DE10146752A1 - Optoelektronische Vorrichtung - Google Patents
Optoelektronische VorrichtungInfo
- Publication number
- DE10146752A1 DE10146752A1 DE10146752A DE10146752A DE10146752A1 DE 10146752 A1 DE10146752 A1 DE 10146752A1 DE 10146752 A DE10146752 A DE 10146752A DE 10146752 A DE10146752 A DE 10146752A DE 10146752 A1 DE10146752 A1 DE 10146752A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- optoelectronic device
- receiver
- frame
- mirror
- transmitter
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
- G01S7/00—Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00
- G01S7/48—Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00 of systems according to group G01S17/00
- G01S7/481—Constructional features, e.g. arrangements of optical elements
- G01S7/4817—Constructional features, e.g. arrangements of optical elements relating to scanning
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
- G01S17/00—Systems using the reflection or reradiation of electromagnetic waves other than radio waves, e.g. lidar systems
- G01S17/02—Systems using the reflection of electromagnetic waves other than radio waves
- G01S17/06—Systems determining position data of a target
- G01S17/42—Simultaneous measurement of distance and other co-ordinates
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
- G01S7/00—Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00
- G01S7/48—Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00 of systems according to group G01S17/00
- G01S7/481—Constructional features, e.g. arrangements of optical elements
- G01S7/4814—Constructional features, e.g. arrangements of optical elements of transmitters alone
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01V—GEOPHYSICS; GRAVITATIONAL MEASUREMENTS; DETECTING MASSES OR OBJECTS; TAGS
- G01V8/00—Prospecting or detecting by optical means
- G01V8/10—Detecting, e.g. by using light barriers
- G01V8/12—Detecting, e.g. by using light barriers using one transmitter and one receiver
- G01V8/14—Detecting, e.g. by using light barriers using one transmitter and one receiver using reflectors
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
- Radar, Positioning & Navigation (AREA)
- Remote Sensing (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- General Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Geophysics (AREA)
- Optical Radar Systems And Details Thereof (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
Die Erfindung betrifft eine optoelektronische Vorrichtung (1) zum Erfassen von Objekten (7) in einem Überwachungsbereich mit einem Sendelichtstrahlen emittierten Sender (3), einem Empfangslichtstrahlen (4) empfangenden Empfänger (5) sowie einer Auswerteeinheit (10) zur Auswertung der am Empfänger (5) anstehenden Empfangssignale. Nur die Sendelichtstrahlen (2) werden über einen Schwingungspegel periodisch in zwei Raumrichtungen abgelenkt, so dass diese auf der Oberfläche des Objekts (7) eine Abtastfläche (8) überstreichen. Zur Generierung eines Objektfeststellungssignals werden in der Auswerteeinheit (10) die Empfangssignale in Abhängigkeit der Ablenkposition des Schwingspiegels (6) ausgewertet.
Description
Die Erfindung betrifft eine optoelektronische Vorrichtung gemäß dem Ober
begriff des Anspruchs 1.
Derartige optoelektronische Vorrichtungen sind insbesondere als Lichttaster
ausgebildet, bei welchen der Sendelichtstrahlen emittierende Sender und der
Empfangslichtstrahlen empfangende Empfänger mit einer Ausweiteeinheit in
einem gemeinsamen Gehäuse untergebracht sind. Ein derartiger Lichttaster ist
aus der DE 35 13 671 bekannt. Die vom Sender emittierten Sendelichtstrahlen
sind auf ein Objekt gerichtet. Die von dem Objekt zurückreflektierten Emp
fangslichtstrahlen werden durch eine Empfangsoptik auf den Empfänger fokus
siert. Der Empfänger besteht aus einem Nahelement und einem Fernelement.
In der Auswerteeinheit wird insbesondere die Differenz der Empfangssignale
des Nah- und Fernelements gebildet und mit einem vorgegebenen Schwellwert
verglichen, welcher einer einen Tastbereich begrenzenden Tastweite entspricht.
Damit können Objekte innerhalb des Tastbereichs erkannt und von einem Hin
tergrund, der außerhalb des Tastbereichs liegt, unterschieden werden. Zur Ein
stellung der Tastweite werden die Empfangslichtstrahlen mittels eines Dreh
spiegels abgelenkt und zum Empfänger geführt. Dabei erfolgt die Spiegelver
stellung manuell durch einen Spindelantrieb. Die Einstellung des Spiegels er
folgt vor Inbetriebnahme des Lichttasters und bleibt während des anschließen
den Betriebs des Lichttasters erhalten. Befindet sich ein Objekt im Abstand der
eingestellten Tastweite, liegt der Empfangslichtfleck gerade zur Hälfte auf dem
Nah- und Fernelement. Die Einstellung der Tastweite kann durch Drehung des
Spiegels erfolgen.
Grundsätzlich erfolgt die Bewertung der Empfangssignale eines Lichttasters
mittels zweier Schwellwerte. Insbesondere wird auch das Differenzempfangs
signal eine Lichttasters mit einem Nah- und Fernelement mittels zweier
Schwellwerte bewertet, woraus ein binäres Schaltsignal abgeleitet wird. Über
schreitet das Differenzempfangssignal den oberen Schwellwert, so gilt das
Objekt als erkannt, das heißt das Schaltsignal nimmt den Schaltzustand "ein"
an. Bei Unterschreitung des unteren Schwellwerts nimmt das Schaltsignal den
Schaltzustand "aus" ein, das heißt ein Objekt gilt als nicht erkannt. Liegt das
Differenzempfangssignal innerhalb des Hysteresebereichs zwischen den beiden
Schwellwerten, so bleibt der jeweils aktuelle Schaltzustand des Schaltsignals
erhalten. Dadurch wird ein unerwünschter Wechsel des Schaltzustandes durch
kleine Empfangssignalschwankungen aufgrund von Störungen oder von
Rauscheffekten elektronischer Bauteile des Lichttasters verhindert.
