DE2308887C3 - Temperaturmeßverfahren und -einrichtung mit Speicherung der Meßwerte in einem temperaturisolierten Gefäß - Google Patents
Temperaturmeßverfahren und -einrichtung mit Speicherung der Meßwerte in einem temperaturisolierten GefäßInfo
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Description
Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zum Messen einer Temperatur, wobei der von einem
Temperaturfühler durch eine der jeweiligen Temperatur entsprechende Widerstandsänderung erzeugte
Meßwert analog-digital in einem temperaturisolierten Gefäß umgesetzt und danach in Halbleiterspeichern
gespeichert und nach Abschluß der Messung ausgelesen wird.
Ein derartiges Verfahren ist bereits in der DE-OS 02 394 vorgeschlagen worden. Jedoch wird dieses
Verfahren mit Hilfe von Thermistoren als Temperaturfühler durchgeführt wodurch sich eine nichtlineare
Meßcharakteristik ergibt und eine Kompensation zunächst erforderlich macht. Darüber hinaus besteht die
in der DE-OS 24 02 394 vorgeschlagene Meßeinrichtung aus einem relativ großen temperaturisolierten
Gefäß, was die Handhabung erschwert
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren der eingangs beschriebenen Art derart
durchzuführen, daß eine möglichst störungsfreie, sichere und exakte Messung möglich ist und die Temperaturmeßeinrichtung
selbst relativ kompakt ausgeführt werden kann.
Erfindungsgemäß wird dies dadurch erreicht daß eine mit der Temperatur lineare Widerstandsänderung
erzeugt wird sowie die analog-digitale Umsetzung
dadurch erfolgt, daß der Spannungsabfall im Temperaturfahler
mit einem digital einstellbaren Referenzspannungsabfall verglichen wird, und daß dem Binärzähler
so lange Zählimpulse zugeführt werden, bis die beiden
verglichenen Spannungsabfäile dadurch gleich groß geregelt worden sind, daß entsprechend den gezählten
Zählimpulsen vom Binärzähler der Referenzspannungsabfall eingestellt und dem Spannungsabfall am Temperaturfühler
gleichgemacht wird, sowie nach erfolgten Abgleichen der Zählerstand in die Halbleiterspeicher
eingegeben wird.
Hierbei ist es vorteilhaft, wenn die Stromversorgung
über die Analog-Digital-Umsetzung in gewissen Meßtakten erfolgt Durch das erfindungsgemäße Verfahren
kann die dazu erforderliche Schaltung raummäßig klein gehalten werden und benötigt relativ wenig Leistung, so
daß die maximale Betriebsdauer wegen der geringen Veriüstenergie bzw. geringen Eigenerwärmung der
eingebauten Schaltung groß ist Die binä." -kodierte
Einspeicherung der Meßwerte geschieht taktmäßig. Es ist daher eine Stromersparnis dadurch erreichbar, daß in
den Taktzwischenzeiten Teile der Meßanlage, z.B. unter anderem der Temperaturaufnehmer, abgeschaltet
werden. Durch die zeitweise Abschaltung des Temperaturaufnehmers
kann außerdem, sofern es sich um einen Temperaturmeßwiderstand handelt, dessen Eigenerwärmung
herabgesetzt werden. Selbstverständlich muß dabei Sorge getragen werden, daß Ein- und Ausschalten
keine zusätzlichen Störeffekte bewirken können.
Weiterhin ist es erfindungsgemäß von Vorteil, wenn die Temperaturmessung bei vollem Speicher abgeschaltet
wird. Somit erfolgt eine Blockierung, und bereits gespeicherte Meßwerte können nicht überschrieben
werden. Weiterhin ist es von Vorteil, wenn die im Meßwertspeicher beinhalteten digitalen Meßwerte
beim Auslesen im Speicher erhalten bleiben, indem sie vom Ausgang des Speichers zu dessen Eingang
zurückgeführt werden.
