel de référence V0 a une amplitude plus grande que celle qu'elle aurait en l'absence du second palier supplémentaire PS2, mais qui n'a que peu d'influence sur la décharge d'entretien survenant à l'instant td4 qui suit , car cette décharge est provoquée par la différence de potentiel engendrée avec l'établissement du créneau négatif 9 appartenant à la période suivante P2 . On voit que dans ces conditions, la superposition sur les signaux d'entretien SE du premier ou du second palier supplémentaire PS1, PS2 ou de ces deux paliers PS1, PS2 ne peut affecter de manière significative les décharges d'entretien.
Au lieu que les paliers supplémentaires PS1, PS2 et que les impulsions d'inscription IS et d'effacement IE soient positifs ils peuvent être négatifs comme l'illustre schématiquement la figure 4j pour l'adressage de l'électrode ligne Y1, Le premier palier supplémentaire PS1 négatif pourrait s'ajouter à un palier intermédiaire large 5' conduisant à un créneau négatif 9' du signal d'entretien SE. Une impulsion d'effacement IE négative s'ajouterait au premier palier supplémentaire PS1. Le palier intermédiaire 5' servant à former une base d'effacement serait établi entre un créneau positif 10', suivi d'un créneau négatif 9' du signal d'entretien SE. Le second palier supplémentaire PS2 négatif serait superposé à un créneau négatif 9' du signal d'entretien SE. Il constituerait une base de tension b2 à laquelle s'ajouterait l'impulsion d'inscription IS également négative.
Les figures 4b, 4c, 4d, 4e, 4f à lire avec la figure 4a, montrent respectivement l'action des premier, deuxième, troisième, quatrième et cinquième interrupteurs I1, I2, I3, I4 et I5 et illustrent le fonctionnement d'un générateur de signaux 12 coopérant avec son circuit de superposition 15, pour produire pendant la première période P1, les signaux d'entretien SE avec paliers supplémentaires superposés.
Avec le début de la période P1, le premier interrupteur I1 est "fermé" (les autres interrupteurs sont "ouverts") et applique la tension négative V1 qui correspond au palier négatif p-. A la fin du palier p-, le premier interrupteur I1 passe à l'état "ouvert" et le quatrième interrupteur I4 passe à l'état 'fermé, ce qui détermine le palier intermédiaire large 5, avec premier palier supplémentaire PS1 superposé. A la fin du palier large 5, l'interrupteur 14 passe à l'état "ouvert" et le deuxième interrupteur I2 est fermé et applique la tension V2 correspondant au palier positif p+ du créneau positif 10. Le deuxième interrupteur 12 conserve son état "fermé" jusque après l'instant td2 où se produit une décharge d'entretien, puis il est ouvert et c'est le cinquième interrupteur 15 qui passe à l'état fermé et applique la tension V7 correspondant au second palier supplémentaire PS2. A la fin du créneau positif 10, le cinquième interrupteur 15 est ouvert et le troisième interrupteur I3 passe à l'état fermé et applique le potentiel de la masse ; ceci correspond à établir le palier intermédiaire étroit 11 jusqu'au début du créneau négatif 9 qui suit et qui appartient à une période P2 suivante.
Les paliers supplémentaires PS1, PS2 peuvent être élaborés et superposés aux signaux d'entretien de différentes manières. Par exemple, ceci peut être réalisé de manière simple dans chacun des générateurs d'entretien 12, 14 de façon que ces paliers supplémentaires PS1, PS2 soient appliqués simultanément et en permanence, à toutes les électrodes lignes Y1 à Y6 du PAP, ou bien encore de façon que ces paliers supplémentaires soient appliqués uniquement à celles des électrodes lignes reliées à un circuit de commande ligne 6, 7 en train de réaliser un adressage. Cette dernière méthode correspond à l'exemple représenté à l'aide des figures 4a et 4g à 4i, qui illustrent le fait que, d'une part les signaux d'entretien SE distribués aux électrodes lignes Y1, Y2, Y3 (toutes reliées au premier circuit de commande ligne 6) possèdent des paliers supplémentaires PS1, PS2, et d'autre part que les signaux d'entretien SE appliqués aux électrodes lignes Y4, Y5, Y6 (toutes reliées au second circuit de commande ligne 7, et dont aucune n'est en cours d'adressage) ne possèdent pas ces paliers jusqu'à l'arrivée de la quantième période P4.