Ein Nachteil derartiger Vorrichtungen besteht darin, dass bei der Objektdetek
tion der Sendelichtfleck der Sendelichtstrahlen fest auf einen Punkt der Objekt
oberfläche gerichtet ist. Durch Inhomogenitäten der lokalen Oberflächenstruk
tur des Objekts wie zum Beispiel kleine Bohrungen oder Kontraständerungen
kann die Detektion eines Objektes verfälscht werden.
Eine Fehlfunktion des Lichttasters kann beispielsweise dann entstehen, wenn
bei der Objektdetektion ein Teil des Sendelichtfleckes auf ein Oberflächenele
ment des Objekts mit geringer Reflexion und der andere Teil des Sendelicht
flecks auf eine Fläche höherer Reflexion fällt. Dieser Fall tritt in der Regel an
der Objektkante auf. Im Vergleich zur Detektion einer homogenen Objektober
fläche werden die Empfangslichtstrahlen von den Oberflächenelementen unter
schiedlicher Reflektivität unterschiedlich stark reflektiert, wodurch eine Ver
schiebung des Schwerpunkts des Empfangslichtfleckes auf dem von Nah- und
Fernelement gebildeten Empfänger erhalten wird. Die Verschiebung des
Schwerpunkts des Empfangslichtfleckes kann insbesondere zum Nahelement
hin erfolgen. Dadurch kann das Schaltsignal den Schaltzustand "Objekt er
kannt" einnehmen, obwohl sich das Objekt außerhalb der eingestellten Tast
weite befindet. Dies bedeutet, dass in diesem Fall eine Fehldetektion des
Lichttasters vorliegt.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde eine optoelektronische Vorrichtung
der eingangs genannten Art so auszubilden, dass Objekte und Objektstrukturen
sicher erfassbar sind.
Zur Lösung dieser Aufgabe sind die Merkmale des Anspruchs 1 vorgesehen.
Vorteilhafte Ausführungsformen und zweckmäßige Weiterbildungen der Erfin
dung sind in den Unteransprüchen beschrieben.
Die erfindungsgemäße optoelektronische Vorrichtung zum Erfassen von Ob
jekten in einem Überwachungsbereich weist einen Sendelichtstrahlen emittie
renden Sender, einen Empfangslichtstrahlen empfangenden Empfänger sowie
eine Auswerteeinheit zur Auswertung der am Empfänger anstehenden Emp
fangssignale auf. Nur die Sendelichtstrahlen werden über einen Schwingungs
pegel periodisch in zwei Raumrichtungen abgelenkt, so dass diese auf der
Oberfläche des Objekts eine Abtastfläche überstreichen. Zur Generierung eines
Objektfestsstellungssignals in der Auswerteeinheit werden die Empfangssig
nale in Abhängigkeit der Ablenkposition des Schwingspiegels ausgewertet.
Der Grundgedanke der Erfindung besteht darin, ein in einer bestimmten Dis
tanz zur optoelektronischen Vorrichtung angeordnetes Objekt nicht statisch und
punktuell mittels eines auf die Objektoberfläche abgebildeten Sendelichtflecks
zu erfassen. Erfindungsgemäß überstreichen die Sendelichtstrahlen durch die
Umlenkung am Schwingspiegel eine Abtastfläche auf der Oberfläche des je
weiligen Objekts. Die Empfangssignale des Empfängers werden dann winkel
aufgelöst, das heißt in Abhängigkeit der Ablenkposition des Schwingspiegels
ausgewertet. Dadurch kann die Oberflächenbeschaffenheit des Objektes erfasst
werden. Insbesondere können damit Fehldetektionen der Vorrichtung, die
durch die Inhomogenitäten der Oberflächenbeschaffenheit des Objektes verur
sacht sind, weitgehend vermieden werden.
Im einfachsten Fall erfolgt zur Generierung eines Objektfeststellungssignals
eine Bewertung der Amplituden der Empfangssignale mittels wenigstens einer
Schwellwerteinheit. Dabei erfolgt die Auswertung in Abhängigkeit der aktuel
len Ablenkpositionen der Sendelichtstrahlen. Alternativ oder zusätzlich werden
auch die Distanzwerte in Abhängigkeit der Ablenkpositionen ermittelt.
Ein wesentlicher Vorteil der so ausgebildeten optoelektronischen Vorrichtung
besteht darin, dass neben einer bloßen Anwesenheitskontrolle von Objekten
auch eine Erfassung von Strukturen von Objekten und deren Oberflächen mög
lich ist. Damit eignet sich die erfindungsgemäße Vorrichtung zur Erfassung
von Höhenprofilen, insbesondere Kantenstrukturen von Objekten. Weiterhin ist
eine Erfassung von Kontrastmustern möglich.
Weiterhin ist bei der erfindungsgemäßen Vorrichtung eine äußerst präzise Ein
stellung von Tastbereichen, innerhalb dessen ein Objekt erkannt wird, möglich.
Damit können insbesondere Hintergrundsignale von Objekten . außerhalb des
Tastbereichs mit großer Sicherheit und weitgehend unabhängig von deren Oberflächenbeschaffenheit
ausgeblendet werden.
Die Erfindung wird im nachstehenden anhand der Zeichnung erläutert. Es zeigen:
Fig. 1 Blockschaltbild eines ersten Ausführungsbeispiels der optoelektro
nische Vorrichtung.
Fig. 2 Schematische Darstellung der optischen Komponenten der opto
elektronischen Vorrichtung gemäß Fig. 1.
Fig. 3 Schematische Darstellung eines Schwingspiegels für die Vorrich
tung gemäß den Fig. 1 und 2.
Fig. 4a Erstes Anwendungsbeispiel der optoelektronischen Vorrichtung
gemäß den Fig. 1 und 2 zur Abtastung einer gekrümmten Ob
jektoberfläche.
Fig. 4b Schematische Darstellung der mit der Vorrichtung auf der Objekt
oberfläche gemäß Fig. 4a erzeugten Abtastfläche.
Fig. 5 Zweites Anwendungsbeispiel der optoelektronischen Vorrichtung
gemäß den Fig. 1 und 2 zur Abtastung einer schräg liegenden
Objektoberfläche.