Das erfindungsgemäße Verfahren wird nach der Erfindung durch eine Temperaturmeßeinrichtung ausgeführt,
die aus einem thermisch isolierten Gefäß besteht, in dem eine mit einem Temperaturfühler
elektrisch verbundene Meß- und Speicherschaltung angeordnet ist, die aus einem Analog-Digital-Umsetzer,
einem Halbleiterspeicher sowie erforderlichen Hilfsschaltungen, wie Stromversorgung und Taktgeber,
besteht. Dabei ist diese Temperaturmeßeinrichtung dadurch gekennzeichnet, daß als Temperaturfühler ein
Platin-Meßwiderstand verwendet wird, der mit einer Konstant-Stromquelle verbunden und an einem Ein- so
gang eines Differenzverstärkers angeschlossen ist und der andere Eingang des Differenzverstärkers mit einem
temperaturunabhängigen Widerstand verbunden ist, der
an eine Parallelschaltung von Stromquellen ange-.chlossen ist, von denen eine Stromquelle einen konstanten
Strom liefert und die anderen Stromquellen an die Ausgänge eines Binärzählers gelegt sind und der
Eingang des Binärzählers über ein Gatter zum Steuern des Binärzählers mit dem Ausgang des Differenzverstärkers
verbunden ist. Weitere vorteilhafte Ausführun- to gen der erfindungsgemäßen Temperaturmeßeinrichtung
sind in den Ansprüchen 6 bis 11 enthalten. Die erfindungsgemäße Meßeinrichtung unterteilt sich demnach
praktisch in zwei getrennte Baugruppen, und zwar eine erste Baugruppe I1 die einen Analog-Digital-Um- «
setzer beinhaltet, der das analoge Signal des Temperaturaufnehmers
in ein digitales Signal umsetzt, einen digitalen Meßwertspeicher, in dem dieses Signal
binär-kodiert gespeichert wird, die für den Betrieb des
Analog-Digital-Umsetzers und des Meßwertspeichers erforderlichen Hilfsschaltungen (Taktgeber, Gatter und
ähnliches) sowie die zugehörige Stromversorgung, und eine zweite Baugruppe II, die diejenigen Sichaltelemente
umfaßt, die erforderlich sind, um nach Abschluß der Meßzeit Γ die im Meßwertspeicher digital gespeicherten
Meßwerte auszulesen und weiterzuverarbeiten. Diese zweite Baugruppe kann z.B. ein digitales
Anzeige- oder Registriergerät, aber auch einen
Digital-Analog-Umsetzer mit angeschlossenem analogen Registriergerät oder sonstige zur weiteren Datenverarbeitung
geeignete Schaltungen zuzüglich der jeweiligen Hilfsschaltungen (Gatter, Taktgeber und
ähnliches) sowie die Stromversorgungseinrichtung enthalten. Der Meßvorgang wird also auf zwei
Zeitabschnitte aufgeteilt Während der eigentlichen Meßzeit, Zeitabschnitt t, ist der Temperaturaufnehmer
an die Baugruppe I angeschlossen, und die von ihm gelieferten Temperaturmeßwerte werden im Meßwertspeicher
binär-kodiert gespeichert Später zu einem beliebigen Zeitpunkt nach Abschluß von Zeitabschnitt t
werden die Baugruppe I und die Baugruppen II elektrisch verbunden und der Meßwertspeicher der
Baugruppe I ausgelesen. Die gespeicherten digitalen Meßwerte können dann beispielsweise digital angezeigt
und registriert werden, sie können aber auch nach einer Digital-Analog-Umsetzung analog angezeigt und registriert
werden, und schließlich können sie auch weiteren datenverarbeitenden Systemen zugeführt werden.
Anhand des in den Zeichnungen dargestellten Ausführungsbeispieles wird die Erfindung näher erläutert
Es zeigt
A b b. 1 eine Kompensationsschaltung, bestehend aus Temperaturwiderstand Rt, Vergleichswiderstand Rv,
Verstärker V, dem durch einen Binär-Zähler gesteuerten Analog-Digital-Umsetzer und Hilfseinrichtungen,
Abb. 2 das Impulsdiagramm für Codierung und Meßwertspeicherung,
A b b. 4 den Zusammenbau von Baugruppe I mit dem Temperaturmeßwiderstand und der Konservendose.
Die Kompensationsschaltung (Abb. 1) besteht aus sechs geschalteten Stromquellen (T3... Ts) und zwei
konstanten Stromquellen Ti, T2. Der Temperatur-Meßwiderstand
Rr wird von dem konstanten Strom It der
Stromquelle 71 gespeist. Der temperaturunabhängige Widerstand Rv wird durch den Strom Iv, geliefert von
der konstanten Stromquelle Ti, und die von einem Binär-Zähler geschalteten Stromquellen T3... Γβ gespeist
Dabei dient der konstante Anteil /2 des Stromes
Iv zur beliebigen Einstellung des Kompensations- bzw. Bezugspunktes.