Les adressages sur les électrodes lignes Y2, Y3 (illustrés aux figures 4h, 4g) s'effectuent respectivement durant les périodes P2, P3, à l'aide des paliers supplémentaires et des impulsions d'effacement et d'inscription lE, IS comme ci-dessus expliqué.
La figure 4i représente l'adressage effectué à la période P4 qui suit, sur la quatrième électrode ligne Y4 qui elle dépend du second circuit de commande ligne 7. Dans l'exemple non limitatif représenté, la période P4 est celle à partir de laquelle cesse la superposition des paliers supplémentaires PS1, PS2 sur les signaux d'entretien SE distribués aux électrodes Y1 à Y3, et où par contre cette superposition débute sur les signaux SE distribués aux électrodes Y4 à Y6. L'adressage sur l'électrode ligne Y4 ainsi que ceux (non représentés) effectués ensuite à des périodes qui suivent sur les électrodes Y5, Y6, s'effectuent d'une même façon qu'expliquée ci-dessus, par superposition de paliers supplémentaires et d'impulsions d'effacement et d'inscription IE, IS.
Un tel fonctionnement permet donc, par rapport à l'art connu : d'utiliser des circuits de commande ligne moins performants, d'une part du fait de la réduction des amplitudes des impulsions d'adressage IS, lE, et d'autre part du fait que les paliers supplémentaires PS1, PS2 qui compensent cette réduction d'amplitude, passent par les circuits de commande ligne 6, 7 par une même voie que les signaux d'entretien SE.
Ce fonctionnement permet en outre, par la superposition des impulsions d'effacement et d'inscription lE, IS sur des paliers supplémentaires PS1, PS2 déjà établis, ainsi que par la réduction de l'amplitude de ces impulsions, de réduire la consommation capacitive due à l'application de ces impulsions. Cette réduction de la consommation capacitive est particulièrement affirmée quand la fréquence d'adressage est très élevée, notamment dans les adressages du type dit "à impulsions multiples", dans lesquels on peut trouver un grand nombre d'impulsions d'adressage sélectif (le plus souvent en inscription) sur un même créneau. En conséquence, le procédé de l'invention permet de réduire l'amplitude d'un grand nombre de ces impulsions par la superposition d'un unique palier supplémentaire.
La figure 5 représente la forme des signaux d'entretien SE' pour un tel cas d'adressage "à impulsions multiples". Dans l'exemple de la figure 5, une période P'1 des signaux SE' permettant d'effectuer un cycle d'adressage, débute par un créneau négatif 9, suivi d'un créneau positif 10a dont il est séparé par un palier intermédiaire large 5 formé au niveau du potentiel de référence V0 ; ce créneau positif 10a est suivi par un palier intermédiaire étroit 11 précédant un autre créneau négatif 9 qui lui même est suivi par un palier étroit 11; on trouve ensuite un créneau positif étroit 10b, puis enfin un palier intermédiaire étroit 11 qui précède un créneau négatif d'une période suivante P2'. Il est à noter que les derniers créneaux négatif et positif 9, 10b ayant pour unique fonction de provoquer des décharges d'entretien , il ne leur est pas superposé de palier supplémentaire.