Fig. 6a Drittes Anwendungsbeispiel der optoelektronischen Vorrichtung
gemäß den Fig. 1 und 2 zur Abtastung zweier aufeinander lie
genden Objekte.
Fig. 6b Verlauf der Empfangssignale in Abhängigkeit der Ablenkpositio
nen der Sendelichtstrahlen der optoelektronischen Vorrichtung für
das Anwendungsbeispiel gemäß Fig. 5b.
Fig. 7a Viertes Anwendungsbeispiel der optoelektronischen Vorrichtung
gemäß den Fig. 1 und 2 zur Abtastung einer Kantenstruktur.
Fig. 7b Verlauf der Empfangssignale in Abhängigkeit der Ablenkpositio
nen der Sendelichtstrahlen für das Anwendungsbeispiel gemäß
Fig. 7a.
Fig. 1 zeigt das Blockschaltbild eines Ausführungsbeispiels der erfindungs
gemäßen optoelektronischen Vorrichtung 1. Die optoelektronische Vorrichtung
1 ist als Lichttaster ausgebildet und weist einen Sendelichtstrahlen 2 emittie
renden Sender 3 und einen Empfangslichtstrahlen 4 empfangenden Empfänger
5 auf. Der Sender 3 ist von einer Laserdiode gebildet. Der Empfänger 5 besteht
aus einer Fotodiode. Die Sendelichtstrahlen 2 werden durch einen Schwing
spiegel 6 periodisch in zwei Raumrichtungen abgelenkt, so dass die Sendelicht
strahlen 2 auf dem zu detektierenden Objekt 7 eine Abtastfläche 8 überstrei
chen. Dabei werden die vom Objekt 7 reflektierten Empfangslichtstrahlen 4
nicht über den Schwingspiegel 6 geführt und gelangen direkt zum Empfänger
5. In dem Schwingspiegel 6 ist eine nicht dargestellte Ansteuereinheit integ
riert. In dieser werden Ansteuerspannungen Ux, Uy generiert, mittels derer die
Sendelichtstrahlen 2 in zwei Raumrichtungen x und y abgelenkt werden. Die
Empfangssignale 4 am Ausgang des Empfängers 5 werden in einem Verstärker
9 verstärkt und dann auf eine Auswerteeinheit 10 geführt, die vorzugsweise
von einem Mikroprozessor gebildet ist.
Zur Generierung des Objektfeststellungssignals werden die Amplituden der
Empfangssignale mit wenigstens einem Schwellwert bewertet. Mittels des
Schwellwerts wird aus den analogen Empfangssignalen ein binäres Schaltsig
nal gebildet, dessen Schaltzustände angeben, ob sich ein Objekt 7 im Überwa
chungsbereich befindet oder nicht. Zudem werden mit der optoelektronischen
Vorrichtung 1 die Distanzen des jeweiligen Objekts 7 zur Vorrichtung 1 er
mittelt. Der Sender 3 und der Empfänger 5 bilden dabei einen nach dem Licht
laufzeitverfahren arbeitenden Distanzsensor. Die Distanzmessung kann nach
dem Phasenmessprinzipverfahren erfolgen. Dabei wird dem vom Sender 3
emittierten Sendelichtstrahlen 2 mittels einer nicht dargestellten Modulations
einheit eine Amplitudenmodulation aufgeprägt. In der Auswerteeinheit 10 wird
die Phasendifferenz zwischen den vom Sender 3 emittierten Sendelichtstrahlen
2 und den vom Objekt 7 zum Empfänger 5 zurückreflektierten Empfangslicht
strahlen 4 berechnet. Aus diesen Phasendifferenzen werden die Distanzwerte
für die aktuellen Ablenkpositionen der Sendelichtstrahlen 2 ermittelt. Alterna
tiv kann die Distanzmessung nach dem Impulslaufzeitverfahren erfolgen. In
diesem Fall emittiert der Sender 3 Sendelichtstrahlen 2 in Form von vorgege
benen Folgen von Sendelichtimpulsen. In der Auswerteeinheit 10 wird zur
Distanzbestimmung die Laufzeit der vom Sender 3 emittierten und als Emp
fangslichtimpulse zum Empfänger 5 zurückreflektierten Sendelichtimpulse
ermittelt.
Das in der Auswerteeinheit 10 generierte binäre Schaltsignal wird über einen
Schaltausgang 11 ausgegeben, der an die Auswerteeinheit 10 angeschlossen ist.
Die ermittelten analogen Distanzwerte werden über eine Schnittstelleneinheit
12, die eine serielle Schnittstelle bildet und ebenfalls an die Auswerteeinheit 10
angeschlossen ist, ausgegeben.
In einer vorteilhaften Ausführungsform können die Distanzwerte in der Aus
werteeinheit 10 mit vorgegebenen Schwellwerten bewertet werden. Dadurch
sind unterschiedliche Distanzbereiche definierbar. In diesem Fall wird über die
Schnittstelleneinheit 12 ausgegeben, in welchem Distanzbereich sich ein Ob
jekt 7 befindet. In die Auswerteeinheit 10 können insbesondere über die
Schnittstelleneinheit 12 Parameterwerte eingegeben werden. Hierzu gehören
insbesondere die Schwellwerte sowie die Parameter zur Ansteuerung des Sen
ders 3 und des Schwingspiegels 6. Weiterhin können als Parameterwerte Refe
renzwerte in die Auswerteeinheit 10 eingegeben werden. Zur Objektdetektion
werden dann die Amplituden- oder Distanzwerte, die aus den aktuellen Mes
sungen gewonnen werden, mit den abgespeicherten, zugeordneten Referenz
werten zur Generierung von Objektfeststellungssignalen verglichen.
Alternativ können zur Ermittlung der Referenzwerte auch Referenzmessungen
mit der optoelektronischen Vorrichtung 1 durchgeführt werden.
