欠陥形態の英語

本発明の一形態にかかるＨＤＤ１は、磁気ディスク１１の欠陥テストを行う。例文帳に追加

An HDD 1 on one form of this invention performs the defect test of a magnetic disk 11. - 特許庁

薄板の表面欠陥の分布形態解析装置、薄板の表面欠陥の分布形態解析方法、コンピュータプログラム、及びコンピュータ読み取り可能な記録媒体例文帳に追加

APPARATUS AND METHOD FOR ANALYZING DISTRIBUTION PATTERN OF SURFACE DEFECT ON THIN PLATE, COMPUTER PROGRAM AND COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM - 特許庁

評価を行った領域や検出された欠陥数を表示領域Ｐaに表示すると共に、検出された欠陥の位置と対応する表示領域Ｐbの位置を他の位置とは異なる表示形態とすることで、欠陥が生じたことを判別可能とする。例文帳に追加

Generation of the defects is discriminated by displaying the number of evaluated areas and detected defects on a display area Pa and defining a position of the display area Pb corresponding to positions of the detected defects in different display forms. - 特許庁

従来ではクラックのような低コントラストの欠陥部分Ｋと模様Ｍとを識別することが困難であったのに対して、本実施形態では両者を判別して欠陥部分Ｋのみを検出することができ、従来よりも低コントラストの欠陥部分を安定して精度良く検出することができる。例文帳に追加

Even though it is difficult conventionally to discriminate the defective part K of low contrast such as a crack from a design M, this performing form can discriminate the both, detect only the defective part K and detect the defective part more stably and with higher accuracy than the conventional practice. - 特許庁

この表面検査装置が検出した表面欠陥の形態と検出位置に基づいて、当該表面欠陥の発生原因を特定し、当該表面欠陥が解消するように、関係する装置を調整することを特徴とする角形鋼管の製造方法。例文帳に追加

In this method for manufacturing the square steel tube, the causes of the occurrence of the surface flaws is specified on the basis of the form of the surface flaws and detected position which are detected with this surface inspecting device and concerned devices are adjusted so that the surface flaws are eliminated. - 特許庁

空孔が優勢な真性点欠陥の、凝集空孔真性点欠陥を実質的に有さない軸対称領域を含んで成りインゴットまたはウエハ形態の単結晶シリコン、およびその製造方法を提供する。例文帳に追加

To provide a single crystal silicon in an ingot or wafer form, which contains an axially symmetric region in which vacancies are the predominant intrinsic point defect and which is substantially free of agglomerated vacancy intrinsic point defects, and to provide a method of producing the same. - 特許庁

輝度プロファイルは、検査対象であるウェハ２外観を実際に撮像して得られる特性であり、欠陥の形態を明確に示すため、良品パターン等との比較による場合と比べて、欠陥分類の確実性が格段に増す。例文帳に追加

Since the luminance profile is a property acquired by actually photographing the wafer 2 to be inspected and clearly shows the forms of defects, the reliability of defect classification is substantially improved, when compared with the case of comparison with a non-defective pattern. - 特許庁

本発明の他の形態は、導電性引張部材を備えたエレベータロープの欠陥を検出つまり測定するための方法およびシステムに関し、引張部材の電気抵抗の測定値によって、欠陥を示す。例文帳に追加

The other embodiment relates to the method and the system for detecting the defect of the elevator rope having a conductive tensile member, that is, for measuring the defect, and shows the defect by suing the measured value of the electric resistance of the tensile member. - 特許庁