Dans l'exemple représenté, le créneau négatif 9 a une durée T1, très inférieure à la durée T2 du créneau positif 10a, durée T2 qui correspond au temps nécessaire à réaliser l'adressage sélectif des cellules formées le long de plusieurs électrodes lignes généralement commandées par un même circuit de commande ligne, comme c'est le cas par exemple des groupes d'électrodes lignes Y1 à Y3 et Y4 à Y6 commandés respectivement par les circuits de commande 6, 7.
Il est à noter que l'on trouve couramment des circuits de commande du type des circuits 6, 7, ayant plusieurs sorties reliées chacune à une électrode ligne.
Chacun de ces circuits de commande peut avoir par exemple 32, 40, 64 voire 128 sorties.
Il faut prévoir autant de sorties que le nombre n d'électrodes ligne. Ces circuits de commande permettent :
  • d'une part, d'appliquer à une ou simultanément à plusieurs électrodes sélectionnées ou aux n électrodes, par exemple une impulsion d'effacement IE qui peut dans l'art connu, être superposée directement à un palier intermédiaire large 5, afin de réaliser simultanément l'effacement de toutes les cellules de toutes les électrodes auxquelles elle est appliquée ;
  • d'autre part, recevant une suite d'impulsions d'inscriptions IS1, lS2 , IS3,..., ISn, ces circuits de commande disposent des moyens qui leur permettent de distribuer chaque impulsion d'inscription à une électrode ligne, électrode par électrode; ces impulsions d'inscription sont chacune superposées sur un même créneau positif des signaux SE, à des instants différents le long de ce créneau. L'inscription des cellules des n électrodes lignes peut ainsi être accomplie à l'aide d'un unique créneau 10a, avec une grande vitesse.
Cette organisation suivant l'art connu est illustrée figure 5 dans laquelle en plus, et suivant l'invention, on trouve au moins un palier supplémentaire servant pour l'impulsion- d'effacement IE, et/ou pour les impulsions d'inscription IS1 à ISn. Dans l'exemple représenté, sur le palier intermédiaire large 5 que comporte la période P'1, est superposé un premier palier supplémentaire PS1', ayant par exemple une même forme et une même valeur que celles du premier palier PS1 montré à la figure 4a (en supposant que les créneaux des signaux d'entretien SE de la figure 4a ont une même valeur V1, V2 que ceux des signaux SE' de la figure 5). A la base b1" constituée par ce palier supplémentaire, peut donc être superposée une impulsion d'effacement IE (symbolisée sur la figure 5 en traits pointillés) ayant une même valeur que celle de la figure 4a, afin de réaliser l'effacement.
Un second palier supplémentaire PS2' est superposé sur le premier créneau positif 10a, après l'instant td où se produit la décharge d'entretien produite par l'établissement de ce créneau. Ce second palier supplémentaire PS2' dure jusqu'à la fin du créneau positif 10a, et sa valeur de tension peut être la même que celle du second palier supplémentaire PS2 montré à la figure 4a. Des inscriptions peuvent donc être obtenues en superposant des impulsions d'inscription IS1, IS2,..., ISn, à la base de tension b2' résultant des tensions de ce palier supplémentaire PS2' et du créneau positif 10a, et en distribuant ces signaux aux électrodes lignes comme ci-dessus expliqué.
Il est également envisageable dans le cas d'adressage "à impulsions multiples" que les paliers supplémentaires PS1, PS2 soient négatifs et qu'ils s'ajoutent respectivement à un palier intermédiaire et à un créneau négatif du signal d'entretien. Une impulsion d'effacement négative s'ajouterait au premier palier supplémentaire PS1 et plusieurs impulsions d'inscriptions s'ajouteraient au second palier supplémentaire PS2.
Les figures 6a, 6b, 6c, représentent une autre manière de compenser la réduction d'amplitude des impulsions d'inscription et d'effacement, manière qui consiste à modifier la tension appliquée aux électrodes colonnes X1 à X6, ou au moins à celles de ces électrodes qui définissent une cellule adressée.