Fig. 2 zeigt die optischen Komponenten der optoelektronischen Vorrichtung 1
gemäß Fig. 1. Dem Sender 3 ist ein Kollimator 13 zur Strahlformung der
Sendelichtstrahlen 2 nachgeordnet. Die kollimierten Sendelichtstrahlen 2 wer
den durch den Schwingspiegel 6 in zwei Raumrichtungen abgelenkt, wobei der
Winkelbereich in jeder Raumrichtung, welcher von dem am Schwingspiegel 6
abgelenkten Sendelichtstrahlen 2 überstrichen wird, im Bereich zwischen 5°
und 15° liegt und vorzugsweise 10° beträgt. Die von dem Objekt 7 zurückre
flektierten Empfangslichtstrahlen 4 werden durch eine Empfangsoptik 14 auf
den Empfänger 5 abgebildet.
Fig. 3 zeigt eine Detaildarstellung des Schwingspiegels 6. Der Schwingspie
gel 6 ist als mikromechanischer Scannerspiegel ausgebildet, welcher ein plat
tenförmiges Spiegelelement 15 aufweist, an welchem die Sendelichtstrahlen 2
reflektiert werden. Das Spiegelelement 15 besteht aus einer einkristallinen Sili
ziumplatte, welche mit einer Aluminiumschicht beschichtet ist. Diese bildet die
Spiegelfläche, an welcher die Sendelichtstrahlen 2 reflektiert werden.
Das Spiegelelement 15 ist mittels zwei ersten Torsionsstegen 16 an einem ers
ten Rahmen 17 befestigt. Die Torsionsstege 16 münden an gegenüberliegenden
Seitenwänden des Spiegelelements 15 aus und verlaufen entlang einer ersten
Drehachse Dx. Durch eine Torsion der Torsionsstege 16 ist das Spiegelelement
15 bezüglich der Drehachse Dx im ersten Rahmen 17 drehbar gelagert.
Der erste Rahmen 17 liegt innerhalb eines zweiten Rahmens 18. Dabei sind die
beiden Rahmen 17, 18 über zweite Torsionsstege 19 verbunden, die in einer
zweiten Drehachse Dy verlaufen. Durch Torsion der zweiten Torsionsstege 19
ist der erste Rahmen 17 mit dem Spiegelelement 15 bezüglich der Drehachse
Dy im zweiten Rahmen 18 drehbar gelagert.
Das plattenförmige Spiegelelement 15 weist einen quadratischen Querschnitt
auf. Der erste und zweite Rahmen 17, 18 weisen quadratische Konturen auf
und sind konzentrisch zum Spiegelelement 15 angeordnet.
In den parallel zur ersten Drehachse Dx verlaufenden Wandsegmenten des ers
ten Rahmens 17 sind erste Antriebselektroden 20 vorgesehen. Durch Anlegen
von Ansteuerspannungen Ux mit einer vorgegebenen Anregungsfrequenz fx
wird das Spiegelelement 15 mit der entsprechenden Anregungsfrequenz fx be
züglich der Drehachse Dx gedreht.
In dem parallel zur zweiten Drehachse Dy verlaufenden Wandsegmenten des
zweiten Rahmens 18 sind zweite Antriebselektroden 21 vorgesehen. Durch
Anlegen von Ansteuerspannungen Uy mit einer vorgegebenen Anregungsfre
quenz fy wird der erste Rahmen 17 mit der entsprechenden Anregungsfrequenz
fy bezüglich der zweiten Drehachse gedreht.
Durch Einstellen der beiden Anregungsfrequenzen der an den Antriebselektro
den 20, 21 anliegenden Ansteuerspannungen Ux, Uy sind die Geschwindigkeit
und Auflösung der Abtastung der Abtastfläche 8 einstellbar.
Fig. 4 zeigt ein erstes Anwendungsbeispiel der optoelektronischen Vorrich
tung 1 zur Detektion eines Objektes 7 mit einer kugelförmigen spiegelnden
Oberfläche. Da die Sendelichtstrahlen 2 an dieser Oberfläche gerichtet reflek
tiert werden, ist diese mit einem herkömmlichen Lichtstrahler ohne Ablenkung
der Sendelichtstrahlen 2 nur dann abtastbar, wenn die Sendelichtstrahlen 2 so
orientiert sind, dass diese von der Oberfläche direkt in den Empfänger 5 zu
rückreflektiert werden.
Wie insbesondere aus Fig. 4b ersichtlich, wird durch den Einsatz des
Schwingspiegels 6 bei der erfindungsgemäßen Vorrichtung 1 mit den in der
Abtastfläche 8 geführten Sendelichtstrahlen 2 ein erheblicher Teil der Oberflä
che des Objekts 7 erfasst. Damit wird insbesondere auch die Winkelposition
der Sendelichtstrahlen 2 erhalten, bei der die Sendelichtstrahlen 2 so auf die
Objektoberfläche gerichtet sind, dass die Empfangslichtstrahlen 4 gerichtet in
den Empfänger 5 zurückreflektiert werden, so dass eine sichere Objektdetekti
on gewährleistet ist.
Wie aus Fig. 4b ersichtlich, verläuft der Strahlfleck der Sendelichtstrahlen 2
in der Ebene der Abtastfläche 8 entlang von Abtastlinien, welche ein Lissajou
muster bilden.
Durch Einstellung der Anregungsfrequenzen fx, fy des Schwingungsspiegels ist
dieses Lissajoumuster gezielt vorgebbar.
Dabei ist insbesondere die Anzahl n der Abtastlinien innerhalb der Abtastfläche
8 gemäß folgender Beziehung vorgebbar.
n = ABS (1/(p-1)).
Dabei bildet p das Verhältnis der Anregungsfrequenz fx, fy. Die Abkürzung
ABS steht für die Bildung des Absolutbezugs.
Auch die Bildfrequenz fB, d. h. die Geschwindigkeiten der Abtastung der Ab
tastfläche 8 ist gemäß folgender Beziehung einstellbar
fb ~ fx/n
d. h. die Bildfrequenz ist proportional zu der Anregungsfrequenz fx (und auch
fy) und umgekehrt proportional zur Anzahl n der Abtastlinien pro Abtastfläche
8.