Zunächst sind die Stromquellen T3... 7J gesperrt und
der Binär-Zähler in Nullstellung; Zähltakte (ZT) und Minutentakt (MT) laufen (siehe auch Impulsdiagramm,
A b b. 2\ Liegt jetzt die Temperatur des Temperatur-Meßwiderstandes
/?rund damit sein Widerstandswert
oberhalb des eingestellten Bezugspunktes, so ist Ud
positiv und öffnet über den Verstärker Vdas Gatter d für den Zähltakt Der Zähltakt wird im Binär-Zähler
aufsummiert. Dabei steuert der Binär-Zähler über die Anschlüsse A...Fdie binär-bewerteten Stromquellen
T3... Τ» an. Infolgedessen ergibt sich am Widerstand Rv
eine treppenförmig ansteigende Spannung; der zugehö-
rige, ebenfalls treppenförmige Verlauf von Ud ist im Impulsdiagramm für die Annahme, daß der Abgleich
nach drei Zählimpulsen erzielt ist, eingezeichnet Sobald die Spannungen an Ar und Rν übereinstimmen, d. h. bei
Abgleich, wird Ud - 0. Es gilt:
daraus:
Rr
RVI
v'v
h '
Iy = I2 + OjIj
(1)
10
15
a, hat entweder den Wert 1 oder den Wert 0 und wird durch den Binär-Zählcr über die Anschlüsse A...F
gesteuert; /, ist durch Wahl der Widerstände R3... Ra
binär gewichtet Bei Abgleich, d. h. Ud — 0, wird Gi
gesperrt Der Zählerstand entspricht damit, wie Gleichung (3) zeigt, der Summe der zum Abgleich
erforderlichen gewichteten Ströme /, und damit der Temperaturdifferenz zwischen der Temperatur des
Temperatur-Meowiderstandes Rt und der durch h
eingestellten Bezugstemperatur. Die Kompensationsschaltung, zusammen mit Verstärker, Gatter, Zähler,
stellt also einen ADU dar, der das analoge Signal des Temperatur-Meßwiderstandes Λ7-in ein binär-codiertes
Signal an den Ausgängen A...F des Binär-Zählers
umwandelt
Die Ausgänge A...F des Binär-Zählers sind über
Umschaltgatterkombinationen Ga... Gf mit dem Meßwertspeicher
(A b b. 3) verbunden, der z. B. aus sechs parallelen Schieberegistern besteht Der Ausgang von
Gatter Gj der Kippschaltung G2/G3 liegt, von der
negativen Flanke des Minutentaktes MT angesteuert, auf positivem Potential. Bei Nullabgleich (Ud — 0)
entsteht an A V (Verstärker-Ausgang) eine negative Flanke, die über die Kippschaltung GJGu den
monostabilen Multivibrator GsZG7, und über G*, Gs, Gt
einen internen Speichertakt an den Meßwert-Speicher (Takt) gibt, der die Übernahme des gerade gemessenen
Temperaturwertes, d.h. des Zählerstandes, in den
Meßwert-Speicher bewirkt Da Gatter Gi (A b b. 1) nur für Up
> 0 öffnet werden nur Temperaturen oberhalb der Bezugstemperatur registriert
50
Ausleser, und Löschen des gespeicherten
Meßsignals
Das Auslesen des Meßwertspeichers in das Auswertegerät erfolgt über die Ausgänge A'... Fdurch Eingabe
von Impulsen, die vom Auswertegerät geliefert werden, über ESpt (externer Speichertakt) und Gt.
Das Löschen aller Speicherzellen geschieht beim Einschalten des Gerätes, indem der Eingang g\ des
Gatters G4, durch R und Cverzögert, positives Potential
erhält und somit der Meßwertspeicher (Takt) über Gr einige hundert Millisekunden Nullpotential hat
(Abb. 3).