La figure 6a représente une période P'1 de signaux d'entretien SE' semblables à ceux de la figure 5 (c'est-à-dire permettant un adressage du type "adressage multiple"), période qui illustre une séquence d'adressage effectuée suivant cette nouvelle version du procédé de l'invention. Ces signaux comportent un créneau négatif 9 et un créneau positif 10a séparés par un palier intermédiaire large 5. Ce palier 5 et ce créneau 10a sont destinés à recevoir respectivement, une impulsion d'effacement IE et des impulsions d'inscription IS1, IS2, sans superposition préalable de paliers supplémentaires.
La figure 6b représente des variations d'une tension VX appliquée à une électrode colonne, la deuxième électrode X2 par exemple (exemple qui vaut pour toutes les autres électrodes colonnes X1 à X6) ; ces variations sont dues à des signaux constitués d'une part, par des impulsions de masquage IM (qui s'opposent à l'exécution d'un adressage), et d'autre part par des impulsions ou créneaux dits "de confirmation"30, 31 qui au contraire favorisent l'exécution de l'adressage. En l'absence de ces impulsions, la tension VX appliquée par la sortie SX2 à l'électrode X2 a une valeur VX0 correspondant au potentiel de référence V0.
Quand l'impulsion d'effacement IE est superposée au palier large 5, la tension résultante atteint une valeur V3 (de 80 volts par exemple) inférieure à celle de la tension V4 (de l'ordre de 120 volts) nécessitée pour accomplir l'effacement. La différence V4 - V3 est alors compensée par la tension VX appliquée à l'électrode X2 ; dans ce but, un créneau négatif formant une impulsion de confirmation d'effacement 30 ayant une amplitude Vce (de l'ordre de 40 volts par exemple), est alors appliqué (en phase avec l'impulsion d'effacement IE), faisant passer la tension VX à une valeur -VX. Ceci a pour effet d'augmenter la différence de potentiel appliquée aux bornes des cellules à "effacer" jusqu'à lui faire atteindre la valeur de la tension d'effacement V4. La tension de colonne VX recouvre ensuite la valeur du potentiel de référence V0 jusqu'à la phase d'inscription, ou au moins jusqu'à après l'instant td où se produit une décharge d'entretien.
Les impulsions de confirmation ont une amplitude égale ou supérieure à une différence entre la tension d'adressage et la tension qui sur l'électrode ligne sélectionnée résulte de l'impulsion d'adressage
En supposant d'une part que cette phase d'inscription comprenne une première et une seconde impulsion d'inscription IS1, IS2 consécutives (appliquées à des électrodes lignes différentes), ayant une amplitude V5 telle que superposées au créneau positif 10a, la tension résultante V2+V5 soit inférieure à la valeur VA nécessaire à l'inscription ; en supposant d'autre part qu'une cellule définie par la deuxième électrode colonne X2 doive être mise à l'état inscrit par la première impulsion IS1, un créneau négatif 31 constituant une impulsion de confirmation d'inscription ayant une amplitude Vci (de l'ordre par exemple de 40 volts), est alors appliqué à la deuxième électrode X2 (en phase avec la première impulsion d'inscription IS1). Par suite la tension VX sur cette colonne passe à la valeur négative -VX, et cette variation de la tension VX augmente la différence de potentiel appliquée à la cellule jusqu'à lui faire atteindre la valeur VA nécessaire aux inscriptions.
En supposant enfin qu'une autre cellule définie par la deuxième électrode colonne X2, doive conserver un état "effacé" malgré l'application de la seconde impulsion d'inscription IS2 : il suffit d'appliquer à l'électrode colonne X2 (en phase avec la seconde impulsion d'inscription), un créneau positif par rapport au potentiel V0 (de l'ordre de 40 volts), pour faire passer la tension VX sur l'électrode colonne a une valeur positive +VX et constituer une impulsion de masquage IM1.