Fig. 5 zeigt als zweites Anwendungsbeispiel die Abtastung einer geneigten
Objektoberfläche. Insbesondere durch Auswertung des Distanzprofils kann die
Neigung der Objektoberfläche erfasst werden.
Fig. 6a zeigt als drittes Anwendungsbeispiel die Erfassung eines Objektes 7a,
welches auf einem eine Unterlage bildenden Objekt 7 aufliegt. Die mittels der
optoelektronischen Vorrichtung 1 erfasste Abtastfläche 8 ist auf das Objekt 7a
sowie die Unterlage ausgerichtet. Durch Auswertung des Amplituden- und/oder
Distanzwerte wird das in Fig. 6b dargestellte Höhenprofil erhalten. Da
bei sind in Fig. 6b die mit Ue bezeichneten Empfangssignale in Abhängigkeit
der Ablenkwinkel w(x), w(y) der Sendelichtstrahlen 2 aufgetragen.
Fig. 7a zeigt als viertes Ausführungsbeispiel die Abtastung eines quaderför
migen Objektes 7a, welches auf der ebenen Oberfläche eines weiteren Objektes
7 aufliegt.
Durch Ermittlung des in Fig. 7b dargestellten Höhenprofils, d. h. der Emp
fangssignale Ue in Abhängigkeit der Ablenkwinkel w(x), w(y) analog zu dem
Ausführungsbeispiel gemäß den Fig. 6a, 6b kann die Lage der Kante des
Objektes 7a bestimmt werden.
1
Optoelektronische Vorrichtung
2
Sendelichtstrahlen
3
Sender
4
Empfangslichtstrahlen
5
Empfänger
6
Schwingspiegel
7
Objekt
7
a Objekt
8
Abtastfläche
9
Verstärker
10
Auswerteinheit
11
Schaltausgang
12
Schnittstelleneinheit
13
Kollimator
14
Empfangsoptik
15
Spiegelelement
16
Erster Torsionssteg
17
Erster Rahmen
18
Zweiter Rahmen
19
Zweiter Torsionssteg
20
Erste Antriebselektrode
21
Zweite Antriebselektrode
Claims (17)
1. Optoelektronische Vorrichtung zum Erfassen von Objekten in einem
Überwachungsbereich mit einem Sendelichtstrahlen emittierenden Sen
der, einem Empfangslichtstrahlen empfangenden Empfänger sowie einer
Auswerteeinheit zur Auswertung der am Empfänger anstehenden Emp
fangssignale, dadurch gekennzeichnet, dass nur die Sendelichtstrahlen (2)
über einen Schwingspiegel (6) periodisch in zwei Raumrichtungen abge
lenkt werden, so dass diese auf der Oberfläche des Objekts (7) eine Ab
tastfläche (8) überstreichen, und dass zur Generierung eines Objektfests
stellungssignals in der Auswerteeinheit (10) die Empfangssignale in Ab
hängigkeit der Ablenkposition des Schwingspiegels (6) ausgewertet wer
den.
2. Optoelektronische Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeich
net, dass der Sender (3) von einer Laserdiode gebildet ist.
3. Optoelektronische Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 oder 2, da
durch gekennzeichnet, dass der Empfänger (5) von einer Fotodiode ge
bildet ist.
4. Optoelektronische Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1-3, dadurch
gekennzeichnet, dass der Sender (3) und der Empfänger (5) einen nach
dem Lichtlaufzeitverfahren arbeitenden Distanzsensor bilden.
5. Optoelektronische Vorrichtung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeich
net, dass die Distanzmessung nach dem Phasenmessprinzip erfolgt, wo
bei den Sendelichtstrahlen (2) des Senders (3) eine Amplitudenmodulati
on aufgeprägt ist, und wobei zur Distanzbestimmung die Phasendifferenz
zwischen den vom Sender (3) emittierten Sendelichtstrahlen (2) und den
von einem Objekt (7) zum Empfänger (5) zurückreflektierten Empfangs
lichtstrahlen (4) ermittelt wird.
6. Optoelektronische Vorrichtung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeich
net, dass die Distanzmessung nach dem Impulslaufzeitverfahren erfolgt,
wobei vom Sender (3) die Sendelichtstrahlen (2) als Folgen von Sende
lichtimpulsen emittiert werden, und wobei zur Distanzbestimmung die
Laufzeit der vom Sender (3) emittierten und als Empfangslichtimpulse
von einem Objekt (7) zum Empfänger (5) zurückreflektierten Sende
lichtimpulse ermittelt wird.
7. Optoelektronische Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 6, da
durch gekennzeichnet, dass die Amplituden der Empfangssignale des
Empfängers (5) mit wenigstens einem Schwellwert bewertet werden.
8. Optoelektronische Vorrichtung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeich
net, dass mittels des Schwellwerts ein binäres Schaltsignal generiert wird,
dessen Schaltzustände angeben, ob sich ein Objekt (7) innerhalb des
Überwachungsbereichs befindet oder nicht.
9. Optoelektronische Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1-8, dadurch
gekennzeichnet, dass die aus den Empfangssignalen abgeleiteten Dis
tanzwerte mit wenigstens einem Schwellwert bewertet werden.
10. Optoelektronische Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1-9, dadurch
gekennzeichnet, dass die Amplituden- und/oder die Distanzwerte der in
Abhängigkeit der Ablenkwinkel des Schwingspiegels (6) erfassten Emp
fangssignale mit in den Auswerteeinheit (10) abgespeicherten Referenz
werten verglichen werden.
11. Optoelektronische Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1-10, da
durch gekennzeichnet, dass der Schwingspiegel (6) von einem mikrome
chanischen Scannerspiegel gebildet ist.
12. Optoelektronische Vorrichtung nach Anspruch 11, dadurch gekennzeich
net, dass der mikromechanische Scannerspiegel ein plattenförmiges
Spiegelelement (15) aufweist, welches mittels zwei ersten Torsionsstegen
(16), die an gegenüberliegenden Seitenwänden des Spiegelelements (15)
ausmünden und deren Längsachsen entlang einer ersten Drehachse Dx
verlaufen, an einem ersten Rahmen (17) befestigt sind, wobei der erste
Rahmen (17) innerhalb eines zweiten Rahmens (18) liegt und über zwei
entlang einer zweiten Drehachse Dy verlaufende zweite Torsionsstege
(19) mit dem zweiten Rahmen (18) verbunden ist.
