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DE3040493C2 - Verfahren zum lötflußmittelfreien Anlöten einer Glasfläche an eine Metallfläche - Google Patents

Verfahren zum lötflußmittelfreien Anlöten einer Glasfläche an eine Metallfläche

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Publication number
DE3040493C2
DE3040493C2 DE19803040493 DE3040493A DE3040493C2 DE 3040493 C2 DE3040493 C2 DE 3040493C2 DE 19803040493 DE19803040493 DE 19803040493 DE 3040493 A DE3040493 A DE 3040493A DE 3040493 C2 DE3040493 C2 DE 3040493C2
Authority
DE
Germany
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layer
nickel
glass
thin
soldering
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
DE19803040493
Other languages
English (en)
Other versions
DE3040493A1 (de
Inventor
James Frank Aurora Ohio Nejedlik
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Babcock and Wilcox Co
Original Assignee
Babcock and Wilcox Co
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Babcock and Wilcox Co filed Critical Babcock and Wilcox Co
Publication of DE3040493A1 publication Critical patent/DE3040493A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE3040493C2 publication Critical patent/DE3040493C2/de
Expired legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/50Assembly of semiconductor devices using processes or apparatus not provided for in a single one of the groups H01L21/18 - H01L21/326 or H10D48/04 - H10D48/07 e.g. sealing of a cap to a base of a container
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03CCHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
    • C03C27/00Joining pieces of glass to pieces of other inorganic material; Joining glass to glass other than by fusing
    • C03C27/04Joining glass to metal by means of an interlayer
    • C03C27/042Joining glass to metal by means of an interlayer consisting of a combination of materials selected from glass, glass-ceramic or ceramic material with metals, metal oxides or metal salts
    • C03C27/046Joining glass to metal by means of an interlayer consisting of a combination of materials selected from glass, glass-ceramic or ceramic material with metals, metal oxides or metal salts of metals, metal oxides or metal salts only