Le fonctionnement décrit en référence à la figure 6b demande que des moyens de commutation et /ou de superposition d'impulsion du circuit de commande colonne 8, soient organisés pour lui permettre de délivrer en sortie SX1 à SX6 des impulsions positives et négatives par rapport à un point milieu (la masse par exemple).
La figure 7 représente schématiquement une telle organisation, dans laquelle la fermeture d'un premier ou d'un deuxième ou d'un troisième élément interrupteur I'1, I'2, I'3, provoque respectivement l'application à une électrode colonne X1 à X6, de la masse, de la tension négative -VX, de la tension positive +VX. Dans l'exemple non limitatif décrit, la masse constitue ici le potentiel de référence par rapport auquel les tensions des signaux d'entretien sont alternativement positifs et négatifs, mais constitue aussi la tension de référence V0'1 propre au fonctionnement des éléments du circuit de commande colonne 8 , et par rapport à laquelle sont délivrées les impulsions 30, 31 et IM1.
La figure 6c illustre une autre méthode pour réaliser une même séquence d'adressage que celle de la figure 6b avec des impulsions d'adressage IE, IS1, IS2 d'amplitude réduite, qui permet d'utiliser les sorties du circuit de commande colonne 8 d'une manière qui est plus en rapport avec ses possibilités les plus courantes, et dans laquelle la tension de référence V0'1 propre au circuit de commande 8 est toujours négative par rapport aux impulsions 30, 31, IM1 délivrées.
Avant que ne débute le palier intermédiaire large 5 sur lequel est appliquée l'impulsion d'effacement lE (fig. 6a), la tension VX sur l'électrode colonne X2 possède la valeur VX0 correspondant au potentiel de référence V0, mais qui correspond aussi à la première tension de référence V0'1 propre au fonctionnement du circuit de commande colonne 8. Quand survient le palier intermédiaire large 5, le créneau ou impulsion de confirmation 30 qui est constitué sur la tension VX résulte d'un changement de tension de référence propre au circuit de commande : en effet, par le jeu d'une commutation (non représentée, à la portée de tout spécialiste du domaine), on substitue à la première tension de référence V0'1 propre au circuit 8, une seconde tension de référence V0'2 négative par rapport à la première et qui correspond à la valeur de la tension négative -VX. Cette seconde tension de référence V0'2 est conservée jusqu'au début du créneau positif 10a qui suit, à partir duquel elle est remplacée par la première tension de référence V0'1, pour réaliser la fin de l'impulsion de confirmation d'effacement 30 avant l'instant td d'une décharge d'entretien et ne pas risquer de modifier les conditions de celle-ci. La confirmation d'effacement est ainsi en quelque sorte intégrée à la tension de référence.
Après cet instant td d'une décharge, et en phase ou avant l'application de la première impulsion d'inscription IS1, la seconde tension de référence V0'2 est à nouveau substituée à la première afin de produire l'impulsion de confirmation d'inscription 31. La première tension de référence V0'1 remplace ensuite la seconde tension de référence V0'2 pour former la fin de cette confirmation d'inscription. Puis, avant ou en phase avec la seconde impulsion d'inscription IS2, une impulsion positive est appliquée par rapport à la valeur VX0 qui représente le potentiel de référence V0 ainsi que la première tension de référence propre au circuit 8, impulsion positive qui constitue une impulsion de masquage IM1 et qui pendant sa durée confère à la tension VX la valeur +VX.
Il est à remarquer que les compensations de différences de potentiel opérées au niveau de la tension appliquée aux électrodes colonnes X1 à X6, comme ci-dessus décrites, sont particulièrement avantageuses sur le plan de la réduction de la puissance capacitive (du fait notamment qu'elles conduisent à une forte réduction de l'amplitude des impulsions de masquage) car la capacité vue par les impulsions distribuées sur les colonnes X1 à X6, est beaucoup plus importante que celle rencontrée sur les électrodes lignes Y1 à Y6.