13. Optoelektronische Vorrichtung nach Anspruch 12, dadurch gekennzeich
net, dass das plattenförmige Spiegelelement (15) einen quadratischen
Querschnitt aufweist und im Zentrum des ersten Rahmens (17) liegt,
welcher im Zentrum des zweiten Rahmens (18) liegt, wobei die beiden
Rahmen (17, 18) jeweils eine quadratische Kontur aufweisen,
14. Optoelektronische Vorrichtung nach einem der Ansprüche 12 oder 13,
dadurch gekennzeichnet, dass in der parallel zur ersten Drehachse Dx
verlaufenden Wandsegmenten des ersten Rahmens (17) erste Antriebs
elektroden (20) angeordnet sind mittels derer das Spiegelelement (15) be
züglich der ersten Drehachse Dx drehbar ist.
15. Optoelektronische Vorrichtung nach einem der Ansprüche 12-14, da
durch gekennzeichnet, dass in den parallel zur zweiten Drehachse Dy
verlaufenden Wandsegmenten des zweiten Rahmens (18) zweite An
triebselektroden (21) angeordnet sind, mittels derer der erste Rahmen
(17) mit dem Spiegelsegment (15) bezüglich der ersten Drehachse Dx
drehbar ist.
16. Optoelektronische Vorrichtung nach einem der Ansprüche 12-15, da
durch gekennzeichnet, dass das Spiegelelement (15) aus einer einkristal
linen Siliziumplatte besteht, welche mit einer Aluminiumschicht be
schichtet ist.
17. Optoelektronische Vorrichtung nach einem der Ansprüche 15 oder 16,
dadurch gekennzeichnet, dass durch Einstellen der Anregungsfrequenzen
der an den Antriebselektroden (20, 21) anliegenden Ansteuerspannungen
die Geschwindigkeit und die Auflösung der Abtastung der Abtastfläche
(8) vorgebbar sind.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE10146752A DE10146752B4 (de) | 2000-09-25 | 2001-09-22 | Optoelektronische Vorrichtung |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE10047302.4 | 2000-09-25 | ||
DE10047302 | 2000-09-25 | ||
DE10146752A DE10146752B4 (de) | 2000-09-25 | 2001-09-22 | Optoelektronische Vorrichtung |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE10146752A1 true DE10146752A1 (de) | 2002-04-18 |
DE10146752B4 DE10146752B4 (de) | 2006-03-23 |
Family
ID=7657446
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE10146752A Expired - Fee Related DE10146752B4 (de) | 2000-09-25 | 2001-09-22 | Optoelektronische Vorrichtung |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE10146752B4 (de) |
Cited By (28)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1637985A2 (de) * | 2004-09-16 | 2006-03-22 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Eingabesteuerung für Geräte |
EP2416182A1 (de) * | 2010-08-03 | 2012-02-08 | Sick AG | Verfahren und Vorrichtung zur automatischen Konturerfassung |
DE202013101039U1 (de) | 2013-03-11 | 2014-03-12 | Sick Ag | Optoelektronischer Sensor zur Entfernungsmessung |
EP2708914A1 (de) | 2012-09-18 | 2014-03-19 | Sick Ag | Optoelektronischer Sensor und Verfahren zur Erfassung einer Tiefenkarte |
EP2708913A1 (de) | 2012-09-18 | 2014-03-19 | Sick Ag | Optoelektronischer Sensor und Verfahren zur Objekterfassung |
DE102015002283A1 (de) | 2014-05-09 | 2015-11-12 | Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft | Vorrichtung und Verfahren zum insbesondere dreidimensionalen optischen Scannen und Vermessen von Objekten und zur Objekterkennung mittels Lichtlaufzeitmessung und objektabhängiger Ortsauflösung mehrerer verschiedener Einzelscanner |
DE102015004903A1 (de) | 2015-04-04 | 2016-10-06 | Wenglor Sensoric Gmbh | Optoelektronische Messvorrichtung |
EP3084353A1 (de) * | 2013-12-18 | 2016-10-26 | Basf Se | Zielvorrichtung zur verwendung in der optischen erfassung eines objekts |
EP3141954A4 (de) * | 2014-05-06 | 2017-10-11 | Ningbo Sunny Opotech Co., Ltd. | Dreidimensionale lichtablenkungsbildgebungsvorrichtung und projektionsvorrichtung sowie verwendung davon |
US9958535B2 (en) | 2013-08-19 | 2018-05-01 | Basf Se | Detector for determining a position of at least one object |
US9989623B2 (en) | 2013-06-13 | 2018-06-05 | Basf Se | Detector for determining a longitudinal coordinate of an object via an intensity distribution of illuminated pixels |
DE102016124594A1 (de) * | 2016-12-16 | 2018-06-21 | Jena-Optronik Gmbh | Verfahren zur Erfassung einer 3D-Szene mittels eines LIDAR-Systems und LIDAR-System hierzu |
US10012532B2 (en) | 2013-08-19 | 2018-07-03 | Basf Se | Optical detector |
US10094927B2 (en) | 2014-09-29 | 2018-10-09 | Basf Se | Detector for optically determining a position of at least one object |
US10120078B2 (en) | 2012-12-19 | 2018-11-06 | Basf Se | Detector having a transversal optical sensor and a longitudinal optical sensor |
US10353049B2 (en) | 2013-06-13 | 2019-07-16 | Basf Se | Detector for optically detecting an orientation of at least one object |
US10412283B2 (en) | 2015-09-14 | 2019-09-10 | Trinamix Gmbh | Dual aperture 3D camera and method using differing aperture areas |
US10775505B2 (en) | 2015-01-30 | 2020-09-15 | Trinamix Gmbh | Detector for an optical detection of at least one object |
US10890491B2 (en) | 2016-10-25 | 2021-01-12 | Trinamix Gmbh | Optical detector for an optical detection |
US10948567B2 (en) | 2016-11-17 | 2021-03-16 | Trinamix Gmbh | Detector for optically detecting at least one object |