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Description

Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zum lötflußmittelfreien Anlöten einer Glasfläche an eine Metallfläche mittels eines Lötmittels, wobei die Glasfläche und die Metallfläche jeweils zunächst mit einer dünnen Chromschicht überzogen werden, auf die eine lötbare Schicht aufgebracht wird, welche mit dem Lötmittel verbunden wird. bO
In elektronischen Druck-Meßwertumformern, bei denen druckempfindliche Silicium-Chips verwendet werden, besteht ein Problem darin, den jeweiligen Silicium-Chip an einem korrosionsbeständigen Metallgehäuse, wie an einem Gehäuse aus rostfreiem Stahl, hi anzubringen. Der betreffende Silicium-Chip und das Gehäuse aus rostfreiem Stahl des Meßwertumformers weisen verschiedene Wärmeausdehnungskoeffizienten auf, was zu einem Wärmebruch und zum Reißen des Druckfühler-Silicium-Chips führen kann, wenn eine direkte Verbindung mit dem Gehäuse aus dem rostfreien Stahl erfolgt und wenn im Betriebstemperaturbereich des Meßwertumformers gearbeitet wird (-40°Cbis+121°C).
Bei den bisher bekannten Verbindungsverfahren wurde ein Halter aus einer Nickel-Eisen-Legierung zunächst direkt an dem aus dem korrosionsbeständigen Metall bestehenden Gehäuse des Druck-Meßwandlers bei einer Temperaturart angelötet, die die maximal zulässigen Temperaturen des jeweils zu verwendenden Silicium-Chips oder irgendeines Glas-Chip-Halters überstiegen haben. Der Nickel-Eisen-Halter ist sowohl mit dem Gehäuse aus rostfreiem Stahl als auch mit dem Glas-Halter kompatibel, und zwar im Hinblick darauf, daß er ein Material enthält, welches den Zwischen-Wärmeausdehnungskoeffizienten aufweist, der zwischen dem des jeweiligen Silicium-Chips und dem des Gehäuses aus rostfreiem Stahl liegt. Nachdem eine feste Verbindung zwischen dem Gehäuse aus rostfreiem Stahl und dem Nickel-Eisen-Halter erzielt war, wurde sodann der Glas-Halter mit dem daran befestigten Silicium-Chip an dem Nickel-Eisen-Halter bei einer Temperatur (2210C) angelötet, die unterhalb der maximal zulässigen Temperatur des Glas-Halters und des Silicium-Chips liegt, wobei ein eutektisches Reinigungs-Lötmittel mit einem eutektischen Punkt bei etwa 221°C verwendet wurde. Um durch dieses Lötverfahren eine gute Abdichtung zu erzielen, hat es sich als wünschenswert herausgestellt, die Verbindungsfläche des Glashalters zuerst mit Chrom- und Goldschichten zu metallisieren und außerdem eine Chrom- und Goldschicht auf der Verbindungsoberfläche des Nickel-Eisen-Halters aufzubringen.
Das Chrom ist sowohl mit dem Glas als auch mit der Metalloberfläche kompatibel; es bildet eine gute Verbindung mit diesen Materialien. Das mit der Chromoberfläche verknüpfte Problem besteht jedoch darin, daß das Chrom durch das Lötmittel nicht gleichmäßig benetzt wird; vielmehr neigt das Lötmittel dazu, sich auf der Chromoberfläche gewissermaßen zusammenzuballen und intermittierend Berührungspunkte zu bilden, an denen eine Lötverbindung hergestellt wird. Demgemäß ist eine sehr schlechte Verbindung möglich. Die das Chrom überziehende Goldschicht zeigt zwar eine Vo'vemetzung, neigt jedoch zur Auflösung und zur Bildung von intermetallischen Verbindungen mit dem Zinn im Lötmittel. Dadurch wird der Zusammenhalt der Verbindung wieder verschlechtert. In gewissen Fällen, in denen die Goldschicht dünn ist, neigt das Gold zur vollständigen Auflösung, wodurch die Chromschicht unbedeckt zurückbleibt, an der eine Schicht-Anlötung nahezu unmöglich ist, und zwar aufgrund der schlechten Benetzung des Chroms.
Generell können Lötverbindungen zwar durch Verwendung von Flußmitteln verbessert werden. Aufgrund der Empfindlichkeit der zu verwendenden Silicium-Chip-Fühler würde jedoch die Verwendung solcher Flußmittel Reststoffe zurücklassen, welche die Betriebsempfindlichkeit der betreffenden Fühler verschlechtern und beeinträchtigen wurden.
Es ist nun zwar auch schon bekannt (DE-OS 27 05 568), auf miteinander zu verlötenden Flächen von Substraten aus Glas. Keramik. Kunststoff oder dergleichen eine Reihe von Schichten aufzubringen, und zwar zunächst einen sogenannten Haftvermittler aus /. B.