Der Meßwertspeicher (Abb.3) besitzt mit den Dioden A bis A und dem Gatter Gt eine Schutzschaltung
gegen Oberlauf. Dabei wird ausgenutzt, daß bei vollem Speicher mindestens einer der Speicherausgänge
A'...F'positives Potential hat Dadurch erhält der
Eingang von G8 positives Potential. Der Ausgang von Gi sinkt auf Nullpotential, ebenfalls der Eingang gi des
Gatters Gi. Der monostabile Multivibrator GtIGi wird
gesperrt, so daß keine Impulse mehr zum Meßwertspeicher (Takt) gelangen, d. h. keine weiteren Meßwerte
übernommen werden.
Eine weitere Schutzschaltung, bestehend aus dem Transistor Tu und den Gattern G7, G8, G9 (A b b. 1)
verhindert, daß der Zähler zu arbeiten beginnt wenn der Temperatur-Meßwiderstand Rrnicht angeschlossen
ist Bei nicht angeschlossenem Rt wird der Transistor
Γη (Abb. 1) beim Einschalten der Meßeinrichtung
durchgeschaltet und stellt über G9 den Binär-Zähler auf
Nuii.
Soll anstelle eines Temperatur-Meßwiderstandes ein Thermoelement als Temperatur-Aufnehmer benutzt
werden, so muß lediglich ein Teil der Eingangsschaltung des Analog-Digital-Umsetzers so geändert werden, daß
auch in diesem Falle eine der Temperatur proportionale Spannungsänderung auftritt die dann durch Änderung
der Spannung am Widerstand Ry kompensiert werden muß. Im Analog-Digital-Umsetzer (Abb. 1) entfallen
die Bauelemente R1, Ti, RT. Die Differenz der von dem
an der Meßstelle befindlichen Thermoelement 77>rund
einem auf konstanter Temperatur befindlichen Thermoelement The gelieferten Thermospannungen wird
verstärkt und mit der Spannung am Widerstand Rv verglichen, d. h, es wird wiederum die Spannungsdifferenz
i/ogebildet
Ein Zusammenbau von Baugruppe I, Temperatur-Meßwiderstand
und einer Konservendose, wie er bei Autoklaven zur Temperaturmessung im Inneren von
Konservendosen Verwendung finden kann, muß eine Reihe von Punkten berücksichtigen. Die Konservendose
und das wärmeisolierte Gefäß sollen formstarr miteinander verbunden sein. Die Konservendose muß
trotz Einführung des Temperatur-Meßwiderstandes dicht sein. Die Verbindung zwischen Temperatur-Meßwiderstand
und wärmeisoliertem Gefäß muß dicht sein und eine gewisse Flexibilität besitzen. Die Temperatur
im Inneren der Konservendose darf durch das Einbringen des Temperatur-Meßwiderstandes nicht
wesentlich beeinflußt werden.
Ein Ausführungsbeispiel dieses Zusammenbaus zeigt A b b. 4. Konservendose 1 und wärmeisoliertes Gefäß 2
sind axial zueinander angeordnet und durch die Verspannvorrichtung 4 fest miteinander verbunden. Der
gegenseitige Abstand ist durch ein geeignetes Distanzstück 3 vorgegeben. Als Temperatur-Meßwiderstand ist
ein giasüberzogener Drahtwickei 5 vorgesehen, der auf
einen Glasstiel 6 aufgeschmolzen ist Der Glasstiel 6 ist durch ein mit einer Dichtung 9 versehenes Loch im
Deckel der Konservendose eingeführt Das freie Ende des Glasstieles ist in eine Metallhülse 7 eingeschmolzen,
deren unteres Ende an einem Metallbalg 8 angeflanscht ist, um eine gewisse Flexibilität der Verbindung zu
gewährleisten. Das freie Ende des Metallbalges ist mit einem SpezialStecker versehen, der mit der zugehörigen
Steckdose auf dem Deckel des wärmeisolierten Gefäßes 2 eine druckwasserdichte Steckverbindung 11 bildet
Vom Temperatur-Meßwiderstand führen die elektrischen Anschlußleitungen 10 — je nach der gewählten
elektrischen Meßschaltung können es bis zu vier Leitungen sein — zum Eingang der Baugruppe I im
Inneren des wärmeisolierten Gefäßes 2. Das wärmeisolierte Gefäß 2 besteht z. B. aus einem Metallzylinder mit
eingebautem Dewar-Gefäß.