Bien entendu, la réduction d'amplitude des impulsions d'adressage IE, IS peut aussi être compensée en combinant l'amplitude des paliers supplémentaires avec l'amplitude des créneaux de confirmation.
Cette description du procédé de l'invention et des moyens utiles à sa mise en oeuvre, a été faite en référence à un PAP alternatif utilisant seulement deux électrodes croisées pour définir une cellule, mais l'invention s'applique cependant à tous les types de PAP alternatif y compris ceux du type dit "à entretien coplanaire" Dans ce dernier type de PAP en effet, les problèmes liés à l'amplitude des impulsions d'adressage sont les mêmes, et les solutions décrites ci-dessus s'appliquent d'une même manière car, l'adressage s'effectue à l'aide de deux électrodes croisées dont l'une reçoit des signaux d'entretien, comme décrit ici.

Claims (25)

  1. Procédé de commande d'adressage d'un panneau à plasma alternatif comportant au moins un réseau d'électrodes lignes (Y1 à Y6), croisé avec au moins un réseau d'électrodes colonnes (X1 à X6), des cellules (C1 à C36) étant formées aux intersections des électrodes lignes et colonnes, ledit procédé consistant à appliquer à toutes les électrodes lignes des signaux d'entretien (SE, SE') faits d'une succession de créneaux (9, 10) établis avec une période (P1 à P4) donnée par rapport à un potentiel de référence (V0) appliqué aux électrodes colonnes, chaque période pouvant constituer un cycle d'adressage comportant au moins un adressage du type semi-sélectif et au moins un adressage du type sélectif, chaque type d'adressage consistant à appliquer à au moins une électrode ligne (Y1 à Y6) sélectionnée une impulsion d'adressage (lE, IS) dont la tension s'ajoute à une tension de ligne (V0, V1, V2, V6) déjà présente sur cette électrode, en vue d'appliquer aux bornes de cellules (C1 à C36) formées par cette électrode sélectionnée une tension d'adressage (V4,VA) de valeur donnée correspondant à l'adressage à effectuer, le procédé étant caractérisé en ce que pour au moins l'un des deux types d'adressage, l'impulsion d'adressage a une amplitude inférieure à celle qui convient à obtenir la tension d'adressage requise, et en ce que pour obtenir ladite tension d'adressage (V4, VA), il consiste en outre soit à modifier le potentiel de référence (V0, -VX) appliqué aux électrodes colonnes (X1 à X6), soit à modifier la tension de ligne (V0, V1, V2) déjà présente sur l'électrode ligne sélectionnée quand l'impulsion d'adressage est appliquée, ou bien encore à modifier cette dernière tension de ligne ainsi que le potentiel de référence appliqué aux électrodes colonnes.
  2. Procédé suivant la revendication 1, caractérisé en ce que les adressages semi-sélectif et sélectif consistent respectivement en des effacements et des inscriptions de cellules (C1 à C36).
  3. Procédé suivant l'une des revendications précédentes, caractérisé en ce qu'il consiste à superposer aux signaux d'entretien (SE) durant une période (P1) de ces derniers, au moins un palier de tension dit palier supplémentaire (PS1, PS2), de manière à constituer une base de tension dite base d'adressage (b1; b2) sur laquelle est superposée au moins une impulsion d'adressage (IS, IE).
  4. Procédé suivant la revendication 3, caractérisé en ce que les paliers supplémentaires (PS1, PS2) sont des paliers de tension positive ou négative ajoutés aux signaux d'entretien (SE).
  5. Procédé suivant l'une des revendications précédentes, les signaux d'entretien (SE) étant formés de créneaux négatifs (9) et positifs (10), le procédé est caractérisé en ce qu'il consiste à former une base de tension d'adressage d'inscription (b2) avec un créneau (9, 10), et de superposer sur cette base d'adressage (b2) une impulsion d'adressage consistant en une impulsion dite d'inscription (IS).