Chrom und eine diesem Haftvermittler überlagerte Schicht aus einem lötfähigen Metall, beispielsweise aus Kupfer, welche von einer Lötschicht überzogen ist. Hierdurch werden jedoch nicht die Schwierigkeiten beseitigt, die oben aufgezeigt worden sind.
Es ist ferner eine Vorrichtung bekannt (US-PS 32 05 855), die zur Herstellung von elektrischen Bauelementen dient und bei der dünne Filmschichten auf Substraten beispielsweise aus Glas abgelagert werden. In diesem Zusammenhang ist es zwar auch bereits bekannt, daß Chrom gut an Glas haftet und daß andere Metalle, wie Kupfer, Gold und Silber leicht lötbar sind, jedoch nicht so gut an Glas haften. Über irgendwelche Maßnahmen im Hinblick auf das Anlöten einer Glasfläche an eine Metallfläche ist in diesem Zusammenhang jedoch nichts bekannt
Es ist schließlich auch schon bekannt (Zeitschrift »Glas-Email-Keramo-Technik«, (1968), 162-167), auf eine mit einer Kupferfläche zu verbindende Glasfläche zunächst eine Nickelschicht aufzubringen. Es hat sich jedoch gezeigt, daß diese Maßnahme allein nicht genügt, um eine Glasfläche an eine Metallfläche sicher anlöten zu können.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, einen Weg zu zeigen, wie auf relativ einfache Weise ein lötflußmittelfreies Anlöten einer Glasfläche an eine Metallfläche mittels eines Lötmittels erfolgen kann.
Gelöst wird die vorstehend aufgezeigte Aufgabe ausgehend von einem Verfahren der eingangs genannten Art erfindungsgemäß dadurch, daß als lötbare w Schicht auf die Oberfläche der die Glasfläche überziehenden Chromschicht eine von dem Lötmittel benetzbare dünne Nickelschicht aufgebracht wird, daß die Oberfläche der dünnen Nickelschicht mit einer das Aussetzen der Nickelschicht gegenüber der Atmosphä- s> re und damit eine Oxidation verhindernden dünnen Schicht aus einem nicht-oxidierenden Material überzogen wird, daß auf die die Metallfläche überziehende dünne Chromschicht eine eine leichte Benetzung hervorrufende lötbare oxidfreie Schicht aufgebracht ■"' wird, daß die eine leichte Benetzung hervorrufende lötbare Schicht der Metallfläche mit einem nicht-oxidierenden Material überzogen wird und daß die mit den verschiedenen Schichten überzogene Glasfläche mittels des Lötmittels an der mit den verschiedenen Schichten ->> überzogenen Metallfläche angelötet wird.
Die Erfindung bringt den Vorteil mit sich, daß insgesamt auf relativ einfache Weise e;n sicheres lötflußmittelfreies Anlöten einer Glasfläche an einer Metallfläche mittels eines Lötmittels erreicht ist. 'l0
Zweckmäßige Weiterbildungen des Verfahrens gemäß der Erfindung ergeben sich aus den Unteransprüchen.
Anhand einer Zeichnung wird die Erfindung nachstehend an einem bevorzugten Ausführungsbeispiel näher '"' erläutert.
Die Figur zeigt in einer auseinandergezogenen Darstellung die Halteranordnung eines druckempfindlichen Silicium-Chips.
Wie aus der Figur ersichtlich ist, enthält die b0 Halteranordnung 14 einen rohrförmigen Halter 30 aus Borsilikatglas. Bezüglich dieses Materials hat sich herausgestellt, daß es einen Temperaturausdehnungskoeffizienten aufweist, der mit jenem des Silicium-Chips 20 im normalen Betriebsteniperaturbereich der meisten "'"' elektronischen Druck-Meßwertumlormci ( — 40 C bis + 121'"C) kompatibel ist. Hm finde des rohrförmigen Halters 30 ist dadurch abgedichtet, daß aiii diesem Rohrende der Silicium-Chip 10 aufgebracht ist, und zwar durch Verwendung irgendeiner Anzahl bekannter Klebstoffe und Bindemittel. Das gegenüberliegende Ende des rohrförmigen Halters 30 wird dann mit einem metallischen Überzug versehen, um eine später zu bildende feste Verbindung mit einem 39—42% Nickel-Eisen-Halter 32 der Halteranordnung 14 zu ermöglichen, wie dies weiter unten noch näher beschrieben wird.