Claims (11)
1. Verfahren zum Messen einer Temperatur, wobei der von einem Temperaturfühler durch eine
der jeweiligen Temperatur entsprechende Wider-Standsänderung erzeugte Meßwert analog-digital in
einem temperaturisolierten Gefäß umgesetzt und danach in Halbleiterspeichern gespeichert und nach
Abschluß der Messung ausgelesen wird, dadurch
gekennzeichnet, daß eine mit der Temperatur lineare Widerstandsänderung erzeugt wird, sowie
die analog-digitale Umsetzung dadurch erfolgt, daß der Spannungsabfall im Temperaturfühler mit einem
digital einstellbaren Referenzspannungsabfall verglichen wird, und daß dem Binärzähler so lange
Zählimpulse zugeführt werden, bis die beiden verglichenen Spannungsabfälle dadurch gleich groß
geregelt worden sind, daß entsprechend den gezählten Zählimpulsen vom Binärzähler der Referenzspannungsabfall
eingestellt und dem Spannungsabfall am Temperaturfühler gleichgemacht wird, sowie nach erfolgtem Abgleichen der Zählerstand
in die Halbleiterspeicher eingegeben wird.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Stromversorgung für die Analog- 2s
Digital-Umsetzung in gewissen Meßtakten erfolgt
3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Temperaturmessung bei
vollem Speicher abgeschaltet wird.
4. Verfahren nach einem oder mehreren der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß die
im Meßwertspeicher beinhalteten digitalen Meßwerte beim Auslesen im Speicher erhalten bleiben,
indem sie vom Ausgang des Speichers zu dessen Eingang zurückgeführt werden.
5. Temperatur-Meßeinrichtung zur Durchführung des Verfahrens nach den Ansprüchen 1 bis 4,
bestehend aus einem thermisch isolierten Gefäß, in dem eine mit einem Temperaturfühler elektrisch
verbundene Meß- und Speicherschaltung angeordnet ist, die aus einem Analog-Digital-Umsetzer,
einem Halbleiterspeicher sowie erforderlichen Hilfsschaltungen wie Stromversorgung und Taktgeber
besteht, dadurch gekennzeichnet, daß als Temperaturfühler ein Platin-Meßwiderstand (Rt) verwendet
wird, der mit einer Konstant-Stromquelle (R\ Ti) verbunden und an einem Eingang eines Differenzverstärkers
(V) angeschlossen ist und der andere Eingang des Differenzverstärkers (V) mit einem
temperaturunabhängigen Widerstand (Rv) verbunden ist, der an eine Parallelschaltung von Stromquellen
(Ri T2, R3 T3 bis Rt T8) angeschlossen ist, von
denen eine Stromquelle (R^ Ti) einen konstanten
Strom (I2) liefert und die anderen Stromquellen (R3 T3 bis Rg Ts) an die Ausgänge (A, B, C, D, E, F)
eines Binärzählers gelegt sind, und der Eingang des Binärzählers über ein Gatter (G\) zum Steuern des
Binärzählers mit dem Auegang des Differenzverstärkers (V) verbunden ist.
6. Temperatur-Meßeinrichtung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß zwei weitere Eingänge
des Gatters (G\) mit Taktgeber (ZT-MT) für den Zähltakt und den Meßtakt verbunden sind.
7. Temperatur-Meßeinrichtung nach Anspruch 5 oder 6, dadurch gekennzeichnet, daß die Ausgänge
(A — F^des Binärzählers über Umschaltgatter-Kombinationen
(Ca— G^ mit Eingängen eines Meßwertspeichers
verbunden sind, dessen Ausgänge (A'-F') einerseits zum Anschluß eines Auswertgerätes
geeignet sind und andererseits an Eingängen der Umschaltgatter-Kombinationen (Ga-Cf) zurückgeführt
sind.