  6. Procédé suivant l'une des revendications 3 à 5, caractérisé en ce qu'il consiste à établir entre deux créneaux (9, 10) consécutifs un palier intermédiaire (5) ayant une tension (V0) inférieure à la tension (V1, V2) des créneaux, et à ajouter audit palier intermédiaire (5) un palier supplémentaire (PS1) afin de constituer une base d'adressage d'effacement (b1), puis à superposer à cette base d'effacement une impulsion d'adressage consistant en une impulsion d'effacement (IE).
  7. Procédé suivant la revendication précédente, caractérisé en ce que le palier intermédiaire (5) servant à former une base d'effacement (b1) est établi entre un créneau négatif (9) suivi d'un créneau positif (10).
  8. Procédé suivant la revendication 6, caractérisé en ce que le palier intermédiaire (5') servant à former une base d'effacement (b1') est établi entre un créneau positif (9') suivi d'un créneau négatif (10'a).
  9. Procédé suivant l'une des revendications précédentes, caractérisé en ce que les paliers supplémentaires (PS1) ajoutés sur des créneaux (10, 10a), sont superposés à ces derniers après un instant (td), où survient une décharge dite d'entretien (Id).
  10. Procédé suivant la revendication précédente, caractérisé en ce que les paliers supplémentaires formés sur des créneaux (10) sont supprimés sensiblement à la fin de ces créneaux.
  11. Procédé suivant l'une des revendications 3 à 10, caractérisé en ce qu'il consiste à superposer plusieurs impulsions d'adressage (IS1, IS2, .., Isn) sur une même base d'adressage (b1, b2).
  12. Procédé suivant l'une des revendications précédentes, caractérisé en ce que les paliers supplémentaires formés sur des créneaux englobent la totalité du ou des impulsions-d'adressage d'une électrode ligne sélectionnée.
  13. Procédé suivant l'une des revendications 6 à 12, caractérisé en ce que les paliers supplémentaires (PS1) servant à constituer une base d'effacement (b1), ont une amplitude (V6) égale ou supérieure à la différence entre une tension dite d'effacement (V4) et l'amplitude (V3) des impulsions (lE) d'effacement.
  14. Procédé suivant l'une des revendications 5 à 13, caractérisé en ce que les paliers supplémentaires (PS2) servant à constituer une base d'inscription (b2), ont une amplitude (V6) égale ou supérieure à la différence entre une tension dite d'inscription (VA) et une valeur de tension formée par la somme de la tension (V2) d'un créneau positif (10) et de l'amplitude (V5) d'une impulsion d'inscription (IS).
  15. Procédé suivant l'une des revendications 6 ou 7, caractérisé en ce que le palier intermédiaire (5) est à la même tension que le potentiel de référence (V0).
  16. Procédé suivant l'une des revendications précédentes, les signaux d'entretien (SE) étant élaborés par au moins un amplificateur d'entretien (A1, A2) puis appliqués à un circuit de commande ligne (6, 7) pour être distribués aux électrodes lignes (Y1 à Y6), caractérisé en ce que les paliers supplémentaires (PS1, PS2) sont superposés aux signaux d'entretien (SE) avant d'être appliqués au circuit de commande ligne (6,7).
  17. Procédé suivant la revendication précédente, caractérisé en ce qu'il consiste à distribuer les signaux d'entretien (SE) aux électrodes ligne à l'aide d'au moins deux circuits de commande ligne (2, 3), et à appliquer des signaux d'entretien (SE) avec paliers supplémentaires (PS1, PS2) superposés seulement à celui des circuits de commande (6,7) qui commande une électrode ligne (Y1 à Y6) pour laquelle un adressage est en cours.