US10955936B2 (en) | 2015-07-17 | 2021-03-23 | Trinamix Gmbh | Detector for optically detecting at least one object |
US11041718B2 (en) | 2014-07-08 | 2021-06-22 | Basf Se | Detector for determining a position of at least one object |
US11060922B2 (en) | 2017-04-20 | 2021-07-13 | Trinamix Gmbh | Optical detector |
US11067692B2 (en) | 2017-06-26 | 2021-07-20 | Trinamix Gmbh | Detector for determining a position of at least one object |
US11125880B2 (en) | 2014-12-09 | 2021-09-21 | Basf Se | Optical detector |
US11211513B2 (en) | 2016-07-29 | 2021-12-28 | Trinamix Gmbh | Optical sensor and detector for an optical detection |
US11428787B2 (en) | 2016-10-25 | 2022-08-30 | Trinamix Gmbh | Detector for an optical detection of at least one object |
US11860292B2 (en) | 2016-11-17 | 2024-01-02 | Trinamix Gmbh | Detector and methods for authenticating at least one object |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE202014104741U1 (de) | 2014-10-02 | 2014-10-30 | Sick Ag | 3D-Scanner |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4119797C2 (de) * | 1991-06-15 | 1994-02-24 | Leuze Electronic Gmbh & Co | Einen Sender, einen Empfänger und eine Schaltungsanordnung zur Signalauswertung aufweisende Überwachungseinrichtung |
DE4235593A1 (de) * | 1992-04-16 | 1993-10-21 | Technologie Plattform Thuering | Mikromechanische Ablenkeinrichtung für einen Spiegel |
DE4219260C2 (de) * | 1992-06-12 | 1994-07-14 | Leuze Electronic Gmbh & Co | Lichtelektrische Vorrichtung mit einem Testobjekt |
DE4422497C2 (de) * | 1994-06-28 | 1996-06-05 | Leuze Electronic Gmbh & Co | Vorrichtung und Verfahren zum optoelektronischen Erfassen von Gegenständen |
US5848188A (en) * | 1994-09-08 | 1998-12-08 | Ckd Corporation | Shape measure device |
DE4434042C2 (de) * | 1994-09-23 | 1997-08-07 | Bosch Gmbh Robert | Anordnung zum berührungslosen Erfassen verkehrsbezogener Daten von Objekten auf einer Fahrbahn |
DE10026357C2 (de) * | 2000-05-27 | 2002-09-12 | Martin Argast | Optoelektronische Vorrichtung |
-
2001
- 2001-09-22 DE DE10146752A patent/DE10146752B4/de not_active Expired - Fee Related
Cited By (40)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1637985A2 (de) * | 2004-09-16 | 2006-03-22 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Eingabesteuerung für Geräte |
EP1637985A3 (de) * | 2004-09-16 | 2007-04-18 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Eingabesteuerung für Geräte |
EP2416182A1 (de) * | 2010-08-03 | 2012-02-08 | Sick AG | Verfahren und Vorrichtung zur automatischen Konturerfassung |
EP2708914A1 (de) | 2012-09-18 | 2014-03-19 | Sick Ag | Optoelektronischer Sensor und Verfahren zur Erfassung einer Tiefenkarte |
EP2708913A1 (de) | 2012-09-18 | 2014-03-19 | Sick Ag | Optoelektronischer Sensor und Verfahren zur Objekterfassung |
JP2014059301A (ja) * | 2012-09-18 | 2014-04-03 | Sick Ag | 光電センサおよびデプスマップ検出方法 |
US10120078B2 (en) | 2012-12-19 | 2018-11-06 | Basf Se | Detector having a transversal optical sensor and a longitudinal optical sensor |
DE202013101039U1 (de) | 2013-03-11 | 2014-03-12 | Sick Ag | Optoelektronischer Sensor zur Entfernungsmessung |
US10823818B2 (en) | 2013-06-13 | 2020-11-03 | Basf Se | Detector for optically detecting at least one object |
US10353049B2 (en) | 2013-06-13 | 2019-07-16 | Basf Se | Detector for optically detecting an orientation of at least one object |
US10845459B2 (en) | 2013-06-13 | 2020-11-24 | Basf Se | Detector for optically detecting at least one object |
US9989623B2 (en) | 2013-06-13 | 2018-06-05 | Basf Se | Detector for determining a longitudinal coordinate of an object via an intensity distribution of illuminated pixels |
US10012532B2 (en) | 2013-08-19 | 2018-07-03 | Basf Se | Optical detector |
US9958535B2 (en) | 2013-08-19 | 2018-05-01 | Basf Se | Detector for determining a position of at least one object |
EP3084353A1 (de) * | 2013-12-18 | 2016-10-26 | Basf Se | Zielvorrichtung zur verwendung in der optischen erfassung eines objekts |
EP3141954A4 (de) * | 2014-05-06 | 2017-10-11 | Ningbo Sunny Opotech Co., Ltd. | Dreidimensionale lichtablenkungsbildgebungsvorrichtung und projektionsvorrichtung sowie verwendung davon |
DE102015002270A1 (de) | 2014-05-09 | 2015-11-26 | Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft | Vorrichtung und Verfahren zum insbesondere dreidimensionalen optischen Scannen, Vermessen und Klassifizieren von Objekten und zur Objekterkennung mittels Lichtlaufzeitmessung |
DE102015002271A1 (de) | 2014-05-09 | 2015-11-26 | Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft | Vorrichtung und Verfahren zum insbesondere dreidimensionalen optischen Scannen und Vermessen von Objekten und zur Objekterkennung mittels Lichtlaufzeitmessung |
DE102015002283B4 (de) | 2014-05-09 | 2023-01-19 | Elmos Semiconductor Se | Vorrichtung zum insbesondere dreidimensionalen optischen Scannen und Vermessen von Objekten und zur Objekterkennung mittels Lichtlaufzeitmessung und objektabhängiger Ortsauflösung mehrerer verschiedener Einzelscanner |