8. Temperatur-Meßeinrichtung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß ein Takteingang des
Meßwertspeichers mit einer Speichertaktschaltung verbunden ist, die aus einer von dem Differenzverstärker
^ und dem Meßtaktgeber (Mj) angesteuerten Kippschaltung aus zwei Gattern (G 2, G 3)
besteht, deren Ausgang über einen monostabilen Multivibrator (Gh, Gi) und über weitere Gatter (Ct,
G5, G1) an den Takteingang angeschlossen ist
9. Temperatur-Meßeinrichtung nach Anspruch 7 oder 8, dadurch gekennzeichnet daß die Ausgänge
(A'—F'Jdes Meßwertspeichers an eine Schutzschaltung
zum Abschalten der Messung bei vollem Speicher angeschlossen sind, wozu die Meßwertspeicher-Ausgänge
(A'-P^ über Dioden (D1-Ck)
an ein Gatter (Gt) gelegt sind, dessen Ausgang mit
einem Eingang des Gatters (Gj) der Multivibrator-Schaltung
(G6, G1) verbunden ist
10. Temperatur-Meßeinrichtung nach einem oder mehreren der Ansprüche 5 bis 9, dadurch gekennzeichnet
daß ein Rückstelleingang des Binärzählers mit einer Schutzschaltung zum Verhindern des
Meßvorganges bei nicht angeschlossenem Meßwiderstand (Ri) verbunden ist wozu die Konstantstromquelle
(Rt T\) auf die Basis eines Transistors (Tu) geschaltet ist dessen Kollektor mit einem
Gatter (Gi) verbunden ist dessen Ausgang am Rückstelleingang liegt sowie ein weiterer Eingang
des Gatters (G)) mit einem an den Kollektor ebenfalls angeschlossenen Verzögerungsglied (RC)
über ein Gatter verbunden ist
11. Temperatur-Meßeinrichtung nach einem oder
mehreren der Ansprüche 5 bis 10, dadurch gekennzeichnet daß das thermisch isolierte Gefäß
als Dewar-Gefäß ausgebildet ist
Priority Applications (7)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE2308887A DE2308887C3 (de) | 1973-02-23 | 1973-02-23 | Temperaturmeßverfahren und -einrichtung mit Speicherung der Meßwerte in einem temperaturisolierten Gefäß |
ES422752A ES422752A1 (es) | 1973-02-23 | 1974-01-30 | Un dispositivo de mediacion de la temperatura para tempera-turas ambiente elevadas. |
JP1704374A JPS5520178B2 (de) | 1973-02-23 | 1974-02-12 | |
IT48419/74A IT1008850B (it) | 1973-02-23 | 1974-02-19 | Dispositivo per misurare tempera ture ambientali elevate |
US444386A US3880007A (en) | 1973-02-23 | 1974-02-21 | Measuring temperature in a very-high temperature environment |
FR7406127A FR2219405B1 (de) | 1973-02-23 | 1974-02-22 | |
GB843974A GB1451545A (en) | 1973-02-23 | 1974-02-25 | Temperature measuring device for high ambient temperature conditions |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE2308887A DE2308887C3 (de) | 1973-02-23 | 1973-02-23 | Temperaturmeßverfahren und -einrichtung mit Speicherung der Meßwerte in einem temperaturisolierten Gefäß |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2308887A1 DE2308887A1 (de) | 1974-09-05 |
DE2308887B2 DE2308887B2 (de) | 1979-01-18 |
DE2308887C3 true DE2308887C3 (de) | 1985-08-08 |
Family
ID=5872787
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE2308887A Expired DE2308887C3 (de) | 1973-02-23 | 1973-02-23 | Temperaturmeßverfahren und -einrichtung mit Speicherung der Meßwerte in einem temperaturisolierten Gefäß |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US3880007A (de) |
JP (1) | JPS5520178B2 (de) |
DE (1) | DE2308887C3 (de) |
ES (1) | ES422752A1 (de) |
FR (1) | FR2219405B1 (de) |
GB (1) | GB1451545A (de) |
IT (1) | IT1008850B (de) |
Families Citing this family (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2279155A1 (fr) * | 1974-05-15 | 1976-02-13 | Continental Can Co | Dispositif autonome d'acquisition de donnees |
US4055166A (en) * | 1975-07-09 | 1977-10-25 | Hugh Walter Simpson | Apparatus for making surface temperature measurements on the human body |