  18. Procédé suivant l'une des revendications précédentes, caractérisé en ce que pour au moins un des types d'adressage, il consiste à modifier le potentiel de référence (V0) appliqué aux électrodes colonne (X1 à X6) en synchronisme avec les impulsions d'adressage (IS1,IE), en superposant audit potentiel de référence des impulsions dites de confirmation (30, 31), ayant une polarité opposée à celles des impulsions d'adressage.
  19. Procédé suivant la revendication 18, caractérisé en ce que pour l'adressage de type sélectif, il consiste à superposer audit potentiel de référence (V0) soit une impulsion de confirmation (30, 31), soit une impulsion de masquage (IM1) de polarité opposée à celle de l'impulsion de confirmation.
  20. Procédé suivant l'une des revendications 18 ou 19, caractérisé en ce que les impulsions de confirmation (30, 31) ont une amplitude égale ou supérieure à une différence entre la tension d'adressage (VA, V3) et la tension qui sur l'électrode ligne (Y1 à Y6) sélectionnée résulte de l'application de l'impulsion d'adressage (IS,IE).
  21. Procédé suivant l'une des revendications 18 à 20, caractérisé en ce que le potentiel de référence (V0) appliqué à chaque électrode colonne (X1 à X6) est délivré par un circuit de commande colonne (8) ayant n sorties (SY1 à SY6), chaque sortie étant capable de délivrer des impulsions négatives (30, 31) et des impulsions positives (IM1) par rapport au potentiel de référence (V0).
  22. Procédé suivant l'une des revendications 18 à 20, caractérisé en ce que le potentiel de référence (V0) appliqué à chaque électrode colonne (X1 à X6) est délivré par un circuit de commande colonne (8) ayant n sorties (SY1 à SY6), chaque sortie étant capable de délivrer des impulsions négatives (30, 31) et des impulsions positives (IM1) par rapport au potentiel de référence (V0), et en ce que l'un ou l'autre de ces deux types d'impulsion résulte d'une modification d'une tension de référence (V0, VX0,VX) propre au fonctionnement du circuit de commande colonne (8),
  23. Panneau à plasma de type alternatif mettant en oeuvre le procédé suivant l'une quelconque des revendications 1 à 22, comportant au moins un réseau d'électrodes lignes (Y1 à Y6) croisé avec au moins un réseau d'électrodes colonnes (X1 à X6), un dispositif de gestion colonne (3) relié aux électrodes colonne, un dispositif de gestion ligne (2) comportant au moins un amplificateur d'entretien (A1, A2) délivrant des signaux d'entretien (SE) appliqués aux électrodes ligne (Y1 à Y6) par l'intermédiaire d'un circuit de commande ligne (6, 7), des cellules (C1 à C36) étant formées aux intersections des électrodes lignes et colonne, des impulsions d'adressage (IE, IS) d'un type semi-sélectif et d'un type sélectif étant superposées aux signaux d'entretien (SE) afin d'appliquer aux bornes de cellules sélectionnées une tension d'adressage (V4, VA) ayant une valeur donnée en fonction du type d'adressage à effectuer, caractérisé en ce que pour au moins un des deux types d'adressage, le dispositif de gestion ligne (2) ou le dispositif de gestion colonne (3) ou les deux dispositifs (2, 3) comportent des moyens (A1', A2', 15 et I'1, I'2, I'3) pour créer une tension qui s'ajoute à celle résultant de la superposition d'une impulsion d'adressage (IE, IS) sur les signaux d'entretien (SE).
  24. Panneau à plasma suivant la revendication 23, caractérisé en ce que le dispositif de gestion ligne (2) comporte un circuit de superposition (15) permettant de superposer des paliers supplémentaires (PS1, PS2) sur les signaux d'entretien (SE).
  25. Panneau à plasma suivant la revendication 24, caractérisé en ce que l'amplificateur d'entretien (A1, A2) coopère avec le circuit de superposition (15) pour superposer les paliers supplémentaires (PS1, PS2) sur les signaux d'entretien (SE) avant d'appliquer ces derniers au circuit de gestion ligne (2).
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