DE102015002282A1 (de) | 2014-05-09 | 2015-11-12 | Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft | Vorrichtung und Verfahren zum insbesondere dreidimensionalen optischen Scannen und Vermessen von Objekten und zur Objekterkennung mittels Lichtlaufzeitmessung |
DE102015002283A1 (de) | 2014-05-09 | 2015-11-12 | Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft | Vorrichtung und Verfahren zum insbesondere dreidimensionalen optischen Scannen und Vermessen von Objekten und zur Objekterkennung mittels Lichtlaufzeitmessung und objektabhängiger Ortsauflösung mehrerer verschiedener Einzelscanner |
US11041718B2 (en) | 2014-07-08 | 2021-06-22 | Basf Se | Detector for determining a position of at least one object |
US10094927B2 (en) | 2014-09-29 | 2018-10-09 | Basf Se | Detector for optically determining a position of at least one object |
US11125880B2 (en) | 2014-12-09 | 2021-09-21 | Basf Se | Optical detector |
US10775505B2 (en) | 2015-01-30 | 2020-09-15 | Trinamix Gmbh | Detector for an optical detection of at least one object |
DE102015004903A1 (de) | 2015-04-04 | 2016-10-06 | Wenglor Sensoric Gmbh | Optoelektronische Messvorrichtung |
US10955936B2 (en) | 2015-07-17 | 2021-03-23 | Trinamix Gmbh | Detector for optically detecting at least one object |
US10412283B2 (en) | 2015-09-14 | 2019-09-10 | Trinamix Gmbh | Dual aperture 3D camera and method using differing aperture areas |
US11211513B2 (en) | 2016-07-29 | 2021-12-28 | Trinamix Gmbh | Optical sensor and detector for an optical detection |
US10890491B2 (en) | 2016-10-25 | 2021-01-12 | Trinamix Gmbh | Optical detector for an optical detection |
US11428787B2 (en) | 2016-10-25 | 2022-08-30 | Trinamix Gmbh | Detector for an optical detection of at least one object |
US11415661B2 (en) | 2016-11-17 | 2022-08-16 | Trinamix Gmbh | Detector for optically detecting at least one object |
US10948567B2 (en) | 2016-11-17 | 2021-03-16 | Trinamix Gmbh | Detector for optically detecting at least one object |
US11635486B2 (en) | 2016-11-17 | 2023-04-25 | Trinamix Gmbh | Detector for optically detecting at least one object |
US11698435B2 (en) | 2016-11-17 | 2023-07-11 | Trinamix Gmbh | Detector for optically detecting at least one object |
US11860292B2 (en) | 2016-11-17 | 2024-01-02 | Trinamix Gmbh | Detector and methods for authenticating at least one object |
US11204424B2 (en) | 2016-12-16 | 2021-12-21 | Jena-Optronik Gmbh | Method for capturing a 3D scene by means of a LIDAR system and a LIDAR system for this purpose |
DE102016124594A1 (de) * | 2016-12-16 | 2018-06-21 | Jena-Optronik Gmbh | Verfahren zur Erfassung einer 3D-Szene mittels eines LIDAR-Systems und LIDAR-System hierzu |
US11060922B2 (en) | 2017-04-20 | 2021-07-13 | Trinamix Gmbh | Optical detector |
US11067692B2 (en) | 2017-06-26 | 2021-07-20 | Trinamix Gmbh | Detector for determining a position of at least one object |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE10146752B4 (de) | 2006-03-23 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE10146752A1 (de) | Optoelektronische Vorrichtung | |
EP1421410B1 (de) | Vorrichtung zur entfernungsmessung | |
EP2201330B1 (de) | Distanzmessendes verfahren für ein referenzlinienprojizierendes gerät und ebensolches gerät | |
DE102007030978B4 (de) | Radarvorrichtung | |
EP0793115B1 (de) | Laser-Radar-Abtaster mit Millimeter-Auflösung | |
EP1979764B1 (de) | Verfahren zur lichtlaufzeitmessung | |
EP2296002B1 (de) | Optoelektronischer Scanner zur Abstandsbestimmung in Azimut- und Elevationsrichtung | |
DE102013100696B3 (de) | Optoelektronischer Sensor und Verfahren zur Erfassung von Objekten in einem Überwachungsbereich | |
DE102008014274A1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum Bestimmen einer Entfernung zu einem Objekt | |
DE10355620A1 (de) | Fahrzeugradarvorrichtung | |
DE19732776C1 (de) | Optoelektronische Vorrichtung | |
DE4304678C1 (de) | Verfahren zum kontinuierlichen Abtasten und Überprüfen von Spurauftragungen auf einer bewegten Unterlage und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens | |
EP3270182A1 (de) | Optoelektronischer sensor und verfahren zur erfassung eines objekts in einem überwachungsbereich | |
EP3809157B1 (de) | Entfernungsmessender optoelektronischer sensor und verfahren zur erfassung eines zielobjekts | |
EP2755048A1 (de) | Entfernungsmessender optoelektronischer Sensor und Verfahren zur Abstandsbestimmung von Objekten | |
EP1221582B1 (de) | Optoelektronische Vorrichtung | |
DE10340420A1 (de) | Optoelektronische Vorrichtung | |
DE20118145U1 (de) | Optischer Sensor | |
EP3070496A1 (de) | Polygonscanner und verfahren zum erfassen von objekten | |
EP3705914B1 (de) | Sensoranordnung | |
DE10012522C2 (de) | Distanzsensor | |
DE19646830C1 (de) | Vorrichtung zum berührungsfreien Erfassen von Gegenständen | |
DE4341645C2 (de) | Verfahren zur Echtzeit-Messung von dynamischen dreidimensionalen Verformungen eines Meßobjektes | |
DE10134305B4 (de) | Optoelektronische Vorrichtung | |
DE3044831A1 (de) | Anordnung zur automatischen beruehrungslosen messung der raeumlichen lage von gegenstaenden |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
R119 | Application deemed withdrawn, or ip right lapsed, due to non-payment of renewal fee |