US4133036A (en) * | 1976-02-26 | 1979-01-02 | Republic Steel Corporation | Method and system for monitoring a physical condition of a medium |
DE2635589C3 (de) * | 1976-08-07 | 1981-05-07 | Licentia Patent-Verwaltungs-Gmbh, 6000 Frankfurt | Verfahren zur Auswertung der Meßwerte von vorübergehend in Muffeln von Elektroherden mit geregelter Muffeltemperatur angeordneten Temperaturfühlern |
US4109527A (en) * | 1976-10-26 | 1978-08-29 | The Dow Chemical Company | Device for measuring pH and temperature of a liquid, which includes a memory |
GB2054997B (en) * | 1979-05-23 | 1984-01-18 | Suwa Seikosha Kk | Temperature detecting circuit |
GB2122390B (en) * | 1982-05-24 | 1985-07-24 | Michael Leonard Kelly | Electronic thermostat |
US4545690A (en) * | 1983-06-30 | 1985-10-08 | Beckman Instruments, Inc. | Temperature measurement probe for chemical reactions and method of use thereof |
DD230074A1 (de) * | 1984-12-20 | 1985-11-20 | Forsch Entwicklung Veb | Verfahren und vorrichtung zum erfassen von messwerten von physikalischen groessen |
DE3545215C1 (de) * | 1985-12-20 | 1986-11-06 | Didier-Werke Ag, 6200 Wiesbaden | Messwerterfassungseinrichtung |
JPH0771003B2 (ja) * | 1987-08-05 | 1995-07-31 | 株式会社東芝 | 冷蔵庫の制御装置 |
DE4219465C1 (de) * | 1992-06-13 | 1993-07-22 | Novokeram Max Wagner Gmbh, 8908 Krumbach, De | |
AT399612B (de) * | 1992-12-15 | 1995-06-26 | Sbm Schoeller Bleckmann Medizi | Messanordnung |
IT1265064B1 (it) * | 1993-05-17 | 1996-10-30 | Ansaldo Gie Srl | Gruppo integrato di misura temperatura con termocoppie |
ES2280988T3 (es) * | 2003-09-01 | 2007-09-16 | Siemens Aktiengesellschaft | Dispositivo de proteccion para componentes electronicos. |
DE102004049998A1 (de) * | 2004-10-14 | 2006-04-20 | Giesecke & Devrient Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zur visuellen Darstellung von Meßwerten |
CN111811676A (zh) * | 2020-06-05 | 2020-10-23 | 北京空间飞行器总体设计部 | 一种高精度分布式测温系统 |
CN114152278B (zh) * | 2021-10-20 | 2023-05-05 | 中国航发四川燃气涡轮研究院 | 一种无源lc温度-转速复合传感器及发动机轴承在线监测方法 |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2523471A (en) * | 1947-03-14 | 1950-09-26 | Republic Steel Corp | Molten metal temperature indicator |
US2793815A (en) * | 1952-08-05 | 1957-05-28 | Leeds & Northrup Co | Protective systems for electrical temperature indicators |
US3379063A (en) * | 1965-02-03 | 1968-04-23 | Inm Ind Corp | Temperature measuring apparatus |
DE1260524B (de) * | 1964-08-05 | 1968-02-08 | Barton Instr Corp | Verfahren und Einrichtung zur Umwandlung von Analogwerten in Digitalwerte |
US3410136A (en) * | 1966-08-15 | 1968-11-12 | Gearhart Owen Industries | Differential temperature well logging apparatus |
US3472074A (en) * | 1966-12-29 | 1969-10-14 | Ibm | Maximum thermometer for surface temperature measurements |
US3548661A (en) * | 1969-03-11 | 1970-12-22 | Philip Morris Inc | Electrical thermometer |
US3678751A (en) * | 1970-07-01 | 1972-07-25 | Carver A Mead | Thermometer probe |
DE2042047C3 (de) * | 1970-08-25 | 1975-01-09 | Siemens Ag, 1000 Berlin Und 8000 Muenchen | Temperaturmeßeinrichtung |
FR2130978A5 (de) * | 1971-03-29 | 1972-11-10 | Ass Ouvriers Instr Preci | |
BE782511A (fr) * | 1971-04-29 | 1972-08-16 | Teleprint Establishment | Appareil pour indiquer les temperatures de corps |
DE2129567B2 (de) * | 1971-06-15 | 1974-02-21 | Metrawatt Gmbh, 8500 Nuernberg | Schaltung zur linearisierten Messung einer physikalischen Größe |
-
1973
- 1973-02-23 DE DE2308887A patent/DE2308887C3/de not_active Expired
-
1974
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