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seuとは 意味・読み方・使い方
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意味・対訳 東南大学、エス‐イー‐ユー
「seu」を含む例文一覧
該当件数 : 8件
SEU checks for syntax errors, such as omitting required data発音を聞く 例文帳に追加
SEUは構文上の誤り,たとえば,必要なデータを省略したなどを検査する - コンピューター用語辞典
An operator can use SEU to enter these statements発音を聞く 例文帳に追加
操作員はSEUを使って,これらのステートメントを入力することができる - コンピューター用語辞典
To provide a transistor and a semiconductor device of low price, which have high SEU (Single Event Upset) resistance and high performance.例文帳に追加
SEU耐性が高く、高性能で低価なトランジスタ及び半導体装置を提供すること。 - 特許庁
SEU COUNTERMEASURE COMMANDING DEVICE AND ELECTRICAL APPARATUS AND METHOD FOR SETTING OPERATION LEVEL OF ELECTRICAL APPARATUS例文帳に追加
SEU対策指令装置及び電気装置並びに電気装置の動作レベル設定方法 - 特許庁
To provide a transistor and a semiconductor device which is SEU- resistant, efficient and inexpensive.例文帳に追加
SEU耐性が高く、高性能で低価なトランジスタ及び半導体装置を提供すること。 - 特許庁
To obtain a microprocessor capable of coping even with the case that SEU is generated at the reading of a microprogram.例文帳に追加
マイクロプログラムの読出し時にSEUを生じた場合においても対処できるマイクプロセッサを得る。 - 特許庁
To eliminate loss of processing power or loss of critical data due to single event upset (SEU) when a non-radiation hardened processor is impacted by high energy radiation or by a high energy particle.例文帳に追加
放射線非対応のプロセッサが高エネルギー放射線、あるいは高エネルギーの微粒子によって衝撃を受けるとき、シングル・イベント・アップセット(SEU)による処理能力の損失や重要なデータの損失をなくす。 - 特許庁
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Wiktionary英語版での「seu」の意味 |
SEU
名詞
SEU (countable かつ uncountable, 複数形 SEUs)
- Initialism of slightly-enriched uranium.
- (computing) Initialism of single-event upset (a transient soft error/glitch caused by ionizing radiation impacting a chip).
「seu」を含む例文一覧
該当件数 : 8件
In the error correcting method for the data storage device to repeatedly perform the error correction of SEU of a volatile memory 2 with a prescribed cycle, error rate is enhanced while enabling follow-up to changes in intensity of the radioactive rays by statistically measuring error generation quantity, shortening the prescribed cycle when the measured error generation quantity is increased and setting the prescribed cycle longer when the measured error generation quantity is reduced.例文帳に追加
揮発性メモリ2のSEU誤り・訂正を所定の周期で繰り返し行なうデータ記憶装置の誤り訂正方法であり、誤り発生量を統計的に測定し、測定された誤り発生量が増加する場合には所定の周期を短縮し、測定された誤り発生量が減少する場合には所定の周期を長く設定することにより、放射線強度の変化に追従を可能としつつ誤り率を向上させている。 - 特許庁
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