Das Überziehen des aus Glas bestehenden rohrförmigen Halters 30 mit einem Metallüberzug umfaßt das Niederschlagen einer dünnen Chromschicht 34 in einer Dicke zwischen 0,10 bis 0,15 μΐη durch Aufdampfen von Chrom in einem Vakuum oder in einer Schutzgasatmosphäre auf das rohrförmige Teil 30. Das Teil 30 wird derart abgedeckt, daß der Niederschlag lediglich an dem dem Fühler 10 gegenüberliegenden Ende des Teiles 30 auftritt Die Chromschicht wird dann mit einer dünnen Nickelschicht 35 in einer Dicke zwischen 0,12 bis 0,40 μπι überzogen, und zwar durch Aufdampfen von Nickel auf die Chromoberfläche. Ist dieser Vorgang erfolgt, so folgt dem vorhergehenden Vorgang das Aufdampfen einer Goldschicht 36 in einer Dicke zwischen 0,12 bis 0,40 μηι im Vakuum oder in einer Schutzgasatmosphäre auf die Nickelschicht.
Um eine Kompatibilität der lötfähigen Oberflächen sowohl des Glashalters 30 als auch des Nickel-Eisen-Halters 32 zu erzielen, wird der Nickel-Eisen-Halter 32 außerdem zuerst mit einer dünnen Chromschicht 37 überzogen, der eine Nickelschicht 39 folgt, woraufhin schließlich eine Goldschicht 38 folgt. Die Aufbringung der Schichten erfolgt durch Aufdampfen von Chrom, Nickel und Gold im Vakuum oder in einer Schutzgasatmosphäre in denselben Dickenbereichen, die bezüglich des Glashalters 30 spezifiziert worden sind.
Obwohl Chrom verwendet wird, um gleiche Oberfläche zu bilden, kann Nickel als metallischer Überzug direkt auf den Nickel-Eisen-Halter 32 aufgebracht werden, wodurch die Forderung nach der Chromschichi 37 beseitigt ist.
Um den metallisch überzogenen rohrförmigen Halter 30 wirksam mit dem Halter 32 zu verbinden, hat es sich herausgestellt, daß ein eutektisches Reinigungslötmittel 40 mit etwa 96,5% Zinn und 3,5% Silber am wirksamsten ist.
Das Verlöten der beiden metallisierten Oberflächen erfolgt ohne die Verwendung irgendeines Flußmittels, da die Goldschichten 36 und 39 ihrerseits keiner Oxidation ausgesetzt sind, welche die Verwendung eines Lötflußmittels erforderlich machen würde. Die Goldschichten 36 und 39 sind außerdem Schutzschichten, welche die metallisierten Nickeloberflächen 35 und 39 daran hindern, der Atmosphäre ausgesetzt zu werden, wodurch das Nickel oxydieren würde und wodurch die Verwendung eines Lötflußmittels in irgendeinem nachfolgenden Lötvorgang erforderlich wäre. Die Notwendigkeit bezüglich der Nickelschichten 35 und 39 ergibt sich aus deren hoher Benetzbarkeit für das Lötmittel im Gegensatz zu der Chromschicht, die nicht benetzt wird. Diese Eigenschaft von Nickel ermöglicht, die gesamte Verbindungsoberfläche ohne weiteres durch das Lötmittel benetzen zu können, wodurch eine feste Verbindung erzielt wird. Dieser Aspekt der hohen Benetzbarkeit von Nickel bringt den Vorteil mit sich, daß die unerwünschte Oxydation von Nickel dadurch beseitigt ist, daß die schützenden Goldschichten 36 und 58 vorgesehen sind. Obwohl die Goldschichten 36 und ?8 sogar eine i."Jte BeneS/barkeit für das Lötmittel mit
sich bringen, neigt das Gold, wie bereits erwähnt, dazu, intermetallische Verbindungen mit dem Zinn in dem eutektischen Lötmittel zu bilden, die die Integrität der hergestellten Lötverbindung verschlechtern. Die Chromschicht 34 ist für den Glashalter 30 erforderlich, da die Nickelschicht 35 nicht direkt als metallischer Überzug auf das Glas aufgebracht werden kann, während sie allerdings auf das Chrom als metallischer Überzug aufgebracht werden kann. Wie weiter oben bereits ausgeführt, kann die Nickelschicht 39 als metallischer Überzug direkt auf den Nickel-Eisen-Halter 32 aufgebracht werden.
Gemäß der Erfindung wird also ein druckempfindlicher Silicium-Chip indirekt an einem aus rostfreiem Stahl bestehenden Gehäuse eines elektronischen Druck-Meßwertumsetzers durch eine Zwischen-Halteanordnung befestigt. Diese indirekte Befestigung des Silicium-Chips verhindert das Auftreten eines Warmrisses des Silicium-Chips infolge unterschiedlicher Wärmeausdehnung des aus rostfreiem Stahl bestehenden Gehäuses und des Silicium-Chips. Die Zwischenhalteranordnung enthält ein Borsilikatglasrohr, an dem der Silicium-Chip befestigt ist und das mittels eines eutektischen Legierungs-Lötmittels an einem Halter aus einer Nickel-Eisen-Legierung angelötet ist. Das Anlöten des Glasrohres an dem Nickel-Eisen-Halter erfolgt ohne die Verwendung eines Flußmittels aufgrund der Verwendung von auf beiden Teilen gebildeten Schichten aus Chrom, Nickel und Gold.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen

Claims (6)

1 Patentansprüche:
1. Verfahren zum lötflußmittelfreien Anlöten einer Glasfläche (30) an eine Metallfläche (32) mittels eines Lötmittels (40), wobei die Glasfläche (30) und die Metallfläche (32) jeweils zunächst mit einer dünnen Chromschicht (34 bzw. 37) überzogen werden, auf die eine lötbare Schicht (35 bzw. 39) aufgebracht wird, welche mit dem Lötmittel (40) verbunden wird, dadurch gekennzeichnet, daß als lötbare Schicht auf die Oberfläche der die Glasfläche (30) überziehenden Chromschichi (34) eine von dem Lötmittel (40) benetzbare dünne Nickelschicht (35) aufgebracht wird,
daß die Oberfläche der dünnen Nickelschicht (35) mit einer das Aussetzen der Nickelschicht (35) gegenüber der Atmosphäre und damit e'ne Oxidation verhindernden dünnen Schicht (36) aus einem nicht-oxidierenden Material überzogen wird,
daß auf die die Metallfläche (32) überziehende dünne Chromschicht (37) eine eine leichte Benetzung hervorrufende lötbare oxidfreie Schicht (39) aufgebracht wird,
daß die eine leichte Benetzung hervorrufende lötbare Schicht (39) der Metallfläche (32) mit einem nicht-oxidierenden Material (38) überzogen wird
und daß die mit den verschiedenen Schichten (34,35, 36) überzogene Glasfläche (30) mittels des Lötmittels (40) an der mit den verschiedenen Schichten (37, 39, 38) überzogenen Metallfläche (32) angelötet wird.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Nickelschicht (35) mit Gold (36) überzogen wird.
3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die die Metallfläche (32) überziehende dünne Chromschicht (37) von einer dünnen Nickelschicht (39) überzogen wird, auf die eine dünne Goldschicht (38) aufgebracht wird.
4. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß das Löten mit einer eutektischen Zinn-Silber-Legierung durchgeführt wird.
5. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß als Metallfläche (32) eine Nickel-Eisen-Fläche verwendet wird.
6. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß als Glasfläche (30) die Fläche eines Borsilikatglases verwendet wird.
50
DE19803040493 1980-04-04 1980-10-28 Verfahren zum lötflußmittelfreien Anlöten einer Glasfläche an eine Metallfläche Expired DE3040493C2 (de)

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Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0095009A1 (de) * 1982-05-21 1983-11-30 W. Bloesch Ag Verfahren zur Herstellung eines verlötbaren Glasstücks
CH650375GA3 (de) * 1982-07-07 1985-07-31
CH652270GA3 (de) * 1983-05-19 1985-11-15
EP0630868B1 (de) * 1992-12-09 1997-03-05 Nippondenso Co., Ltd. Flussmittelloses lötverfahren
JP4664705B2 (ja) * 2005-03-04 2011-04-06 オリンパス株式会社 内視鏡の製造方法

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3205855A (en) * 1961-08-28 1965-09-14 Clifford M Ault Coating apparatus for producing electrical components
DE2705568A1 (de) * 1977-02-10 1978-08-17 Leybold Heraeus Gmbh & Co Kg Verfahren und vorrichtung zum aufbringen loetfaehiger schichten auf unterlagen

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JPS56145137A (en) 1981-11-11
DE3040493A1 (de) 1981-10-08
CA1148360A (en) 1983-06-21
JPS5849504B2 (ja) 1983-11-04

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